GB T 3352-1994 人造石英晶体.pdf
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1、中华人民共和国国家标准人造石英晶体 代替国家技术监督局 批准 实施本标准等效采用国际标准 人造石英晶体主题内容与适用范围本标准规定了人造石英晶体的术语和定义 技术要求检验方法 检验规则及标志 包装运输贮存本标准适用于供制作频率控制和选择用压电元件的人造石英晶体引用标准包装储运图示标志逐批检查计数抽样程序及抽样表适用于连续批的检查频率控制与选择用石英晶体元件第一部分 标准值和试验条件术语和定义水热法晶体生长人造石英晶体的生长是在装有碱性溶液的高压釜中在高温 和压力下进行的 高压釜分为两个区域 在较高温度的溶解区装有原料石英碎块 较低温度的生长区装有切好的籽晶人造石英晶体用水热法生长的 石英晶体
2、既可以是左旋的晶体 也可以是右旋的晶体籽晶用作晶体生长的晶核 其截面为矩形的晶片或晶条生长区域沿不同结晶方向生长的人造石英晶体的区域 见图人造石英晶体取向按第 条所规定直角坐标的籽晶的取向石英晶体的直角坐标系和晶面石英晶体的直角坐标系和晶面见图 所示注 切籽晶可以取向在与 轴的夹角小于 在此情况下 坐标体系为尺寸生长在与 轴夹角小于 的 切籽晶上的晶体尺寸总的尺寸沿 或 及 轴测量的最大晶体尺寸包裹体将晶体浸在折射率匹配的液体中 由光源的散射光来观测人造石英晶体中可见的外来物质 最普遍的包裹体为锥辉石籽晶罩在已生长晶体的籽晶表面上排列的一层包裹体掺杂剂在生长过程中用以改善人造石英晶体的晶体习性
3、物理或电性能的添加剂预定尺寸的棒材原生晶体经过切割研磨加工使其成为所需要特定尺寸的晶体杂质浓度每 个硅原子中含有杂质的原子数位错由于原子面的位移而造成晶体的线性缺陷腐蚀隧道晶体中被杂质所缀饰的位错在一定腐蚀条件下所形成的腐蚀沟槽垂直于 轴的截面 垂直于 轴的截面和 的说明 的说明图 生长在 切籽晶上的人造石英晶体理想截面在锥光偏振仪下 呈收缩环目镜顺时针方向转在偏光仪下检偏镜反时针转呈发散环目镜顺时针方向转检偏镜顺时针转图 石英晶体的轴和面的名称技术要求人造石英晶体的尺寸人造石英晶体的尺寸应根据生产厂和用户的协定规定沿 或 轴的尺寸见图 应符合规定沿 或 轴的 或 见图 或 见图 的尺寸应符合
4、规定沿 轴的尺寸应符合规定见图缺陷双晶在适用于制造石英晶体元件的区域内应没有电双晶和光双晶裂纹和破裂在适用于制造石英晶体元件的区域内应没有裂纹和破裂包裹体密度包裹体的平均密度通常指 区而言 人造石英晶体的包裹体级别应符合表 的要求 用户可在适用的包裹体尺寸范围内 选定所需的级别表级别尺寸大小不含 不含个红外质量指标人造石英晶体的 值应符合表 的要求表级别最大值 最小值注 这些 值是在 年前使用的由测量 值和经验关系得出的这里列出以前的分类方法主要是为了过渡到用 值分类时保持其连续性 值是用来控制及规定人造石英晶体质量的物理测量值为了保证 的测量必须使用具有对 吸收峰有足够的分辨能力和低噪声电平
5、的红外分光光度计为了准确测量 必须使用以精确波数校对过的红外分光光度计腐蚀隧道密度 有规定时人造石英晶体 区的每平方厘米的腐蚀隧道密度应符合表 要求频率温度特性人造石英晶体的频率温度特性见图 由在 及 时所测得的频率相对于 时串联谐振频率的相对变化值来确定频相对变化值应符合下列要求频率相对变化值为频率相对变化值为表级别 条 不大于检验方法标志见目检标志应完整正确清晰并符合 要求人造石英晶体的尺寸 见用精度为 的游标卡尺和精度为 的钢板尺测量缺陷见双晶 见在自然光条件下目检人造石英晶体表面的双晶特征裂纹和破裂见在 白炽灯光下目检人造石英晶体的破裂和裂纹包裹体密度见方法在人造石英晶体 轴面或柱 面
6、涂抹与晶体折射率匹配的液体 约 后在 以上白炽灯下目检包裹体分布状况选取包裹体分布多的区域通常在图 所示的 生长区域 选定区域后 在灯光下观测包裹体的大小和个数 按表 要求统计出每立方厘米中四种尺寸包裹体的平均个数测量 值用的晶体片的位置以 取向的右旋石英为例图 从人造石英晶体生长的 区 切和 切片的切割晶片的典型例子切片位置续图方法用放大 倍 配有目镜刻度尺的立体双筒显微镜测量晶体规定范围的包裹体密度 在晶体划出 方格 或用划有方格的有机玻璃片为底板将 棒的 面朝上放在有黑色背景的显微镜工作台上 在强光照射下 将显微镜对准方格缓慢下降 进行包裹体测量 距晶体表面 及距籽晶表面 以内的部位除外
7、 用此方法扫描观测直至将所有方格中的包裹体测量完毕 计算出划定方格的包裹体总数除以方格数 然后计算每立方厘米中四种尺寸包裹体的平均个数红外质量指标 见用 或 中的一个或一个以上波数的红外光对 切片进行扫描 测量所选择的波数与本底波数的每厘米的吸收对数差的绝对值而得红外 值 当使用单光束仪器时 本底使用 或因为在一批晶体中 值往往随整个晶体 向位置的不同而不同 所以在样品的测量中用户可以明确选择测其 值在样品 生长区的分布 通常可选择 值在晶体 生长区的平均值 也可选择其在 生长区的最大值 在最坏情况下 测量最大 值切片的制备将作为样品的人造石英晶体固定在基板上然后用石英切割装置切割 至少切一个
8、 切片 其厚度经研磨和抛光后应在 范围内 对于 值高的材料适宜的厚度是 它可以分辨值的变化对 值为中等的材料 选用中等厚度 值极低的材料 厚度 较适宜这样可以测出其较小的吸收 切割后应研磨两个大面先用均匀混合的 磨料磨液研磨 再用均匀混合的 磨料磨液研磨 进一步的抛光可任选 对 值低的石英应抛光红外分光光度计中标准 切片的校准接通电源 打开红外分光光度计开关预热并达到充分稳定后校准 日常校准包括透射率或吸收 限值的设定 图纸的速度和与样品的扫描同步 评价用和一般用途的测量在样品的光路上有一个 宽的光阑 对于较低 值测量时可以放宽光阑宽度 光阑高度不应超过籽晶的 尺寸或 将一抛光的标准 切片基准
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