GB T 24762-2009 产品几何技术规范(GPS).影像测量仪的验收检测和复检检测.pdf
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1、ICS 17.040.30 J 42 GE 中华人民=H工/、和国国家标准GB/T 24762-2009 产品几何技术规范(GPS)影像测量仪的验收检测和复检检测Geometrical Product Specifications ( GPS) -Acceptance test and reverification test for video measuring machine 2009-12-15发布中华人民共和国国家质量监督检验检痊总局中国国家标准化管理委员会2010-09-01实施发布GBj T 24762-2009 目次前言.1 l 范围.2 规范性11用文件-3 术语和定义4 计量
2、学特性要求25 验收检测与复检检测6 按标准检测合格7 应用7附录A(规范性附录)专用台阶规技术规格9附录B(资料性附录)镜头齐焦10附录c(资料性附录)影像测监仪分辨力与放大倍数的匹配关系附录D(资料性附录)单、双向逼近和l单、双向及对中测量12附录E(资料性附录中间核查.附录F(资料性附录在GPS矩阵模式中的位置 14 参考文献.GB/ T 24762-2009 刚昌本标准的附录八为规范性附录,附录B、附录C、附录D、附录E和附录F为资料性附录。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国盘具盘仪标准化技术委员会CSAC/TC132)归口。本标准负责起草单位:深圳市计量质量检测研究院、深圳
3、赛克数码科技开发有限公司。本标准参加起草单位:海克斯康测量技术(青岛有限公司、成都工具研究所、广陆数字测控股份有限公司、上海交通大学、深圳市中图仪器科技有限公司、奥智品光学仪器上海有限公司、机械科学研究院中机生产力促进巾心。本标准主要起草人:lF冀平、汤宁、王晋、姜志刚、吴纪岳、缪华清、姜雅彦、赵辉、陆国征、马俊杰、吕蓉、李晓沛。I GB/ T 24762-2009 产品几何技术规范CGPS)影像测量仪的验收检测和复检检测1 范围本标准规定了用已校准长度的标准器(以下简称标准器)验证影像测量仪性能的验收检测,以及用户定期再验证影像测量仪性能的复检检测。本标准规定的验收检测和复检检测适用于XY平
4、面直角坐标系的影像测量仪,包括在垂直于平面直角坐标系Z方向上具有定位或测量功能的影像测量仪。本标准规定的验收检测和复检检测不适用于带视频探测系统的三坐标测量机和带三维触发测头的影像测量仪。本标准规定了证实影像测量仪性能要求的验收检测和复检检测的完成方法、判定合格的规则和验收检测和复检检测的应用。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些引用文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。GB/ T 17163 几何量
5、测量器具术语基本术语GB/T 17164 几何量测量器具术语产品术语GB/T 18779. 1- 2002 产品几何量技术规范CGPS)工件与测量设备的测量检验第1部分:按规范检验合格或不合格的判定规则(lSO14253-1: 1998 , IDT) 3 术语和定义GB/ T 17163和GB/T17164确立的以及下列术语和定义适用于本标准。3. 1 影像测量仪video measuring machine 基于成像在光电藕合器件上的光学影像系统(简称影像系统),通过光电榈合器件采集,经过软件处理成像,显示在计算机屏幕上,利用测量软件进行几何运算得出最终结果的非接触式测量仪器。3.2 3.3
6、 长度测量示值误差length m easurement error E,. 影像测量仪对已校准长度的标准器测量,测量值与标准器实际值的差值。聚焦平面长度测量示值误差length m easurement error of focal pJaoe Exy 在平行于聚焦平面方向上的长度测量示值误差。注1.在本标准中,Xy平面默认为平行于聚焦平面,若不然,则须作相应标注(例如Exz或Eyz)0 注2:若仅沿平行于X轴方向或仅沿平行于Y轴方向得到的示值误差,可表示为Ex或EyoGB/ T 24762- 2009 3. 4 3. 5 3.6 光轴方向长度测量示值误差length measurement
7、 error of optical axis E z 在平行于影像系统光轴方向上的氏度测量示值误差。注:在本标准中,Z轴默认为平行于影像系统光轴,若不然,贝IJ须作相应标注(例如Ex或Ey)0 截面原点一致性误差consistency error of origin in differenl sections 视窗长度测量示值误差ELV 在影像测量仪运动节;的标准器进行视窗测量,、3. 7 探测误差Eno 注:检测圆名义町3.8 成像误差i E1 3. 9 影像分辨力resofl!lif video system R 飞羽对成像在影像系统视场范围内的线纹间距的分辨能力。 , 4 计量学特性要求
8、-一仪器在测量室平衡温度的时间;一一仪器与标准器具的温度差等。系统用离散点上述条件参数:验收检测由制造商规定;复检检测由用户规定。用户可在给定的范围内随意选择环挠条件。4. 1. 2 仪器测量室内应元影响测蓝的灰尘、噪音、震动、腐蚀性气体和较强磁场。注:当检测条件不满足供应商给定的条件H才,供应商可能给出更.大的允许误差.4. 2 操作条件当迸行本标准第5章规定的检测时,应严格按照制造商所提供的仪器使用说明书操作,以下方面应2 GB/ T 24762-2009 特别注意:a ) 仪器启动/预热循环;b) 测量系统标定;c) 影像系统放大倍数;d) 照明。4.3 影像测量仪性能要求本标准允许各种
9、影像测量仪有其自己的功能定义,因此也允许在检测参数的选择上有某些灵活性。各项性能要求:一验收检测由制造商规定;一复检检测由用户规定。4.3. 1 长度测量示值误差、截面原点一致性误差4. 3. 1. 1 对在垂直于平面直角坐标系Z方向上具有测量功能的影像测量仪,下列性能要求不应超过其最大允许误差:一-Exy;一-Ez;ELV ; 一-Eo。4.3. 1. 2 对在垂直于平面直角坐标系Z方向上具有定位功能的影像测量仪和只能在任何二维平面内作测量的影像测量仪,下列性能要求不应超过其最大允许误差:Ex, ELV; Eo。4. 3. 1. 3 上述性能要求的误差及其最大允许误差用微米表示。4.3.2
10、探测误差探测误差EP20的检测应当包括机器运动和视场的整个可用部分;探测误差EP2D不应超过探测误差的最大允许误差,探测误差和其最大允许误差用微米表示。4.3.3 成像误差成像误差EI的检测应当包括视场的全部有效区域;成像误差EI不应超过其最大允许误差,成像误差和l其最大允许误差用微米表示。4.3. 4 影像分辨力应满足说明书规格中给出的指标。4.4 测量系统配置对于给定的最大允许误差,影像系统配置放大倍数、变焦水平、照明、物镜等)的限制条件:一-验收检测由制造商规定;一一复检检测由用户规定。用户可在限定的范围内随意选择探测系统的配置。5 验收检测与复检检测5.1 概述一一按制造商提供的技术资
11、料和程序完成验收检测;一一接用户的作业指导书和制造商的程序完成复检检测。5.2 检测长度测量示值误差Ez,E肝和ELV的通用要求5.2. 1 长度测量示值误差的评定方法为,用影像测量仪测量标准器的长度,通过比较测量值和标准值的差f起来确认示值误差不超过最大允许误差。此标准器的值溯源到国际单位米。3 G/ T 24762-2009 5.2. 2 评定各长度测量示值误差的检测位置、检测间隔和检视IJ次数应按如下要求选择:评定Ez的检测位置一一在影像测量仪的光轴位置上;评定聚焦平面长度测量示值误差Exy的检测位置-在垂直于平商直角坐标系Z方向上,选择工作台面和不小于50%Z轴运动范围的两个平面(平行
12、于聚焦平面。在工作台面上选四个位置进行测量,两个位置应当是XY测量范围对角线方向,另两个应分别平行于X轴和Y轴;在另一平面选择平行于X轴和Y轴方向的两个位置进行测量。5.3 光轴方向长度测量示值误差Ez的检测5.3. 1 测量方法5.3. 1. 1 按制造商给定的常规程序设置并标定影像系统。测间隔不大于测量行程的10%, ;不允许应用整个窗口5.3. 1. 2 选择量块或台阶规作标准器,按5.2.2的要求设置检测间隔,每一个检测间隔测量三次。5.3.2 检测结果处理测量值与标准器实际值的差值为示值误差,当满足4.1的环境条件时,9个示值误差均应不超过Ez的最大允许误差。4 G/ T 24762
13、-2009 5. 4 聚焦平面长度测量示值误差Exy的检测5.4. 1 测量方法5. 4. 1. 1 按制造商给定的常规程序设置并标定影像系统。5. 4. 1.2 选择线纹尺作标准器,按5.2.2的要求设置检测间隔,检测线纹中心距,每一个检测间隔测量三汰。5. 4.2 检测结果处理测量值与标准器实际值的差值为示值误差,当满足4.1的环境条件时,54个示值误差均应不超过对应的最大允许误差。5.5 屏幕长度测量误差ELV的检测5.5. 1 测量方法5. 5. 1. 1 按制造商给定的常规程序设置井标定影像系统。5. 5. 1.2 选择线纹尺、掩模植作标准器,按5.2. 2的要求设置检测问隅,每一个
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