GB T 12561-1990 发光二极管空白详细规范(可供认证用).pdf

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1、中华人民共和国国家标准发光二极管空白详细规范8lank detail specification for light emitting di叫(可供认证用)GB/T 1 2 56 1 - 9 0 本空白详细规范规定了制订发光二极管详细规范的基本原则，制订该范围内的所有详细规范应尽可能与本空白详细规范相一致。本标准是与GB4589. 1 (半导体器件分立器件和集成电路总规范和GB12565(半导体器件光电子器件分规范有关的一系列空白详细规范中的一个。要求资料t下列所要求的各项内容，应列入规定的相应空栏中.详细规范的识别:(1)授权发布详细规范的国家标准机构名称。(2) IECQ详细规范号。(3)

2、总规范和分规范号。(4)详细规范号、发布日期和国家体系要求的任何更多的资料。器件的识别:(5)器件型号。(6)典型结构和应用资料e如果设计一种器件满足几种应用，则应在详细规范中指出。这些应用的特性、极限值和检膛要求均应予以满足。(7)外形图和(或)引用有关的外形标准。(8)质量评定类别。(9)能在器件型号之间比较的最重要特性的参考数据。整个空白详细规范中，在方括号内给出的内容仅供指导制订详细规班时用，而不包括在详细规范中。在极限值和特性的数值栏中，X表示在详细规范中应给出的具体值。7国家技术监督局1990-12-06批准1991-10-01真施GB/T 1 2561 - 9 0 (1) I (

3、2) 评定器件质量的根据:(3) I C详细规范号和发布什)日期。如果详GB 4589. 1半导体器件分立器件和集成电路总规|细规范号与IECQ号重复，则本栏可范)以不用GB 12565(半导体器件光电子器件分规范器件型号详细规程(5) 订货资料:见本规范第7章1 机械说明(7) 2 简略说明(6) 外形标准:材料:IEC 191-2(半导体器件的机械标准化第二部分封装:空封或非空封尺寸用途:外形图:可在本规范第10章给出详细资料引出端识别:图形、色码或真它特殊方法7标志:根据GB4589. 1的第2.5条或本规范第6章的规I3 盾量评定类别(8) 寇.c详细规范应规定在器件上标出的最少项目根

4、据GB4589. 1第2.6条参考数据(9) 按本规范鉴定合格的器件的有关制造单位的资料，可在现行合格产品一览表中查到GB/T 1 2 5 6 1 - 9 0 4 极限值(绝对最大额定值)除非另有规定，下列极限值在整个工作温度范围内适用。只重复使用带标题的条文号。任何附加值在适当的地方给出，但没有条文号。曲线最好在本规范第10章给出。条文号名称符号数值单位最小值最大值4. 1 工作环境温度Tarnb C 4. 2 贮存温度Tg C 4. 3 反向电压。VR V 4. 4 正向电流h mA 4. 5 脉冲条件下正向峰值电流2)IFM mA 4.6 功率耗散PM 口1、v注:)不适用于连接阳极-阴

5、极和阴极-阳极的双二极管器件。2)应规定脉冲宽度、占空比。5 光电特性检验要求见本规范第8章。只重复使用带标题的条文号，任何附加特性应在适当地方给出，但没有条文号。当在同一详细规范中规定几种规格的器件时，有关的数值应以连续方式给出，以避免相同值的重复。曲线最好在本规范第10章给出。特性和条件数值单位检验条文号除非刃有规定，T.mb=25C符号最小值最大值分组5. 1 IE向电压Vp V A2b 在规定的IF下5.2 反向电流。IR A A2b 在4.3条规定的h下5. 3 发光强度lv x2) mcd A2b 在规定的IF下沿机械轴测量5.4 峰值发射波长p nm C2a 在规定的iF下5.5

6、 光谱辐射带宽2)tl nm C2 在5.4条规定的IF下。5.6 半强度角2)1/2 x2) C3a 在5.3条规定的IFT 5.7 开关时间2)ton s C2a 在规定的直流偏置屯流:t off s C2a 脉冲宽度和占空比下:5. 8 总电容2)C飞吼 pF C2a 在规定的反向电压h和测试频率下注:1)不适用于连接阳极-阴极和阴极阳极的双二极管器件。2)适用时。GB/T 1 2 56 1 - 9 0 6 标志除在本规范第1章和(或)GB4589. 1第2.5条所给出的标志外，任何其它资料应在本章给出。7 订货资料除非另有规定，订购一种具体器件至少需要以下资料:a. 准确的型号;b.

7、参考的带有版本号的IECQ详细规范;C. 按GB4589.1第2.6条规定的质量评定类别和(或)按GB12565第3.6条规定的筛选等级;d. 任何其它细节。8 试验条件和检验要求C在以下各表中给出的试验条件和检验要求，其所用数值和确切的条件，应按给定型号的要求和有关规范中规定的有关试验予以规定。制订详细规范时，对于两种以上的替换试验或试验方法要加以选择。当在同一详细规覆中包括几种规格的器件时.有关的条件和(或)数值应以连续方式给出，以尽可能避免相同的条件和(或)数值的重复。除非另有规定，本章中引用的条文号对应于GB4589. 1的条文号。本章中所用测试方法引用的条文号与GB12565 牛致。

8、根据适用的质量评定类别，抽样要求可从GB12565第3.7条查得。对于A组检验，制定详细规范时应注定坑。L戎LTPD方案。主部试验都是非破坏性的(见第3.6.6条)检验或试验符号|引用标准A1分组外部目检4. 2. 1. 1 A2a分组不工作器件极性发光强度lv L-OOl 正向电压l p L-006 反向电流IR L-007 A2b分组光电特性发光强度lv L-OOl 正向电压VF L-006 反向电流IR L-007 注，1)适用时。A组一一逐批LSL规范下限值1根据本规范第5章SL规范上限值j条件检验要求极限值除非另有规定，T.mb=25C最小值最大值(除非另有规定)极性颠倒在规定的h下

9、O.3LSL 在规定的lp下2 USL 在规定的VR下50 USL 在规定的lp下LSL USUl 在规定的lp下USL 在规定的h下USL 单位mcd V uA mcd V flA GB /T 1 2 5 6 1 - 9 0 B组一一逐批只有标明(D)的试验是破坏性的(见第3.6.6条)检验或试验符号引用标准条件除非另有规定，T.mb=25CB1分组尺寸GB 12565 , 附录BB3分组引出端强度GB 49371) , 在详细规范中具体规定拉力(D)2. 1. 1 B4分组GB 4937 , 在详细规范中具体规定，优先可焊性2.2.1 采用焊槽法B5a分组温度快速变化GB 4937 , 3

10、. 1 继之以循环湿热(D)SJ/Z 9016 , 严酷度:温度:55C(对非空封器件)42) , 循环数:2 (IEC 749 , III , 4) 或密封(对空封器件)GB 4937 , 3.7 最后测试:反向电流IR L-007 在规定的几下正向电压VF L-006 在规定的IF下发光强度Iv L-OOl C在规定的IF下B6分组恒定加速度GB 4937 , 按规定(对空封器件)2. 5 最后测试:同B5a分组同B5a分组, 检验要求极限值最小值最大值单位见本规范第1章无损坏润湿良好外观颜色无明显变化USL A USL V LSL USUJ mcd 同B5a分组G8/T 1 2 5 6

11、1 - 9 0 检验要求检验或试验符号引用标准条件极限值除非另有规定，Tamb=250C最小值最大值单位88分组电耐久性GB 49384) , 工作寿命，时间:168 h 本规范附录A最后测试:电流:第4.4条规定的数值反向电流IR L-007 在规定的h下2 USL A 正向电压VF L-006 在规定的h下1. 1 USL V 发光强度lv L-OOl 在规定的h下0.7 LSL mcd B9分组高温贮存GB 4937 温度:最高T，. 最后测试:3. 2 时间:168 h 外观颜色无明显变化同B5a分组同时分组同B5a分组CRRL 提供B3、B4、町、B9的计数数据，提供B8分组前后的计

12、数数据分组注:1) GB 4937(半导体分立器件机械和气候试验方法儿2)臼/Z9016(半导体器件机械和气候试验方法。3)适用时。4) GB 4938(半导体器件接收和可靠性。c组一一周期只有标明(D)的试验是破坏性的(见第3.6.6条)检验或试验符号引用标准条件除非另有规定，Tamb=25C Cl分组尺寸GB 12565 ! 附录BC2a分组光电特性峰值发射波长何L-003 在规定的IF下光谱带宽1)， L-003 在规定的IF下1半强度角1)1/2 L-004 在规定的p下检验要求极限值最小值最大值单位见本规范第1章 nm nm XI) 。GB/T 1 2561 - 9 0 检验要求检验

13、或试验符号引用标准条件极限值除非另有规定，T川=25C最小值最大值单位开关时间1)ton L-005 在规定的直流偏置电流、脉冲 s tOff 宽度和占空比下 s 总电容。co, L-008 在规定的反向电压VR和测试 pF 频率下C3分组引出端强度GB阳.1(在详细规范中具体规定元损坏弯曲(D)2. 1. 2 C4分组耐焊接热(D)GB 4937. 方法lA2.2.2 最后测试:反向电流IR L-007 在规定的几下7USL A 正向电压VR L-006 在规定的IF下USL V 发光强度lv L-OOl 在规定的IF下LSL USV) mcd C6分组(对空封器件)机械冲击GB 4937

14、, 在详细规范中具体规定2.4 或振动GB 4937 , 2. 3 继之以恒定加速度GB 4937 , 2.5 最后测试z同C4分组同C4分组同C4分组C7分组稳态湿热(D)GB 4937 , 按规定(对空封器件)3.5.2 或循环温热(D)SJ/Z 9016 , 严酷度z温度55C(对非空封器件)4 循环数6GBjT 1 2 5 6 1 - 9 0 检验要求检验或试验符号引用标准条件极限值除非另有规定，Tamb=25C最小值最大值单位最后测试:外观颜色无明显变化反向电流IR L-007 在规定的VR下2 USL A 正向电压Vp L-006 在规定的lp下1. 1 USL V 发光强度lv

15、L-001 在规定的lp下0.7 LSL mcd C8分组电耐久性GB 4938 , 工作寿命本规范时间:1 000 h 附录A电流:本规范第4.4条规定的数值最后测试:同C7分组同C7分组同C7分组C9分组高温贮存(D)GB 4937 , 时间:1 000 h |外观颜色无明显最后测试:3.2 温度z最高T啕变化同C4分组同C4分组CRRL分组提供C3、C4、C7和C9分组的计数数据和C8分组前后的计量数据注:1)适用时。9 D组试验一一鉴定批准试验检验要求检验或试验符号引用标准条件极限值除非另有规定，Tamb=25C最小值最大值单位高压蒸汽GB 4590 , 温度:121C 4. 5 压力

16、:2.OX 105Pa 时间:8h 最后测试:反向电流IR L-007 在规定的VR下2 USL A 正向电压VF L-006 在规定的IF下. 1 USL V 发光强度lv L-OOl 在规定的p下0.7 LSL mcd GB/T , 2 5 6 , - 9 0 10 附加资料(不做检验用)只要器件规范和使用需要，就应给出附加资料，例如:有关极限值的温度降额曲线;测试电路或补充的完整说明;详细的外形图等。GB /T 1 2 5 6 1 - 9 0 附录A电耐久性试验(补充件)采用GB4938标准中的有关规定，并对工作寿命试验条件做如下规定。试验电路:工作条件:电流z本规范第4.4条规定的数值。电压:正弦波50Hz，峰值=VR阳。温度:按GB4938第2.2.1.3的规定。附加说明z本标准由中华人民共和国机械电子工业部提出。本标准由机械电子工业部电子标准化所负责起草。本标准主要起草人张彦秩。R L RL=负载电阻器