SJ T 11321-2006 DVD CD 只读光学头通用规范.pdf

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1、ICS 35.220.30 M 64 备案号:17161-2006 SJ 中华人民共和国电子行业标准SJ/T 11321-2006 DVD/CD只读光学头通用规范General specification of DVD/CD read-only optical pick-up EE- 1 , ll 川呻川MMMm咄咄咄OEUUHO MMM睛EEEnu-tt配配UUUUnUMHHHHHHHqd -EE-唱BEAMM呻呻EQUBtIIEIU们nuuuuuuunhu -EEEEa-EE-a-E-r!、. 1 EE-E I -EE 2006-01-16发布2006-02-01实施中华人民共和国信息产业

2、部发布SJ/T 11321-2006 目次H111157777778811357891366689903555555 tititi-且且且i叮-7-句，叮，句，7句中句句31d2J1d1d1d丐w可w试时阳刷则惆识HHHHHHHHHHi数试Utu-咀参测试试时揄um能能测测瞅查运情求试(性性能能回检i的毗要求测置器器性性住EH指HHUU装u件精及要数偏矩矩肚肚号叫刑法法方缸:由mL刷吼声立在时出黑黑监此总陈性、语略境观全境靠能方试率电焦迹焦在(汇全境靠规型收行、志签装输存围范语术缩述求环外安环可性时测功光聚盾穰宿旧作安环可地定交例志标标包运贮豆范规术概要拥j检nu1吨，hFEhLS121234

3、5612345678911112312345. 目123334555555566666666666667777888888SJ/T 11321-2006 目IJ昌本规范由中国电子音响工业协会CCAIA)光盘产业推进委员会CDICC)提出。本规范由全国音频、视频及多媒体系统与设备标准化技术委员会归口。本规范起草单位:清华大学光盘国家工程研究中心、中国电子科技集团公司第三研究所、镇江江奎集团公司、武汉朗油光电子技术有限公司、珠海江海电子股份有限公司、苏州精达数码光电有限公司、中国华录松下电子信息有限公司、上海广电数字音像电子有限公司、和川光电科技有限公司、惠州市华阳集团有限公司、昆明高新爱克瑞光学

4、技术有限公司、宁波精益集团公司、惠州中科光电有限公司、北京上方维志科技发展有限责任公司、惠州市蓝光科技有限公司、国丰吉邦光电技术(上海)有限公司、杭州照相机械研究所、杭州士兰微电子股份有限公司。本规范主要起草人:潘龙法、巩马理、田玉静、马建设、高万骏、刘向明、王继平、陈树骏、陈凯援、钱少鹰、邹垂锋、张勇、赵立人、武凉、杨贤文、马军等。II SJ/ T 11321-2006 DVD/CD只读光学头通用规范1 范围本规程规定了DVD/CD只读光学头的术语和定义、缩略语、一般要求、性能参数规格、测试方法、可靠性及标志、标记和包装。本规范适用于各种DVD只读光学头、CD只读光学头。2 规范性引用文件G

5、Brr 17933-1 3 术语、定义和缩略语3. 1 术语和定义的引用文件，其随后所有的范达成协议的各方研究1989) 间的验证试验60825-1: 1993) (扩音机)的环GBrr 4013-1995、GBrr1586非一1995和GBrr17933-1999确立的以及下列术语和定义适用于本规范。3. 1、1光盘播放机optcal dsc player 通过光学头读取光盘上记录的信息，井经过解调和解码将信息以模拟或数字方式输出的光电设备。3. 1.2 光盘驱动器。ptcaldsc drve. optcal dsc drver 通过光学头在光盘上读取/写入/擦除信息的计算机外部设备，根据功

6、能可以分为只读光盘驱动器、一次写光盘驱动器及可擦写光盘驱动器三类。除非特别说明，在本规范中仅指只读光盘驱动器。3. 1.3 光学头optcal pck-up (OPU). optcal pck-up head, optcal head SJ/T 11321-2006 由半导体激光器、物镜、光电探测器、力矩器等相关光学及机电元件组成的光盘播放机、光盘驱动器的前端关键部件，用于实现信息的读出、写入及擦除等功能，一般分为只读光学头、读/写光学头及读/写/擦光学头三类。除非特别说明，在本规范中仅指只读光学头。3.1.4 基座sl ide base, housing, base 用来安装光学头中各相关光

7、学、机械、电子元件，保证各种元件之间相互位置关系的部件。3.1.5 物镜objective lens 光学头中将半导体激光器发出的激光束会聚成与光盘信息坑相匹配的光斑的光学元件。3.1.6 力矩器actuator 光学头中根据伺服误差信号，实现物镜的空间实时调整，以保证光斑能够精确定位在光盘信道上的机电组件。力矩器以二维力矩器为主，在高精度光学头中也使用三维和四维等力矩器。3.1.7 半导体激光器laser diode 通过激发可以产生具有时间相干性和空间相干性光束的半导体器件，是光学头的读出/写入/擦除光源。3.1.8 光电探测器photo detector 光学头中将光盘中读出的光脉冲信号

8、，转换成相应电信号的光电转换器件。3.1.9 光电探测器组件photo detector integrated circuit 在光学头中将光电象限探测器和高速模拟处理电路集成于一体的光电器件，可以将光盘中读出的光脉冲信号，转换成电信号，并通过对电信号进行调节，形成相应的输出信号。3. 1. 10 光电集成器件。ptoelectronicintegrated circuit hologram 利用光电子技术和微电子技术将相关光学元件和电子元件集成于一体的光电器件，可以完成光电信号的接收、发射等功能，用来替代光学头中分立光学和电子元件。3. 1. 11 数值孔径numerical apertur

9、e 与物镜聚焦光斑大小成反比的无量纲参数，表征物镜会聚能力的指标，表达式NA=nsin(, n为光盘基介质的折射率，为孔径角。3.1.12 工作距离working distance 光学头正常聚焦工作时，光盘表面与物镜之间的最短垂直距离。3.1. 13 伺服误差信号servo error signal 表示光学头聚焦光斑与光盘信息面、光盘信道空间位置关系的偏差经光电转换形成的电信号，包括聚焦误差信号、循迹误差信号等。聚焦误差信号(focusingerror signal)表示聚焦光斑与光盘信息面的垂直偏差信号。循迹误差信号(trackingerror signal )表示聚焦光斑与信道的径向偏

10、差信号。3.1.14 物镜输出光功率。utputpower from objective lens 2 半导体激光器发出的激光光束经过物镜会聚后输出的激光功率。3. 1. 15 半导体激光器工作电流laser diode operaton current 半导体激光器工作状态下的电流。3. 1. 16 半导体激光器探测电流laser diode monitor current 半导体激光器工作状态下，探测器输出的反映激光功率变化的电流。3. 1. 17 3 1. 18 3.1.20 光电探测光电探测强呈线性关系3. 1.21 光电探测因各种误差主(器几何中心在X光盘信息面上，而3.1.22 物

11、镜动作距离物镜在力矩器弹性范作距离。3.1.23 灵敏度senstvty SJ/T门321-2006到接收面的光?民焦动作距离和物镜循迹动物镜位移与力矩器驱动线圈电压或电流之间的比值，包括聚焦灵敏度和循迹灵敏度，根据工作频率又可分为低频灵敏度和高频灵敏度。3. 1. 24 共振频率resonance frequency 力矩器组件的固有频率。包括聚焦共振频率和循迹共振频率。力矩器在低频状态下的共振频率为一级共振频率，在高频状态下的共振频率为二级共振频率。3. 1.25 共振蜂值resonance peak 力矩器在共振频率处的幅值与静态幅值之间的差值。包括聚焦共振峰值和循迹共振峰值。力矩器在低

12、频状态下的共振峰值为一级共振峰值，在高频状态下的共振峰值为二级共振峰值。3 SJ/T 11321-2006 3.1.26 聚焦误差信号输出极性focusing error polarity 聚焦伺服误差输出信号与物镜相对于盘片垂直运动方向之间的正负关系。3. 1. 27 S曲线S-curve 聚焦开环误差信号，呈S形状，其线性区用于聚焦伺服控制，s曲线的线性区也被称为聚焦预搜索线性区。3. 1. 28 S曲线峰峰值S-curve level s曲线的最高值与最低值之差。3. 1. 29 S曲线偏置S-curve balance S曲线的几何中心与交流稿合信号零电平的偏离程度。3. 1. 30

13、循迹开环误差信号振幅tracking error level 聚焦闭环、循迹开环状态下，循迹伺服误差信号峰峰值。3. 1. 31 循迹开环误差信号偏置tracking error balance 聚焦闭环、循迹开环状态下，循迹误差信号几何中心与交流藕合零电平的偏离程度。3. 1. 32 E-F相位差E-F phase difference 使用三光束法循迹时，聚焦在盘片上的士1级光斑的相位差，表示:!:l级光斑连线与信道切线方向夹角的偏移量。循迹良好时，E-F相位差应该为18000 3. 1. 33 循迹误差信号输出极性tracking error polarity 循迹伺服误差输出信号与物镜

14、沿盘片径向运动方向之间的正负关系。3.1.34 高频信号幅值HF level 光学头读取光盘信息时光电探测器输出高频信号的峰峰值。HF信号也被称为RF信号(射频信号。3. 1. 35 位时钟周期bit clock period 单个比特的扫描时间周期。3.1.36 抖晃j itter 3Tl1T (CO)或者3T14T(OVO)等信息坑和信息台扫描时间与基准时钟的标准偏差。抖晃包括坑抖晃和台抖晃等。3. 1. 37 HF信号串扰HF crosstalk 在聚焦良好状态下，当光斑径向扫描跨越盘面信道时，因光斑大小导致的HF信号包络线的调制程度。3. 1. 38 HF调制比率HF modulati

15、on ratio 归一化高频信号，对于ovo光盘，表示14T信号坑(台)的高频信号幅值与最大反射电平之比:4 SJ/ T 11321-2006 对于CD光盘，表示l1T信号坑(台)的高频信号幅值与最大反射电平之比。3. 1. 39 离焦defocus 聚焦和循迹正常时，得到抖晃随直流偏置的变化关系曲线，在抖晃最小时的聚焦伺服直流偏置与S曲线峰峰值之间的比值，表示光盘信息表面相对于物镜焦平面的偏离程度。3. 1. 40 HF倍号直流峰值HF DC peak value 读取光盘时探测器输出的旧信号最大直流电平。3. 1. 41 3. 1. 45 推挽法push pu l 采用二象限光电探测随信号

16、坑和聚焦光斑的位置变道时，则两部分输出不相等，对光电探3.2 缩略语下列缩略语适用于本规范。 激光功率微分效率ACT 力矩器ASTG 像散法Bw 光电探测器带宽DEF 离焦DOB 物镜动作距离DOBF 物镜聚焦动作距离DOBT 物镜循迹动作距离幅值差获取循伊射和反射时，其光强分布是两部分输出相等，若光斑偏离信较，获取循迹误差的方法。5 差动相位法E-F相位差焦距一级共振频率二级共振频率聚焦误差信号共振频率田串扰高频信号幅值田调制比率半导体激光器探测电流半导体激光器工作电流阑值电流E直流峰值抖晃半导体激光器数值孔径物镜光电集成器件光学头光电探测器光电探测器偏置光电探测器组件物镜端输出光功率推挽法

17、一级共振峰值二级共振峰值共振峰值S曲线S曲线偏置S曲线峰峰值基座光点大小法灵敏度聚焦灵敏度循迹灵敏度位时钟周期三光束法循迹误差信号循迹开环误差信号偏置循迹开环误差信号振幅光电探测器参考电压物镜工作距离SJ/T 11321-2006 TR mmfr均白Eh配mmEhYMM盯山队佣卿卿mm眈nmmnwnMnZ陆bmm盯mm叫T刚回mmhnm6 4 慨述5要求5. 1 环境5. 1. 1 工作环境光学头应在产品外型尺寸按产品标准规定固，图形符号符合GB厅5.3 安全要求安全要求应符合GB7247.1-2001 5.4 环境适应性要求5.4.1 高温负荷DVD光学头在温度60.C条件下，应能持续工作8

18、亿5.4.2 高温贮存SJ/T 11321-2006 正确、清晰、端正、牢使用和维护。DVD光学头在温度70.C条件下搁置96h，恢复后，其外观、机械结构、功能及其性能参数应分别符合5.2和5.6的规定。5.4.3 I固定湿热DVD光学头在温度60.C、相对湿度90%的条件下搁置96h，恢复后，其外观、机械结构、功能及其性能参数应分别符合5.2和5.6的规定。5.4.4 低温负荷DVD光学头在温度-lOC条件下，应能持续工作8ho 7 SJ/T 11321-2006 5.4.5 低温贮存DVD光学头在温度-25.C条件下搁置24h，恢复后，其外观、机械结构、功能及其性能参数应分别符合5.2和5

19、.6的规定。5.4.6 扫频振动DVD光学头在按表1的规定进行扫频振动试验后，其外观、机械结构、功能及其性能参数应分别符合5.2和5.6的规定。表1扫频振动试验要求频率范围位移幅值每一轴线上的扫频循环次数要求Hz mm 1O3010 0.75 5 工作位置在三个互相垂直305530 0.15 5 的轴线上依次振动以1tlmin的扫频速度，在某一频率范围内进行一次循环扫频的时间为T=6.6441g 1O:;25 6 i, 5衍;:生450 条棱的任一角25运50450 350 50运75350 3 75:;1 3 250 跌落面按3-2-5-4-6面次序向下跌落。面为正面，3面为底面，4、5、6

20、面为侧面，顶面不跌)。5.5 可靠性要求光学头的可靠性要求用平均失效间隔时间(MTBF)表示。MTBF的下限值m，应大于5Oh。5.6 性能参数5.6.1 光学性能参数光学性能参数见表3。表3光学性能参数项目规格说明物镜数值孔径(NA)DVD 0.6 参考值，供应商提供CD 0.380.50 参考值，供应商提供焦距(f)DVD 3.36mm 参考值，供应商提供CD 3.38mm 参考值，供应商提供8 1页目半导体激光器波长()I DVD CD 伺服误差信号检测方法!聚焦误差(陀)工作距离(WD)读取盘片类型5. 6. 2 激光功率性激光功率性半导激光功率微分效率(17) f盾迹误差(TE)DV

21、D 表3DVD CD DVD CD (续规格650nm 780nm 像散法，光点大小法等像散法，光点大小法等差动相位法等三光束法、推挽法等1.71 mm SJ/T 11321-2006 参考值，型号产品规范规定参考值，型号产品规范规定6.2.1 6.2.2 ，测试方法见6.2.4阙值电流(l川DVD 0.7mm 测试方法见6.4.1CD 0.7mm 聚焦灵敏度CSTF)低频0.5 mmN 测试方法见6.4.2高频2.0阳nN测试方法见6.4.2共振频率(fQ)一级Cfo)20 kHz 测试方法见6.4.3共振峰值CQp)一级共振峰值CQo)-1900 1世Iz处测试，测试方法见6.4.5-22

22、0。5kHz处测试，测试方法见6.4.5直流电阻6 0. 参考值，型号产品规范规定电感15H 参考值，型号产品规范规定线圈电流200 mA r.m.s 参考值，型号产品规范规定表7循迹方向力矩器性能参数项目规格说明物镜动作距离CDOBT)DVD O.5 mm 测试方法见6.5.1CD 0.5mm 测试方法见6.5.1循迹灵敏度CSTT)低频O.5mmN 5H1;处测试，测试方法见6五2高频1.6mN 1世Iz处测试，测试方法见6丘2共振频率(fQ)一级(元)21 kHz 参考值，测试方法见6.5.3共振蜂值CQp)一级共振峰值CQo)-190。1 kHz处测试，测试方法见6丘5-210。5kH

23、z处测试，测试方法见6.5.5直流电阻5 0. 参考值，型号产品规范规定电感24H 参考值，型号产品规范规定线圈电流200 mA r.m.s 参考值，型号产品规范规定10 项目S曲线峰峰值CSCpp)S曲线偏置(SCB)聚焦误差信号输出极性线性区范围循迹HF直流峰值(lTOP)HF调制比率(旧MR)抖晃OIT)离焦CDEF)HF串扰(HFCT)6 测试方法6. 1 测试要求6. 1. 1 测试条件温度:150C350C; SJ/ T 11321-2006 表8聚焦司服输出性能参数。VDCD DVD CD DVD DVD CD DVD CD 规格0.4 V0.9 V 0.4 V0.9V . 格内

24、廿，品，不合格分类A B C 1 运输包装包装箱与产品型号不符。箱内产品数量短缺。包装箱上无产品名称、牌号(或型号)、生产企业等标记。包装箱严重破损。箱内泡沫衬垫缺少或与产品不符。产品无合格标志。包装箱内有异物。倒装(产品实物与箱上标志方向不符。包装箱无生产厂址、厂名。出厂日期、质量标记缺或错。30 SJ/ T 11321-2006 表16(续)序号|检查项目不t口格内廿 不合格分类A C 2 |外观外壳严重开裂、变形、损伤、脱漆或锈蚀。表面一般划伤、变形、脱漆、锈蚀、毛刺。表面轻微划伤、变形、脱漆、锈蚀、毛刺。接缝有明显不合或高低不平或配合间隙大。焊点虚焊、不光洁、不饱满。标识、错装、脱装或

25、翘起。3 |零部件判毛棋岳飞生吃4、。豆，fE 哥酶蹲在E坠葡i飞182毛|4 l功能。5 |其它。序号2 7.2. 1. 3 常温性能测量测量内容按表11的项目测试。测量方法按6.2-6.8。7.2. 2 抽样方案抽样方案按GB厅2828.1-2003的有关方法进行，各检验项目的合格质量水平(AQL)、检查水平、抽样方式见表18。表18交收检验抽样方案序号检查项目合格质量水平检查水平抽样方式A类不合格品B类不合格品C类不合格品开箱检查1.5 2.5 6.5 一般检查水平II正常检查2 常温性能测量2.5 6.5 特殊检查水平s-II一次抽样或二次抽样31 SJ/T 11321-2006 安全

26、检查不规定合格质量水平。在开箱检查的同时应检查全部样品的安全性，当发现一个致命缺陷时，则判该批为不合格品。抽样方案的严格度按GB厅2828.1-23的有关规定执行。样本应从提交检查批中随机抽取。7.2.3 缺陆分类与判据7.2.3.1 缺陷分类a) 安全性缺陷:根据判断对产品的使用及维护人员可能导致人身或财产危害的缺陷:b) A类不合格:导致产品失效或严重降低产品使用性能，为用户不可接受的缺陷:c) B类不合格:使产品性能降低，但为一般用户可以接受的缺陷:d) C类不合格:对产品使用功能无影响，属制造不精细的缺陷。7.2.3.2 合格品与不合格晶的判定开箱检查不合格判据按表16，以每个样品为单

27、位统计其A、B、C类不合格。安全检查缺陷判据按表17。常温主要性能(按表11)不合格，劣于本规范规定值，超过10%判为A类不合格:不超过10%判为B类不合格。在无安全性缺陷时，合格品与不合格品按以下规定划分:一一没有任何规定缺陷的产品为合格品:一一-凡有A类不合格(有一个或一个以上)也可能还有B类不合格和C类不合格的产品定为A类不合格品:一一凡有B类不合格(有一个或一个以上)也可能还有C类不合格，但无A类不合格的产品定为B类不合格品:一一凡有C类不合格(有一个或一个以上)而无A类不合格和B类不合格的产品定为C类不合格口7.2.4 检验批合格与不合格的判定7.2.4.1 检验项目合格判定a) 一

28、次抽样:根据样品检验结果，若在样本中发现的不合格品数小于或等于抽样方案对应的合格判定数，则判断该检验项目为合格:若在样本中发现的不合格品数大于或等于抽样方案对应的不合格判定数，则判定该检验项目不合格:b) 二次抽样:若在第一样本中发现不合格品数小于或等于第一合格判定数Ac，则判定该检验项目为合格:若在第一样本中发现不合格品数大于或等于第一不合格判定数Re，则判定该项目不合格;若在第一样本中发现不合格品数大于第一合格判定数Ac，但又小于第一不合格判定数Re，则对第二样本进行检验。若在第一样本和第二样本中发现的不合格品数总合小于或等于第二合格判定数Ac，则判定该检验项目合格。相反，若大于或等于第二

29、不合格判定数Re，则判定该检验项目不合格。7.2.4.2 检验批合格判定全部检验项目合格则判定检验批合格。7.2.5 检验结果处理32 批合格产品，收方应予接收。批不合格产品的处理:a) 对由于安全性缺陷而判定为不合格批的产品，应拒收。交货方应对产品全数返工，并进行全数检验。收方对重新提交批进行抽检，如再出现安全性缺陷，应停止生产进行整顿:b) 对因其它类型缺陷而判定为不合格批的产品，应拒收。交货方应对该批产品返工，经全数检验后，再重新提交抽检。如仍不合格，则再返工，直至被合格接受。再重新提交批的复检中发现SJ/T 11321-2006 安全性缺陷，则按本条a)办法处理。7.2.6 样本的处理

30、经过交收检验的样本，凡合格的样本，重新包装后可作为合格品交付收方。凡有缺陷的样本，必须修复，排除缺陷，并交检验人员复验合格后，才能重新包装交付收方。7.3 例行检验7. 3. 1 检验分类a) 连续批生产的产品由生产厂或上级质量检验部门周期地从产品中抽取样本进行检验，以确定生产过程能否保证产品质量持续稳定。其周期划分为:电性能和环境检验每半年为一周期，安全、电磁兼容和可靠性检验每一年为一周期;b) 连续批生产的产品若间隔时间大于工小日怖管牛产时应进行周期试验，其检验项目为光电性能和环境试验:c) 当产品主要的设计7.3.2 检验程序、项目a) 检验程序和b) 开箱检查c)光d)安。7.3.3

31、抽样方案嘀嘀光电性能和环境试验的抽样方费问旺些品吼纽如师平I、二次抽样方案进行，其抽样数、不合格质量水平(RQL)对应的判定光电性能、环境试验也可以按表规定的不合格质量水平和判别水平1.用与二次抽样方案所对应的一次抽样方案进行检验。安全试验样本为2台。可靠性试验样本按表15。33 SJ/T 11321-2006 表19例行检验抽样方案不合格质量水平CRQL)判定数值序号试验项目抽样数A类不合格品B类不合格品A类不合格品B类不合格品Ac Re Ac R巳电性能nl=3 40 80 n2=3 2 环境试验nl=3 40 80 n2=3 例行检验中的样品应从本周期生产的产品中随机抽取，方案的样本要一

32、次抽齐。开箱检查的数量为周期检验全部检验项目样本数(包括第二次抽样第二组样本数)之和。若此数与GB厅2829-2002表2的样本大小不一致时，则开箱检查数量取表18最接近的样本数。7.3.4 缺陆分类与判据缺陷分类和定义同7.2.3.10开箱检查和缺陷判据按表16规定。常温主要光电性能缺陆和判据同7.2.3.20环境试验缺陷判据:a) 环境试验每项条件试验后检查外观、结构和功能的缺陷按表16和表20的有关规定。光电性能参数不合格但功能正常，均判为B类不合格:b) 在环境试验的每项条件试验后的检测中，如发现样品A、B类不合格品数己经能够判断环境试验项目不合格，则试验可以停止;c) 在环境试验过程

33、中检验发现的B类不合格，如会影响到下一项条件试验结果的判定，允许在记录和分析后予以修复，用该样品继续下一项条件试验。修复时只限于判定不合格部分，不允许对其它部分进行调整或更换。表20环境试验检查内容不合格判据序号检查项目不-g. 格内廿品，不合格分类A B l 表面处理光学头结构件严重锈蚀。结构件轻度锈蚀相关元件有霉斑。目;视检查光学元件有霉斑或灰尘。2 连接结构件脱开或松动。结构件或印制电路板松动。印制电路板断裂。元器件断脚或脱落。连接导线脱焊或断头。紧固件脱落或脱胶。3 异物不合格内容和判据同表16第5条注:0表示有该类缺陷;一表示无该类缺陷。7.3.5 合格晶与不合格晶的判定同7.2.3

34、.207.3.6 检验批合格与不合格的判定7.3.6.1 检验项目合格判定34 开箱检查按本规范表18交收检验抽样方案和7.2.4.1判定。安全试验中有一项检查内容不合格，则判为不合格。可靠性试验按6.12。光电性能和环境试验的合格判定:a) 一次抽样按7.2.4.1a)规定:b) 二次抽样按7.2.4.1b)规定:c) 环境试验进行第二样本试验时，应按6.11.2规定从头做起。8.5 贮存SJ/T 11321-2006 产品应能在环境温度-30.C-60.C，相对湿度不大于80%，周围没有酸性、强磁场或其他有害气体的仓库中保存1a. 35 OON-FNnFF Fd中华人民共和国电子行业标准的D/CD只读光学头通用规范SJ/T 11321-2006 编制发行所所究究研研化化*准准标标术术技技子子电电罔国用闺中中电话:(010) 84029065 传真:(010) 64007812 地址:北京市安定门东大街1号邮编:100007 网址: * 字数:78千字印张:2去2006年3月第一版2006年3月第一次印刷印数:300册定价:40元1/16 开本:880X 1230 版权专有不得翻印举报电话:(010) 64007804