SJ T 10263-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CD7666GP型双五点LED电平显示驱动器.pdf

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1、_J中华人民共和国电子工业行业标准SJ/TSJ/T1025710261-9110263-10265-91电子元器件详细规范半导体集成电路音响电路(一)1991一11一12发布1992-01-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CD 7666 GP型双五点LED电平显示驱动器SJ/T 10263-91Detail specification for electronic componentSemiconductor integrated circuit-type CD 7666 GP dual5 LED level display

2、 drivers本规范规定了半导体集成电路音响电路CD 7666 GP型双五点LED电平显示驱动器质量评定的全部内容。本规范符合GB 4589. 1半导体器件分立器件和集成电路总规范芳及GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求。中华人民共和国机械电子工业部1991-11-12批准1992-01-01实施一60一SJ/T 10263-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质量的依据:GB 4589. 1(半导体器件分立器件和集成电路总规范及GB/T 12750(半导体集成电路分规范(不包括混合电路)SJ/T 10263-91CD 7666 GP型双五点LED电平显示驱动

3、器详细规范订货资料:见本规范第7章。1机械说明外形依据:GB 7092半导体集成电路外形尺寸。外形图:按GB 7092第5.5.1条P16S3.引出端排列:11N亡下v下当21N，)。:、二2 15 20UT,l0Ur, 3 14 2OUT,IM!下二;13 20UT,川。:。:2二20UT,10U T;二。11口WUTz1OUr巨7，。20UTUNr1 8。O V,弓出端符号名称:见本规范第n章.标志:按GB 4589. 1第2.5条及本规范第6章。2简要说明双极型音响集成电路半导体材料:硅封装:非空封应用:主要在音响设备中作双通道电平显示驱动器用。品种:型z 19 T 1k f1卜封装形式

4、火飞一30-75(G)塑料双列直插(尸)CD766GGP3质CT定类别Y类参考数据工作电源电压:6-12V;LED启辉输入电平问隔:5dB,5dB,3dB,3dB,SJ/T飞0263一914极限值(绝对最大额定值)若无其它规定，7.。二25。条款号参数1符号数值单位最小最大4.1电源电压V以14V4.2输出电流Io3Uni八刁.3LEO驱动器电压，U比。null一1f-4，4 一一pl)一75。n飞W一4.5工作环境温度了、mb一3075月.6贮存溢度了、生“一“5一注”LEI)驱动端子电压是3一7端和10一14端的电压。2)25以上时，温度每升高1，功耗减少。w.5电特性电特性的检验要求见本

5、规范第8章。若无其它规定，vcC=gV，f二IkHz，lR川七一25。条款号特性和条件符号规范值单位试脸最小典型最大5.1朴态电流Vl毖0人14n、八A352输出电流认飞=ZV人152030TllAA35.3输出漏电流VI留0了川一50一协一A35.4电压增益一护一一，126dB55灯启辉输入电压Av=12.6dBV盯从5)189212之38n、VA咯5.6V比、“)134150168n1V人45.7V孔州”89106126n飞VA45.8VIJ们幻476075n飞VA459V晰、”243447n飞VA45，10通道问第(1)灯启辉电压差Av二12.6dllV口A一10.250摊25人46标志

6、一6?一SJ/T 10263-91器件匕的标志示例:型号CD7666GP引出识”标卜哗制造厂商标8618皿质t评定类别检脸批识别代码7订货资料产品型号;详细规范编号;质量评定类别;其它。乐b.C.已8试验条件及检验要求抽样要求:根据采用的质盘评定类别，按GB/T 12750第9章的规定。A组检验的抽样要求分组AQLI类检查水平(1I.)AQIAlI0.65A3砚0.15人4S41.0B组、G组和D组检验的抽样要求分组LTYD皿类B115C120C315B4 C410B5 C510C715B8 C8 D810C915Cil2O63一SJ/r 10263-91A组逐批所有试验均为非破坏性的(见GB

7、 4589. 1第3.6.6条)检验或试验引!II标准条件若无其它规定,T-b-25c(见GB 4589. 1第1.1条)检验要求规范值A1分组外部目检GB 4589.1第4.2.1.1条标志滑晰，无表面损伤和气孔A3分组25下的静态特性GB 7502(半导体集成音响电路电平抬示驱动器测试方法的基木原理按本规范第5.1条至5.3条及第10.1条按本规范第5.1条至5. 3条A4分组25下的动态特性GB 7502按本规范第5.5条至5.10条及第10.1条按本规范第5. 5条至5.10条B组逐批标有(D)的试验为破坏性的(见GB 4589. 1第3.6.6条)检验或试脸引!I了标准条件若无其它规

8、定，T,mb=25C(见GB .1589. 1第4. 1条)检验要求规范值B王分组尺寸GB 4589. 1第4. 2. 2条及附录Br一按本规范第1章B4分组可焊性GB 4590半导体集成电路机械和气R4:试验方法矛第2.5条按方法b (M娜法)按GB 4590第2.5.6条GB 4590第3. 1条G13 4589.1第4.2.1.1条G13 4590第3,7条温度按严格度A循环次数;10次1, : 5min严格度A. 2 u,同A3和八F分组同A1分组同A3和A4分组一右4SJ/T 10263-91B组逐批(续)检验或试脸引用标准条件若无其它规定,T,n=25C(见GB -1589. 1第

9、1. 1条)检脸要求规范值B8分组电耐久性电测云GB/1 12750第12.3条16811,温度按本规范4. 5条最大值，试脸线路按本规范第10. 2条同A3和A4分组恢复2h. 24h内测完小于1. 3US1且，大于0.81.51”CRRI，分组就B4,B5和138分组提供计数检查结果.注,1) USI和LSI分别表示A组规范值的最大值和最小值.G组周期标有(D)的试验为破坏性的(见GB 4559. 1第3. 6. 6条)检验或试验引用标准条件若无其它规定,T,n=25C(见GB 4589.1第I. 1条)检验要求规范值cl分组尺寸GB 4589. 1第4.2. 2条及附录B按本规范第1章C

10、3分组弓I线强度拉力(D)弯曲(DGB 4590第2.1条GB 4590第2. 2条按试验:之方法2,es按GB 4590第2.1.5条无断裂一C4分组耐焊接热(D电测最GB 4590第z. 5条按方法1(260-C榴焊)同A3和A4分组同A3和A-1分组C5分组温度快速变化随后进行:外部目检稳态湿热(D)电测量GB 4590第3.1条GB 4589. 1第4.2.1.1条GB 4590第3. 7条侃度按严格度A循环次数500次八:5日un严格度A, 2,11同A3和A4分组同AI分组同A3和Ad分组C7分组稳态湿热(D)电测量GB 4590第3. 7条按严格度人，不加电，10001同A3和A

11、d分组同B8分组sJ/T 10263-91c组周期(续)检验或试脸引用标准条件若无其它规定，T.mb=25C(见GB 4589.1第4.1条)检验要求规范值C8分组电耐久性电测盆GB/T 12750第12.3条100011，其它同B8分组同A3和人4分组同B8分组Cg分组高温贮存(D)电测童GB 4590第3. 3条100011,温度按严抢度C同A3和A4分组同B8分组C11分组标志耐久性GB 4590第4.3条按方法1按GB 4590第4.3.2条CRRL分组就C3,C4,C5,C7,C8,C9和C11分组提供计数检查结果.9 D组D8分组检验应在鉴定批准之后立即进行，以后每年进行一次。检验

12、或试验引用标准条件检验要求规范值D8分组电耐久性(D)电测量GB/I 12750第12.3条200011,其它同B8分组同A3和A4分组同B8分组10附加资料1电特性的测量1.1测试方法1010参数测试方法locoGB 7502第2.1条toGB 7502第2. 2条Ion cGB 7502第2. 3条AvGB 7502第2. 4条V.人GB 7502第2. 5条s1/T 10263-9110.1.2测试原理图瓦卜1(1目1峻C盆N二以一次口目、咋二目卜二汉的口目6二以目二目0一二囚叻二洲”1卜67SJ/C 10263-9110.2电耐久性试验线路图vlfl)An叭r-1av注:未注阻值的电阻

13、均为680II (1 W)士10%10. 3特性曲线在产品说明书中给出下列特性曲线:电特性随温度变化曲线;其它有关特性曲线。11型号说明一68一s,l/T 10263-9111.1功能框图一11.2引出端符号名称引出端符号 一引出端符号名称11通道输入VI电源lour,1通道放大器输出20UT,2通道输出1TOUT1通道输出5厂一:OUT:一2通道输出2H)ur1通道输出t2通道输出3lOUT，1通道输出3一2通道输出a10UT,1通遁输出2一2通道输出5:our, 一20Urn2通道放大器输出GNJ地!2通道输入附加说明:本标准山全国半导材41件标准比技术委员会集成电路分技术委员会提出。本标准由无锡微电子联合公司负贵起草。本标准主要起草人:孙仁兴孙志金李扬。