JJF 1212-1990 平面度副基准操作技术规范.pdf
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1、J萄G国忡也和规术:技47作操JJFl212-1990 人华中JJG .1212-90 20010658 平菌度副基准GJJ(长)0452国家技术监督每北京一旦一一一一 丁一一二一 平面度.+lII.+Ufl+叫啊忡咱叫M叫t气副基准操作技术规范f i iJJG1212-90 i Operating Technical Norm oL Sond ,1 雪、:、飞tlltollIIII+i.1I叫忡耐性川啊时,.ary Standard of Flatness t ,., f 固自由回国帽嚣回帽翻-届四-画画画画画面E-町-肉唱-一一一一一一-一一嘀咕回-叮. 咽-障自由自. 基准保存单位:中国
2、测试技术研究院基准保管人员:周患萍张成佛起草人员:张成涕JJG 1212-90 107 共5页第i页平面度副基准操作技术现范概述搜捕平面度量值传递系统的规足,平面度设有基准和副基准,分别函中国汁量科学研究院和中国测试技术研究院负交承担。2 平面度基准与副基准均由平面等倾干涉仪.由四块组成的150平晶主旦210mm长平,1古组及310mm氏平晶组等组成93 作为基准王有副基准的平晶组或氏平品组在平苗等饵干涉仪上以四面互1金,确定其平面度铺盖及其检定不确定度。4 平面度基准和副基准工作面平面度铺盖对于150平晶应小子。.015rn,对于210胞和310mm-l:主予品在工作商同时,旦支承子南端,其
3、工作面平面度偏差f小子。,10m及O.川江应亨其检定不确定度。对于150平晶和210mIll长平晶应不大子。.010m ,对于310mm民子晶应不大子。.015m , 5 作为平面度基准和副基准的平晶或氏平晶其j万年楼走史应不少子5年,且其数据E幸运,各年抢走结果与其平均应最大差不应超过O.006血而一平面度副基准噩值的检定与比对8 平面度基准与副基准的平晶纽应每年位走一次,若平晶具有十年以上历史,且数据E幸运,其性定周期可延民主再练气7 为防止环境条件及骂他因素带来的系统误差,平面度基;在与副器;在的平晶组应每两年进行一次比对,对于已有卡年以二历史数据的平晶组可四年进行一次比对a8 基准与i
4、ITJ准仪器应每年检足-次,且应符合俭足规程的要求。,JJG 1212-90 1仰共5页第3页式中:A!、L、Cj、Dj-一分别为A、B. C、D四块平晶或长平晶)在i点的-f)囱度温差;T,、T川、T,.1101.言Tbd.iTed一一一白为六次互设时,相应两块平品豆J1;t己平品)iXX二F扭过锦茬,平1,其栓.S,平:确定度出(2)式计算A这项憧(2) FA E一一平晶或长子品的检点致:c:l J k. l -平(或长子晶)J和K互检时在i点的嫂萃,J古K为A、B丁、C. D中的;在两块。检ZZ结果的珑差fiJ(3)式汁算?式中:每次检走后应在其历史记录卡上进行登记。U:x才方法9. 1
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