SJ T 10252-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CB7660型CMOS数字锁相环详细规范.pdf

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1、 、IJ，l、SJ/T 10252 91 利IJDetail specification for electronic components Semiconductor integrated circuit-type CB7660 supply voltage converter (可供认证用)1991-11-12发布1992-01-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CB7660型CMOS电源电压转换器SJ/T 10252 91 Detail specification for electronic component Semic

2、onductor integrated circuit CB7660 type supply voltage converter 可供认证用)本规范规定了半导体集成电路CB7660型CMOS电源电压转换器鉴定和质量评定的全部内容。本规范符合GB4589.1 (半导体器件分立器件和集成电路总规范和1GB 12750 (半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求。中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化研究所。中华人民共和国机械电子工业部1991-11-12批准施一实lnu nu n丘nuu QU SJ/T 10252 91 国家技术监督用评定器件质量的依据:GB 4589.1

3、(半导体器件分以器件和集成电路总规范GB 12750 (半导体集成屯路分规范(不包括混合山路) IECQ GB 1 机械说明CB 7660型CMOSlj_l，源也压转换器详细规范订货资料:见本规范第7章2 简要说明外形依据:GB 7092 (半导体集成电路外形尺寸外形图:按GB7092 D型I5.3及5.3.1P型T型5.5及5.5.15.6及5.6.1CMOS电源1l!.1运转换器半导体材料:硅封装:雪封、非当雪封逻辑框图见本规范第11章品种:陶自直插(D)I CB 7660CD I CB 7660MD 8 1 IVDD CEXT L.J 2 7 WCosc 塑料直插(P)1 CB 7660

4、CP GNDI 13 6 WLV 主/两国形(T)I CB 7660CT I CB 7660MT |CB 7660CJ|CB 7660MJ CEXT L.J 4 5 WOUT 出自r(点古Z且1阳J)注息:静电敏感器件VDD 3 xk类别Cosc II、IIIA、IIIB、IIIC + CEXT LV j型I5.4及5.4.1引出端排列:(顶视图)0700C I -551250C (C) I (M) GND OUT CVT -EXT di i11端标，2按GB4589.1 , 2.5及本规范第6章t头本规市鉴定合格的器件，其制造f的有关资料，可在现行合格产品目录中查到。4 极限值(绝对最大额定

5、值)若无其它规定，适用于全工作温度范围。吁IMSJ/T 10252 91 条款数值说参数符号单位Jljj l王1 最小最大4.1 Il!.源fQ.压Voo 1.5 10.5 V -0.3 Voo +0.3 Voo5.5 V -0.3 Voo +0.3 Voo5.5 V 4.4 LV端输入电流hv 20 A Voo3.5 V 4.5 输ill知路持续时间t 00 V 00 三5.5V D、J、P型300 4.6 功耗Po mW T型500 工作环境温度范C系列。70 4.7 Tamb 。Ci节lM系列-55 125 4.8 贮存温度也罔丑tg一65150 。C5 推荐工作条件和电特性电特性的检验

6、要求见本规范第8章。5. 1 推荐工作条件若无其它规定，适用于全工作温度范围。条款iJ参数符号数值单位最小最大于5. 1. 1 电源电压VDO 1.5 10 V 5.2 电特性若无其它规定，适用于全1:作温度范隅。Voo =5 V Cosc =0。句、uSJ/T 10252 91 规l!. 值条款特性和条件符号单位试验一55125 。70oc 250C 1E1 J 最小最大最小最大i民小I段大Il.!.源rl.!.流100 500 J.lA A3 5.2.1 RL= rt!，源也跟V RL=10 kQ LV端开路-极管D不接入电路3.0 6.5 LV端接地1.5 3.5 1.5 3.5 A3/

7、A3 a1 5.2.2 牛及笆;D /f接入rg路Voo 3.0 5.0 A3b LV端开路-极管D接入电路3.0 10.0 3.0 10.0 LV端接地牛tk管D接入电路1.5 3.5 1.5 3.5 输iliFU阻1020mA 150 120 100 Q 十Voo=2 V, 10 =3 mA 300 LV端接地A3/A3a1 5.2.3 1反管D不接入电路Ro A3b Voo=2 V, 10 =3 mA 400 LV端接地-极管D不接入电路5.2.4 rhl长转换效率。97 % A3 RL= 5.2.5 功率转换效率p 95 % A3 RL=5 kQ 4 SJ/T 10252一916 标志

8、器件上的标志示例:T型:D、J、P型:引出端识别标志认证合格标，(适用时)产品型LJ制造单位商标GUilt市CB7760CD 认证合格II I CB7760C 产品型号识别标志标，(适 J 1/,_j)_J VJ J1!.i r- .- I8836IIIB -+一质量评用时). 8836IIIB /质量评定类别i / I I 定类别检验批识别1:li马制造单位商标检验批识别代闽若T月1封装在管壳侧面打印，则将器件正放，从引出端识别标志起按逆时针方向依次标志:制造单位商标、型号、认证合格标志、检验批识别代码、质耸评定类别。对于D、J、P型，若受器件尺寸限制，允许将检验报识别代码、质量评定类别，标

9、在器件背面。7 订货资料8 a. 产品骂骂号:b. 详细规范的国家标准编号:C. )员E茬1-f定类别:d. 其他。求和检验要求若无其它说明，本章引用条款均为GB4589.1的条款。抽样要求:根据采用的质量评定类别，参照、GB12750第9章的有关规定。A纽检验的抽样要求AQL 分组II类III类IL AQL IL AQL AI II 0.65 II 0.65 A3 II 0.15 II 0.15 A3a S4 1.0 S4 1.0 A3b S4 1.0 S4 1.0 F、JSJ/T 10252 91 B组、C生日和JD组检验的抽样要求LTPD 分组H类III类A 8 C 81 15 15 1

10、5 15 CI 20 20 20 20 83 C3 15 15 15 15 84 C4 10 10 10 10 85 C5 10 10 10 10 C6 20 20 20 20 C7 15 15 15 15 88 C8 10 5 7 10 C9 15 5 7 15 CII 20 20 20 20 821 20 10 10 15 C23 20 10 15 20 C24 20 10 15 20 A组一逐批全部试验均为非破坏性的(见3.6.6)条件检验或试验引用标准若无其它规定，Tamb=250C 检验要求规范值(见第4章)AI分组外部目检4.2. 1.1 标，清晰，表面无损伤和气孔A3分组50C下

11、的静态特性t去才正规范5.2.1至5.2.5技本规范5.2.1至5.2.5A3a分组I) 段l向工作温度下的静丑mb按;本规起4.7t去车;1见也5.2.2.f: 5.2.3 态特性条件:按本规范5.2.2至5.2.3A3b分组I) 最低丁伞作温度下的静瓦时t安本规14522信5.2.3态特性条件:按本规范5.2.2至5.2.3注:1)允许相关测量。一6SJ/T 10252 91 B组一逐批it，F有(D)的试验为破坏性试验(见3.6.6) 检验成试验B1分组i尺寸B3分组i; I线强度弯rtllCD) B4分组口H早，t!=B5分组温度快速变化随后进行( a)雪封器件II.!.测量( 1司A

12、3分组)密封:纠Il检漏。|用标准4.2.2及附录BGB 4590 半导体集成I路机械和气候试验方法2.2 条件若无其它规定，凡mb=250C(见第4市)外加力的值按2.2表2GB 4590, 2.5 I按方法b(槽焊法)GB4590, 3.1 I TA=-650C, TB=150oC 循环次数:10次GB 4590, 3.11 或3.12tI 5 min 间A3分组则11检漏I 3.13 (b)非常封及环氧封的主;二封器件1 4.2. 1.1 外部口检稳定混热ll，测量(InJ A3分组)B8分组lt!.耐久N:( 168 h) 段后测量(1叫A3分组)GB 4590, 3.7 I严格度A(

13、85 oC , 85%R.H) 不加电，24 h 同A3分组GB 4590, 4.7 1 温度按本规范4.71民大值其它按本规范10.3同A3分组检验要求规范值按本规范第1.市无损伤浸润良好同A3分组同A3分组|乓JA3分组7一检验或试验B21分组I均比蒸汽(0)(非常封器件)战后测量(1时oA3分组)CRRL分组检验或试验Cl分组尺寸C3分组才|线强度拉力(0)C4分组耐视接热(0)最后测量(friJ A3分组)C5分组1) SJ/T 10252 91 续表条件q|用标准若无其它规定，几mb=250C检验要求规tE值(见第4章)GB 4590, 4.5 技严格度C(24 h) |叶A35t组

14、同A3分组就凹，B4，肘，B8平日B21提供计数检查结果C组一周期标有(D)的试验为破坏性试验(见3.6.6) 引用标准4.2.2及附录B条件若无其它规定，Tamb=250C (见第4章)GB 4590, 2.1 I外加力的值按GB4590，2.1 表lGB 4590, 2.6 I按GB4590, 2.6方法l问A3分组检验要求规范值按本规范第1亲无损伤同A3分组温度快速变化(0)I GB 4590, 3.1 TA=-650C, TB=150 oC 循环次数:500次(非常封及环氧封的封器件)随后进行外形臼检稳态即热Il.!.测量(A3分组)C65t组稳态加速度(0)(?封器件)股后测量(Ir

15、iJ A3分组)8 11: 5 min 4.2. 1.1 GB4肌3.7严格度A(85 oC，肌R.H)不力n电，24 h |司A3分组GB 4590, 2.10 I加速度:196000 m/s2 |叫A3分组同A3分组同A3分组检验成试验C7分组稳态混热(0)a f牛b.非当雪封l!l.环氧封的FE封器件最后测量( I汽JA3分组)J I用标准GB 4590, 3.6 GB 4590, 3.7 SJ/T 10252 91 续表条件若无Jt古规定，几mb=250C见第4章严格度:56 d 严格度A(85 oC 85%R.H) 1000 h 同A3分组注:1)连续三次通过后，周期可延长为年次。C

16、8分组rE!，耐久性(1000h) GB 4590, 4.7 同B8分组最后测量(同A3分组)同A3分组C9分组l苟温贮存(0)GB 4590, 3.3 1000 h 最后测量温度按严格度C(1500C) (同A3分组)同A3分组Cll分组标志耐久性GB 4590, 4.3 按GB4590, 4.3.2方法1洛液:A型C23分组抗溶性(0)GB 4590, 4.4 按GB4590, 4.4.2 (非雪封器件)C24分组易燃性(0)GB 4590, 4.1 t支GB4590, 4.1.2 (非雪封器件)检验要求规范值同A3分组同A3分组问A3分组掠i4.3.2 按4.4.2技4.l.2CRRL分

17、组就C3，C4 , C5 , C6 , C7 , C8 , C9 , C 11 , C23和C24提供计数检查结果。9 D t. D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行，其后每年进行一次。检验或试验引用标准条件检验要求规范值D8分组I!耐久性(0)GB 4590, 4.7 II类:2000 h III类:3000 h 其他同88分组段后虽如我主( I叶A3分组)18J A3分组IriJ A3分组l-9一SJ/T 10252 91 10 附加资料10. 1 也特性测试10. 1. 1 电源电流IDD测试采用GB3834 (半导体集成电路CMOS山路测试方法的基本原理第2.15条。10. 1. 2

18、电源电压VDD测试按5.2.2的条件，按LV端手11二极管Do调节山游;也压VDDo在规定的山源山ffi沼罔内，输山山压应在正常的转换功能。VDD 1 8 2 7 RL C1 .J_+ 10F CB7660 3 6 D -一-一-OUT 一一145 -tJ Cz +lOF 一-10. 1. 3 输出电阻Ro测试:外部元件8 CB7660 6 调节可调电位器，读出，然后按F式计算山Ro。Rr-V07v; -o 式中YJ为空载时CB7660的输出负山压，T飞为负载电流时的输山负山斥。10. 1. 4 电压转换效率。测试-10一SJ/T 10252 91 1 8 2 7 C1 _j_+ 10F CB

19、7660 3 6 一-4 5 读出凡，hv=Zi10肌计制v。, 00 10.1.5 功率转换效率p测试:1 8 2 7 C1 _j_+ 10F CB7660 3 6 一-4 5 VDD C2 + 10llF 一-VO URL=5 kQ C2一10F -一一- -. . V 读出11，按pz一I. U x 100% ，计算出po. 12 . VDD 10.2 也耐久性试验线路1 8 2 7 Cl + 10F CB7660 3 6 一-4 5 VDD=IO V 10kQ EI AU l 工+C2D -E 11 l SJ/T 10252 91 10.3 特性曲线制造厂所提供各种特性曲线，如I作电压

20、与泪度的关系曲线，输山电阻与电源也陀的关系曲线。10.4 设计参考参数(Tamb=25OC) 条款IJ特性和条件符t al -典型值单-位J 10.4.1 振荡器阻抗Zosc Voo=2 V 1.0 MQ Voo=5 V 100 kQ 10.4.2 振荡器频率fosc 10 kHz 11 型号说明11. 1 逻辑国Voo + LEXT /蝇、./Il!.、|互转换CEXT Cosc LV OUT E 内部电压调节器逻辑网络一一一11 . 2 引出端名称和符号序ZE J I A 引tii端名称符号8 rt!.源Voo 3 地GND 7 振荡器电容Cosc 6 低电压LV 5 电压输IiiOUT

21、2 , 4 外接t包容器CEXT+ CEXT-守i SJ/T 10252 91 附录A筛选(补充件)1 II类器件:制造厂应规定的筛选项目和条件。2 III类器件:按下述筛选程序进行。A B C 内部口检GB 4590 , 4.6 向温稳定GB 4590 , 3.3 1500C, 96 h 温度快速变化GB 4590 , 3.1 -651500C， 10次稳、态加速度1)GB 4590 , 2.10 密封1) GB 4590 , 3.11或3.123.13 老化前电测量同A3分组剔除不合格品老化GB 4590 , 4.7 Tamb max 240 h 在化后也测量InJ A3分组剔除不合格品2

22、)内部目检GB 4590 , 4.6 高温稳定GB 4590 , 3.3 1500C, 48 h 温度快速变化GB 4590 , 3.1 一651500C，10次稳态加速度1) GB 4590 , 2.10 密封1) GB 4590, 3.11或3.123.13 老化前f1.!.测量I司A3分组剔除不合格品老化GB 4590, 4.7 Tambmax 168 h 老化后屯测量|讨A3分组剔除不合格品2)内部目检GB 4590 , 4.6 老化的电测量同A3分组剔除不合格品1E: 1)不适用于非常封器件。2)不合格品大于5%，则该批拒收。句3喃自A- 14 SJ/T 10252 91 附加说明:本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提山。本标准由上海元件五厂负责起草。本标准主要起草人:毛智勤高信令。