GB T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法.pdf

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1、中华人民共和家标准一7c Test methods for propertles of structure ce-r amic used in electronic components Test method for volume resisthity 本标准适用于电子元范围体积电阻定。UDC 62 1. 315.612 : 62 1. 382 /.887:620.1 GB 5594. 5-85 黯材料的体积电阻率是表征其绝缘性能的参数，其值为试样体积电流方向的直流电场强度与该处电流密度之比。当试样面积为A，试样厚度为t，其体积电阻值为Rv，则体积电阻率v为g乌=儿子( 1 ) 瓷材料一般具

2、有负的电阻温度系数，其电阻率随温度的升高而下降。2试样制备国2. 1 按GB5593 85 (屯子元器件结构陶瓷材料的要求选取试样。2.2将试样进行清洗、干燥处理。2.3在试样的两平面上按GB5593 85表2和本标准图1所示烧渗一层银电极。2 s 4 - 5 25士0.5:t o. + 图1测试样品示意图1-测量电极，2一绝缘间距，3一保护电极1985-11-27发布1986-12-01实施s 3. 1 -GB 5594.5 85 示意图如图2所示。1 R , , |4| 111 | |4| I I i I -|4| 1 ._ 电I D-L. 图2连接示意图1一电阻测量仪I2一热电偶I3一温

3、度指示控制仪I4-保护电极压块，5一测量电极压块I6一试样I7一高压电极I8一加热炉丝I9一炉壁F.10一屏蔽2 _ 3 4 5 6 7 8 9 10 3.2电仪E可采用高阻表或检流计等仪器，电阻测量范围应达105-17170，测量误差应小于+ 1 r: O/. .;. .L v/vo 3.3加热炉(箱):选用合适的电炉或电烘箱，应保证温度均匀，其内壁应设置接地屏蔽罩，屏蔽罩内可用不锈钢或其他耐高温，防腐蚀的金属材料制成。4 3.4温度控制仪z可用自动或手动控温，控温范围为室温至5000C，温度误差应不超过5o3.5 电极压块t可用银制成，与样品接触面应乎整，保证样品与压块的接触良好。4. l按图2要求连接好测队寂田。4.2用精度不低于0.05mm的卡尺测量试样的测量电极直径和试样厚度。4.3将试样放人测试装置中。4.4将加热炉升至规定的测试温度，保温15min。4.5在试样上加不大于500V的直流电压，1 min后即可在电阻测量仪上读数。5计算公式式中14Rv d 结果按下式计鼻:体积电阻率，O. cm; 试样体积电阻值，0; 电极直径，cm; d2 Rv 乌=0.785一一-L.HH-HH-.( 2 ) GB 5594.5 85 t一一试样厚度，cm。附加说明:本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由南京电子管厂负责起草。本标准主要起草人王明珍、赵小伟。