QJ 2863-1996 航天用电子元器件颗粒碰撞噪声检测(PIND)要求和方法.pdf
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1、j.J 中国航天工业总公司航天工业行业标准QJ 2863-96 航天用电子元器件颗粒碰撞噪声检测(PIND)要求和方法1996-12-31发布1997-03-15实施中E航天工业总公司发布1范围中国黠天工业单公司黠天工业行业际准就天用电子元器件黯粒磕撞噪声检;!tl(FIND)要求和方法1.1 主题内容QJ 2863吉6本标准规定了航天用电子元器件颗粒碰撞噪声检测的要求和试验方法cI J适用范围本标准适用于航天用带有空庭的半导体器件和电磁继电器等,其2空腔电子元器件亦可参照使用。2 引用文件本章无条文。3 定义本章无条文64一般要求4.1人员颗粒碰撞噪声检测以下简称PINO)试验操作人员应经过
2、培训并考核合格方能进行试验操作。4.2 试验室试验室应在低噪声环填中;试验工作台应具有防静电措施。4.3试验系统PINO系统出振动及冲击台含正弦泼发生器和放大器)、换能器、PINO电子线路单元、示波器和满值检测器等组成,检测系统愚见图1。4.4 专用试验夹具对不规则形状的元器件可以采用专用夹具。这些夹真应具有以下辛苦险:a. 质量小;b. 刚度强;c. 导声性能强;中墨航天工业总公司1996-12-31批准19曹7归一15实施1 QJ 2863一%阀锺检那器P!ND色子线路单元正弦波发生器租放大器示波器Yi x 振动及冲击台图IPIND检测系统图d. 与试验设备的试验台面能完全接触; 与试f牛
3、的接触表在百尽量大;f. 无可动吉事件;g. 适用于粘接弃i安装。4.5灵敏度检部单元i以下简称STU)加速度计STU来检测PIND试验系统灵敏度,定期评价PIND系统的性能01:包括一个与PIND换能器裙匹配的换能器和一个能以电压为250 so,v的称?中激励换能器的电路。此换能器通过粘续1fil与PU如换能器栩连并通过触发STU开关,在示泼器上应能产生在辈值20严V的脉冲,使用中定期更换电池以防损坏。4.6粘接J用于粘接试件幸EPIND换能器试验台面的粘接剂可以为声搞合胶水或声藕合呈交带。fEl.应与sU试验对使用的一致。5详细要求本标准按试件分别规定PI到D试验方法:a. 方法100半导
4、体器件PIND试验方法;b. 方法200电磁继电器PllD试验方法。2 QJ 2863-96 方法100半导体器件PI!.D试验方法1 El 检测半导体器件封装腔体内部存在的自由颗粒。是用于检测器件撞体内有无颗粒的非破坏性试验。2设备2.1 阎健检测器阔值检测器能检测出比相对于系统“地”的自毒值峰值201mV高的颗粒噪声电压。2.2 振动装置和驱动装置用于半导体器件的振动装置和驱动装置,在3.3.l条的条件下可对试件提供基本为正弦的振动。2.3 PIND系统换能器以下简称PIND换能器其峰值灵敏度应在150160Hz范围内某个频率上校准到蜂值灵敏度为一77.5土3dB基准为lOV/Pa)o2.
5、4 由放大器组成的PIND电子线路单元放大器在PIND换能器具有蜂值灵敏度的频率中心值上增益应为6自主2dB,放大器输出端的噪声梅值不得超过lOmVo2.5 冲击装置2.5.1 对房子半导体器伶的试验设备施加峰值冲击加速度为1000立200g,冲击脉冲宽度不大于lOOps的冲击脉:中。2.5.2 若采用了可同对进行冲击试验的系统,在施加冲击称:中时,使振动中断不应超过250mso 2.岳示波器用来显示换能器输出信号的示波器始检源频率应为20lOOMHzo3程序3.1 试验设备安装振动装置驱动频率和冲击加速度应符合3.3.1条的规定e3.2 试验设备校验试验设备的校验在每次试验前及试验后进行。试
6、验后发现系统不满足校验要求,应对系统进行重新校验并重新进行试验。3.2.1 振动器驱动装置校验3 QJ 2863-96 驱动装置应产生规定的振动频率和振动幅度,与各自的标称值相比,频率误差应小子8%,振动尊重度误差应小于10%,可以在l.023.05mm部振幅范围内使用换能苦苦上的视觉位移监泌装置。3.2.2 监测器校验使系统处于STU校准状态,使用STU校准器,采用与器件试验时相同的粘接剂,使STU的换能苦苦与PI民D换能器处于面对面位置并同驰。然后触发几次sU,验证示波器上是否可观察到低电平信号脉冲积阕值检测。所有大于20mV的脉冲应能被检测出。不要求每次触发STU都能产生需要的信号c3.
7、2.3 系统噪声验证使系统处于试验娩定振动频率的空载振动60s,系统噪声电子应在示波器上基本为不交部带状,峰一峰值不应超过20mV,阂璧检测指示灯不亮。3.3试验3.3. l 试验条件试验条件分为条件A和条件B两种c当能够确定试件封装内腔的平均高度时,采用条件A,否则采用条件Bo条件A:冲击加速度1000 200g; 振动加速度20g,振动频率也表100.1确定。条件B:冲击加速度100白主200g;振动加速度1饨,振动频率为60日Zo表100.1 封装内腔的平均离度1)频率R王军在lli 运1.02130 1.03 1.27 120 1.28 1.52 110 1. 53 1.78 100
8、I. 79-2.03 90 2.04 2.29 80 2.30 2.54 70 2.54 60 注:1)对提合集成电路宾内腔始平均离度应从封装内腔的Jil;部或主衬底的顶部算恙,不应包括安装在封装内部芯片的高度。3.3.2 试验程序设定4 试验程序按下列版序设定:a. 冲击3次;坦振动3士ls; 冲击3次;d. 振动3士ls;e. 冲击3次;f. 振动3:ls; g. ?中击3次;h. 振动3主lsa3.3.3 空载试验QJ 2863-9岳按3.3.1条和3.3.2条己设定好挂号条件和程序,在不安装试件的情况下,开始试验,按3.3.6条规定进行监测,当其中三个监测系统地正常时,可以进行正式试验
9、。3.3.4 试伶安装.ffl声藕合胶或声搞合胶带将试件粘结固定在试验平台的中央部位上,应选择试件最薄的一面或厚度均匀的jjij朝向换能器。应避免器件的外引线相碰,也可以使用专用试验夹具。试f牛安装时要注意防静电损伤。试件取下时要注意防止损伤器件或外引线。使用声搞合胶带应注意适时更换。3.3.5 正式试验按3.3.1条和3.3.2条已设定好的条件和程序开始对试件进行试验。3.3.6试验监测试验程序开始执行对,要监测以下三种检测系统:a. 示波器:当示波器上显示出超过正常但定背景“自噪声”电平的高频尖峰信号时,判定为不正常;b. 音响:当出现与程定背景噪声不同的卡塔声时,判定为不正常;c. 阕筐
10、监测指示灯:当指示灯亮或出现“Fall”时,判定为不正常。3.3.7 不合格器件剔除按第4章的烧定判定试件是否合格,剔除不合格器件。4失效判据在监测中,3.3.6条规定的三种检测系统中任一个出现不正常时,判定该试件不合格并拒收。拒收的试件不得重新进行试验。5 试验批接收判据若无其它规定,批接收试验应按3.3.1条中条件A进行15次100%的PIND试验,不允许进行PIND试验前预筛选。每次试验后剔除失效器件。只要有一次筛选试验出现不合格率小于1%豆累it不合格率不超过25%罚,那该批器件接收c在11!1次试验后若第五次试验不合格率仍然不满足小于1%或5次试验累积不合格率大子25%,则该批器件拒
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