GB T 29420-2012 掺钕钒酸盐激光单晶元件.pdf

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1、. I(骂17.180 A 60 道国中华人民共和国国家标准GB/T 29420-2012 掺敏饥酸盐激光单晶元件Nd-doped vanadate laser crystal devices 2012-12-31发布2013-08-01实施李i吃苦中华人民共和国国家质量监督检验检!i总局也士户吟中国国家标准化管理委员会在何4 G/T 29420-2012 前本标准按照GBjT1. 1-2009给定的规则起草。本标准由中国建筑材料联合会提出。本标准由全国人工晶体标准化技术委员会(SACjTC461)归口。本标准起草单位z中国科学院福建物质结构研究所、国家光电子晶体材料工程技术研究中心、福建福晶

2、科技股份有限公司、中国计量学院材料与工程学院。本标准主要起草人z兰国政、吴少凡、林文雄、王昌运、张剑虹、李雄、史宏声、秦来顺。本标准为首次制定。I GB/T 29420-2012 掺铁饥酸盐激光单晶元件1 范围本标准规定了掺敏锐酸盐激光单晶元件的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则及包装、标识、运输、贮存等过程的要求。本标准适用于掺敏辄酸盐激光单晶元件，其他种类的激光单晶元件也可参照使用。2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本包括所有的修改单适用于本文件。GB/T 11297. 1-200

3、2 激光棒波前畸变的测量方法GB/T 16601-1996 光学表面激光损伤阔值测试方法第1部分:1对1测试GB/T 22452-2008 棚酸盐非线性光学单晶元件通用技术条件GB/T 22453-2008 跚酸盐非线性光学单晶元件质量测试方法3 术语和定义3. 1 3.2 3.3 3.4 GB/T 22452-2008界定的以及下列术语和定义适用于本文件。掺敏钮醋缸Nd户dopedyttrium vanadate 一种掺敏的辄酸缸激光单晶以及其加工而成的元件。不垂直度nonperpendicularity 单晶元件通光面与侧面之间的不垂直程度。光学不均匀性optical heterogeni

4、ty 介质折射率的不均匀程度.避射波前畸变transmitted wave front distortion 平行光束的波面透过被检单晶元件后相对于标准参考波面的畸变。4 技术要求4. 1 物理性能4. 1. 1 散射在波长为632.8nm的氮氧激光照射下，单晶元件单位体积(cm3)内直径大于10m的散射点不得多于4个.1 GB/T 29420-2012 4. 1.2 光学不均匀性在波长为632.8nm的氮氛激光照射下，单晶元件光学不均匀性应不大于1X 10-5 4. 1. 3 特定波长单程损辑单晶元件经过镀制1064 nm减反膜后，在披长1064nm处单程损耗应小于1%。4.1.4 遗射温前

5、畸变在波长为632.8nm氮氛激光的照射下，被测元件的透射波前畸变干涉图峰-谷值偏差应不大于./4。4.2 加工质量一一4.2. 1 尺寸公差:W骂:lmmXH骂:lmmXL士g:mm4.2.3 不平行度 单晶元件两个通光4.2.4 不垂直度-_ 单晶元件的通光面与侧面之间的不垂直度应不大于30T。4.2.5 有效通光孔径单晶元件的通光表面扣除四周倒角后的可用面棋与整个通光面面霖的比值为有效通光孔径，其应不小于85%。4.2.6 囊面疵病抛光元件有效通光孔径内，S/D应不大于20/10;镀膜元件，S/D应不大于60/40.4.2.7 倒角倒角的宽度应不大于0.2mm. 2 曾 4.2.8 崩边

6、、崩口及崩裂沿边缘向内侧方向延伸宽度以径向)崩边应不大于0.2mmo 沿边缘方向，崩口宽度之和应不大于0.5mm. 角的崩裂应不大于0.2mm。4.2.9 单晶表面镀膜的光学性能GB/T 29420-2012 镀制1064nm增透膜和808nm增透膜，1064nm增透膜膜层的剩余反射率应小于0.2%;808nm 增透膜膜层的剩余反射率应小于3.0%。4.2.10 膜层的牢固度使用3M公司810镀膜5 试验方法5. 1 测试的环撞要求、5.2 物理性能5.2. 1 散射散射的测试方法按GB/T22453-2008执行。5.2.2 光学不均匀性光学不均匀性的测试方法按GB/T22453-2008执

7、行。5.2.3 特定擅长单程损耗5.2.3.1 测试原理的光束质量个测试点连续当功率为Pz的特定波长光垂直人射晶体，晶体吸收光之后，光功率衰减得到Pt，利用式(1)计算得GB/T 29420-2012 到特定波长单程损耗L。L=(l-;:) X 100% 式中zL-一特定波长单程损槌zP t -特定波长出射光功率，单位为瓦(W);Pz一一特定波长人射光功率，单位为瓦(W)。5.2.3.2 测试仪器激光器、起偏器、功率计等，测试示意图见图2。说明sA一-一激光器sB一一起偏器zC一一待测单晶元件sD一一一探测器.A B C 圄2特定波长单程损耗测试示意固5.2.3.3 测试步骤. ( 1 ) D

8、 按图2搭建好测试系统。调好光路，调整光斑直径至1mm，稳定特定波长激光功率Pz为100 mW，放人待测单晶元件，利用探测器测得Pt，代人利用式(1)计算得到特定工作波长单程损耗L.5.2.4 锺射波前畸变透射波前畸变的测试方法按GB/T11297.1-2002执行。5.3 加工质量5.3. 1 尺寸公差尺寸公差的测试方法按GB/T22453-2008执行。5.3.2 角度偏差角度偏差的测试方法按GB/T22453-2008执行。5.3.3 不平行度不平行度的测试方法按GB/T22453一2008执行.5.3.4 不垂直度不垂直度的测试方法按GB/T22453一2008执行。4 啕 , r 甸

9、园b. -d 5.3.5 有效通光孔径有效通光孔径的测试方法按GB/T22453-2008执行。5.3.6 表面疵病表面疵病的测试方法接GB/T22453-2008执行。5.3.7 倒角5.3.7. 1 测试仪器带有测微尺的暗场显微镜(200倍放大，准确度为0.001mm)、观测平台。5.3.7.2 测试方法在暗场照明下观测单晶元件的倒角宽度。5.3.8 崩边、崩口及崩裂5.3.8. 1 测试仪器带有测微尺的暗场显微镜(200倍放大，准确度为0.001mm)、观测平台。5.3.8.2 测试方法在暗场照明下观测单晶元件的崩边、崩口及崩裂。5.3.9 单晶表面镀膜的光学性能5.3.9. 1 测试原

10、理GB/T 29420-2012 利用分光光度计测得石英校准片的工作波长反射率、镀膜单晶样品的工作波长反射率和未放样品的本底工作波长反射率，利用式(2)计算得到镀膜单晶元件的剩余反射率R。式中zR一一剩余反射率FR, -R R=一一一ox 100% R2 -Ro R。一一一石英校准片对工作波长的反射率ERl一一镀膜单晶元件对工作波长的反射率FR2 -仪器本底对工作波长的反射率.5.3.9.2 测试仪器分光光度计。5.3.9.3 测试步骤.( 2 ) 把石英校准片放在样品台，设定好扫描波长，得到工作波长反射率。把镀膜单晶元件放在样品台，设定好扫描波长，得到工作波长反射率。取走镀膜单晶元件，设定好

11、扫描波长，得到工作波长反射率。利用式(幻，计算得到镀膜单晶元件工作波长的剩余反射率R.5.3.10 膜层的牢固度使用宽度为1.6 cm的3M公司810型号肢带牢固地贴在镀膜表面时，快速地以垂直于膜面的方向GB/T 29420-2012 将胶带拉起s重复5次，观察是否出现脱膜或裂膜现象。5.3. 11 膜层的抗菌湿性能在暴露于温度为45c 50 c、相对湿度为95%100%的环境至少24h后，或采用加速试验，温度60c .相对湿度为95%100%的环境2h后，观察是否出现脱膜或裂膜现象。5.3.12 膜层的抗温度冲击将单晶元件放入加热容器中，在40min内从室温升到100C.在不少于40min时

12、间内降至室温，观察是杏出现脱膜或裂膜现象。5.3. 13 膜层的抗激光损伤闸值膜层的抗激光损伤阔值按GB/T16601-1996执行。6 检验规则6. 1 检验分类6. 1. 1 出厂栓验出厂检验项目为4.1.1、4.2.14. 2. 8.全捡，不合格品剔出。6. 1. 2 型式检验6. 1. 2. 1 型式检验检测项目为本标准所要求的全部项目。6. 1. 2. 2 有下列情况时进行型式检验=a) 新产品投产时zb) 制备工艺有较大改变，可能影响产品质量时zc) 出厂检验结果与最近一次型式检验结果有差异时zd) 停产三个月恢复生产时。6. 1. 2.3 抽样方法z在同一加工工艺条件制成的产品中

13、随机抽取，抽取量不少于1%.且不低于2件s若该批仅有一件，则抽取该件.6.2判定检验结果符合本标准要求的，则判定该批产品为合格。如有不合格项，可自同批产品中加倍抽样，对不合格项进行复检。复检结果如全部合格，则该批产品为合格F复检结果如仍有不合格，则判定该批产品为不合格。7 包装、标识、运输和贮存7. 1 包装7. 1. 1 肉包装采用弹性膜盒包装。包装时，产品应在超净室内擦拭干净后装人膜盒，通光面不得直接接触包装物。包装应密封、洁净、防潮、防震、防静电和防冲击等. 、a . P . 旬，GB/T 29420-2012 7. 1. 2 外包装包装箱内应有装箱单和使用说明书。装箱单应标明z单晶元件

14、名称、数量、尺寸、切割角度、镀膜指标及生产厂家等。7.2 标识产品外包装上应标明za) 生产厂家、厂址Fb) 产品名称、数量Ec) 执行标准编号Fd) 生产日期、保质期se) 小心轻放、防潮飞易碎等图标。7.3 运输产品在运输过程中应轻装轻卸，不得挤压，并采取防震、防潮等措施。7.4 贮存产品存放在拮净等级优于10000级、温度(23土2)(;、相对湿度应不大于30%的环境中。产品保质期自生产之日起1年。NFONlONgNLF筒。s 乡国华人民共和国家标准掺敏舰酸盐敢光单晶元件GB/T 29420-2012 中4 中国标准出版社出版发行北京市朝阳区和平垦西街甲2号(100013)北京市西城区三里凋北街16号(10004日 网址总编室:(010)64275323发行中心:(010)51780235读者服务部，(010)68523946中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销* 印张0.75字数14千字2013年4月第一次印刷开本880X12301/16 2013年4月第一版 书号:155066. 1-47007定价16.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68510107打印日期:2013年5月7日F002A