GB T 4596-2012 电子设备用三相变压器E形铁心.pdf
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1、ICS 29. 100. 10 L 17 中华人民11: /、道国和国国家标准GB/T 4596-2012 代替GB/T4596-1984 电子设备用三相变压器E形铁心E-cores for three-phase transformers for use in electronic equipment 2012-12-31发布2013-06-01实施.西髦.怪_4 ,f)片、4飞1、;(.; 吨险主ZLm主1)法:ciil真的J中华人民共和国国家质量监督检验检亵总局中国国家标准化管理委员会发布GB/T 4596-2012 目次E1111666mmmmmmuuu四川MUUMUUUMMUUMUU
2、MMM口口法UH方验试能仲盹求求iv尺取围uuuhuh条存电u.要要能构选范uH-EHHUHU气能uuuuuuu贮求的的他结度度能的uuu大性HHHHHun和要圈源件磁及厚温性u磁uuuu的磁uuuunuu输录的线电川文盹类料作磁志电力uuu验电力uuHH验验运附.表试试用革分材工电-F的压试的压HH.检检、性路仪测测才bb心M孙心械浩浩功撞法常观心械温温动撞则求批期装范电对对对的反队铁铁铁铁外铁机高低振碰方正外铁机高低振碰规要逐周岛规验围范类求验收志川试川11言范规分UUUMM要UUUUUUUU试UUUUUMUM验MMM标-11AAA前1234567附AGB/T 4596. .2012 A.
3、2 试验方法.17 A.2.1 铁心要求A. 2. 2 检查波形因数.17 A.2.3 测试空载电流.17 A.2.4 测量空载损耗.18 E GB/T 4596-2012 前言本标准按照GB/T1. 1-2009给出的规则起草。本标准代替GB/T4596-1984(电子设备用三相变压器E形铁芯。本标准与GB/T4596一1984相比,主要变化如下=a) 增加了部分章条的标题zb) 对引用文件版本的规定重新进行了定义,引用文件的最新版本,并增加引用了GBjT2829 (周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验); c) 对6验收规则一章要求更明确z1) 制造厂交货的铁心应经技术检验部
4、门检查修改为制造厂交货的铁心应经质量检验部门进行逐批检验和周期检验(见6.1,1984年版的4.1); 2) 交收试验时,对每批交收的铁芯应100%地按3.2和3.3条的规定顺序进行试验。交收试验也可按GB2828-81的规定进行抽样检查,此时有关的各项规定由供需双方协商确定修改为逐批检验时,对每批交收的铁心应100%地按5.3和5.4的规定顺序进行试验。逐批检验也可按GBjT2828.1标准中一次抽样方案、一般检查水平H及有关规定进行(见6.2,1984年版的4.3);3) 例行试验修改为周期检验(见6.3,1984年版的4.5-4.7); 的例行试验由制造厂技术检验部门每年进行一次。在改变
5、原材料和制造工艺时,也必须进行例行试验修改为有下列情况之一时,应进行周期检验一一新产品或老产品转厂生产的试制鉴定p一一正式生产后如结构、材料、工艺有较大改变,可能影响产品性能时;一一正常生产时每隔半年(寿命试验除外h一一产品长期停产后恢复生产时;一一逐批检验结果与上次周期检验有较大差异时z一国家监督机构提出进行周期检验要求时(见6.3.1,1984年版的4.5)。本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。本标准由全国磁性元件与铁氧体材料标准化技术委员会(SACjTC89)归口。本标准起草单位z四川长虹器件科技有限公司。本标准主要起草人z朱伟、王庆东、阳祷。本标准所代替标准的历次版本发布情况为z
6、一一-GBjT4596-19840 阳皿G/T 4596-2012 电子设备用三相变压器E形铁心1 范围本标准规定了电子设备用三相变压器用的E形铁心(以下简称铁心勺的分类、尺寸、电磁性能、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存。本标准适用于晶粒取向的冷轧硅钢带制成的铁心系列。2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T 191-2008 包装储运图示标志(lSO780 :1 997 ,MOD) GB/T 2421. 1-2008 电工电子产品环境试验概述
7、和指南(lEC60068-1:1988 ,IDT) GB/T 2423.1一2008电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验A:低温(lEC60068-2-1 : 2007 ,IDT) GB/T 2423. 2-2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验B:高温(lEC60068-2-2 : 2007 , IDT) GB/T 2423. 6-1995 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Eb和导则z碰撞(idtIEC 60068-2-29: 1987) GB/T 2423. 10-2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Fc:振动正弦(lEC 60068-2-6:
8、 1995 , IDT) GB/T 2828. 1-2003 计数抽样检验程序第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划(lSO2859-1: 1999 , IDT) GB/T 2829-2002 周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验)3 分类、尺寸和电磁性能3. 1 铁心分类及结构尺寸铁心分为HSD型(50Hz用)和BSD型(400Hz用).HSD型铁心的结构尺寸见图1和表l;BSD型铁心的结构尺寸见图2和表2.1 。国时48。iNO-Ms b :t: ., 10) HSD型铁心的结构尺寸圈1HSD型铁心的结构尺寸a b c h H L K B R 平均磁路长度铁心
9、柱净截面积a铁心重盐a铁心型号cm kg 口1口1C町1HSD1 0 X 20 X 20 二主2040:U 5. 22 0.221 45土!?4二口.28HSD1 0X20X25 二,2ti5.72 0.241 10土1:ii20:!:8:i 12.5+010 55 0.05 1.5 1. 84 HSD1 0X20X32 二三3252士11自.420.271 三二O.31 HSD1 0X20X40 二,4060 :l_ U 7.22 0.305 HSD1 2. 5 X 25 X 25 二,2550士11O. 28 6.55 0.433 HSD1 2.5X25X32 二,3257二117.25
10、0.479 12. 5:!:U 25:!:8:i 16+0.10 69.5 骂王0.0导2.0 2.88 HSD1 2. 5 X 25 X 40 二注1065:!:U 0.34 8.05 0.532 HSD1 2. 5 X 25 X 50 二三5075:斗4QO? 9.05 0.598 HSD1 6X32X32 二注3且64:!:U 8.36 0.904 HSD1 6X32X40 40 72:!: 0.34 9.16 0.991 16骂:ii32:!:U 20+0 80.21 0.330 0.340 3.05 2.90 232 55 51 1. 5 1. 4 BSD8 X 12.5 X 25
11、世0.250.365 0.380 3.35 3.25 BSD8X12.5X32 ;0.28 0.415 0.430 3.85 3.70 7 GB/T 4596-2012 表6(续测试线圈测试电压磁通密度最大空载电流最大空载损耗铁心型号匮数导线规格v T A w W1=W2 口1口1I E I E I E I E BSD1 0XI2.5X20 ;0.25 0.470 0.490 4.35 4.20 BSD1 0 X 12. 5 X 25 骨0.330.515 0.530 4. 75 4.60 186 55 51 1. 5 1. 4 BSD1 0XI2.5X32 ;0.35 0.575 0.600
12、 5.35 5. 15 BSD1 0XI2.5X40 ;0.47 0.650 0.675 6.00 5.80 BSD1 2. 5 X 12. 5 X 25 ;0.31 0.370 0.380 6.80 6.55 BSD1 2. 5 X 12.5 X 32 骨0.33).410 0.425 7.55 7.25 297 110 108 1. 5 1.4 一一BSD1 2. 5 X 12. 5 X 40 抖.380.455 0.470 8.40 8.05 BSD1 2. 5 X 12. 5 X 50 讲0.42。.5100、1;309.40 9.05 BSD1 6X16X32 ;0.42 0.535
13、 0.600 12.5 12.0 BSD1 6X16X40 ;0.53 0.585 。.66013.5 13.0 194 110 108 1. 4 1. 3 BSD1 6X16X50 手0.530.650 0.735 15.0 14.0 BSD1 6X16X64 件O.67 0.710 0.835 17.0 16.0 BSD20 X 20 X 40 ;0.53 O. 542 0.660 18.。16.5 一一一BSD20 X 20 X 50 ;0.67 0.591 O. 721 19.5 18.0 一152 15 105 1. 2 1. 1 BSD20 X 20 X 64 rfJ.67 。.6
14、640.810 22.0 20.5 一一BSD20 X 20 X 80 ,0. 80 O. 750 0.910 25.0 23.0 -一BSD25X25X50 10.67 0.651 0.951 24.5 27.0 BSD25 X 25 X 64 世0.85O. 721 1. 05 27.0 30.0 116 115 115 1. 0 1. 0 BSD25 X 25 X 80 ,0. 90 O. 798 1. 17 30.0 33.0 BSD25X25XI00 11. 00 0.897 1. 31 I 34.0 37.0 BSD32 X 32 X 64 10.90 0.961 1. 46 41
15、. 0 45.5 BSD32 X 32 X 80 11. 00 1. 5 1. 60 45.0 50.0 711 115 115 0.9 0.9 BSD32 X 32 X 100 .pl.12 1. 17 1. 77 50.0 55.0 BSD32 X 32 X 125 ;1. 40 1.31 1. 99 56.0 62.0 BSD40 X 40 X 80 1. 00X2. 80 1. 44 2.30 64.0 70.5 BSD40 X 40 X 100 1. 00X2. 80 1. 58 2.50 70.0 77.0 57 115 115 0.8 0.8 BSD40 X 40 X 125 1
16、. 00X3.15 1. 75 2.80 77.5 85.5 BSD40 X 40 X 160 1. 00X3.15 1. 99 3. 18 88.0 97.0 BSD50X50XI00 1. 00X3.15 2.08 3.36 96.5 105 BSD50 X 50 X 125 1. 00X3.15 2.27 3.67 105 115 42 15 115 0.7 0.7 BSD50 X 50 X 160 1. 60X 4.00 2.55 4.11 120 130 BSD50 X 50 X 200 1. 60X4. 00 2.85 4.62 130 145 注1:测试电源的频率为400Hz.
17、注2:表中的测试线圈匮数、测试电压为每相的数据F空载电流、空载损耗为三相数据之和.a硅钢带厚为0.2mm. 4 8 GB/T 4596-2012 表7BSD型铁心的电磁性能测试线圈测试电E磁通密度最大空载电流最大空载损耗铁心理号a匮数导线规格V T A w W1=W2 口1mI E I E I E I E BSD8 XI2.5XI6 O. 18 0.355 0.424 2.45 2.61 BSD8X12.5X20 0.21 0.389 0.465 2.68 2.86 230 55 50 1. 6 1. 45 BSD8 XI2.5X25 0.25 0.421 0.515 2.97 3.17 BS
18、D8X 12. 5X 32 .o.ZS 0.492 0.587 3.39 3.61 BSDlOXI2.5X20 世0.250.515 0.596 3.75 4.00 BSDlOXI2.5X25 0.33 。.5640.653 4.11 4.39 186 55 50 1. 55 1. 45 BSDlOXI2.5X32 世0.350.633 O. 733 4.61 4.98 BSDlOXI2.5X40 0.47 0.712 。8245. 19 5.54 BSDl2. 5 X 12. 5 X 25 0.31 0.381 0.461 5. 72 6.11 BSDl2. 5X 12. 5X32 0.33
19、 0.422 O. 510 6.33 6.76 302 110 100 1. 55 1. 4 BSDl2. 5X12. 5X 4,0 ,0. 38 O. 468 0.567 7.02 一-BSDl2. 5 X 12. 5 X 50 ;0.42 O. 527 0.637 7.91 8. 44 BSDl6 X 16 X 32 骨0.420.758 0.922 10.8 11.3 BSDl6X16X40 0.53 O.四01. 01 11. 8 12.4 186 110 100 1. 55 1. 4 BSDl6 X 16 X 50 10.53 0.923 1. 12 13.1 13.8 BSDl6X
20、16X64 ,0.61 1. 05 1. 28 14.9 15.7 BSD20X20X40 ,0. 53 1. 17 1. 30 20.3 20.1 BSD20 X 20 X 50 骨0.671. 28 1. 42 22.3 22.1 140 127 112 1. 5 1. 35 BSD20 X 20 X 64 骨0.671. 43 1, 59 25.0 24. 7 BSD20 X 20 X 80 讲0.801. 61 1. 79 28.1 27.8 BSD25 X 25 X 50 0.67 0. 9-91 1. 37 27.5 27.2 BSD25 X 25 X 64 骨0.851. 10
21、1. 51 30.4 30.1 108 127 112 1. 25 1. 1 BSD25 X 25 X 80 非。.91. 22 1. 68 33.8 33.4 BSD25 X 25 X 100 1. 00 1. 37 1. 88 37.9 34. 1 BSD32 X 32 X 64 世0.901. 16 1. 85 37.1 36.7 BSD32 X 32 X 80 ,n.oo 1. 27 2.02 40.6 40.2 82 127 112 1. 0 0.9 BSD32 X 32 X 100 世1.12 1. 41 2.24 45.0 44.6 BSD32 X 32 X 125 世1.40
22、1. 58 2.52 50.5 50.0 BSD40 X 40 X 80 1. OOX 2.80 1. 89 2.99 59.5 58.9 BSD40 X 40 X 100 1. 00X2. 80 2.07 3.28 65.2 64.5 58 127 112 0.9 0.8 BSD40 X 40 X 125 1. 00X3.15 2.29 3.63 72.2 71. 5 BSD40 X 40 X 160 1. 00X3.15 2.60 4. 12 82.1 9 GB/T 4596-2012 表7(续测试线罔测试电压磁通密度最大空载电流最大空载损耗铁心型号a臣数导线规格V T A w W1=W2
23、 口1mI E I E I E I E BSD50 X 50 X 100 1. 00X3. 15 2.94 4.41 91. 6 90. 7 BSD50 X 50 X 125 1. 00X3.15 3.22 4.80 100 99.2 42 127 112 0.8 O. 7 BSD50X50X160 1. 60X4. 00 3.61 5.40 112 111 BSD50 X 50 X 200 1. 60X4.00 4.05 6.06 126 125 注1:测试电源的频率为400Hz. 注2:表中的测试线圈臣数、测试电压为每相的数据;空载电流、空载损耗为三相数据之和。a硅钢带厚为0.1mm. 3
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