GB T 6148-2005 精密电阻合金电阻温度系数测试方法.pdf
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1、ICS 77.040.01 H 21 中华人民共B 和国国家标准G/T 6148-2005 代替GB/T6148-1985 精密电阻合金电阻温度系数测试方法Test method for temperature-resistance coefficient of precision resistance alloys 2005-09-09发布中华人民共租国国家质量监督检验检瘟总局中回国家标准化管理委员会2006-04-01实施发布GB/1 6148-2005 前言罔本标准制定时参照采用了ASTMB 84,2001(精密电阻合金丝电阻温度系数测试方法儿本标准代替GB/T6148-1985(精密电
2、阻合金电阻温度系数测试方法儿本标准与GB/T6148一1985相比,除了编辑、文字、格式上的修订外,其主要差异为:本标准将使用温度范围从60C150C修改为-65C250C,与ASTMB84,2001一致。本标准增加了规范性引用文件,GBjT8170-1987(数值修约规则h本标准对试样制备及预处理章节中条文内容进行了修改;本标准对恒温槽的部分技术要求进行了修改;本标准对试验数值的修约采用GBjT8170-1987的规定。本标准的附录A为资料性附录。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由机械工业仪表功能材料标准化技术委员会归口。本标准负责起草单位重庆仪表材料研究所。本标准参加起草单位:绍兴春
3、晖自动化仪表有限公司、上海合金有限公司、江苏华鑫合金厂、常州市j满城伟业合金厂。本标准主要起草人:吴承汕、湛立新、邹华、王幼德、袁勤华、王白伟、何伦英。本标准所代替的标准的历次版本发布情况为.B 1778-1976、GBjT6148-1985 , GB/T 6148-2005 精密电阻合金电阻温度系数测试方法1 范围本标准规定了精密电阻含金电阻温度系数的测试方法。本标准适用于在-65C-250C温度范围内,对精密电阻合金电阻温度系数的测量。也适用于其他合金在此温度范围内的电阻温度系数的测量。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的
4、修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。GB/T 8170-1987 数值修约规则3 术语和定义3.1 3.2 下列术语和定义适用于本标准。电阻温度系数temperature卢resistancecoefficient 合金的电阻与温度的关系通常用以20C为参考温度的二次方理式表示:式中:R,-tC时的电阻值.0,;R20 -20C时的电阻值,.0;t 试验温度,C;R,二R,1+(t-20) +卢(t-20)J 一一次电阻温度系数,1/C;卢一一二次电阻温度系数.1
5、/C, 平均电阻温度系鼓mean temperat町e- resistance coefficient 在两给定的温度范围内,电阻的相对变化除以引起这种变化的温度差。即式中:R,-tC时的电阻值,1;R,。一-toC时的电阻值.0,;t二一7试验温度,C;0 (R, - R,o )/R,o (1 - to)J 10一一参考温度,C.通常取20C, 气一11t区间的平均电阻温度系数,1/C。3.3 晦值温度temperature of maximum or minimun resistance 在合金的使用温度范围内,当电阻值为最大或最小时的温度,即1m 20一旦m W 2 . ( 1 ) .(
6、 2 ) .( 3 ) GB/T 6148-2005 式中.m 峰值温度.OC, 一次电阻温度系数.1/C, 卢二次电阻温度系数.I;oCo4 试样制备及预处理4.1 试样制备4. 1. 1 试样从被检合金的连续长度中截取,试样的电阻值应满足测量要求的准确度。试样电阻最小不得低于10-n。各种规格试样的电阻值可参照附录A。4. 1. 2 对于不需绕制的试样或难于绕制的高电阻率微细丝,当其电阻值满足测量要求的准确度时,可采用直线式试样。在制备试样时应当小心,以免使试样产生应力。4.1.3 对于需要绕制才能使电阻值满足测量要求的准确度的试样,在制备试样时应当小心,以免使试样产生无法消除的应力。对于
7、难以保持其形状的试样,可用绝缘框架支撑.以保持其形状。4. 1. 4 绕制有绝缘层的线材时,依线径大小绕成直径为20mm50 mm的线圈。4. 1. 5 对于需绕制的裸线试样,其表面应光滑、平直、无氧化。绕制后,应使裸线不相碰。对于可保持形状的粗裸线可制成直径不小于50mm的螺旋形试祥。对于难以保持其形状的细裸线可绕在直径为20 mm以上的包有三层黄蜡绸的瓷管上。4. 1. 6 裸片、带材试样可弯成U字形或螺旋形.弯曲部分的直径应在50mm以上。可在试样的电位端处冲截出长约12mm、宽约3mm的接线耳片。4.2 试样预处理4.2.1 试样在测量前应进行适当的热处理,以便消除制样时产生的应力,稳
8、定阻值。对于短铜及银铅基含金试样需进行1400C土WC、至少保温48h热处理。对于其他合金试样,则由生产厂规定热处理制度。植:锺铜粗裸线、片、带材试样,亦可在550C进行1h的真空或保护气氛热处理。4.2.2 裸线试样热处理后,若表面氧化,应进行酸洗,除去氧化膜。锺铜合金试样可浸泡在50%硝酸溶液中,除去氧化膜后用水冲洗干净。5 试验装置根据试样阻值、测量精度及使用温度范围,选择并组装试验装置。通常由几只不同温度的恒温槽、温度计及电阻测量仪器组成。5.1 恒温槽恒温槽应具有搅拌和自动控温装置,能将槽温控制在所需测量的温度点上,槽内注入一定量的介质并进行充分搅拌,使试样和温度计所处的温场均匀一致
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