JJG 22-2003 内径千分尺检定规程.pdf

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1、华计量JJG 22 2003 尺Internal Micrometer百2003 - 03 -05发布2003一09-01实施国家质量监督检验检疫总局发布JjG 22-2003 内径千分尺检定规程Verification Regulation of Internal Micrometers ii刀G22-2003;j代替刀G22-1991?本规程经国家质量监督检验检疫总局于2003年03月05日批准，并自2003年09月01日起施行。归口单位:全国几何量工程参员会主要起草单位:黑龙江省计量检定测试院哈尔提电机厂有限责任公司哈尔滨市计量检定测试所才二规fl委托全m几何J-tr lY参，ltf-l

2、lt技术委bi会负LJfPiFfF本规程主要起草人:马-tt = 格云库王利JJG 22-2003 (黑龙江省计量检定测试院)(哈尔滨电机厂有限责任公司)(哈尔滨市计量检定测试所)JJG 22-2创3目录范围 . . l 2 引用文献 ., 1 3 概述 ., 4 计量性能要求 . . . . .,. 4. 测量头工作面的曲.$半径 4.2 工作面的表面粗糙度 ., . . . . . . . . . . 4.3 刻线宽度及宽度差 . . . . . . . ., 4.4 微分简锥面棱边至固定套管刻线面的距离 . . . 2 4.5 微分简锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置 2 4.6 坝

3、微头示值误差及锁紧装置锁紧和松开时的示值变化 ., 2 4.7 测微头与接长杆的组合尺寸 ., . . ., 2 4.8 刚性 . ., . . . . . 2 4.9 校对用的卡规工作尺寸和两工作面的平行度. . . . . . . 3 5 通用技术要求 ., . . 3 5. 1 外观 . . . . . . 3 5.2 各部分相互作用 . ., . . ., . . . . . . 3 6 计量器具控制 . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3 6. 检足条件 . ., . . . . . . . . . . . . 3 6.2 检定项目. . . .

4、., . . . . . . . 3 6.3 检定方法 . . . ., . . . . . . . 5 7 检定结果处理 . . . . . . .,. 7 8 检定周期 . . . . ., . . . . . . 7 附录A 测微头与接长杆的组合方式举例 . . . . . . 8 附录B 内径千分尺示值误差测量结果的不确定度评定 9 附录C 检定证书和检定结果通知书内页格式 ., (13 ) JJG 22-2003 内径千分尺检定规程1 范围本规程适用于分度值为O.Olmm，测微头示值范围为i3mm、25mm、50mm，围为(50町60)mm的内径千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验

5、。2 3 引用文献本规程引用下列文献:jJF 1001-1998 通用计量术iE及定义刀F1059一1999测量不确定度评定与表示GB/T 8177一1987内径千分尺使用本规程时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本。概述最范内径千分尺主要用于测量工件的内径、槽宽和两个内表面之间的距离，其外型结构如图I所示。4 4.1 4.2 宣芯杆图计量性要求测量头工作面的曲率半径内径千分尺测量头工作面的曲率半径，应不超过内径千分尺测量下限的40%。工作面的表面粗糙度两测量头工作面的表团粗糙度.首次检定和使用中检验的应不超过几0.2m，后续检定的应不超过几0.4m;各接长杆的内量杆两端面的表面粗糙度应不超

6、过几0.2m;校对用的卡规工作面的表团粗糙度首次检定的和使用中检验的应不超过几0.05m，后续检定的应不超过R.0.1pmo亥IJ线宽度及宽度差4.3 对微分何回定t竹直径不超过l币mm的.日l;E王5iT上的纵主IJtQ利I1攻分n仁的主IJ足3ZI互为(0.10- 0.20) mrn，如l线宽!EJF应不超过O.03mm;同;主套住111大T16mm的.1 JJG 22-2003 IJ )，主套11:上的纵刻线和微分简上的主rJ足71:度为(0.15- 0.25) mm，刻线宽度差应不超过0.05rnmo 4.4 微分简甘n面校边至叫定套货主rJ线阳的距离微分简锥回i棱边至机l定77tT刻

7、线li的jj，司应不超过O.4mm。4.5 微分简锥丽的端困与固定套仔毫米刻线的相对位置当测量下限调整正确后，微分筒的:f刻线与GI定套管纵刻线页、t住时，微分简锥面的端困i与固定套管刻线的右边缘应相切;若不相切，压线不超过0.05mm，离线不超过O.lmrno 4.6 i则以头示值误差及也ii紧装置锁紧和松开时的示缸变化V!微头(I示值误差，对于尺寸至125mm的应不超过:t61m，对于尺寸大于125mrn的应不超过:t8flm;当测微头锁紧装置固定和松开时，引起的示值变化应不超过2，m，并且示值误差均在允许范围内。4.7 测微头与接长杆的组合尺寸l!rJ j坟头与接长杆的组合尺寸的示t误差

8、应不超过表1的规定。表Ii!i!rJ微头与接长杆组合尺寸的示值误差盯1m尺寸范I目示值误差尺寸范围示的误差J7川5叮1匀d:均;叮:r叮丰，了飞:引叮今; 飞小沪r0.删s飞守手j卜 2000 二凸2扫5 : | i (0矶).j二二一气一二一一-一一一一一一一叫二一一牛h一一一一-4一寸一二，十一一一，一二，4 , 8 f;ih4325二JIiri0刀白了?JPA;jt:宇25DOY3150i 1l;771 405UIfTJJJ飞yhZm j二LEE三工一豆豆王EJii王三豆二;而丁5-m|uO叩L4咖Jmo二-jf，:13;dtt仰叫:14om l洲苟EZJ3E二.J阳E刷一i4旦二4且j

9、:;fgpL:气二1i21:iJJ:兰斗:斗斗二刚性对于测量上限大于1250mm的内径千分尺，当支撑点、处于离揣面2mm和支撑点处于离端困距离为内径千分尺长度的2/9处时，两次测得的尺寸差值应不超过表2的规定。，、-尺寸范liJ 1250 - 1600 1600-2m 2仅】0-2500 2500- :1 150 表2尺寸变化莹0.006 0.010 。0150，02气目rJ性要求盯m1尺寸范fJ尺寸变化后 3150 - 4000 0.040 4000 - 5000 0.060 5000句6日000.070 JJG 22-2003 4.9 校对用的卡规工作尺寸和两工作丽的平行度佼;(.t用的卡

10、规工作尺寸偏差如阿工作面的平行度应不应过表3的规定。表3校对用的卡规工作尺寸偏差和两工作面的平行度mm 工作尺寸工作尺寸偏差平行!立50平相75土0.0020.002 100 主0.0030.003 150 主0.0040.004 250 士0.0040.004 5 通用技术要求5. 1 外观5. 1. 1 首次检定的内径千分尺及其校对用的卡规均不应有碰伤、锈蚀、镀层脱落等外观缺陷，刻线应清晰、平直、均匀、无断线。5. 1. 2 内径千分尺上应刻有编号、厂标和标志。5. 1. 3 后续检定及使用中检验的内径千分尺及校对用的卡规允许有不影响使用准确度的外观缺陷。5. 1. 4 内径千分尺测量头球

11、面中心不应明显偏离测量轴心线。5. 1. 5 内径千分尺必须附有组合尺寸的选用表。5.2 各部分相互作用5.2.1 微分筒在全部工作行程内往返转动时必须灵活、平稳、无卡滞和摩擦现象，无子感觉到的径向摆动和轴向窜动，测微头锁紧装置的作用应可靠。5.2.2 各接长杆装卸应灵活，连接要可靠，无手感觉到的晃动。接长杆内的量杆接触应良好，移动应灵活。6 计量器具控制计fE器具控制包括首次检定、后续检定和使用中检验。6. 1 检定条件6. 1. 1 环境条件检定内径千分尺的室内泪度及受检内径千分尺在检定前放置在室内平衡温度的时间，应符合表4的规定。被检内径千分尺和校对用的i二规若放置在室内的金属平板上平衡

12、温度时，其平r温度时间不少于表4巾规定的的二半。61.2 fE定m设衍:-检注，H !J t8-16 士24 0.5 1600 - 3150 士l6 0.3 3150 - 6000 企1自0.3 表5检定项目和主要检定器具一览表检定类别!于检定项目主要检定器具首次后续使用中且J 检定检定检验外观+ + + 2 各部分相互作用+ + + 斗半径样板偏差:(0.020-测最头工作丽的illJ率半径O.2)mm;工具显微镜示值3 + + 误差:(I+Ll1)/，m;投影仪示值误差:(4 + Ll25)/1m 表团粗糙度比较样块:R.对4 工作面表面粗糙皮其标称值的偏离量不应超过+ + + 12% -

13、 - 17% 5 主IJ线宽度及宽度差工具显微镜+ 微分简锥面棱边至固定套管刻2级塞尺偏差:不超过6 + 线面的距离(土16m)或工具显微镜微分筒锥面的端丽与固定套管7 毫米刻线的相对位置+ + 测长机示值误差:分米刻度测微头的示值误差及锁紧装置尺(0.5+ Lll) /，m;毫米刻8 锁紧和松开时的示值变化度尺(0.6+ Ll2oo)m;微米+ + + 刻度尺0.25m9 测微头与按长杆的组合尺寸测长机+ + + 寸10 刚性9!长饥+ 校对用卡规工作尺寸及两工作卧式光学f示值误差:0.25/，m;四等量块不确定11 + + 丽的平行JJt度允泞的:(O.20+2L) /,m ，王:去中+表

14、示在约定.表示可以不检定。4 6.3 检定方法6.3. 1 外观日力观察。6.3.2 各部分相互作用目力观察和试验。JJG 22-2003 6.3.3 测量头工作面的曲率半径| 内径千分尺测量头用半径样板进行检定，也可以在工具显微镜上或投影仪上与标准困弧进行比较测量。6.3.4 工作面的表面粗糙度用表面粗糙度比较样块检定。6.3.5 刻线宽度及宽度差在工具显微镜上检定。微分简和固定套管上至少各均匀分布地拍检3条刻线。刻线宽度差以是大值和最小值之差确定。6.3.6 微分简锥面棱边至固定套管主rJ线丽的距离在工具显微镜上进行检定。也可以用厚度为0.4mm的2级塞尺用比较法进行检定，检定时应在微分简

15、转动一周内不少于3个位置上进行。6.3.7 微分简锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置; 首先将内径千分尺测量下限调整正确，然后使微分简锥面的端面与固定套管任意毫米刻线的右边缘相切，此时读取微分筒的零主rJ线与固定套管纵刻线的偏移量即为离、压线值。6.3.8 测微头示值误差及锁紧装置锁紧和松开时的示值变化训微头的示值误差在测长机上检定，对于测微头的示值范围不超过25mm的，受检点应均匀分布5点:对于示值范围为50mm的，受检点应均匀分布10点。测微头受检点的尺寸见表6所列。表6测微头的受检点! mm 测微头示值范围13 25 50 A + 2.12 A + 5.12 A + 5. A +30

16、.37 + A +5.25 A + 10.25 A+IO.12 A + 35. 受检点尺寸A + 7.37 A + 15.37 A + 15.00 A + 40.50 A + 10.50 A + 20.50 A +20.25 A + 45. A + 13. A +25.00 A +25.00 A + 50.00 注:A表示测量下限。检定时先在测长机头座和尾座的测杆上安装不小于削mm的平面测阳，并将其中目的工作而归整平行。，被f在削阶头ItfE戎ilil功支撑架安抚在仪器工作台i二.再将i则做头的IRffif下限根据仪器的示的训较正确，然后校表6所列的主检点尺寸.i!.!:行检定2测微头(J示E

17、ifft定分别在一斗一一一一JJG 22-2003 微分简固定和松开情况下迸行。各点的示值误差由测微头各点的示值与仪器上测得值的差值确定。示值变化民1同一受检点在微分筒固定和松开情况下测得值的差值确定。6.3.9 测微头与接长杆的组合尺寸l微头与接长杆的组合尺寸在测长机上检定。受检尺寸;首先将测微兴对d曲直平商古来万存预百锁紧后-3F另二. L:再将测做头与所有接民仔组合二然后在接个组合尺寸范国内至少逃择均匀分工:ZJT 屯人这二三组尺寸必须是按长杆数最较岁的，而且按长杆尺亏俯22向内较多的。Ul. :11牙组合f刮大于朋叫的其文括点离均面的面常成为组合尺宽的约二、二;州检定时，每1且时必须将

18、内经于组翌丘旦虫草之这牛基主革主主主主主主;二二求。组合尺寸的示值误差由组合尺寸与仪器测得值的差值确定。例如:被检组合尺寸标称值为3mm，测得值为300.OlOmm，则组合尺寸的示值误差e=300-300.01O= -0.010 (mm) 刚性长机上检定。检定时将内径千分尺全部尺寸组合后安装在测长机上，使两支撑点位于离端面距离为受检尺寸的2/9处，然后将内径千分尺每转90。检足一次。再把支撑点移至距离两端面2mm处，以上述同样方法检定。前后两次检定中对应尺寸之差，应不超过表2规定。6.3.11 校对用的卡规工作尺寸和两工作面的平行度在卧式光学计上检定。检定时，在仪器上安装内测附件，在卡规工作面

19、上5点(如图2所示)的尺寸依次与四等量块和量块附件组合成内尺寸以比较法检定。工作团中心的尺寸为卡规的工作尺寸;工作面上5点尺寸的最大值与最小值的差值为两工作面的平行度。工作面距边缘0.5mm处允许有塌边。校对用卡规的工作尺寸与平行度，也可以使用其它相应准确度的仪器检定(如有争议需要仲裁时，应在卧式光学计上检定)。6.3.10 0.5 mm -U川ll-JU旦-5一2 !tl 6 JJG 22-23 7 检定结果处理经检定符合本规程要求的内径千分尺发给检定证书;不符合本规程要求的发给检定不合格通知书，并注明不合格项目。8 期内径千分尺的检定周期可根据使用的况确定，一般不超过l年。7 r JJG

20、22-2003 附录A8 微头与接长杆的组合方式举例微头与接长杆的组合方式举例如下。测量范围为(1-9(0) mm的内径千分尺:J!IJ微头的测量下限A为(100- 125) mm 接长杆:1 25mm 2 50mm 3 100mm 4 200mm 5 400mm 测微头与每根接长杆的尺寸:A + 1 125mm A + 2 150mm A + 3 200mm A +4 300mm A + 5 500mm 测微头与所有接长杆的尺寸:A + 5 + 4 + 3 + 2 + 1 875mm 狈微头与部分接长杆的尺寸:A + 5 + 3 + 2 + 1 675mm A + 4 + 3 + 2 + 1

21、 475mm A+3+2+1 275mm 测量方法依据本规程，内径千分尺的示值误差的检定是在规程中允许的温度条件下，进行充分等温后在测长机上(注:测长机的示值要按校;在证书给定值进行修正)直接测量得到的。现对分度值为O.Olmm，测量范围为(250- 6000) mm的内径千分尺的250mm、3Omm和mm点，在(20士l)t条件下，在6米测长机上进行检定，评定其测量不确定度。规程要求( 2-325) mm示值误差为士10m;( 25-3150) mm示值误差为主50m;( 50-60) mm示值误差为主82m。现评定分析如下:B.2 数学模型内径千分尺的示值误差e:) I RU ( (B.2

22、) 用u( 1m)、u(lo)、u(Ba)和1u(Bt)分别表示由1m，儿，品和Bt引起的标准不确定度分量3由于各分鼓彼此独立，按不确定度传播tlt合成，其输出量估计e的方差为，(e)=，(l仙)+ ,(10) + (lm . t). ,(Badm) + ( 1 . t ) 2 U 2 ( 川)+ (1.)u(I ) tzri!不确;I芝汇总表(1L3 ) 9 的不确定度评定8=mm。;Bt = . tm -.to;=。;. t . t m (Bt) =旦旦=l ,(f = 22 当1=3000mm时，U，=17m，.rr= 11 当1=6000mm时，U = 33m，l.J.，何=10 JJ

23、G 22-2003 附录C检定证书和检定结果通知书内页格式C .1 检定证书内页格式序号主要检定项目测微头的示值误差2 测微头与接长杆的组合尺寸(3 测微头与接长杆的组合尺寸(4 担l微头与t.t!长杆的组合尺寸(5 测微头与t.t!长忏的组合尺寸(6 测微头与接长杆的组合尺寸(7 E 9 校对用卡规工作尺寸10 检定结果沮度相对湿度% 4号定依据:JJG22-23(内径千分尺检定规程注.检定结果:应给量化的值(不要简单给合格二字)。检定单位地址:联系电讯:传真:C.2 检定约果通知书内页格式JU丰要求同C.1 ，并指出不合将项口。检定结果13 中华人民共和国同家计量检定规fJ内径千分尺JJG 22-2003 国家质量监督位验检总局发布. 中国计显出版祉出版北京郭丰里西西甲Z号邮政编码1酬口电话(010)11421曰E-mail J.回北京市边鑫印刷厂印刷新华H店北京发行所发行版校所有不得翻印 8曲mm)c 1230 mm 16开本印张1.25字数19下ttZ曲3年5JI第1版200J年5月第1次印刷印数1-5酬统一I号1556-1710