SJ T 1147-1993 电容器用有机薄膜电性能试验方法.PDF
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1、L 90Sqj中华人民共和国电子行业标准sJ/T 1145-1148-93电容器用有机薄膜电性能试验方法Test methods for electrical performancesof organic film for use in capacitors1993-12-17发布1994-06-01实施中华人民共和国电子工业部发布中华人民共和国电子行业标准电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法Test method for dielectric loss angle tangent and dielectriccanstant of organic film for use in
2、 capacitorsSJ/T 1147-93代替SJ 1147-77主题内容与适用范围11主题内容本标准规定了电容器用有机薄腆介质损耗角正切值和介电常数的试验方法.1.2适用范围本标准适用于厚度为2- 50iam的电容器用有机薄膜在正常气候条件下或高温下,频率为50Hz,1kH:或1MHz时的介质损耗角正切值和介电常数的测定.弓I用标准SJ/T 1145电容器用有机薄膜电性能试验方法通则SJ/T 1146电容器用有机薄膜体积电阻率试验方法方法要点本方法是在规定的频率下,用电桥或其他仪器测出试样的电容或介质损耗角正切值,并根据试样的电容值,厚度以及测量电极面积算出其介电常数。测t仪器能满足薄膜
3、试样的介质损耗角正切值和电容值测试范围的任何仪器均可使用,但测试介质损耗角正切值误差应不大于1%itg8I+1X10-s;测试电容值时,误差应不大于士1%0测试时,试样与测量导线应有良好的屏蔽。试验方法5.1方法一真空蒸发铝电极法(本方法为仲裁方法)5.1.1试样采用与SJ/T 1146中3.1.1.1条规定的相同试样,每组试样不少于3个。试样要求和试验条件按SJ/T 1145的有关规定。中华人民共和国电子工业部1993-12-17批准1994-06-01实施一6一SJ/r 1147-935.1.2电极与SJ/T 1146中3.1.1.2.2条规定的电极相同。5.1.3试验步骤a.将试样放置在
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