GB T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分 平均线膨胀系数测试方法.pdf
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1、喧嚣ICS 31-030 L 90 和国国家标准11: ./、中华人民GB/T 5594.3-2015 代替GB/T5594.3 1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分:平均线膨胀系数测试方法 恒、Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device一Part 3: Test method for mean coefficient of linear expansion . 2016-01-01实施2015-05-15发布发布中华人民共和国国家质量监督检验
2、检瘦总局中国国家标准化管理委员会eTM fu节斗 GB/T 5594.3-2015 前-鑫= F习GB/T 5594(电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法的结构如下z气密性测试方法(GB/T5594.1); 一一杨氏弹性模量泊松比测试方法(GB/T5594.2); 第3部分z平均线膨胀系数测试方法(GB/T5594.3) ; 第4部分z介电常数和介质损耗角正切值测试方法(GB/T5594.4) ; -一体积电阻率测试方法(GB/T5594.5) ; 第6部分E化学稳定性测试方法(GB/T5594.6); 第7部分:透液性测定方法(GB/T5594.7) ; 第8部分z显微结构测定方法(GB/T5
3、594.8) ; 电击穿强度测试方法(GB/T5594.的。本部分为GB/T5594的第3部分。本部分按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。本部分代替GB/T5594.3-1985(电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法。本部分与GB/T5594.3 1985相比,主要有下列变化:标准名称改为电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分z平均线膨胀系数测试方法34.1测试样品改为3.5X50mm; 一-4.2套管和传递杆的材料从石英玻璃变化为石英玻璃或高温氧化铝陶瓷;二-4.4测量范围从室温至800c变化为室温至1200 C; 一-4.5线膨胀系数单位改为K-1。请注意本
4、文件的某些内容可能涉及专利,本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由中国电子技术标准化研究院归口。本部分起草单位z中国电子科技集团公司第十二研究所、河南济源兄弟材料有限公司、浙江温岭特种陶瓷厂。本部分主要起草人:高陇桥、黄国立、胡菊飞。本部分所代替标准的历次版本发布情况为z-GB/T 5594.3-1985. I GB/T 5594.3-2015 . 1 范围电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分:平均线膨胀系数测试方法GB/T 5594的本部分规定了陶瓷材料平均线膨胀系数测试的样品、测试设备、测试方法及报告格式。本部分适用于电子元器件结
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