SJ Z 9110-1987 设备可靠性试验 第4部分:设备可靠性测定试验中确定点估计与置信限的程序.pdf
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1、1范中华人民共和国电子工业推荐性SJ/Z 9110-87 设备可靠性试验1 EC 605 4( 1986)川四部分z设备可靠性测定试验中Equipmf: nt reliability testing Part 4, procedures for detgrmning point estimates and confidence limits from eguipment reliability determination test -本标准给出推荐使用的根据设备可靠性测寇试验确寇可靠性特征量的总估计与置信限的J数值方法和图估计法。(参见1E C 605 4标准:(设备可靠性试验,第一部分z总要
2、求第6条和7.4条。2 引言本标准中的计算方法适用于可靠性试验中的任意时间或任意试验次数之后。计算总估计与置信限时能利用的信息愈多,所得的结果的精度就愈高。以往试验的现有数据及现场观数据也可应用,只要这些数据是足够完整的,被确认的且符合假定的条件。本标准不适用于不同来源的数据组合,例如在不同条件下试验所得的原始数据。本标准中所用的时间这个变量,可根据实际情况用距离、次数以及其它适当的量替代。若需由可靠性i则立试验来估计失效率、平均寿命或平均无故障时间,或在给远时间的平均失效卒,则需用第5条或第6条中的方法。这些方法适用于基于时间的试验。所用的方法还与失效率与时间的依赖关系和失效时间(失效间隔)
3、的统计分布的假定有关。在假定恒定失效率情况下,即失效时间分布为指数分布的情形,应使用第5条中给出的方法,此时受试产品可以经修复后重新投入试验,也可不予修复。但因估计法(5.3条不适用于可修复产品的首次失效以后的情形。在假定非但运失效率情形,即当失效分布为威布尔分布或正态(高斯分布时,应采用第6条中给出的方法,这些方法都不适用于可产品的首次失效以后的情形。如果需根据可靠性测寇试验估计成功卒,则应采用第7条中的方法,这些方法都是基一一甲一一一-C;V,.,T副主也画一一一中华人民共和国电子工业部1987一1127批准1 SJ/Z 9110-87 于受试产品数或试验次数的,将它们按成功(不失效)与失
4、败(失效)分成两类e所用的方法是根据失效次数计算的。若失效次数小于10,则必须用二项分布,否则便允许使用正态分布。5 点估计和置信限的特性点估计是一个数值,用来表示一个统计参数4例如失效率的未知真值。通常,这里所考虑的点估计即是指观测值(如同1E C 271标准:(在编制过程中在计算点估计占置信限前进行检验。本杂中的方法适用于估计平均无故障时间MTBF=m,或平均(首次)失效时闯MTTF,mF=MT肌1节,以及失效卒,hj 5.1 定时截尾试验到测远点时的累积实际试验时间俨,可根据附录A确立立,对有替换,无替换或修复不修复公式都相同。对到测定点时的实际失效总数r进行计数。5.1.1 点估计失效
5、率的fi估计(观测值为z八王一r T* 平均失效时间或平均故障间隔的点的l(观测值)为八T m= r 3 SJIZ 9110-87 注,推荐上式是根据E.L威尔克和M李包的文章,对零失效数据的指数分布失效率的估计。见m 置信区间z2r八2rm .:之口lAm m 11. 2Tr m-飞卢o.9o(2r)双侧置信区间z土2r2r F;二F了a 0; bO, kO马,这种概率纸是这样成一直线。参见下一个因子10C,其中c是故只有8个数据点,在表4中只需查n 。.20.3 0.4 0.50.60.70.80.91 2 8 失彼时间锚点做曲线例巾。=10 r =。34567891。20 30 4口50
6、60 70 B090100 各产品的实际鼠验时间(1) 图8威布尔概率纸用法示例如果a-O的威布尔分布的假定成立,则数据总可以用-条直线进行拟合。如果数据点成一曲线且从横轴看是凹的,则位置参数aO,若成一曲线且是凸的,则a36,则这种正态分布可用作失效时间的分布。6.2.1 数值方法6.2.1.1 点估计这里介绍的平均失效时间与标准差的数值估计仅适用于n个受试产品都试验到失效为止。平均失效时间的点估计为s n IDF士EJi使用说明,电子工业部标准化研究所发行的威布尔概率纸的使用方法见GB 2689. 5 810 9 SJ/Z 9110-87 /口n/n 2 t2 i - C 2ti J2 /
7、 i=1. i=1 /f n(n-1) n A E(ti-mF)2 n-1 标准差的点估计为2一A6 飞/也.2.1.2置信区对平均失效时间的真值mF,置信水平为90%的置信限如下,其中t分布值tp()见表1。单侧置信区间下限z帘.2.2图估计怯图估计法需用正态概率纸。正态概率纸是这样设计的,凡遵从正态分布的失效时间的累积分布函数在这种概率纸上成一直线,见图4。这种图估计法也能适用于不是所有受试产品都失效的情况。每个观测到的ti值按其相应的中位秩Pso(ti)值为纵坐标F(t)从表4中查到。在图4的示例中,假定样本大小n10,在达到r-8失效数时截尾,也即在全部受试产品失效前试验就截止的情况下
8、,只须采j前r个中位秧(包括ir)描点.在拟合直线时,主要由失效概率在20%到80%的点确定。平均失效时间的估计mF即是纵坐标为50%的直线上的点相应的横坐标的数 标准差的估计6即是纵坐标为84%的直线上的点相应的t值与平均失效时间上述拟合直线还可用来估计总体在某个确定时间之前或之后失效的比例。7 作图,其中中位秩值可的差。b、6 A A A扎. mF -t口.9s(n-l).二m T? -tO90(n-1). -、/n双倒置信区!可z成功率即是:一个产品能完成规立功能的概率或在规定的条件下一次试验成功的概率。作成功率试验时,受试产品或试验按成功与不成功分类。对可重复使用的装置允许在两次试验之
9、闯进行检修,以便在每次试验开始时,装置都具有相似的状态与性能。成功率的点估计(观测值和置信区间与试验的截尾情况无关,可以是对固定的试验总次数或固定的成功或失效数。10 SJ/Z 9110-87 如TF(tl 99 民,. 咱哥一了90 &l 一_. 70 50 30 . 十一一寸1 丰寸 . - .0 , 一+ 一汁. 一- 1才. . . . 一 . . 10 . r d 争 . . . . z .凰. . . 斗,可:- . . . . , 1000 . 二;ij, 一 一一一 . - . . .、 . m . . . . - . . 升, 斗 ., 斗 . I I . . . , 4二二
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