GB T 10263.2-1988 辐射探测器环境试验基本要求与方法 温度试验.pdf

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1、1 休。2 3 中华人民共和国国家标准辐射探测器环境试验基本要求与方法温度试验Basic enviromental testing procedures for radiation detectors-Temperature test 主题内容与适用范围本标准规定了温度试验的规范、要求与方法。UDC 621.039:681.Z 创1.4 GB 10263.2-88 本标准适用于辐射探测器的温度试验。也适用于组成辐射探测器的部件。例如光电倍增管和闪烁试验规范见下表。项目规范备注高温，40, 55, 70, 100, 120. 150, 175 2 低温，5.o. - 10, -20. -30,

2、40 士3捞续时间，h2. 4, 6, a, 12. z4, 100. 1ss 一般温度试验应从本规范中选定，特殊环境温度试验的规范可由产品的技术标准中规定。试验要求3. 1 温度箱内的容积至少是受试器件（受试系统）的三倍。高、低温度箱内的温度分布均匀、恒定、温差不超过2。必要时，可采取不违背温度试验目的的措施，如对低温箱密封及注人F燥空气等，以防止湿度的影响。3.Z 根据辐射探测器的特性及试验要求，温度的变化率分为三档z分别为不超过10庙、20h、30h，热乎街时间推荐优选等级为1、2、4、6、8h，应不少于1h, 3.3 在升温、降温、恒温过程中，受试器件和测试系统处于不工作状态如需处在工

3、作条件下试验可在产品技术标准中规定，测试仪器预热半个小时后，方可读取数据。4 试验方法4.1 把受试器件及必要附件放在温度箱内，测试系统在温度箱外。试验方框如下图所示。中国核工业总公司1988-12-30批准1989-10-01实施5 GB 10263.2-88 -, 4且可L箱广咣在 圳是出器竹- - _J t拥而扬：测ii电跟,2 I. 3 带温度冲击的高温试验z将温度箱调到所需温度的等级，受试器件放人温度箱内。开门时间应少于2mi n，放入箱内后，恢复到开门前温度所需时间不得超过15min1不带强度冲击的高温试验2先将受试验件放人箱内，然后将温度箱的温度调到所需等级温度。再在规定温度下保

4、持），时间（按表中规范选择，但不得少于2h），按产品技术标准测监此温度下受试器件同一性能参数。4.4 如果是非工作状态下试验，在试验结束后，在室温下放置l2h，对受试器件进行电参数和外观检查。4.5 完成高温试验后，规定。4.6 带温度冲击低温试验z将温度箱的温度调到所需低温值，受试器件放入低温箱内B不带温度冲击试验2先将受试器件放入温度箱内，然后调节温度到所需值。按4.3条要求进行低温试验，按产品技术标准测量此温度下的性能参数。温度性能可采用下面三种表达方式ga. 给出定温度下的参数值，b. 给出参数的相对变化，可用温度系数表示。计算公式如下：Xrh-Xo 1 -z-一？仨y-;100%Xr

5、, -To 1 X0 To -T, 受试器件的某参数值，受试器件的某参数值，受试器件的某参数值。温度试验测试方框图把温度箱内的温度调到基准温度20 2，按产品的技术标准中规定，测量受试器件的性能参受试器件是否恢复一段时间，还是直接进入低温试验、可由产品的技术标准( 1 ) . Srh= 100 % I. . . . . . . . . . . . . . . . . . ( 2 ) Sr,= 式中gX。一一为基准温度T，时，Xr b一一试验温度为Th时，Xr，一一试验温度为T，时，给出外观性能ec. 试验结果5 试验过程中和试验结束后，对试验器件进行外观检查和性能参数检测，均应符合产品的技术标准。附加说日月2本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会提出。本标准由核工业部北京核仪器厂负贡起草。6 l