GB 7201-1987 电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10106型ECL三4.3.3输入或非门(可供认证用).pdf

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1、GB 7201 87 4极限值(大额定值)若无其他规定，适用全H乍温度范剧。数值条款弓参数f34 可3 吁111. 最小大4.1 r作坏境温度TA 一3085 C 4.2 贮存温度Ts - 65 150 4.3 电源、1!lkVEE 。一8V 回5 电工作条件和电特性电特性的检验要求见本规范第8章。5. 1 电r作条件数值条款号参数符号- 30 C 25 C 85 C 单1，lr_ 最小最大最小最大最小大5. 1. 1 电源电压VEE -. 72 - 4.68 一5.72- 4.68 - 5.72 一4.68V 5. 1. 2 输入品电乎电压V1H -0.890 一0.810一0.700V 5

2、. 1. 3 人低电兰卡电压V1L 一1.890一1.-850一1.825V 寸5. 1. 4 输入品阐值电乎电压VlHT 一1.205一1.105一1.035V 5. 1. 5 输入低闻值电、F电压V1LT 一1.500一1.475一1.440V 5.2 电特性、3 GB 7201 87 规范值条款号特性和条件(注)符号一30C25 : 85 c 单位试验E 大最大5.2.1 输出高电、卡电压VOH VEE = - 5.2 V , 出接RL= 500歪一1.060一0.8900.960 一0.810一0.890- 0.700 V A3 - 2 V 5.2.2 出低电、手电压VOL VEE =

3、一5.2V , F气H=大，-1. 890 一1.675一1.850-1. 650 -1.825 一1.615V A3 出接RL= 500奎一2V5.2.3 输出品|竭值电兰卡电压几HT民E=一5.2V , 一1.080一0.980一0.910V A3 VIL T一-大，出接RL= 50歪-2V 5.2.4 输出低闻值电平电压VOL VEE =一5.2V, Vi HT = 小，一1.655-1.630 -1. 595 V A3 输出接RL= 500至-2V 6.2.5 人品电平电流IIH VEE = -5.2V, 425 265 265 A A3 问H=大5.2.6 输入低电平电流IIL VE

4、E =一5.2V，0.5 0.5 0.3 A A3 Vi L= 5.2.7 电电流hE mA A3 23 21 23 VEE =一5.2v4 GB 7201 87 验规r8 值条款号特性和条件(注符号一300C25C 85 (. 单位试大5.2.8 传延迟时间民c= 2 V , 的E=-3.2V , VH = 1. 11 V , 几=0.31V，tPLH j=10MHz , tpHL 1. 0 3.1 1. 0 2.9 1. 0 3.3 ns A5 q= 50 %, t r = 2 ns , t f = 2 ns , VREF=50%.V，回5.2.9 输出转换时间同5.2.8款，tTLH 3

5、.6 1. 1 A5 VREFH = 80 %几H，tTHL 1. 1 3.3 1. 1 3.7 ns 比EFL= 20%几H测试条件的最小戎最大，按本规范第5.1条。注:标志器件上标志的标法示例如图1。6 b. CEI0I06ED a. CEI0l00EJ 型号问盯由。叫OHu 国CE 10106 EJ mc 8531 A 引出端识别标志若无其他规定，订购器件至准确的型号$详细规范的国家编号z评定类别标在器件背面。质量评定类别图1允许将检验批识别代码、质要下列资料z检验批识别代码制造单位商标若受器件尺寸限制时，订货资料7 a. 5 b. GB 7201 87 C. 质量评定类别。8 谊验条件

6、和检验要求抽样要求:根据采用的质量评定类别，按GB4589 84第3.6.2款表6和表7的规定A组检验的抽样要求AQL 分组因类检查水平(lL)AQL 国?A 1 H 0.65 A2 H 0.1 A3 E 0.15 A4 a S 4 1. 0 A4 b S4 1. 0 A5 S4 1. 0 B组、C组和D组检验的抽样要求LTPD 分组囚类A B C D B 1 15 15 15 15 C 1 30 30 30 30 C 2 b 15 15 15 15 C3 15 15 15 15 B 4 , C 4 15 15 15 15 B 5 20 20 20 20 C 6 20 20 20 20 B 8

7、 , C 8 5 7 10 10 C 9 5 7 15 15 C l1 20 20 20 20 D8 5 7 10 10 6 E 15 30 15 15 15 20 20 10 15 20 10 GB 7201 87 A组一一逐批所有试验均为非破坏性的(且GB .1589 84第3.6.6款。条件检验或试验引用文件若无其他规定，TA = 25 c 检验要求范(见GB4589 84第4章)一Al分组外部目检GB 4589 84 第5.1.1款A2分组功能验证按本规范第5.2:1款和5.2.2款，本规范同本规班第5.2.1第11.2条款和5.2.2款A3分组静态特性GB 3441 82* 按本规范

8、第5.2.1款至5.2.7款，本规范同本规范第5.2.1第10.2条款至5.2.7款A4a分组最高工作度下的静态GB 3441 82 TA按本规范第4.1款最大值，同A3分组特性(特性2同A3分条件g同A3分组组)A4 b分最低工作度下的静态GB 3441 82 TA按本规范4.1款最 同A3分组特性特性g同A3分条件g罔A3分组组)A$分组动态特性GB3441 82 按范第5.2.8款和5.2.9款，本规范同本规范5.2.8款10.3条和5.2.9款B组-一逐批条件检验或试验引用文件若无其他规定，TA :O 25 c 检要求规范值见GB4589 84第4章) 81分组尺寸GB 4589 84

9、 同本规范第1章第5.2条，附录C * GB 3441 82 (半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理。7 检验或试验B4分组可焊性B5分组温度快速变化g两箱法随后进行g密封Ba分电耐久性(168h ) 试验后侧重g(同A2和A3分组CRRL分引用文件GB 7201 87 续表条件若无其他规定，TA = 25C (见GB4589 84第4章)GB 4590 84 *按方法b(槽焊法)按2.5条GB 4590 84 第3.1条|温度按本规范第4.1款GB 4590 84按规定第3.12条和3.13条GB 4590 84 第4.7条卡，均功耗为，IEExVEE，TA按本规范4.1款最大值，VE

10、E=-5.2V , 同A2和A3分组，在96h内测完就B4、B5和B8提供计数检查结果C组-一周期标有(D)的试验为破坏性的(见GB4589 84第3.6.6款)。条件检试验引用文件若无其他规定，TA = 25 C 见GB4589 84第4章)Cl分组尺寸GB 4589 84 第5.2条，附录CC2b分组最高和最低工作下GB 3441 82 TA按本规范第4.1款，的动态特性(特性g同条件z同A5分组A 5分组* GB 4590 84 (半导体集成电路机械和气候法。8 检验要求规范浸润良好|司A2和A3分组检验要求规范值同本规范第1章同A5分组检验或试验Ca 引线强度g弯曲(0) C4分组耐焊

11、接热(0) 试验后测量2(同A2和A3分组)C6分组恒定加速度后测量g(同A2和A3分组)Ca分电耐久性(1000h) 试验后测量2(同A2和A3分组C9分高温贮存(0)试验后测量2(同A2和A3分组)Cll分组标志耐久性CRRL分组9 D组批准GB 7201 87 续表条件引用文件若无其他规定，TA = 25 C (见GB4589 84第4章)GB 4590 84 2.2条|按规定GB 459川4按方法A(260C槽焊)2.4条同A2和A3分组GB 4590 84 I按规定第2.10条同A2和A3分组GB 4590-84 I同B8分组第4.7条同A2和A3分组，在96h内测完GB 4590

12、84 10仙，温度按本规范第U款最大值3.3条同A2和A3分组GB 4590 84按规定4.3条C 4、C6、C8和C9提供计数检查结果鉴定批准后立即进行，以后每年进行一次。检验要求规范值无损伤同A2和A3分组同A2和A3分组同A2和A3分组同A2和A3分组9 检验或试验D8分组电耐久性(3000h ) 10 附加资料10.1 详细外形图D、JJt)如图20 尺寸符号A AJ bJ D r e( eX(-l) 2 L ME z 。10 专-.l GB 7201 87 引用文件GB 4590 84第4.7条，GB 4589-84第3.6.1.5均Z I I e n 最Jl e x (一一1 )

13、9 D 0.51 0.35 0.20 2.54 。条!斗r尤t也规定TA二25( (hlGB 451l!J-84第4tF)吃:1 l:r-T b, 图2数f/J、!同jB!l，)-约1白利:2.54 7.62 17.78 孔fE 值-检验要求规范 口1口1挝大5.1 0.59 0.36 22.86 :=;.0 8.5 1. 54 .一-_ 15 GB 7201 87 10.2 静态特性的测符乒J 试方法VOH GB 3441 82第2.1条所有输入端开路VOL GB 3441 82第2.3条一个入、接V1H ，其他输入端开路VOHT GB 3441 82第2.2条-个入端接V1LT ，其他人端

14、jf路VOLT GB 3441 82第2.4条个输入端接只HT，其他输入端开路hH GB 3441 L GB 3441 EE GB 3441 10.3 动态特性的测10.3.1 基本测试线路按GB3441 82图12。10.3.2 负载线路负载线路如图3。82第2.5条非被测输入端开路82第2.6条非被输入端斤路82第2.7条所布输入端开路测试点I )00 i州电锁制卅峭出端一一U 呵，后i应将500 !位被视IJ输出端图3输入信号到示技器的同轴电缆与输出端到示披器的同轴电缆长度必需相等。10.4 电耐久性试验线路电耐九性试验线路如图4。11 GB 7201 87 500 1 16 15 50

15、0 432103 111111 a句，。V,r=-5.2V G .fl._ V, l =一2.0V y立1MHz 国411 型号说明11.1 逻辑符号和逻辑图a. 逻辑符号如图5: 一一由-m 二异.1 (3 ) (2 ) 仙一仙一(S) 圈5b. 逻辑图如图6: 1 A (4 ) (S) 1 B -; (6 ) 1一1 (3 )一1 Y 1 D (7 ) (9 ) 2 A (10 ) 1 (2 ) 2 Y 2 B (ll ) 2( 02 ) 3A (13 ) 3 B ,-, (1 4 ) 3( 1 (15) _ 3 Y 图612 GB 7201 87 11.2 功能表输入出A B C D Y L H L L L HLLLL x X X X H X x X X H X x X X H 13