GB 4075-2009 密封放射源.一般要求和分级.pdf
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1、ICS 13280F 70 缮亘中华人民共和国国家标准GB 40752009代替GB 4075-2003密封放射源 一般要求和分级Sealed radioactive sources-General requirements and classification(ISO 2919:1999,Radiation protection-Sealed radioactive sourcesGeneral requirements and classification,MOD)中笔冬睦共香国国家质量监督检验检疫总局譬女中国国家标准化管理委员会双仲目 次前言1范围2规范性引用文件-3术语和定义-4分级和
2、表示方法5活度水平规定6性能要求7检验方法8源标识一9源证书-10质量保证附录A(资料性附录) 放射性核素毒性分组一附录B(资料性附录) 密封放射源证书举例-附录C(资料性附录) 恶劣环境条件下的一般要求附录D(资料性附录)附加检验-参考文献GB 40752009,04000如HM坫前 言GB 40752009本标准的第4章、第5章、第6章、第8章、第9章和第10章为强制性的,其余为推荐性的。本标准修改采用ISO 2919:1999密封放射源一般要求和分级。本标准与ISO 2919:1999相比存在如下技术性差异:删除了国际标准的前言和引言;41中分级表示方法按中国的实际情况进行修改;一第8章
3、中增加了源编码。本标准代替GB 4075 2003(密封放射源一般要求和分级。本标准与GB 4075 2003相比主要有以下变化:a)将原标准中所有“GBT 15849-1995”改为“GB 15849-1995”;b)增加了规范性引用文件环发20041118号放射源编码规则;c)在41分级表示方法中GB之后增加标准号4075,修改为GB 4075C(或E)x();d)在61中增加了污染检验的污染量要求e)将7611中b)、c)项合并,修改为撞针高度(6o02)ram,直径(3_0+01)mm;f)在第8章源标识、第9章源证书和附录B中增加了放射源编码;g)删除第8章中的表述“(见ISO 36
4、1)”及“包壳的标识应在密封源检验前进行”;h)对图1弯曲检验参数进行了修改;i)对附录B证书表述进行修改;j) 将附录D引用的文件均作为规范性引用文件列出;k)将参考文献中1的版本升级为2005版;1) 对某些文字进行修改以使技术含义更加明确。本标准的附录A、附录B、附录c、附录D均为资料性附录。本标准由全国核能标准化技术委员会归口。本标准起草单位:中国原子能科学研究院。本标准主要起草人:段利民、龚凌凌。本标准于1983年12月24 Et首次发布,2003年3月24日第一次修订。密封放射源一般要求和分级GB 40752009范围本标准以测试性能为基础建立了密封放射源分级体系,并对源的性能、要
5、求、检验方法、标识和证书等作了规定。本标准为密封放射源产生者提供了评价其产品在使用中安全性的系列检验,同时也便于使用者选择满足使用要求的放射源类型,特别是对关注防止因放射性物质泄漏而造成电离辐射照射的场所选择放射源类型时能提供帮助。本标准也可为管理部门提供指导。这些检验分为几组,例如,包括暴露于异常高温和低温检验以及各种机械检验。每项检验适用于不同的严格程度。检验结果是否通过,取决于密封放射源内容物是否泄漏。注1:泄漏检验方法见GB 15849 1995。表4给出了对密封放射源主要典型使用中的每种应用和建议的检验级别。广义来说,这些检验是对各种使用的最低要求,在一些特别恶劣条件下使用时(见附录
6、c)所须考虑的因素列于42。注2:生产者和检验机构应按GBT 19001 2000分别制定质量保证大纲。本标准不按源的设计、制造方法或发出辐射的刻度方法分级,本标准不包括核反应堆内的放射性物质(含密封源)和燃料元件。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。GB 158491995密封放射源的泄漏检验方法(eqv ISO 9978:1992)GBT 19001-2000
7、质量管理体系要求(idt IS0 9001:2000)放射源编码规则(环发2004118号)3术语和定义本标准采用下列术语和定义。31包壳capsule防止放射性物质泄漏的保护性壳。32假密封源dummy sealed source某种密封放射源的复制品,其包壳的结构和材料与密封放射源完全相同,但源芯中的放射性物质用物理和化学性质相似的物质代替。33注量率 fluence rate在确定几何条件下,密封放射源在单位时间内放出的电离辐射粒子数和或光子数。注:最好用术语辐射注量率表示。34泄漏leakage放射性物质从密封放射源内逸人环境中。1GB 4075200935密封leak tight用于
8、密封放射源的术语,指经检验密封放射源的泄漏量不高于GB 15849-1995表1中给出的限值。36型号model designation用于标识密封放射源具体类型的专用名称(数字、代号或两者的组合)。37不可浸出的UOUleachable指密封放射源内的放射性物质实际上不溶于水,也不可能转变为可扩散物质。38原型密封源prototype sealed source某种放射源的原始样品,它是制造所有具有相同型号密封放射源的模型。39质量保证quality assurance为了提供足够的信任表明实体能够满足质量要求,而在质量体系中实施并根据需要进行证实的全部有计划和有系统的活动。310放射性核素
9、毒性radiotoxicity放射性核素进人人体内,其放出的辐射对人体产生损伤的程度。311密封放射源sealed source密封在包壳内或与某种材料紧密结合的放射性物质。在规定的使用条件下和正常磨损下,这种包壳或结合材料足以保持源的密封性。312模拟密封放射源simulated sealed source某种密封放射源的复制品,其包壳的结构和材料与其代表的真实密封源完全相同,但放射性物质采用物理和化学性质尽可能相近的物质代替,且仅含示踪量的放射性物质。注:示踪剂应能溶于溶剂中,溶剂不能浸蚀包壳,且示踪剂具有与在试验环境使用相一致的最大活度(例如,约lMBq”7Cs)。313源组件sourc
10、e assembly包含在源托内或紧贴在源托上的密封源。314源托source holder用以固定或承载源的固定的或可移动的机械装置。315装置中源source in device照射时保存在屏蔽装置内的密封源,因此使用时可提供一定的机械保护。4分级和表示方法41表示方法密封源的分级表示方法是,用GB 4075,之后用四位数字表示确定分级所用标准的批准年份,随后ZGB 40752009是斜线分隔符号(),再加一个字母,然后是五个数字和包括一个或多个数字的括弧。字母必须是c或E:一c表示密封源的活度不超过表3规定的水平。E表示密封源的活度超过表3规定的水平。五个数字表示级别,按表2次序分别为:
11、温度特性、外压力特性、冲击特性、振动特性和穿刺特性。如果需要,可以在括弧内加一个数字或多个数字表示已通过了弯曲检验的源的类别。某些特定形状的源(细长源,近距离治疗针)的弯曲检验见表1,具体要求见77。为了满足检验准则,可能要进行多次重复试验并对检验作出描述。如不要求进行弯曲检验,则括弧可以省略。示例:个典型无防护工业照相源可表示为:“GB40752003c43515(1)”或“GB 40752003c43515”;一个典型近距离治疗源可表示为“GB 40752003c53211(8)”;一个典型辐照装置源可表示为“GB 40752003c53424(47)”。42分级分级等级见表1和表2。表2
12、给出了按严格程度递增的各个级别的环境检验条件。表1弯曲检验等级弯曲检验等级 1 2 3 4 5 6 7 8 X弯曲检验 弯曲检验 弯曲检验 弯曲检验 弯曲检验 弯曲检验 弯曲检验 特殊参照条款 免检771 771 771 7 71 771 772 773 检验静压力 100 N 500 N 1 000 N 2 ooo N 4 000 NSF一 (102 kg) (51 kg) (102 kg) (204 kg) (408 kg)表2密封源性能分级(用5个数字表示)检验 级 别内容 1 2 3 4 5 6 一40(20 min) 一40(20血小 一40(20 min)一40(20 min) 4
13、0(20 rain) +400(1 h)及 +600(1 h)及 +800(1 h)及 特殊温度 免检+80(1 h) +180(1 h) 400到20的 600到20的 800到20的 检验热冲击 热冲击 热冲击由绝对压力 由绝对压力 由绝对压力 由绝对压力 由绝对压力 特殊外压 免检25 kPa至大气压 25 kPa至2MPa 25 kPa至7MPa 25 kPa至70 MPa 25 kPa至170MPa 检验50 g,下落距离 200 g,下落距离 2 kg,下落距离 5 kg,下落距离 20 kg,下落距离 特殊冲击 免检 lm或等值冲击能1 m或等值冲击能 1 m或等值冲击能 1 m
14、或等值冲击能 1 m或等值冲击能 检验在49 m“(5 g)-条件下25 Hz至在峰与峰之间振50Lr在峰与峰之间在49ms-2(5 g)l 振幅为0635 mm 幅为15 mIil时,条件下25 Hz至 时,50 Hz至90地 25 Hz至80 I-Iz和 特殊振动 免检 在196ins-2(20 g) 不需要 不需要 检验500 Hz试验3次, 和在98 msq条件下80 Hz至每次10min(10 g)条件下2 000 Hz以上均试90 Hz至500 Hz 验3次,每次30rain以上均试验3次,每次10min锤重1 g,下落距 锤重10 g,下落 锤重50 g,下落 锤重300 g,下
15、落 锤重1 kg,下落 特殊穿刺 免检 离Im或等值冲击 距离lm或等值冲 距离1 m或等值冲 距离1 11或等值冲 距离1 m或等值冲检验能 击能 击能 击能 击能8加速的最大振幅。GB 40752009表4给出的分级未考虑火灾、爆炸及腐蚀的影响。在评价密封源时,生产者和使用者需考虑火灾、爆炸及腐蚀等事件的可能性及此类事件可能造成的后果。当确定需要进行特殊检验时,应考虑下述因素:a) 放射性物质泄漏所造成的后果;b)密封源内放射性物质的量;c)放射性核素毒性;d) 放射性物质的物理和化学形态;e)源贮存、转移及使用的环境;f)密封源或源一装置组合所提供的防护情况。必要时,使用者和生产者应商定
16、密封源的附加检验。附录D给出了特殊检验的实例。43级别确定每一类型密封源的级别应采用以下方法之一来确定:一一按表2所示的每项检验,要用同种类型(样品源、假密封源或模拟源)的两个源进行实际检验。如果以前已进行过这些检验,并已证明密封源合格。每项检验可以采用不同的样品。应以检验后密封源能否保持它的密封性能来确定是否符合标准。每项检验后,应用肉眼检查源完整性的损坏情况,还应按照GB 15849-1995进行适当的泄漏试验。当用模拟源做泄漏检测时,所选方法的灵敏度应适当。当密封源有多层包壳时,经检验至少有一层包壳密封,就确定为检验合格。5活度水平规定附录A给出了四个放射性核素毒性组,规定的密封源活度值
17、见表3,活度低于该规定值的,对具体用途和设计不要求进行单独评价。表3按放射性核素毒性分组规定的活度水平放射性核素组 规定活度TBq(ci)(见附录A) 可浸出的 不可浸出的。A 001(约o3 Ci) 01(约3 Ci)B1 1(约30 ci) lO(约300 C1)B2 10(约300 Ci) 100(约3 000 Ci)C 20(约500 Ci) 200(约5 000 Ci)8可浸出的:依据GB 158491995中5】1规定,将源芯浸在50100 mL静水中,4 h,水中的放射性括度大于总活度001。b不可浸出的:依据GB 15849 1995中511规定,将源芯浸在50100 mL静水
18、中,4 h,水中的放射性活度低于总活度001。密封源的活度超过规定值时,应对具体用途和设计作进一步评价。为了便于分级,生产时应根据表3考虑密封源的活度水平。除非需要,只有当密封源活度超过表3所示规定值时才须考虑对火灾、爆炸、腐蚀和放射性核素毒性的影响进行评价。如果活度超过规定值,则应根据不同情况来考虑密封源的分级。如果活度不超过表3的规定值,无须迸一步考虑毒性和可溶性就可直接使用表4。4GB 407520096性能要求61一般要求所有密封源在制造后均应进行检验,污染检验值小于200 Bq,即视为该源通过污染检验。该检验应按GB 15849 1995中53规定的试验之一进行。所有密封源在制造后均
19、应进行检验,以确保不泄漏。该检验应按GB 15849 1995规定的一种或一种以上方法进行。所有密封源在制造后均应进行测量,以确定其辐射输出量。密封源所含放射性物质的活度均应进行估算。这可以通过辐射输出量的测量结果或通过生产所用的该批投料的放射性测量进行估算。密封源样品应按本标准第7章所述方法进行检验,按第4章的规定进行分级。表4典型使用的密封放射源级别(性能)要求密封源级别(由检验确定)密封源使用方式温度 压力 冲击 振动 穿刺密封源 4 3 5 l 5工业射线照相装置中源 4 3 3 1 3射线照相 3 2 3 1 27射线远距离治疗 5 3 5 2 4医用近距离治疗6 5 3 2 1 1
20、表面敷贴器。 4 3 3 1 2无防护源 4 3 3 3 37仪表(中、高能)装置中源 4 3 2 3 28仪表、低能7仪表或x射线荧光分析6 3 3 2 2 2油田测井 5 6 5 2 2便携式湿度计和密度计(包括手提或车载) 4 3 3 3 3一般中子源应用(不包括反应堆启动) 4 3 3 2 3仪器刻度源,活度IMPm 2 2 2 1 2I类 4 3 3 2 3-辐照源3,5、和类 5 3 4 2 4色谱 3 2 2 1 1离子发生器 静电消除器 2 2 2 2 2感烟探测器。 3 2 2 2 28这种类型的源在使用时可能会严重变形,生产者和使用者应商定附加的或专门的检验程序。b不包括充
21、气源。可以用装置中源或源组件作检验。每个密封源均应按第8章的要求进行标识,按第9章的要求提供包括检验结果等内容的证书。密封源包壳在物理和化学性质上应与内容物相容。如果密封源直接由照射生产,则包壳不应含有显著量的放射性物质,除非这种物质能牢固地与包壳材料相结合,且能表明密封源是不泄漏的。模拟源的示踪剂应能溶于溶剂中,溶剂不能浸蚀包壳,且所用示踪剂的量具有适合在试验环境下进5GB 40752009行泄漏检验的最大活度(例如,约lMBq”7Cs)。62典型使用要求密封源、源组件或装置中源的某些典型使用及其最低性能要求见表4。有可能要求一种或多种弯曲试验,规定见77。活性区长度(L)与最小外包壳直径(
22、D)之比大于或等于15(即LD1S)的检验源,要求的弯曲检验见771。例如,用于I类辐照装置的密封源,要求达到4级,、和类辐照装置则要求达到5级。活性区长度(L)与最小外包壳直径(D)之比等于10或大于10(即LD10)的检验源及活性区长度等于或大于100ram(即L100mm)的检验源,要求的弯曲检验见772,且要达到7级。活性区长度(L)大于或等于30 mm(即L30 mm)的近距离治疗针类密封源,要求的弯曲检验见773,且要求达到8级。这些要求考虑了正常使用和适当的意外危险,但不包括暴露在火灾、爆炸或腐蚀中的情况。密封源通常安装在装置内,在确定某特定用途的级别数值时,考虑了由装置提供的对
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