GB T 23901.2-2009 无损检测.射线照相底片像质.第2部分 阶梯孔型像质计.像质指数的测定.pdf

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1、ICS 19. 100 J 04 家标PGB/23901.2-2009/ISO 19232-2: 2004 片像、照相才JHM3 踊织也可勾草草也损电、部分;阶梯孔型像像质指数的测定第2Non-destructive testing-Image quality of radiographs一Part 2 : Image quality i日dicatorsCstep/hole句rpe)一Determination of image quality value CISO 19232-2: 2004 , IDT) 2009-12-01实施2009-05-26发布发布中华人民共和国国家质量监督检验检

2、技总中国国家标准化管理委员会中华人民共和国国家标准无损检测射线照相底片像放第2部分:阶梯孔型像质计像质指数的测定GB/T 23901. 2-2009/ISO 19232-2: 2004 号令中国标准出版社出版发行北京复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045网址.c丑电话:6852394668517548 中国标准出版社秦皇岛即刷厂印刷各地新华书店经销+斗开本880X 1230 1/16 印张O.5 字数10千字2009年8月第一版2009年8月第一次印刷争+书号:155066 138428 如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533GB/23901

3、.2-2009/180 19232-2: 2004 自IJU:I GB/T 23901 (元损检测射线照相底片像质分为五个部分:一一第1部分:线型像质计像质指数的测定;一第2部分:阶梯孔型像质计像质指数的测定;3部分:黑色金属像质分类;一一第4部分:像质指数和像质表的实验评价;一一第5部分:双线型像质计图像不清晰度的测定。本部分为GB/T23901的第2部分。本部分等同采用ISO19232-2: 2004 (元损检测射线照相底片像质第2部分:阶梯孔型像质计像质指数的测定)(英文版。本部分等问翻译ISO19232-2:2004 0 为便于使用，本部分做了下列编辑性修改:一一一用小数点一一一删除国

4、际标准的前言和引言;GB/T 1. 1-2000规定的引导语代替国际标准中的引导语。本部分由全国元损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)提出并归口。本部分起草单位:上海电气核电设备有限公司、上海锅炉厂有限公司、上海材料研究所、上海市工程材料应用评价重点实验室、上海苏州美柯达探伤器材有限公司、浙江省绪云像质计厂。本部分主要起草人:许遵言、金字飞、苏中玉、李莉、赵成、柳章龙。I G/T 23901.2一-2009/18019232:2004 无损检测射线照相底片像质第2部分:阶梯孔型像质计像质指数的测定1 范围GB/T 23901的本部分规定了用于确定射线照相质量的器材和方法，其他器材见GB/

5、T23901. 1和GB/T 23901. 50 2 规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T23901的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注目期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注目期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T 19802元损检测工业射线照相观片灯最低要求(GB/丁19802-2005，ISO5580:1985 , IDT) GB/T 23901. 1元损检测射线照相底片像质第1部分:线型像员计像质指数的测定(GB/T 23901. 1-2009 ,ISO

6、19232-1:2004 ,IDT) GB/T 23901. 4 元损检测射线照相底片像质第4部分:像质摇数和像质表的实验评价(GB/T 23901. 4-2009 ,ISO 19232-4:2004 ,IDT) GB/T 23901. 5元损检测射线照相底片像质第5部分:双线型像质计图像不清晰度的测定(GB/T 23901. 5-2009 , ISO 19232一5:2004 ,IDT) ISO/IEC指南22供应商的合格证明通则(ISO/IECGuide 22 , General criteria for suppliers declaration of conformity) 3 术语和

7、定义3. 1 3.2 3.3 下列术语和定义适用于GB/T23901的本部分。图像质量image quaIity 像质射线照相图像的特征，它确定图像的细节程度(见GB/T23901. 1)。像原计image quality indicator IQI 由一系列不同厚度的阶梯和不同直径的孔排列组成的器材。孔径与阶梯厚度相对应见图1)。像质指数image quality value 图像质量需要或达到的测量值，它是表l给出的且在照相底片上显示的最小孔的编号。GB/23901.2-2009/ISO 19232-2: 2004 4 阶梯孔型像质计规范4. 1 像质计尺寸、制造和标记4. 1. 1 尺寸

8、像质计系统由18块不同厚度和直径的阶梯/孔构成，它们在表1中规定，具有相应的误差和孔的编号。这些阶梯/孔又被划分为范围重叠的4组，每个组有6个连续的孔编号，即H1r-.JH6、H5r-.JH10、H9r-.JH14和H13r-.JH18。表1孔编号，孔径、阶梯厚度和像原计公差范围单位为毫米像质计范围孔/阶梯H1 H5 H9 H13 孔编号标称孔径和阶梯厚度公差 H1 o. 125 H2 o. 160 H3 0.200 H4 0.250 十0.015。 H5 0.320 H6 0.400 H7 0.500 日8o. 630 H9 0.800 十0.020。 H10 1.000 Hll 1. 25

9、0 H12 1. 600 十0.025。 a H13 2.000 a H14 2.500 a H15 3.200 a H16 4.000 十0.030。a H17 5.000 a H18 6.300 十0.036。a当合同双方达成一致时，这些编号可作为特别应用。2 GB/23901.2-2009/ISO 19232-2: 2004 图1为一个阶梯孔型像质计。单位为毫米a) 一一一一一L一一一一一一一一一一一叫+ 问、a)一像质计标记区域。h=10 mm，对于像质计HLH5和H9;h=15 mm，对于像质计H130l=5 mm，对于像质计H1;1二=7mm，对于像质计H5和H9;l=15 mm，

10、对于像质计丑13。圈1阶梯孔型像质计4. 1. 2 制造厚度小于0.8mm的阶梯应含有两个相同直径的孔。厚度大于等于0.8mm的阶梯应含有一个孔。孔中心距阶梯的边缘，或者距阶梯上第二个孔的边缘，其最小距离应为孔径加1mmo孔应垂直于表面，不应有倾斜边缘。4. 1. 3 标记像质计的标记应给出像质计标记、标准号、表1规定的最小孔径号(如H5)以及代表像质计材料的标记例如:FE)。tll :IQI GB/T 23901. 2-H5 FE 4.2 像质计材料像质计各部分应由相同的材料主旦成，并嵌入到一种有保护作用且又不影响像质指数的材料中，表2列出了商用像质计材料。表2用于被选材料组别的像质计种类和

11、材料像质计标记孔编号像质计材料适用被检材料H1CU H1H6 H6CU H5H10 铜、特、锡及其合金H9CU H9H14 锅H13 CU H13H18 H1 FE H1H6 H5 FE H5H10 铁素体材料H9 FE H9丑14铁(低合金H13 FE H13H18 H1 TI 日1H6H5 TI H5H10 H9 TI H9H14 铁铁及其合金H13 TI H13H18 H1 AL H1H6 H6 AL H5H10 铝及其合金H9 AL H9H14 铝H13 AL H13H18 goNUN-NREO出OON|N.OSNH闰。GB/23901.2-2009/粥。19232号:20044.3

12、像质计栋记用于像质计(见图1)的标记应包含以下信息:a) 放在最小孔附近的孔编号;b) 代表所用像质计材料的标记，例如:FE;c) GB标记。当对射线照相底片进行观察时，标记图像不应产生眩光，推荐标记材料的吸收不超过最大阶梯厚度的2倍。4.4 合格证明每个像质计都应附有一份符合ISO/IEC捂南22或由具有资格的实验室颁发的完全符合GB/T 23901的本部分技术条件的合格证明。为了识别，制造商还应对像质计进行编号和标记。明己采用了这种放置方法，像像质计的应用5. 1 选用像质计选用应考虑被检材料及其厚度。像质计所用的材料应尽可能与被检试样相同，其他情形见GB/T2390 1. 40 5.2

13、像原计的放置当进行射线照相时，像质计应置于被检工件的源侧旦远离胶片。如果以上方法不可行，则像质计可放置在被检工件的胶片侧，为了质计附近的铅字F影像应可见。像质计应放置在工件厚度尽可能均匀的区域。5 像原指数的确定在确定像质指数时，观片条件应符合GB/T19802的要求。在底片上能识别的最小孔的编号即为像质指数。当同一阶梯上含有两个孔时，则两个孔都应在底片上可识别。一般来说，每次射线检测都应确定像质指数以验证其是否达到所要求的照相质量。如果能采取措施保证在透照相似的被检工件和区域时，用相同的曝光和暗室处理技术并且所得的像质指数没有差别，则不需要对每张底片验证图像质量，图像质量的验证范围可由合同各方达成协议。6 版权专有侵权必究-开书号:155066 1-38428 G8/T 23901.2-2009