JJF 1026-1991 光子和高能电子束吸收剂量测定方法.pdf

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1、J J.F 中华人民共和国国家计量技术规范. J F 1026-91 光子和高能电子束吸收剂量测定方法1991牢5月10日批准1992年1月1臼实施国家技术监督局光子和高能电子束吸收剂量测定方法Atsorbed Dose Determination .运+44+JF吟伊呻引LF呻一伽呻mLFAVOLF 4A啕吟GLF吨NA咿二，JEe artfff、in Photon and Electron Beams 本技术规范经国家技术监督局于1991年5月10日批准，并自199且年1月1日起施行.归口单位E中罔计量科学研究院起草单位z中国计革科学研究院本规范技术条文由起草单位负责解释.本规范主要起草人

2、E王兰(中罔计E科学研究院张之彬中国计量科学研究院目录Hrt :主. . . (1) 一辐射贤和辐射质的测定厅、民. . . . . (1) 一在水摸体中测量时的参号条件. (5) 四电离室的校准(6 ) 五水中校准点吸收剂量的测定(8 ) 六测量水中吸收剂量的不确定度(14)附录有夫主要各词具符号解梓(15)JJG 1026-91 共16页第1贯光子和高能电子束吸收剂量洲足方法技术规范本技术也规定了用电离室对100-300kV X射线、Co-60、Cs-137的Y射线及135MV X射线和535MeV电子束进行剂量汹寇的方法.-栅迪鉴于剂量学理论的发展，常用物理参数的改进，考虑到电离室结构、

3、成分对测量结果的影响，为提高放射怡疗剂量测量的准确度，本技术规范对关于肿瘤放射泊疗剂量学的若干规定中的测量方法和数据做了修改和补充.医用加速器的剂量测量应按本技术规范进行.二辐射质和辐射质的测定方法1 高能电子束1.1高能电子束的辐射质用段体表面的平均入射能量民、任深度z处的平均能量L及实用射程Rp表征.1.2测定方法1.2.1 E 0 对Eo:;:1SMeV的电子束选用大于12x 12 cm，对置。15MeV的电子束选用20x 20 cm的照射野，SSD = 100 cm，在标准水摸体中测量沿射束jll的百分深度剂量曲线，求出半峰值处有效测量点对应的深度Ro0，女r1凶1，旧模体表面;而平均

4、入射能量可按下式计算Eo=C.R50 (1) C=2.33MeVjcm (5 MeV，二o35MeV) 路可在上述测孟条件FJWt江市l立也离曲线，从曲线二支出R!.后由表1中查出Eo. 1,2. 2 R .TJG 1026 91 阁1电子束在水民体小的吸收剂号:分布D.-巨大剂贯ID朝39:辐射剂f71:eRl一-段大剂茧的派J豆，R川50%ri.&创量对J茧的深度，Rp一实用射程1?;16页骂2页电子束在水模体表面的平均能量矶和从吸收剂量或电离曲线测量求出的半值深度的关系E 0 (孔feV)表1R5(cm) 。.30.7 1.2 1.6 2.1 2.5 3.0 3.4 、，m 内iLDM

5、R 。.3Q.7 1.2 1.6 2.1 2.5 3.0 3.4 飞lbqqua-冒Emua。tqF哩，.吨】-咀-、-、-_:1: t; 02S一号吁共16页第3贝续表o (MeV) R (cm) Rt. (cm) g 3.8 3.8 10 4.3 4.3 12 6.1 5.1 14 6.0 5.9 18 6.8 6.7 18 7.8 7.6 20 8.6 8.4 22 9.4 9.2 25 10.7 10.4 3a 12.8 12.3 35 14.6 14.0 表2在水摸体中电子束在深度z处的平均能量E.和在模体表面的平均能量Eo的比值表面平均能量Lz/R p 5 JvleV 10 MeV

6、 20 !lc V 30 llcV 10 1leV 59 McV r.一一十一。.001.000 1.000 1.000 1.000 1.0凶U1.0。.05。.943O.包41。.I辛b,).929 Q.922 0.915 。.10O.巧RSO.哥尔4。.876J. 8 63 白.cq日9.5MeV的电子束，可用圆柱形电离主.电离室的体积在O.11cm8，空腔内径94 0.975 0.969 0.995 NEO.20cm 251巧NE 0.20cm 2515/3 NE 0.20 cm 2577 NE 0.60 cm Farmcr 2505 54-59 NE 0.60 rm Farmer 25

7、05 59-67 NE o.日orm Farmer 2505/a 67-74 N E 0.60 cm Farmcr 2岳06/3，3 A 71-79 ?、，E0.60 cm Fanner 2505/3 , 3 B 74-pres舍ntNE 0.60 cm Quarded 1 armer 2571 NE 0.60 cm Rohust Farmer 2581 (P:V1M八cap)NE 0.60 cm Rohust Farmer 2581 (Polystnenc cap) NE 0.325 cm NPL sec std 2561 清军到。.0750 ,172 0.971 0.975 .974 0.

8、974 0.9Q3 Q.990 O.!)90 0.993 0.982 o. )92 。.9820.982 O.让820.982 (,) .982 0.9日223333 (3 mm cap) 23333 (4.6 mm cap) 233 331 Normal M 233 332 Trans:t M 233331 Vi nlerp1扣12 333 1141 PT矶r0.6 cm PTW 0.6 cm PTW W.4 cm PTW Q.3 cm PTW 0.1 cm PTW ()cm 祖J叫田间。.979Q, 96& 0.975 Q.975 0.974. 。.99Q0.991 O. ; Y 3 Q.

9、993 0.992 O.9S9 0.974 0.982 0.9日20.982 55 560 Uict oreen (.1 cm Rado L on Uictorccn Q.3 cm Rdoron Uicloreen Q.30(01-348 Uiclorcen 0.6 cm 30-351 Uictoreen 1.00 cm 30-349 共16页第8页部G1 tl:l8一例katt -校准时主盟的吸收和版时减弱修正zkm 室壁和平衡阳I空气夺过Jl入的修正.Wje二33.97J.C-I.常用电离主的k.tl，km及其乘积k.ttkm值列于表4.:Ii *中校准点吸收剂量的测定础量的操作步骤按B中

10、瘤放射治疗州idi学的若干规寇中的万法选行.计算方法按测量对象圳是如下.6 高能电子束计算公式为aDwPetr) :MuNg(Swalr)uPuPcel (4) 式Ijl:Dw (Perc) 水中有效测量点的收收剂量.有效测量点在电离主几何中心前0.5r处.rii车电离室的内半佳，Mu _仪表的读数经温庄、气压、复合等修正) Ng一一电离室空腔气体校准因于，(Swair)W一-7l叫比2光子内陆V。.5I 1.008 1.0 I I.QI6 1.5 I 1.02Q 2.5 I I.Q32 0.98 0.5 6oC06.0 0.7 (TPR) 。.8图5各种重壁材料电离室的扰动修正因子Pg和先于

11、辐射质的关系假定电离室是指形，壁厚等于O.Smm(Sw一一水对空气的平均阻止本领比，其值如表8，Pg-一扰萄园子，其值虫11国5;TPR:值可由表8从Dao/DI 0值查出，lJG 1026-91 卖16页男，:13页装8光子京约水对空气的阻止*领比(SW&lr)与光子辐射质的关系Jn -1川r)TPRr D旷DI G、.3) .5革0.56 0.59 0.62 0.65 0.68 0.70 0.72 0.74 0.76 0.78 0.8白。.8211.84 CS-137 CO-60 参考深度(cm) 出f主l!V 0 t 44 0 , 47 0.49 O.2 0.54 0.56 Q.58 C

12、.6Q 0.61 0.63 0阴660.66 0.63 0.69 0.71 1.135 l. lS4 1. ISI 1.130 1.127 1.113 1.119 1.116 1.111 1.105 1.099 1.090 1.080 I.Q69 1.059 1.136 1.133 OFOEO 5560QQOQQQEE 111111l 4 6 aunwazn09nvmw 111235 PCe 中央收集极性正，石墨、塑料收集极Pce1=1J对铝收集极型(iSF Li rmer f1，离室其值如表7.8 小能X射线100, 300 kV 计算公式为zDw二Mll.Nx.W/e(1-g)-l.kuC

13、fi.n/)walrPu 式中:ku (6) 二亏JE校准U.j(!可能谐与测量时能谱不同引入的恰正因于，且n电离空满足规定的要求，取k= 1, ( fi en/)W 4ir-7JO:.j空气的原能吸收系数之比，数值列于初，g 对于rfl能X射线，g取)0;P 一扰功修正因于，如l表10.共16页第14贾JJG 1026-91 昌隆S射线E凭自E吸收票数的比值(.n/pwI!r 111 IlVL的关系直径11.3cm圆形野FSD=: 100 cm z为水深管电压IIVL (mm) /p胃I!rkV 八1Cu Z国0.0cm Z=2 cm Z= 5 CI 100 4.28 Q. 17 1 _ 0

14、2 7 1.027 t、028120 。.301.30 1. ) 3 6 1.036 14Q 。.491.047 1.045 1.0.&4 150 0.83 1.061 1.058 1.067 200 1.60 1.08Q 1.075 1.073 2Q 2.47 1.092 1.089 1.085 280 3.37 1.100 1.097 1.094 裴10X射线在簇体中5cm深度处，指形电离室的扰动修正因子(电离雪主体积0.31cm) 1电压l:lV L 优动修E因子(kV) mmAl mmCu PU 100 4.28 。.171.10 120 6.31 。.301.09 140 。.491

15、.08 150 0.83 1.06 200 1.70 1.0,( 250 2.47 1.02 280 3.37 1.01 ,JL 、测量水中吸收剂量的不确定度按L丽的规定程序，测定校准点水中的吸收剂量的不确定度，按方和机计算的，对中能X射钱为2.0%，Co-60 y射线为1.8%，高能X射线为1.9对，高能也于束为2.1%.lJ G 1026-91 共16页第15页附录有关主要名词及符号信将射线质:肘J丑指的射线能过.主旦去注射线EI芳:物体!可能力.半但!王z使IWH线垃试_-二EJr!W耍的事t*lrl吸收材料的原度，亦称为弟一半1t)二.i!j-L涡树一主t:rj:;(:妥的厚出j车站二

16、半f;l)二.射线II心抽，在示射线束的中心fi.J称轴线.临床上一般用放;Jji:;JS通过最后一个限束器中心的连线作为射野中心轴.参考点E一般ilt况下，为剂lt计算戎测量参考，规定模体表面下射线中心铀上的一点，如400kV以-rx射坞，参与点取在模体表面，对高能X钱或射线参J;点l!飞在校的i在IIT下域大剂量jR位置，其位置陆能ll(1M f作表Iil:FU兰布点(rtHft )J多故以度(do) 校(t:在射线q心拙上jUJi的训i二点.快i字表面到校准点的深度为校刊Ii证实(dc) P.ff : I也自主的有放_j!IJJE点.它f:于1包离主几何中心前面.对电离主测量体在;内的3

17、111二梯皮i!:ijfl自.SSD: ilJj皮Ni.k/ji白射线中心如l!从射线izl到快体表面的距离.R:o:对电子束，ijllJ茧的百分深度电离1111浅巾，半峰值处有效测量点叫!恒的水深.Ro: .kJ 电子束，iliJ川的11分深度阪4J_)fUill曲线巾，主i叫革且处有效测量JJJ、1、j应的7:i. v:在国注VL仨ITIH，水前20 cm与水深10cm灶i吸收剂量的比在.TPR: :fl:固定跟一探i!J!IJ器距离时，;二部20cm与水深10cm处吸收刮过的比ili.共i(r iJt第16页JJG 1029-91 k.l t:在校准IJ考虑电离室室壁的吸收和散射引入的修正因于-km:在校准时考虑电离室壁及平衡帽非空气等效寻i入的修正因于.Pu:电离室在用户射束中使用时，考虑到电离室非水等效引入的修正因于.进行这项修正时，要使用电i与主的有效测量点.KA叭1、内也 -: 1-; 中华人民共南回国家计最技术观iE先子和离能电子束吸收割量测定方法JJG 1026-91 因家伎术监督局颁布中罔it量出版肚出破北章和平堕芮衔2号中网汁M:H:防肝印刷|广印刷新华书店北京发行j开发行+ 开本85QX 1168/32 自pgJX.625宁数14干窄1891年12月第1iri 1991句12月第1灰印刷m数1-3000篇一书号1i6Q26-639定价1.5Q元