SJ 2674-1986 电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJl6型金属膜固定电阻器.评定水平E.pdf

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1、中，、国目lSJ2674-86 国l-固目l固EB 幅画E 1986-02-18发布1986一10-01实施中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和子工业部部标电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ16型金属膜固定电阻器评定水平E中国电子技术标准化研究所SJ26H-86 BC5729-85 按IECl1E道行质量评定的电子元器件一一二一一一一二卢外形图:(见表1) (第一角视图)211 均- -_.(:. JI线根部层*Jl:L JIIlJ D GB5731-85 IEC115-2-1 低功率非线绕固定电阻器( RJ16型金属膜电阻器评定水平:E定度等级z2qbSJ2614-8& 按斗:

2、4详细规范鉴定合格的元器件的有效资料在鉴定合格产品一览表中给出.一第一幸一般数据1般数1.1 推荐的安装方法电阻器应以正常方式去装。在振动试验中，电阻体与安装点之间的距离应为6土lmm1. 2 尺寸、额定值和特性一-一一电子工业部193602-18发布1986 -10-01实dl SJ2674-86 1 品70t 定|系数元件极电压|绝电压最大尺寸d标称z功章毛 I (直流或交交流(10-0jt) l 有效虫草值)种(V) (W) (V) L D l 公差z, V晶啕-一-一GJ 1 士250500 500 13 6.6 0.8 士0.05全部尺寸以为单位.10Q至10MQ:t: 2% , :

3、t: 5% 55/125/56 8.5kpa ( 85mbar ) 2% :t: (2%R+0.1Q) 士(0.5%R+0.05Q)z土250火10-6/OC蜘推荐工作区ltgttttItt -55.C 7r) 1.3 有关文件GB5729 -85 电子设备用固定电阻器优先值为IEC63的E系列。2 吨，SJ2614-86 BG5730-85 -1. 4 标志第二部分:总规范电子设备用固定电阻器第二部分z分规范:低功率非线绕固定电阻器元件和包装上的标志应符合总规范BG5729-85第2.4条的要求.电阻器上的最少标志内容za.标称阻值:b.标称阻值允许1刷左:C.制造年、月(或周)0 电阻器包

4、装上的标志内容za.标称阻值tb.标称阻值允时调军:C.制造年、月(或周); d.详细规范号和品种标记ze.制造厂的名称和商标:f.包装内的班里:g.包装人员的姓名和代号zL检查部门印章.J.5 订货资料订购本规范电阻器的订单应该用一般文字或代码形式列出下述最少内了fz a.标称阻值:b.标称阻值允町阴左:C.详细规范的编号和版本号以及品种标记.1.6 放行批证明记录要求提供本记录时，应与制造者协商，盯队1.7 附加内容(不检验电阻器的重量应不超过2g/只.1.8 对总规范和或)分规范的规定而言，增加或提高的严酷度和要求定.第二检验要求2 检验要求2.1 程序2.1 .1 鉴定批准程序应符合分

5、规范GB5730-85第3.2条的规定，R 4 SJ2614-8S 2.1.2 对于质量一致性检验，其试验一览表(表2)包括抽样、周期、严酷度和要求.分规范第3.3.1条规定了检验批的组成。注:要求干燥时，应采用总规范GB5729-85第4.3条的程序I。 1. 注:除了阻值奕化姿求应从分规范GB5729啕85的表1和表2相应地选定外，试验项目利性能要求的条款号寻!自总规范GB5729-85。 检查水平|EZ使用1;2 Omm量具S 4 I 1.0% I i按本规范表1规起4.5阻按4.5.2条一B到检聆T亘古丁Bl分组ND I S 3 I 1.崎市法zV形块法，元击穿或飞弧加峰值交流电压并为

6、绝|缘也压值的1.42倍4，7耐电压4 条款号和试验项目I D (见注)I r在B2分组D 4.17可焊性4.13过载D 条款号和试验项目(见注)ND C组检验(周期)C1A分组D ( Cl分组样本的半4.16引出端强度SJ2674-86 试验条件(见注要求老化g155 t.时间4h.方法z球焊法，设备的温度应调节并保持在235士2t试验155 , 1 W 的电压应为2.5倍额定电压或2倍元件极限电压，取较低着外观检查试条件(见注拉力:10N IL 1 AQL (见注5-3 2.5% p n c 3 10 弯曲(引出数目的半)扭转(引出端数目的另半)性能要求(见注)料应在2S内无可见损伤，标志

7、R土(0.5%R+0.05Q) 性要求见注5 忐D 条款号和试项目或(见注)4.18耐焊接热C1B分组10l1 ( C1分组样本的另一半)4.19温度快速变化4.22振动SJ2614-86 试验条件(见注外观检查阻值方法:1A.糟:!;: 5 c . 浸入时间z10土lS浸入深度:距离元件主体12十0.5_ 。画外观检查阻值。A=-55C。B=十125c 外观检查阻值安装方法2见本规沼1.1条程序gB4 总持围:10Hz至500日zI 0.75mm或加速度i98mSj (取较小者)间:eh 外观检查阻值样本大小和合格判定数(见注p n c 3 10 句-【岛一-_-_-一_ I _币l句-庐_

8、-J_，_一一-Cl分组D 3 20 1 ( C1A和C1B分组样品的8 性能要求(见注-无可见损伤.6.R土(0.59比+0.05Q) 无可见伤，标志b.R士(0.5伪R十0.05Q ) 无可见损伤b.R士(0.5%R+0.050) 无可见损伤b.R士(0.5%R+0.050) - .-_. -. -._. -_. ._-圃-_-._-, , SJ2674-86 幽幽一一、矶时一一一一2 一见注)D或阳试验条件和数)小定大判注本格见样合(条款号和试验项目性能要求见注)(见注)P I n I C 组合样本4.23气候顺序一一于热一-=环湿热，Db，第一个循环一一晶冷一-低气压一_t.t:环混热

9、，Db，其余的循环直流负荷8.5kPa (85mbar) 电阻无可见损伤，标志6R土(2%R+0.lQ) R 100M Q 外观检查阻值C2分组4.25.1 700耐久性D 3 1 20 1 1 时间:loooh 在48h、500h和loooh的检查g外观检查阻无可见损伤6R士(2%R+O.lQ) 在1000h附检查g年去?l i l lpiGQ 造者每年将一次12 1 20 1一季度至SOOOh在2000h、4000h和8oooh 2 AR土(5%R+O.5Q) 所得结果仅供参考阻值7 SJ2674-86 D 条款号和试验项目试条件和数)小定大判注本格见样合(性要求(见注)或阳(见注P I

10、n I C (见注旦旦企望一IN D I I 3 I 20 I 1 4.8阻值随温度变他I -55t/20t I I I I 土250X10-S/t20t/十125t土250x10-s/t D Dl分组4.24.2.2条1组10只样品12 I 20 I 1 4.24稳第2组10只样品外观检查阻电阻无可见损伤，标志清AR士(2%R十0.1Q) R 100M Q D2分组4.4.3尺寸(详细的)4.25.3上限类别温度耐久性D 36 I 20 I 1 符合本规范表1规定持续时间:1000h 在48h、500h和1000h时检查s外观检查阻值在loooh附检查g绝缘电阻无可见b.R士(2%R+0.lQ) R;岁lGQ说明z1.本标准由电子工业部标准化研究所提供-2.本标准由国营第七一八厂等单位负责3.本标准主要起草人满开来、何阳阻 8 4