GB 7200-1987 电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10105型ECL三2.3.2输入或 或非门(可供认证用).pdf

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1、GB 1200 81 4极限值(若无其他规定，适用于全工作温度范围。数条款号数符号单位大4.1 工作环境温度TA - 30 85 4.2 Ts - 65 . 150 4.3 电电压VEE 。8 V 一一一5 电工作条件和电特性电特性的检验要求见本规范第8章。5.1 电工作条件数条款号数符号- 30C 25 C 85 C 单位大最小最大大5.1.1 电源电压VEE - 5. 72 一4.68- 5. 72 - 4.68 - 5.72 - 4.68 V 5.1.2 人品电平电压VIH - 0.890 - 0.810 一0.700V 5.1.3 人低电平电压Vi L -1.890 一1.850-1.

2、825 V 5.1.4 人品值电平电压ViH 一1.205-1. 105 -1. 035 V 5.1.5 |输入低闻值电平电压Vi LT -1.500 -1.475 一1.440V 5.2 电特性3 GB 7200 87 规范条款号特性和条件出符号- 30 C 25 C 85 C 位试验大最小大寸5.2.1 输出品电平电压VOH VEE = - 5.2 V , Vr H= 育-1.060 - 0.890 一0.960-0.810 - 0.890 一0.700V A3 , 输出接RL= 500歪一2V 5.2.2 输出低电平电压VOL 民E=-5.2V, | uI H 一一, -1. 890 一

3、1.675一1.850一1.650-1.825 -1. 615 V A3 输出接RL=- 500至-2V 5.2.3 输出高阁值电平电压VOHT VEE = - 5.2V , IIHT一、，-1.080 - 0.980 -0.910 V A3 YIL T一-大，输出接lh= 500至一2V5.2.4 出低闻值电乎电压几LTVEE = - 5.2V , V1HT = 小，-1.655 -1.595 V A3 -1.630 们LT=, 输出接RL= 500至一2V 5.2.5 输入高电半电流11H VEE = - 5.2 V , 425 265 265 A A3 Vr H= 甲寸5.2.6 输入低

4、电平电流1IL VEE =一5.2V , 0.5 0.5 0.3 A A3 VrL=最小一一一一一4 GB 7200 87 条款号特性和条件曲符号一30t: 大5.2.7 电电流hE VEE =一5.2V23 5.2.8 恃输延迟时间民c= 2 V , VEE = - 3.2 V , VH = 1. 11 V , 几=0.31V，tPLH 3.1 f= 10MHz, 1. 0 tpHL q= 50% , t r = 2 ns , t f = 2 ns , VR EF = 50 % V m 5.2.9 输出转换时间同5.2.8款，tTLH 1. 1 VREFH = 80 % VOH , 3.6

5、trHL VREFL = 20 %几H注2测试条件的最小或最大，按本规范第5.1条。e标志器件上标志的标法示例如圈1。a. C EI0105 EJ 型号CE 10105 EJ 8531 引出端14主回C, 、制造单位商标检峻批质量评定类别识署IJ代码图1若受器件尺寸限制时，允许将检验批识别代码、质7订货资料若无其;4二.iJ向器件至少下列资料z5 规范值25 C 85 C 单位试验最小大大21 23 mA A3 -t 1. 0 2.9 1. 0 3.3 ns A5 1. 1 3.3 1. 1 3.7 ns A5 b. CEIOI05ED u 。国凶时lr. M -GD tE o l o 叫凶)

6、 定类别标在器件背面。GB 7200 87 a. 准确的型号，b. 详细规范的国家编号Fc. 阳量1半iF类别。8世蛤条件和检验要求抽样要求z根据采用的质量评定类别，按GB4589 84第3.6.2款表6和表7的规定。A组检验的抽样要求AQL 分组E 类检查水平UL)AQL A1 H 0.65 A2 E 0.1 A3 E 0.15 A 4 a S 4 1. 0 A 4 b S 4 1. 0 A5 S 4 1. 0 B组、C组和D组检验的抽样要求LTPD 分组E 类A B C D E B1 15 15 15 15 15 C1 30 30 30 30 30 C2 b 15 15 15 15 15

7、C3 15 15 15 15 15 B 4 , C 4 15 15 15 15 15 B 5 20 20 20 20 20 -t C 6 20 20 20 20 20 B 8 , C 8 5 7 10 10 10 C 9 5 7 15 15 15 Cu 20 20 20 20 20 D8 5 7 10 10 10 6 GB 7200 87 A组-一逐批所有试验均为非破坏性的(见GB4589 84第3.&.6款)。检验或试验Al分组外部目检A2分组-功IE AI分组静态特性A 4a分组高工作下的静态特性(特性g同A3分组)A 4b分组最低工作度下的静态特性特性g同A3分组A5分动态特性B 1分组

8、尺寸引用文件GB 4589 84 第5.1.1款GB 3441 82* GB 3441 82 GB 3441 82 GB 3441 82 引用文件GB 4589-84 ，2条，附录C GB 3441 82 (半导休集成电路ECL7 条件若无其他规定，T A = 25 C (见GB4589 84第4章按本规范第5.2.1款和5.2.2款，本规范第11.2条按本规尼第5.2.1款至5.2.7款，本规范第10.2条TA按本规范第4.1款最大值，条件g罔A3分组TA按本规范第4.1款最小值，条件g同A3分组5.2.8款和5.2.9款，本规范第10.3条B组一一逐批条件若无其他规定，TA = 25 C

9、(见GB4589 84第4章)的基本原理。检验要求规范值同本规范第5.2.1款和5.2.2款同本规市第5.2.1款至5.2.7款同A3分组同A3分组同本规范5.2.8款和5.2.9款检验要求规范值同本规范第l章检验或试验B.分组可焊性85分组温度快速变化z两箱法后进行g密封88分组电耐久性(168h) 试验后测量z(同A2和A3分组)CRRL分,. 引用文件GB 7200 87 续表条件若无其他规定，TA = 25.C (见GB4589 84第4章)GB 4590 84 * I按方法b(槽焊法)第2.5条GB 4590 84 第3.1条|握度按本规范第4.1款GB 4590 84 3.12条和

10、3.13条按GB 4590 84 I平均功耗为:hE X VEE, TA按本规范4.7条4.1款最大值，VEE=-5.2V , 同A2和A3分组，在96h内测完就B4. B 5和B8提检查结果C组标有(D)的试验为破坏性的(见GB4589 84第3.6.6款。条件检验或试验引用文件若无其他, TA = 25.C 见GB4589 84 4章)Cl分组尺寸GB 4589 84 第5.2条，附录CC 2b分组最高和最低工作下GB 3441 82 TA按本范第4.1款，的动态特性(特性g同条件gA5分组A S分组* GB 4590 84 (半导体集成电路机械和气候试验方法。检验要求规范值浸润良好同A2

11、和A3分组要求规范值同本规范第1章同A5分组8 检验戎试验Ca分组引线强度2弯曲(D)C4分组耐焊接热(D)试验后测量z(同A2和A3分组C8分恒定加速度试验后测量2(同A2和A3分组)Ca分组电耐久性(1000h ) 试验后测量2(同A2和A3分组)C9分组高温贮存(D)试验后测量2(同A2和A3分组)Cl1分组标志耐久性们用文件GB 4590-84 第2.2条GB 7200 87 按规定续表条件若无其他规定，TA = 25 C (见GB4589 84第4章)GB 4刷一84I按方法A(260C槽焊第2.4条同A2和A3分组GB 4刷一84I 按规定第2.10条同A2和A3分组GB 4刷-8

12、4同B8分组第4.7条同A2和A3分组，在96h内测完GB 4刷一84I 1000 h，温度按本规范第4.2款最大值第3.3条同A2和A3分组GB必9084 I按规定第4.3条CRRL分组|就C4、C6、C8和C9提供计数检查结果9 D组-一鉴定批准!鉴定批准后立即进行，以后每年进行一次。9 检验要求规范值j己损伤同A2和A3分组同A2和A3分组同A2和A3分组同A2和A3分组检验或试验D8分组电耐久性(3000的10 附加资料10.1 详细外形D、J型如图20 尺寸符号A A1 b 1 t D e e1 ex(1-1) L ME z 。嗖吧-.1 GB 7200 87 条件检验要求引用文件若

13、无其他, TA = 25C 范见GB4589 4章牛.， GB -1:10 84第4.7条，同B8分组GB 4589-84第3.6.1.5项吃自e h?1) e n D 图2m口1数值最标称最大5.1 0.51 0.35 0.59 0.20 0.36 22.86 2.54 7.62 17.78 2.54 5.0 8.& 2.54 -T一o () 15。10 GB 7200 87 10.2 静态特性的符号i 测试方法VOH GB 3441 82第2.1条VOL G B 34 4. 1 82第2.3条VOHT GB 3441 82第2.2条VOLT GB 3441 82第2.4条IIH GB 34

14、41 82第2.5条hL GB 3441 2.6条IEE GB 3441 82第2.7条10.3 动态特性的10.3.1 基本测试线路按GB3441 82图12。10.3.2 负载线路负载线路如图3。被测输出端非被测输出端测试点测或输出端(Y)I一个输入端接川日，其他入端一或非输出端(Y) : 人端开路测或输出端(Y):所有输入端开路测或非输出端(Y):一个输入端接V1H，其他入端开路或输出端(Y)I一个输人端接V1HT ，其他人端开路出端(Y):一个输入端接V1LT，其他入端开路或输出端(Y):一个输入端接机1L T ，其他开路或非输出端(Y):个输入端接V1HT，其他入端开路非被测输入端开

15、路非被测输入端开路人端开路500同轴电缆示披器500 图3人信号到示波器的同轴电缆10.4 电耐久性试验线路出端到示波器的同轴电缆长度相等。电耐久性i式验线路如图4。11 GB 7200 87 500 1 16 5CO 543 111 9bqOA结500 5 12 u9 co708 VL = - 5.2V G J工Vn=-2.0V f=IMHz 图411 型号说明11.1 逻辑符号和逻辑图a. 逻辑符号如图5: 1 (3 ) (4 ) (5 ) (2 ) (6 ) (7) (14 ) ( 13 ) 02 ) 1 。)-1 Y (2 ) 1 Y (9 ) 2A 2B马0)2C(11) 1 (6) 幢幢_2Y(7 2 Y 3A轧(12 ) 3 B 1 江4)3于(15 ) - 3 Y 图612 GB 7200 87 11.2 功能表输人输山山A B C Y Y LLLLHHHH LLHHLLHH LHLHLHLH LHHHHHHH HLLLLLLL 13