GB T 14048.16-2006 低压开关设备和控制设备 第8部分 旋转电机用装入式热保护(PTC)控制单元.pdf

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1、ICS 29.130.20 K 31 中华人民圭七./、和国国家标准GB/T 14048. 16-2006/IEC 60947-8: 2003 低压开关设备和控制设备第8部分:旋转电机装入式热保护(PTC)控制单元Low-voltage switchgear and controlgear一Part 8: Control units for built-in thermal protectionCPTC) for rotating electrical machines (IEC 60947-8: 2003 , IDT) 2006-09-14发布中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标

2、准化管理委员会2007-04-01实施发布GB/T 14048. 16-2006/IEC 60947-8 :2003 目.次前言引言. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ., I . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . II 1范围2 规范性引用文件3 术语和定义4 分类5 特性. . . . . . . . . 6 产品资料7 正常的使用、安装和运输条件

3、. . . . . . . . . 8 结构和性能要求9 试验. . . . 附录A(规范性附录)用于热保护系统的热检测器. . . . . . . . . . . . . . . . . I . 15 附录BC规范性附录)特殊试验. . . . . . . 附录C(资料性附录)传感器电路短路时的验证要求. . . . . . . . . . . . . . . . . 18 GB/T 14048. 16-2006/IEC 60947-8:2003 前本部分是低压开关设备和控制设备的第8部分，要求大量引用GB14048.12006(低压开关设备和控制设备总则中的条款，故在使用中需与GB1404

4、8, 1-2006结合使用。本部分等同采用IEC60947-8: 2003(低压开关设备和控制设备第8部分1旋转电机装人式热保护(PTC)控制单元)，并补充说明如下:1) 本部分9.1. 4中，IEC原文中关于抽样试验的规定为按IEC60410中的规定(IEC60410中表ll-A)飞而IEC60410没有转化为相应的国标，目前我国关于抽样的国家标准为GB/T2828. 1-2003，且被广泛使用，经过对比，两份标准的内容基本相同，且被引用的IEC60410中表ll-A与GB/T2828. 1-2003中表2-A的内容完全一致，因此本部分引用GB/T2828.1-2003中表2-Aa2) 附录

5、B的B.1中，IEC原文内容为在考虑中见附录C)，而附录C中巴详细规定了技术要求和试验方法，故本部分将在考虑中删除，直接为见附录C。的附录B的B.3中，IEC原文内容为在考虑中飞考虑到GB14048. 1-2006中附录K的内容为耐温性能试验的相应要求，故本部分引用了GB14048. 1-2006中附录K的有关要求。本部分的附录A、附录B是规范性附录，附录C是资料性附录。本部分由中国电器工业协会提出。本部分由全国低压电器标准化技术委虽会(SACjTC189)归口。本部分负责起草单位i上海电器科学研究所(集团)有限公司。本部分参力日起草单位:杭申控股集团有限公司。本部分主要起草人t曾挥、宋伟宏、

6、贺贵兵。I GBjT 14048. 16-2006/IEC 60947-8:2003 sr 本部分所指的热保护系统是基于监视j被保护部件温度的原理，是防止旋转电机由于冷却系统故障或环境温度过高等引起的温升过高的简单而有效的措施，反之，仅仅依靠监视j电流的保护系统不能确保此类型的保护。由于热保护系统的动作温度和响应时间是预先确定的，不能按相应的电机使用条件进行调整，因此对于电机的所有故障状态或使用不当，其保护作用可能不完全有效c符合本部分的热保护系统，可以由一个特性变化的热检测器组成，该检测器具有相关的控制单元井在检测器特性的某点上可以转变为开关功能。热保护系统被广泛使用，在所有情况下电机制造厂

7、会在电机中安装检测器，电机制造厂不仅会随电机一起提供控制单元而且还会规定所使用的控制单元的详尽细节。控制单元习惯上也被视为是控制系统的组成部分而不必随电机供应，因此可互换系统就非常必要，该可互换系统规定了检删器和控制单元之间的配合特性。不能认为该特定的系统优于符合本部分的其他系统，但在某些领域可能会用到该可互换系统，并用A型来标志。E 1 范围GB/T 14048.16一2006/IEC60947-8 :2003 低压开关设备和控制设备第8部分:旋转电机装入式热保护(PTC)控制单元本部分规定了控制单元的规则和工业应用，控制单元响应于与旋转电机一体的热检测器并按照GB/T 13002-1991

8、执行开关功能。对于含有特殊特性的正温度系数(PTC)热敏电阻检测器的系统，本部分规定了该系统类型及其相关控制单元的规则。PT100检测器符合IEC60751: 1983的规定，该标准中规定了相应于检删器温度的电阻值。本部分列出了当这种特殊的正温度系数热敏电阻检测器与其关联控制单元(标志为A型检测器和A型控制单元)用于热保护系统时的配合特性要求。注:由于控制单元的操作特性取决于热检测器的某些方面，因此不可能规定控制单元操作特性的所有要求。热保护系统的某些要求仅在考虑被保护旋转电机的特性以及电机内检测器的安装方式的情况下才能确定。鉴于以上原因，对于每种特性必须规定由哪一方负责规定特性值，由哪一方负

9、责一致性验证，由哪一方负责进行确认试验。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T 2828. 1-2003 计数抽样检验程序第1部分z按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划(lSO2859-1: 1999 , IDT) GB 4824-2004工业、科学和医疗(lSM)射频设备电磁骚扰特性限值和测量方法(CISPR11 :2003 ,IDT) GB/T

10、 5465.2-1996 电气设备用图形符号(IEC60417 :1994 ,IDT) GB/T 7153一2002直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器第1部分:总规范(IEC60738-1: 1998 ,IDT) GB 9254-1998信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法(CISPR22: 1997 , IDT) GB/T 13002-1991旋转电机装人式热保护旋转电机的保护规则(1EC60034-11-1: 1978 , EQV) GB 14048. 1-2006 低压开关设备和控制设备第1部分z总则(lEC60947-1:2001 ,MOD) GB 14048.5-2001 低压开关设

11、备和控制设备第5-1部分:控制电路电器和开关元件机电式控制电路电器(IEC60947号-1:1997 ,EQV) GB/T 17626.2一1998电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验CIEC61000-4-2: 1995 , IDT) GB/T 17626. 3-1998 电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验。EC61000-4-3:1995 ,IDT) GB/T 17626.4-1998 电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验CIEC61000-GB/T 14048. 16-2006/IEC 60947-8: 2003 4-4:1995 ,IDT) GB/T 176

12、26.5一1999电磁兼容试验和测量技术浪涌(冲击)抗扰度出验(IEC61000-4-5: 1995 ,IDT) GB/T 17626.6-1998 电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度CIEC61000-4-6: 1996 , IDT) GB/T 17626. 8一1998电磁兼容试验和测量技术工频磁场抗扰度试验(IEC61000-4-8: 1993 , IDT) GB/T 17626. 11-1999 电磁兼容试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验(lEC61000-4-11 :1 994 , IDT) IEC 60751-1:1983 工业钳金IEC 6075

13、1-1 修正件1(1IEC 60751-1 修正件IEC 61000-4-13 ,2 低频抗扰试验谐破和3 术语和定义3. 1 GB 14048.1 装入式热应用起的温度过高3.2 3.3 3.4 3.5 3.6 热保护系通过装热检测器开关型热检测能使开关元件注:热检测器和开关控制系统control 将热检测器特性上的注:当温度降至复位温度时，系统可以被保护部件protected part 以防止由敏装置。旋转电机的一部分，该部分的温度通过热保护系统的作用限制在预定值内。3. 7 慢变化热过载thermal overload with slow variation 超过正常工作温度以上时温度缓

14、慢上升。流电功率点主要信号的载的特定条件而引产生一开关动作。注1i被保护部件的温度变化足够慢，因而热检测器的温度元明显延时跟随被保护部件的温度变化。注2:慢变化热过载可由以下原因引起:2 GB/T 14048. 16-2006/IEC 60947也:2003通风或遗风系统的故障，例如通风管道的局部阻塞，线圈或机座的散热片上过多的灰尘、污垢等;一一环境温度或冷却介质温度过高;一一逐步增加的机械过载z-一一电机电源长时间欠电压或过电压;一一电机承受繁重的工作方式。3. 8 快变化热过载thermal overload with rapid variation 超过正常工作温度以上时也度快速上升。注

15、1:被保护部件的温度变化过快以至于热检测器不能无延时地跟随被保护部件的温度变化。这样，可能会导致热检测器的温度和被保护部件的温度断相故障或在非正常条件下(惯量过高、电压注2.快变化热过载可由以下原因过低、负载转矩异常升3.9 电机的热关键部件电机上也度3. 10 带检测器的指这样一段时间内斯达到的最高温度值。3. 12 热保护指电机在3. 13 特性变化特性随温生开关功能。器。飞检预热时型造变制突随性性特特AA寸控制单元control unit 将热检测器的特性变化转换为突变，从而在控制系统能的热检测器。3. 15 3. 16 控制电路control circuit 控制断开和接通电掘的开关装

16、置的电路。3. 17 检测器动作温度TNF(标称功能温度)detector operating temperature TNF(nominal function tem perature) 温度上升过程中检测器动作时的温度，或特性随温度变化使得与检测器关联的控制单元动作的植度。3 GB/T 14048. 16-2006/IEC 60947-8: 2003 3. 18 系统动作温度TFSC系统功能温度)system operating temperature TFS (system function tempera ture) 温度上升过程中，检测器及控制单元一起使得控制单元动作时的检测器温度。

17、3.19 复位温度reset temperature 强度下降过程中，检测器动作时的检测器温度或者与植度相关的特性变化的检测器与控制单元一起能使控制单元复位时的检测器温度。3.20 电气上分开的触头元件electrically separated contract elements 同属于一个控制单元的触头元件，彼此间有足够的绝缘，它们能独立接入电气上分开的电路中。3.21 PTC热敏电阻幢甜器PTC thermistor detector 用PTC热敏电阻制成的特性突变型热检测器，其热敏电阻部分的电阻温度特性称为PTC。一旦温度超过规定值，在忽略功耗的条件下，电阻明显增大。3.22 A型检测

18、器mark A detedtor 具有附录A描述的特定特性的PTC热敏电阻检测器。3.23 A型控制单元mark A COI巾。1unit 具有本部分规定的特定特性的控制单元并预定与A型检测器一起使用。3.24 热检测器电晤中具有短路检测的控制单元controI unit with short-circuit detection within the thermaI detector circuit 3.25 能够检测热检测器电路短路的控制单元。动态断钱检测控制单元control unit with dynamic wire break detection 能够指示热检测器电路中断线的控制单元

19、。4 分类在考虑中巳5 恃性5. 1 摄要当适用时，控制单元的恃性用下列项目加以说明:一一电器的类型(见5.2) ; 一一】保护系统的电气额定值见5.3); 一一-特性变化型热检测器的电气额定值(见5.4) ; 一一控制单元检测器电路的额定电压(见5.5)。5.2 电器的类型5.2.1 保护系统的动作温度每一个检测器或检测器连同其控制单元，应明确5.2.2 (TNF)中规定的额定动作tt度，或5.2. 3 CTFS)中规定的系统动作温度，或两者兼有。例如:GB/T 14048. 16-2006/IEC 60947-8: 2003 a) 开关型热检测器:应标明TNF;b) 特性突变型热检测器:应

20、标明TNF(TFS不适用); c) 特性突变型热检测器与控制单元的组合:应标明TFS。在此情况下TFS值可与检削器本身的TNF值相一致;d) 特性变化型热检测器与控制单元的组合:应标明TFS。在此情况下检测器可以不规定TNF的限定值。5.2.2 检测器额定动作温度对于特性突变型热检测器应由检测器制造厂提供TNF值。TNF的标称值推荐以表示，并从5的倍数的数系中选取。检测器制造厂应验证检测器的动作温度。5.2.3 系统额定动作温度如果检测器的保护系统和控制单元由单一的供应商提供，则供应商应给出TFS值。其他情况下，控制单元制造厂应给出TFS值。除非制造厂间另有规定，TFS值的容差为士6K。注:容

21、差为检测器和控制单元的容差之利。给出TFS值的制造厂或供应商应确保该值是通过验证的，但经协议该试验可以由检测器制造厂或控制单元制造厂进行。常规试验应由控制单元制造厂进行，以验证在8.2. 1规定的正常工作条件下能够正确工作。5.2.4 系统最大允许额定动作温度对于特定的检测器或特定的控制单元的TFS最大允许值应分别由检测器制造厂或控制单元制造厂确定。注:对一些特定的设备，TFS最大值与检测器特性或制造所使用的材料有关，或与检测器的特性限值有关，该限值可根据控制单元设计的孩定值范围修改。5.2.5 复位温度检测器的复位温度和容差由检测器制造厂确定，或者当复位温度和容差取决于检测器和控制单元组合时

22、，由控制单元制造厂确定。确定复位温度的检测器制造厂或控制单元制造厂应确保该值是根据9.3. 3. 8的规定通过验证的，但经协议该试验可以由两者中任意一方进行。注:控制系统脱扣后重新起动电机，重要的是使电机绕组和热检测器充分冷却以保证正常的电机加速而无误动作，特别是承载高惯量负载时。重起动的温度取决于安装和使用条件。控制系统可以设计为多种温度值可供选择曰对于手动重起动系统，应考虑最大温度。对于自动重起动系统，电机制造广应考虑最小和最大两种不同的温度，这些温度是由TNF或TFS值的选择及计及规定容差而余留下的温度而引起。最大和最小温度之间的差值太小，电机达不到充分冷却就重起动而会引起误动作，差值太

23、大，电机的冷却时间过长，或在高环温场合将阻碍系统的复位。5.2.6 A型控制单元特性当控制单元在正常工作条件下工作且检测器电路连接至控制单元端子时，应满足下列条件并按9.3.3.10规定的试验条款进行验证。a) 当检测器电路的电阻小于或等于750n时，控制单元应闭合或能够复位;b) 当热敏电阻检测器电路的电阻值由小增大到1650 n4 000 n的范围内时，控制单元应断开;c) 当热敏电阻检测器电路的电阻值由大减小到1650 n750 n的泡围内时，控制单元应问合或能够复位;5 GBjT 14048. 16一2006/IEC60947-8 :2003 d) 当把一个电阻值为4000日的电阻接至

24、预定连接热敏电阻检恻器电路的每对端子间，且控制单元在额定电压下工作时，每对端子上的电压应不超过7.5V(直流或交流峰值); e) 检测器电路的电容不大于0.2F时控制单元的工作不应有明显的改变。5.3 保护系统的电气额定值5. 3. 1 开关装置(即控制单元和开关型热检测器)的额定值控制单元和开关型热检测器的开关装置的额定值应由控制单元制造厂按5.3.2-5.3.4的相应规定予以确定。5.3.2 控制单元的额定电压控制单元的额定电压包括额定绝4. 3. 1. 2和4.3.1. 10 5.3.3 控制单元的翻定电流控制单元的棋定电流包2006中4.3. 2. 1和4.3.2注:一个控制单元可以5

25、.3.4 控制单元的额对已规定使用类的规定。困额定定接通和分断能力。5.4 特性变化型5.4. 1 概要应由制造厂5.4.2 额定绝缘额定绝缘电压5.4.3 检测器的对动作取决注:对用于交流的5.5 控制单元检测器预期使用具有额定造厂确定。当按下文确定的电阻接咐斡测器电路的哨子间是该对接线端子之间的电压最控制单元断开，并计及电路中汹割J器的革曲线的形状，此值可为最大值或最小值。注:如果是交流电路，额定电压为峰值电压，用Ur表示。6 产品资料6. 1 资料的内容制造厂应规定下列资料:6. 1. 1 铭牌ta) 制造厂厂名或商标;b) 设计型号或序列号;c) 本标准号。6 ) ，定义见GB1404

26、8. 1-2006中定义见GB14048.1一5-2001中4.4 ，因耻不必再规定额的电压值。Ur)由控制单元制_ .iIN加额定电压时，电压Ur于特性曲线的数值，根据特性G/T 14048. 16-2006/IEC 60947-8 :2003 A型控制单元的补充规定:除了本标准号控制单元还应附加标志字母A。6. 1. 2 特性、基本的额定值和使用类别:d) 额定控制电源电压(U，); e) 控制电掘的额定频率Ff) 控制单元的额定工作电压CUc); g) 控制单元的额定工作电流CIc); h) 使用类别，或接通和分断能力;i) 标明端子标志和检测器、控制j) 控制电路的额定绝缘电k) 与控

27、制单元一起使用1) 封闭式电器的IPm) 相应于EMCn) 抗扰性等级及0) 额定冲击耐p) 额定动作6.2 标志GB 14048.1 d)抖的数据6.3 安装、操作GB 14048.1 制造广应提GB 14048.1 8 结构和性能要求8. 1 结构要求GB 14048. 1-2006 1)的数据殷标王撞在电器上。接线装置(如端子)，必将如连接0.5mm2 1. 5旷的单胁蔽，孀有足够的数量以连接热检测器电路。连接单个热检测器电路的连接多个热检测器电路的接线接至框架的端子或接地端子应按G扑地闻自附孀标以适当的标志q应按照制造厂的说明进行安装，包括允许的冲击和振动水平及安装位置的限制。8.2

28、性能要求8.2. 1 正常工作条件在使用适当的检测器时，控制单元应能在第7章和下列条件下正常工作:一一电掘电压在额定控制电源电压(US)的85%1l0%之间;一一电源频率(对于交流控制单元)为50日z或60Hz; 一一清洁的空气且在最高40.C的条件下相对湿度不超过50%。注1:对于直流控制单元，波纹系数和波形因数由制造厂和用户双方协议。注2.超过上述正常工作条件的，由制造厂和用户双方协议。7 GB(T 14048. 16-2006(IEC 60947-8 :2003 8.2.2 非正常工作条件在额定电压下控制单元能承受下列条件而不受到损坏:一一每对热检测器电路接线端子经短路插接件短接;一每对

29、热检测器电路接线端子开路。应按9.3. 3. 2中规定的试验进行验证。8.2.3 介电性能GB 14048.1一2006中7.2. 3适用。除非制造厂另有规定，控制单元的热检测器电路的工频介电性能试验应以额定绝缘电压690V为依据。8.2.4 1且升按9.3. 3. 3的规定试验时，电器的辅助电路包括其辅助开关应能承载其约定发热电流而温升不超过GB14048. 1-2006中表2和表3规定的极限值。8.2.5 限制短路电流开关元件在9.3. 4规定的条件下应能承受短路电流引起的应力。注:以上要求出自GB14048.5-2001。8.2.6 控制电路和辅助电路的接通和分断能力使用类别为GB140

30、48. 1一2006中附录A规定的AC-15和DC-13，按9.3. 3. 5规定的试验方法验证。8.2.7 具再保护性隔离的电器的要求GB 14048.1-2006中附录N适用。8.2.8 动作温度变化除非电机制造厂和检测器和(或)控制单元制造广且有协议，在正常和非正常使用条件下验证开关元件的额定接通和分断能力试前和试后，热检测器的动作温度(适用的TNF或TFS)应满足5.2.3的要求。按9.3.3.6规定试验方法验证。8.2.9 湿热见附录B的特殊试验。8. 2. 10 冲击和振动在考虑中。8. 2. 11 传感器电路短路时的检验要求见附录c8.3 电磁兼窑性(EMC)8.3. 1 一般要

31、求GB 14048.1-2006中7.3.1适用。8.3.2 抗扰性8. 3. 2. 1 无电子结路的电器GB 14048. 1-2006中7.3.2.1适用。8.3.2.2 具有电子线路的电器GB 14048. 1-2006中7.3.2.2适用井补充如下:验证这些要求的试验方法见9.4.2.20验收判据见GB14048.1一2006中表24，一般情况下应满足验收标准A，静电放电、浪涌、电压瞬时跌落和短时中断应满足验收标准B。具有电子线路的电器，当其使用的元件全部为无源器件时(例如二极管、电阻器、可变电阻、电容器、8 GB/T 14048. 16-2006/IEC 60947-8: 2003

32、浪涌抑制器、电感器)，不需进行试验。8.3.3 发射8. 3. 3. 1 无电子线路的电器GB 14048. 1-2006中7.3.3.1适用。8.3.3.2 具有电子线路的电器8. 3. 3. 2. 1 一般要求如果电器仅按环境A进行验证，应向用户提出以下的警告(例如在使用指南中)，以提醒用户将此电器使用于环境B时可能会产生无线电干扰，此时应可要求用户采取附加的缓解干扰措施。注意:本产品设计用于环境A，若用于环境B时可能会导致有害的电磁干扰，为此，可能要求用户采取适宜的缓解干扰措施。8. 3. 3.2. 2 高频发射极限具有电子线路的电器(例如开关电惊、具有高频时钟微处理器的电路)可能产生不

33、闯断的电磁干扰。对这类电器，其发射不应超过GB4824-2004中1组A类规定的极限。具有GB9254-1998中规定的通信接口的产品，应符合GB9254-1998中A类对这种恃殊接口的要求。上述试验只在控制电路和(或)辅助电路包含具有超过9kHz基本开关频率的电子元件时进行。8.3.3.2.3 低频发射极限GB 14048. 1-2006中7.3.3.2.2适用。9 试验9. 1 试验分类9. 1. 1 一般规定GB 14048. 1-2006中8.1. 1适用。9. 1. 2 型式试验型式试验用于验证控制单元的设计是否符合本部分。试验包含以下项目:a) 介电性能(见9.3.3.4);b)

34、动作性能(见9.3. 3. 1和9.3.3.2);c) 接通和分断能力(见9.3.3.5);d) 温升(见9.3.3.3);的结构要求(见9.2) ; f) 短路性能(见9.3.4);g) EMC(见9.的。9. 1. 3 常规试验不用抽样试验替代时，GB14048.1-2006中8.1. 3适用。9. 1. 4 抽样试验控制单元的抽样试验包括介电试验。GB 14048. 1-2006中8.1. 4适用并补充如下:如果工程和统计分析显示常规试验(在每一台产品上)没有必要进行，则制造厂可根据自己的判断用抽样试验代替常规试验。抽样试验应满足或超过GB/T2828. 1-2003C表2-A)规定的下

35、列要求:9 GB/T 14048. 16-2006jIEC 60947-8 :2003 一一抽样基于接收质量限AQL运1; 一一合格判定数Ac=OC无缺陷验收); 一一不合格判定数R巳口1唯一件缺陷，则整批全部检查)。对每一检查批应固定间隔进行抽样。允许采用其他的能够保证符合上述GBjT2828. 1-2003要求的统计方法，如控制连续生产的统计方法或性能指标的过程控制。9.2 验证结构要求GB 14048. 1-2006中8.2适用并补充要求见8.1 9.3 验证性能要求9. 3. 1 程序试验试验的类型和顺序应按以ta) 程序试验1: 一-2#试验zb) 程序试验2: 一-1#试一-2#试

36、一-4#一一1#一一-2#一一一3#一一-4#注2.当程序试验2d) 程序试验4:一一1#试验:一一2#试验:介e) 程序试验5: 一-1#试验:A型控一2#试验:控制单元的吨F电路一-3#试验:传感器电路的短f) 程序试验6:一一-1#试验:EMC试验(见9.4)。每一程序均应在一个清洁的、新的试品上进行。一个范围内的电器(同一壳架/框架的产品)仅需在一台电器上进行。经制造厂要求，允许在一台试品上进行多于一个或全部的程序试验，但对于上述同一程序中的各项试验，必须按顺序在同一组试品上进行。9.3.2 一般试验条件GB 14048.1-2006中8.3.2适用。9.3.3 性能试验GB/T 14

37、048. 16一2006/IEC60947-8:2003 9.3.3.1 正常工作条件下控制单元的性能验证试验按8.2. 1的规定进行，验证控制单元是否满足性能要求。控制单元的试验应由控制单元制造厂进行，以验证5.2.6中定义的检测器特性。9.3.3.2 非正常工作条件下控制单元的性能验证试验应由控制单元制造广进行。8.2.2中规定的非正常工作条件适用，在此之后，控制单元应能成完全满足9.3. 3. 5. 3规定的在非正常使用条件下的接通和分断能力试验验证。9.3.3.3 温升试验GB 14048. 1-2006中8.3. 3. 3 控制单元所有的开关元件均服试验。所和可背宫前睛闭喻国阔R开关

38、元侍应同时进行试验。但当构成动注:如果开关元件在闭合f摇篮翩嗤精路电器存在多种状态，则有必要进行端子到端子之间的9.3.3.4 介电性能验GB 14048. 1-2 9.3.3.5 额定接通9. 3. 3. 5. 1 一般通断能力通断能力试验j轩控制单二糊糊萨攒跚跚醋嘲酣常使用条件内接通和分断规定工作电压下的工睡意攒青花。应在上蜡醋酵W和之后检测动和灌嘴黯NF和要求。GB 14048. 5-100本驴8.3. 3. 5 9. 3. 3. 5. 3 非正常普阳在开关元GB 14048.5-2 9.3.3.6 动作温度试验在检测器或与糙糊糊连撒鞭制单元上逻辑髓试验应在茧断9.岛的.4规定的介电性能

39、试验及后续的9.3. 3. 5规定如果元件圆满完成这GB/T 7153-2002中的TNF测得的最终动作温度应与初9. 3. 3. 7 系统额定动作温度CTFS)检测应按照与通断性似的检测方法进行，即叫咱酶盹噩噩躏盟酣扭酣噩时系统动作温度验证试验应在规定了系统动作温度(见5.2.3)的控制系统上进行。经检测器制造厂和控制单元制造广协议，试验可由二者之一进行验证。被试系统应包括一个或多个检测器，并连接至控制单元，如有必要，该控制单元已经过预先的设置。被试控制系统应具有供使用系统的代表性。控制单元应按正常使用条件施加电掘，且应监控其输出信号电路以使流过控制单元开关电器的电流等于额定工作电流。检测器

40、应按GBjT7153-2002中规定的其中一种方法进行试验，升高温度直至控制单元便信号回路动作为止。用热电偶测得的温度即视为TFS值，应符合5.2. 3的要求。9.3.3.8 复位温度验证经协议，复位温度的验证试验可由检测器制造厂或控制单元制造广进行。11 GB/T 14048. 16-2006/IEC 60947嗣8:2003对规定TNF值的检测器，除了允许温度按不超过0.5K/min的速率下降直至检测器达到其动作点外，复位盟度试验应按GB/T7153-2002的规定进行。对规定TFS值的控制系统，除了允许温度按不超过0.5K/min的速率下降直至控制单元使信号回路动作外，复位植度试验应按9

41、.3.3.7的规定进行。复位温度值应符合5.2. 5包括容差在内的规定。9.3.3.9 具有保护性隔离的电器的试验B 14048. 1-2006中附录N适用。9.3.3. 10 A型控制单元闭舍和断开验证对于5.2.6中规定的电阻值，控制单元的闭合和断开动作应按如下方法验证。控制单元应按8.2.1规定的正常使用条件下最不利的组合情况工作。将一可变电阻插入用于连接热敏电阻检测器的每对端子之间时，应满足下列条件:a) 当电阻值小于或等于7500时，控制单元应闭合或能够复位。为验证该性能，可将一个可变电阻设置为此值进行试验。如有疑问，也可设置在一个更小的电阻值上进行试验;b) 增大电阻(约以250O

42、/s的速率匀速上升)，当电阻值处于1650 0-4 000 0范围内时控制单元应断开;c) 使控制单元保持在脱扣状态约1min，之后电阻值应以不大于2500/s的速率匀速下降。当阻值处于1650 0750 0范围内时控制单元应闭合或能够复位。项b)、项c)规定的试验应在预定连接检测器的端子间并联接入一个0.2F的电容后重复进行，控制单元断开点的电阻值与前一次试验断开点的电阻值相差应不大于5%。9.3.3.11 控制单元检测器电路的额定电压验证控制单元检测器电路的额定电压(见5.5)应由控制单元制造厂验证。9.3.4 限制短路电流性能9. 3. 4. 1 短路试验的一般条件GB 14048.5-

43、2001中8.3. 4. 1适用。9.3.4.2 试验程序GB 14048.5-2001中8.3.4.2适用。9.3.4.3 试验电路和试验参数GB 14048.5-2001中8.3.4.3适用。9.3.4.4 开关元件的试后杖态GB 14048.5-2001中8.3.4.4适用。9.4 EMC试验9. 4. 1 一般要求发射和抗扰性试验为型式试验，应在有代表性的条件下进行，包括操作、环境条件。应按制造厂说明安装。试验应按有关的EMC标准进行。9.4.2 抗扰性9. 4. 2. 1 无电子结路的电器无需进行试验。9.4.2.2 具有电子线路的电器试验应按表1的规定值进行。12 GB/T 140

44、48. 16-2006/IEC 60947-8:2003 表1EMC抗扰度试验试验类型严酷度水平静电放电抗扰性试验8 kV/空气放电，或GB/T 17626.2-1998 4 kV/接触放电辐射射频电磁场抗扰性试验(80MHz-1 GHz) 10 V/md GB/T 17626.3-1998 快速瞬变脉冲群抗扰型试验2 kV/功率端口aGB/T 17626.4-1998 1 kV/信号端口b1. 2/50阳-8/20s浪涌抗扰性试验2 kV/线对地GB/T 17626.5-1999 1 kV/线对线传导射频抗扰性试验(150kHz-80 MHz) 10 GB/T 17626.6-1998 工频

45、磁场抗扰性试验30 A/m GB/T 17626.8-1998 电压瞬时跌落和中断抗扰性试验O. 5个周期衰减30%GB/T 17626.11-1999 5个和50个周期衰减60%电源的谐波干扰 暂元要求eIEC 61000-4-13: 2002 a 功率端口:承载电器或相关电器工作时所需的主要电功率的导线或电缆连接至该点。b 信号端口:承载传送数据或信号信息的导线或电缆在该点与电器相连。c 对于直流24V或更低的额定电压，本端口不适用。d 国际电信联盟(ITU)的广播频段87MHz-I08 MHz、174MHz-203 MHz及470MHz-790 MHz，严酷度水平为3V/mo e 正在研

46、究中。9.4.3 发射9.4.3.1 无电子线路的电器无需进行试验。9.4.3.2 具有电子线路的电器试验按8.3. 3. 2和GB4824-2004中1组A类规定进行。9.5 常规和抽样试验9.5. 1 一般要求常规试验应在生产后或生产过程中对逐台控制单元进行，以验证其符合规定的性能要求。常规或抽样试验应在与型式试验条件相同或等同的条件下进行。动作极限可在通常的环境温度下验证，但有必要对应正常环境条件进行修正。9.5.2 控制单元的动作试验试验应由控制单元制造厂完成，以确保来自检测器电路输入信号在确定范围内时控制单元的正常动作。该输入信号的范围应能保证检测器加上控制单元在9.3.3.6规定的

47、动作植度值内动作，该输入信号范围应由控制单元制造厂和检测器制造厂协商。试验可在任意方便的电压下进行。13 GB/T 14048. 16-2006/IEC 60947-8: 2003 5. 1的条件进行。试验可在9.5.3 介电试验不得使用金属筒。试验应在干燥、清洁的控制单元上进行。介电耐受能力验证应在电器最后的装配之前进行(即在连接敏感器件如滤波电容器之前)。1) 冲击耐受电压GB 14048. 1-2006中8.3. 3. 4. 2项1)适用。2) 工频耐受电压GB 14048.1-2006中8.3. 3. 4. 2项2)适用。的冲击耐受电压和工频耐受电压的泪合试验上述1)和2)的试验可以仅

48、用一个工频耐受试验替代，该正弦波的峰值为1)和2)中的较大者。注:在包含半导体器件的控制单元上骆如刷刷刷l问盼避免该器件在试验过稳中损坏。9.5.4 A型控制单元闭舍和断壳脚营规试验对A型控制单元，控制单昂制造厂应单附阱串的a附苟且试验:除控制单元应在室肝制严额定控制电源电压罗哺验按750 n和4000n两个挥陆曲晦僵下进行，即不必连续改变阻值。的附则蹦摆向阳14 GB/T 14048. 16-2006/IEC 60947-8:2003 附录A(规范性附录用于热保护系统的热检测器A.1 A型检测器的关联特性为确保检测器连同其控制单元的的动作阻度(TFS和复位)符合本部分，检测器应满足以下要求:

49、A型检测器的电阻一温度特性每一单独检测器的电阻，在规定的试验(见图A.l)进行a) 当温度为TNF-b) 当温度为c) 当温度为d) 当温度为推荐三个度下，每A.2 注1:-20C 常均A. 2. 1 A型检测器制电阻-温度检测器的电TNF)下，应满足下列条件，并按照A.2电阻值应550.a; 电压允许达及其控制值应二4000 0; )时电阻值应2500。750 .00 检测器最小电阻值通，以上电阻值和相应可能不符合E常的动一20.C，TNF-20K , TNF-5 K,TNF+ 施加在检测器的2. 5 V , TNF + 15 K点除外，该点A. 2. 2 A型检测器的常常规试验按9.5的规15 GB/T 14048. 16-2006/IEC 60947-8: 2003 R/n