EJ T 921-1995 放射性核素活度直接测量4πβ(PC)-γ符合法.pdf
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1、J稚E蚓行核国和共民人华中EJ/T 921-95 放射性核素活度直接测量4呻(PC)一符合法1995-07-05发布06052占0001691995口,01实施中国核工业总公司发布中华人民共和国核行业标准放射性核素活度直接测量4PPC)-Y符合法1 主题内容与适用范围EJ/T 921-95 本标准规定了4呻(PC)-1符合装置直接测量放射性活度的方法、所需材料试剂、测量程序以及数据处理和误差分析等内容本标准适用于冉核素和纯F核素癖液活度的直接测量。2 术语2.1 效率外推用吸收法或其官方法改变R效率,以R效率为横坐标,以相应的观测衰变率为纵坐标作曲线,并将R效率外推到1,得到源活度2.2效率示
2、踪用已知活度的(3-核素(作示踪剂与待测核素均匀混合,用效串外推法测其总活度,扣除示踪剂活度,得到待测核素的活度3 方法提要将具膏f3-衰变的待测溶液制成薄膜源,用4呻(PC)-1符合测量装置分别测量R道、道和符合道计数率,并按公式(1)叶算源活度A与户口k气生)1. ( 1) 式中:A一一源活度,Bq,N一经本底、死时间修正的P计数事,8-1,N1一一经本底、死时间修正的计数率,s11 N.一经本底、死时间和符合分辨时间修正的符合计数率,8-1一道探测效率,h一一与衰变纲图和探测效率有关的系数对于衰变纲图简单的核素,且近似为零,A=N, N1/N.,对于衰变纲图复杂的核素,h近似为l,A句(
3、1一句句,选用F分支最大或能量最高的分支进行符合,用效率外推法得到源活度s对纯自核素用效率示踪法测量活度源的比活度按公式(2)计算中国榷工业总公司1”5-07-05批准1995-11-01实施1 EJ厅%1-95a=A/m .”(2) 式中:a一一源的比活度,Bq/mg,m一一摞放射性搭液质量,mg.4仪器设备及实验室条件4.1 4呻(PC)符合测量装置装置由流气式正比计数器和一对Nal(Tl)探测器以及必要的电子仪器组成装置必须经检定合格,量值溯摞到国家基准装置框图见图1.装置的主要技术指标应满足a. 正比计数器坪长大于300V,坪斜为每lOOV小于0.5%(对钻60),b. Nal(Tl)
4、的能量分辨率好于12%(对铠137),c. 死时间和分辨时间稳定性好于0.ls, d. 定时误差小于0.ls, e. 装置连续工作8h,计数率稳定性好于0.1%.图14呻(PC)-Y符合装置框图4. 2工作源工作源是用来检查装置是否正常工作的放射源选用半衰期较长、性能稳定的放射性核素制备,源活度在103l04Bq之间为宜推荐使用钻60工作源4.3实验室条件2 EJ/T妇1一”实验室条件主要有za. 温度应保持20土5sb. 相对温度应小于75%,c. 环境辐射水平应保证空气比释动能率小于220nGy/h1d. 工作电源必须稳定在(220土10%)V.5薄踱源s.1 技术要求薄膜源应满足下列要求
5、za. 膜薄而均匀,有一定的机械强度Fb. 薄膜镀金厚度均匀,导电良好,总厚度约为30问cm21c. 源斑位于膜中心,直径约为57mm,其活度为1031oBq,d. 待测癖液取样准确,称量误差不大于0.1%.S.2 制源试剂与材料s. 2.1 放射性溶液对待测放射性榕液的要求为:a. 物理、化学性质必须稳定、均匀、无沉淀,b. 载体含量为25lOOg/g1c. 介质的pH值在25之间,d. 放射性杂质活度与待测核素活度之比应小于0.1%。s.2.2 试剂与材料制源所需试剂与材料如下a. 氯乙烯醋酸乙烯共聚物(VYNS),其中醋酸乙烯含量为20%25%;b. 色层硅胶,分析纯,c. 十八烧基二甲
6、基握乙基硝酸镀,分析纯sd. 1,2,二氯乙烧,分析纯Fe. 无水乙醇,分析纯,f. 金丝或金锚,纯度不低于99.9% 0 5.3 制源设备s. 3.1 真空镀膜机真空度好于110Pa.s. 3. 2高压静电喷射装置由高压电源、喷射器和操作箱组成高压电摞应提供300soov的聚焦电压和6lOkV的收集电压s. 3. 3微量天平感量小于0.Olmg,并按周期检定合格s. 4薄膜源制备3 副厅,21-95薄膜摞制备接附录A(参考件进行6测量6.1 仪器准备仪器准备包括za. 按说明书规定的程序开启装置,确认装置处于正常状态Fb. 用工作摞检查装置稳定性,其稳定性应好于0.1%1c. 用待测核素测量
7、R坪曲线和能谱,确定装置工作电压和窗必要时,应测量装置的死时间和符合分辨时间6.2测量步骤6. 2.1 简单衰变核素测量简单衰变核素按下列顺序进行测量za. 测量各道本底,确保本底涨落对最后结果的不确定度贡献小于0.5%; b. 测量薄膜源计数,保证计数率统计误差小于0.2%1 c. 每种样品至少测量六个薄膜摞,测量结束后重复a项,确认测量数据有效。6.2.2 复杂衰变核素测量复杂衰变核素的测量顺序如下za. 按6.2.1条中a,b两项要求测量本底和薄膜源计数率pb. 改变句,测量摞相应的计数率pc. 根据待测核素特性和实验条件确定效率外推范围,每个源的测量点不得少于八个sd. 重复6.2.
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