GB T 15972.47-2008 光纤试验方法规范.第47部分 传输特性和光学特性的测量方法和试验程序.宏弯损耗.pdf

《GB T 15972.47-2008 光纤试验方法规范.第47部分 传输特性和光学特性的测量方法和试验程序.宏弯损耗.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《GB T 15972.47-2008 光纤试验方法规范.第47部分 传输特性和光学特性的测量方法和试验程序.宏弯损耗.pdf（6页珍藏版）》请在麦多课文档分享上搜索。

1、ICS 3318010M 33 圆雪中华人民共和国国家标准GBT 1 5972472008部分代替GBT 159724一1998光纤试验方法规范第47部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序宏弯损耗Specifications for optical fibre test methods-Part 47：Measurement methods and test procedures for transmissionand optical characteristics-Macrobending loss(IEC 60793147：2001，Optical fibresPart 147：Me

2、asurement methodsand test procedures-Macrobending lOSS，MOD)2008-03-3 1发布 20081卜01实施宰瞀鬻紫瓣訾糌瞥星发布中国国家标准化管理委员会仪1”GBT 1 5972472008前言1范围-2规范性引用文件3装置一4试样和试样制备5程序6计算7结果目 次【1111122前 言GBT 15972472008GBT 1 5972光纤试验方法规范由若干部分组成，其预期结构及对应的国际标准和将代替的国家标准为：第10部分第19部分；测量方法和试验程序总则(对应IEC 60793110至IEC 60793一l一19；代替GBT 15

3、97211998)；第20部分第29部分：尺寸参数的测量方法和试验程序(对应IEC 60793120至IEC 607931-29 l代替GBT 1597221998)；第30部分第39部分：机械性能的测量方i去和试验程序(对应IEC 607931-30至IEC 60793139；代替GBT 1597231998)；第40部分第49部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序(对应IEC 60793140至IEC 60793-1-49I代替GBT 159724一1998)；第50部分第59部分：环境性能的测量方法和试验程序(对应IEC 60793-150至IEC 60793159；代替GBT 1

4、 597251998)。其中GBT 159724由以下部分组成z第40部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序衰减；第41部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序带宽；第42部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序波长色散；第43部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序数值孔径；第44部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序截止波长；第45部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序模场直径；第46部分；传输特性和光学特性的测量方法和试验程序透光率变化；第47部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序宏弯损耗；第48部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序偏振模色散第

5、49部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序微分模时延。本部分为GBT 15972的第47部分。本部分修改采用国际电工技术委员会标准IEC 60793147：2001(光纤第卜47部分：测量方法和试验程序宏弯损耗。本部分与IEC 60793-1-47：2001主要差异如下：按照我国标准的编排格式和表述要求，对一些内容安排做了调整，删除了IEC版本中第3章和第9章，将其内容和第1章某些内容放在本部分第3章和第7章，章号重编；将“1 550 nm波长”改为“1 550 nm或1 625 nm波长”；对于光纤弯曲直径要求，以“32 mm”替代原来的“60 rflm”，以“60 mm”替代原来的“

6、75 mm”；首选波长改为对B11类、B13类和B4类单模光纤为1 625 nm，对B12类、B2类单模光纤为1 550lIFO_。本部分代替GBT 1597241998光纤总规范第4部分：传输特性和光学特性试验方法第13章。本部分与GBT 1597241998第13章相比主要变化如下；增加了对A1类多模光纤宏弯敏感性的测量要求(见第1章)；一对于单模光纤，用钡I量1 550 nm或1 625 riiT波长替代原来的仅“1 550 nm波长”(1998年版的第13章，本版的第1章)；1GBT 1597247-2008增加了首选测量波长，对B11类、B13类和B4类单模光纤为1 625 am，对

7、BI2类、B2类单模光纤为1 550 nm(见第5章)；对光纤弯曲直径要求，以“32 mm”替代原来的“60 mm”，以“60 mm”替代原来的“75 mm”(1998年版的1311，本版的第3章)；收集剩余光纤的卷绕直径，由建议不小于300 rnm改为不小于280 mm(1998年版的1314，本版的第5章)。本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由中国通信标准化协会归口。本部分起草单位：武汉邮电科学研究院。本部分主要起草人：陈永诗、程淑玲、刘泽恒、吴金良。本部分为第一次修订，它与GBT 159724其他部分一起代替GBT 1597241998。GBT 15972472008光纤试验方

8、法规范第47部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序宏弯损耗1范围GBT 15972的本部分规定了测量光纤宏弯敏感性的统一要求。本部分适用于测量B类单模光纤在1 550 nm或1 625 nm波长及A1类多模光纤在850 nm和(或)1 300 nm波长的宏弯损耗，以检验光纤在规定波长上的宏弯敏感性。本部分适用于光纤光缆的商业性检验。2规范性引用文件下列文件中的条款通过GBT 15972的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注目期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用

9、文件，其最新版本适用于本部分。GBT 1597240一-2008光纤试验方法规范传输特性和光学特性的测量方法和试验程序衰减(IEC 60793140：200，Optical fibres-Part 1-40：Measurement methods and test procedures-Attenuation，MOD)GBT 1597246-2008光纤试验方法规范传输特性和光学特性的测量方法和试验程序透光率变化(IEC 60793一卜46：2001。Optical fibresPart 146：Measurement methods and testprocedures-Monitoring

10、 of changes in optical transmittance，MOD)3装置试验装置由芯轴(直径由产品规范规定，例如单模光纤为60 mm或32 mm，多模光纤为60 mm)和衰减测量设备组成。在l 550 rim及I 625 nm波长上的宏弯损耗可用传输功率监测法(GBT 15972462008方法A)或截断法(GBT 1597240-2008方法A)进行测量。对于指定的光纤类型。应选用合适的光注入条件。4试样和试样制备41试样长度试样应是长度已知的光纤，试样长度应按产品规范中的规定。42试样端面试样的输入端面和输出端面应平整、光滑，端面与光纤轴应有很好的垂直度。5程序将被试光纤松

11、绕在芯轴上，避免光纤过度扭转。松绕圈数、芯轴直径和测量波长都应在产品规范中规定。首选参数如下：一松绕圈数：i00圈；芯轴直径：60 mm；1GBT 15972472008波长：对B1，1类、BI3类和B4类单模光纤为l 625 nm，对B12类、B2类单模光纤为1 550 nm，对多模光纤为1 300 nm。对其他波长或波长段弯曲损耗的要求可由用户和厂家商定。注t当减小芯轴直径(如芯轴直径为20mm32mm)时，损失掉的光又会被反射到被试光纤中，这将导致枧在的弯曲损耗一波长曲线出现波动。当芯轴直径较小时，建议对测试的弯曲损耗一波长曲线进行拟合t得到在规定渡长处真实的夸曲损耗。本试验可用以下两种

12、方法测量：方法A，传输功率监测法，测量光纤从直的状态到弯曲状态所引起的衰减增加。方法B，截断法，测量光纤在弯曲状态下的总衰减。为了确定宏弯衰减，应用光纤的固有衰减对测量值进行修正。本试验可采用方法A和方法B中的任一种方法，或两种方法都采用或按产品规范中的规定。芯轴之外的光纤和用于参考的光纤截留段不得有引起测量结果变化的任何弯曲。建议以不小于280 mm的弯曲直径来收集剩余的光纤。如将光纤从大直径芯轴(引入的宏弯损耗可忽略不计)绕到规定直径的芯轴上，宏弯损耗能直接用方法A来测量，不需用光纤固有衰减来修正。6计算按所用试验方法(方法A或方法B)规定的计算方法。7结果71 测量结果报告应包括下列内容：试验名称；芯轴直径；圈数i试样识别号；宏弯损耗(dB)I试验日期和操作人员#环境温度和相对湿度。72报告中也可包括下列内容：试验方法：方法A或方法B一试验装置描述计算方法；应用程序中出现的任何偏差；失效或可接受的判据i试验装置最近校准日期。