SJ T 10255-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路CW1403型精密带隙电压基准(可供认证用).pdf

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1、L 56 中国电SJ /T 10255 91 1991-11斗2发布1992-01-01实人民共和子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标电子元器件详细规范半导体集成电路CW1403型带隙电压基准Detail speciCication for electronic components Semiconductor integrated circuit-CW1403 type precision energy-gap voltage reference 可供认证用SJ /T 10255 91 本规范规定了半导体集成电路CW1403型精密带隙电压基准质量评定的全部内容.本规范符合GB4589.

2、H半导体器件分立器件和集成电路总规范和GB/T12750( 体集成电路分规范不包括棍合电路的要求。中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化研究所.中华人民共和国子工业部1991-11-12批1992-01-01 SJ /T 10255 91 中华人民共和国机械电子工业部评定GB 4589. 1电路分规范不包CW1403型精密带隙电压基准详订货资料z见本规范第7j萨。1 机械说外形依据:GB7092I按方法bB5分组变化a)空封器件温度快速变化进行z电测量(同A3分组密封g第2.5条GB 4590第3.1条GB 4590第3.11条或3.12条GB 4590第3.13条(b)非空

3、封及环氧封的空封器件化GB4590第3.1条进行g外部目检电测量(同A3分组)B8分组电耐久性(168h) 最后测量同A3分组B21分组高压蒸汽(D)非空封器件最后测量间A3分组)GB 4589. 1第4.2. 1. 1条GB 4590第3.7条GB/T 12750第12.3条GB 4590第4.5条TA=-65C ,TB=150C. 环次数:10次t1: 5min 同A3分组按规定TA=-65C ,TB=150C 循环次数:10次tldmin 严格度A(85C,85%RH) 不加电.24hA3分组Tamb按本规范4.3条最其它按本规范10.2条同A3分组按严格度C(24h)同A3分组CRRL

4、分组就剖，时，B8和B21分组提供计数检查结果.一6一, 一规植值按本规范第1章浸润良好同A3分组A1分组同A3分组同A3分组同A3分组8J 11 10255 91 C组一一周期标有(D)的试验为破坏性的见GB4U9.12在3.6.6条i 条件引用标准辛苦无其它规定.Tamb=25L:(见GB4589.1第4.1条)检验要求规范C1分组尺寸GB 4589.1第4.2. 2条及附录B按本规范第1章C3分组引线强度拉力(D)弯曲(D)C4分组耐焊接热(D)量(同A3分组)C5分组1)快速变化(D)(非空封及环氧封的空如?苦:中随后进行:外部目检态条条-1inL-。，。，一第第一AUAUE nwun

5、y甲，、俨飞A哇，一BB GG外加力按2.1条表1外加力按2.2条表2伤无损伤GB 4590第2.6条按GB4590.2.6条方法1i同A3分组同A3分组GB 4590第3.1条TA=-65C .TB=150C 环次数:500次t,: 5min GB 4589. 1第4.2. 1. 1条GB 4590第3.7条同A1分组严格度A(85C,85%RH) 不加电.24h量(同A3分组间A3分组同A3分组C6分组1)加速度(D)空封器件最后测量(同A3分组)GB 4590第2.10条: 196000 m/sz 同A3分组同A3分组C7分组(D) a)空封器件1)1GB 4590第3.6条b)非空封及

6、环氧1GB 4590第3.7条封的空封器件最后测量(同A3分组严格度D(56d)严格度A(85C.85%RH) 1000h 同A3分组同A3分组C8 ;. 电耐久性(lOOOh)最后测量(同A3分组GB /T 12750 12.3条同B8分组同A3分组同A3分组一7一C9分组(0) 同A3分组Cll分组志耐久性C23分组抗溶性(0)非空封器件C24分组易燃性(0)(非空封器件引用标准GB 4590第3.3条GB 4590第4.3条GB 4590第4.4条GB 4590第4.1条SJ /T 10255 91 C组一一周期续条件若无其它规定，Ta时=25C见GB4589.1第4.1条1000 h，

7、温度s按严格度e(l50C) A3分组方法1:A 按GB4590 4.4. 2条按GB4590 4. 1. 2条求范A3分组按GB4590 4.3.2条按GB4590 4.4.2条按GB4590 4.1.2条CRRL分组就C3,C4 ,C5 ,C6 ,C7 ,C8 ,C9 ,Cll ，C23和C24分组提供计数检查结果.注:1)连续三次通过后，周期可放宽为一年一次.9 D组D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行，其后进行一次。08分组电耐久性(0)最后测量间A3分组10附料10.1 电特性的测试10.1.1 输出电压Vo一8一引用标准条件GB/T 12750第12.3条iI类:2000hE类:3

8、000h其它同B8分组同A3分组规范同A3分组叫m妇SJfT 10255 91 CW1403 VI 2 3 立，V. 10.1.2 输出电压温度系数ayO一一一恒温榕一CW1403 V, 2 3 L 一一J一一一立，Vo 10.1.3 输出电压变化范围LVo广一一一一一一恒温榕CWJ403 V , 1 2 L J Vo 3 一.-一一9一SJfT 10255 91 10. 1.4 电压Sv CW1403 1 2 V, 3 V v。10.1.5 Sr CW1403 v, 1 A 2 3 v 一fV.RL 10.1.6 电流1Dh CW1403 A 1 3 V , -10一10.2 电耐久性试验线

9、路V)=30V 2000 10.3特性曲线制造厂应在产品出电压与负载电11 SJ/T 10255 91 CW1403 1 2 3 RL=5100 电特性曲线.如z典型的输出电压与输入电压关系曲线F曲线;静态电流与温度关系曲线F输出电压与温度关系曲线.一11一11.1 11.2 引出符号名称引出IN 咀一一OUT GND 一-12一SJ/T 10255 91 (1)lN (3)GND 符号电压输入电压输出地(2)OUT 名称一一一一一E类器件:制造厂E举肆件:按下等级A内部目GB 4590.4.6条GB 4590第3.3条150C ,96h GB 4590第3.1条-65-150C ，10次GB

10、 4590第2.10条密辈tllGB 4590第3.11条或3.12条3.13条老化量A3分组老化GB 4590第4.7条Tamb max.240h 老化后电A3分品的注11)不适用于非空 2)不合格品率大于5%，。SJ /T 10255 91 附A 补充件目和条件.B 内部目GB 4590第4.6条GB 4590第3.3条150C ,48h GB 4590第3.1条圃-65-150C.10次GB 4590第2.10条密封1)GB 4590第3.11条或3.12条3.13条老化量A3分组不合格晶老化GB 4590第4.7条Tamb max.168h 老化后电测量同A3不合格晶的 C 内部目栓GB 4590第4.6条老化1tr电测量A3分组剔除不合格品老化GB 4590第4.7条Tamb max. 168h 老化后电A3 -13一SJ /T 10255 91 附加说明S本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出.本标准由上海元件五厂负责起甲。本标准主要起草人z董国强、高倍令。-14一