QJ 1072-1986 非磁性基体金属上非导电涂层厚度的涡流测量方法.pdf
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1、Q.J 中华人民共和国航天工业部部标准QJ1072 86 非磁性暴体金属上非导电涂层厚度的涡流测量方法1986-06-30发布1987一03-01实施中华人民共制固航天工业部批准中华人民共和国航天工业部部标准非幡性攥体企跚上非尊咆渝屡厚度的涡流测蝇方法QJ 1072-86 :丰银串监规定了用祸iI.测/!t仪lE非磁性基体金属k测量非辛苦咆涂层熔腔的jj串串。适用于恻耸非磁性基体金麟k导也.比1牵:Uf,旺的涂层摩靡,不选用于测量量太湾的化学楼遗涂层.1 顺理祸流测原仪的串在头受斗k挖掘荡器撒励眉目H产生i高细电磁场,!j探头接近导体时在该导体表面和近发H副产生摘自草,该锅挠的振阳和相位忿导体
2、和探头之阅涂层厚度的画面数。祸搅001/!t烹要暴利用i自iI.振嗣和上述徐草原皮之间的统攸关系术进行测簸。2 校Jt忧样2. 1 校楼仪器学位的校准标样!:z与被测件的蒜体材抖相同,处现有I我丽状态相同,并婆求其厚度大于某一极限原li:彼,炼锻间3.4陆中资求的惊。2.2 校横仪器谈数的校樵保样有穰片和涂层校被指i样两种,测量t肘可任逃;Il;陆的种。2. 2. 1 游片校J暨栋样一般用均匀版度的塑料片如l!It6.薄膜,黛国i!F胶等制成。标样我il无卸l伤、H旨娟和泊污。2.2.2 涂层校樵标佯FY.m具有均匀1亨庶的非导咆涂层织成,并要求涂层轩H基体措命良好。5 测最穗3. 1 测量时
3、应严格按仪器使用说明书中规定的操作税序戍故意事Jg操作。3.2 测嫌前应情除被测件浇丽的t由污且其它版物。清除时不得将除应夜曲l!蚀熔化和损伤。3.3 测量前根锻被测涂层的阵li:馆自睛选择告i嚣的量能(一般情况下使被糊涂草草原li:t所选盖章程满最庶的10%-9,)%之间),然后按仪樵说明书的集求将仪吉普tE零位校推栋栋j二调零,司萨位调好厨再用已知原朦的诙数校被栋栋校仪器诚数。i囊毅校樵栋样的原度一定主哥大于被测徐蜒的于叶恼。闲精片校准栋校正时,校准1应平整地放到学位校J住你桦1;.问者之间不允伴有问隙。3.4 测撮前底徐?是被糊涂层的荔体材料原度是否于大F祸iA&棚原仪对其所求的极限R再
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