SJ T 10079-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54182／CT74182型超前进位产生器.pdf

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1、L -i中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T 1004210048-91SJ/T 10078.10086-91电子元器件详细规范半导体集成电路TTL电路(一)1991一04-08发布1991一07-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CT54182/CT74182型超前进位产生器SJ/T 10079-91Detail specification for electronic componentsSemiconductor integrated circuitCT54182/CT74182 look-ahead carry ge

2、nerator本规范规定了半导体集成电路CT54182/CT74182型超前进位产生器质量评定的全部内容。本标准符合GB 4589. It半导体器件分立器件和集成电路总规范和GB/T 127501半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求.中华人民共和国机械电子工业郎1991-04-08批准1991-07-01实施一119一SJ/T 10079-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质量的依据:GB 4589.1半导体器件分立器件和集成电路总规范GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路”SJ/T 10079-91CT54182/CT74182型超前进位产生器详细规范订货资料

3、:见本规范第7章。机械说明简要说明外形依据:GB 7092半导体集成电路外形尺寸。外形图,GB 7092D型5.3条及5.3.1条J型5.4条及5.4.1条P型5. 5条及5.5.1条F型5. 1条及5.1.1条双极型运算器半导体材料:硅封装:空封、非空封逻辑图、功能表见本规范第11章。品种:引出端排列:CNDv代P2C之Ct,Coco，FCo共0-70C (C)一55-125C (M)陶瓷直插(D)CT54182MD黑瓷直擂(J)CT7418ZCJCT54182MJ塑料直擂(P)CT74182CP多层肉瓷扁平(F)CT54182MF一氏一叭氏-仇-气-凡引出端符号名称见本规范第11.4条。标

4、志:按GB 4589. 1第2. 5条及本规范第6章.质量评定类别。，A.，B.，C一118一SJ/T 10079-914极限值(绝对.大颇定值)若无其他规定，适用于全工作沮度范围。条款号参数符号数值单位最小.大4.1工作环境温度54T.mb一55125740704.2贮存温度几.一65ISO4.3电谭电压V-7v4.4输入电压Vl515v4.5多发射极晶体管输入端间的电压v5. 5v5电工作亲件和电特性电特性的检验要求见本规范第8章。5.1电工作条件若无其他规定，适用于全工作温度范围。条款号参数符号数值单位最小最大5.1.1电浪电压54V-4.55.5v744.755.255.1.2输入高电

5、平电压v,2v5.I3输入低电平电压v0.8v5 14输出高电平电流lox一800尸A5.1.5输出低电平电流I.,16mA2电特性若无其他规定，适用于全工作温度范围.119SJIT 10079-91条歌号特性和条件”符号规范值单位试验最小最大5.2.1输出高电平电压V。二最小V，二2VV,L=0.8V lox=-800pAVox2.峨VA35-2.2箱出低电平电压v“二最小V.=2vV,=0.8V lo,.=16mAV既0今VA35.2.3愉入钳位电压V-=最小1，二一12mAVu一1.5vA35.2.4一输入高电平电流v-=最大Vw = 2.4VCl.1,H80ILAA3120P,p:16

6、0Po P,石，200百oC,360C4005.2.5翰入低电平电流v二二最大v二二。.4VCl.L,一3.2.AA3一4.8p:一6.4p,Pa F,己:一8一14.41o己,一16乙5.2.6最大输入电压下的输入电流Vcc二最大V,=5- 5V1.1.AA35.2.7输出短路电流Vcc二最大lo,一40一100.AA35.2.8电深电流Vc。二最大G-G石:接4. 5 V输出端开路其他输入端接地54了以165.AA372745.2.9传输时间C二15pF 2,.=4000了6=25C Vcc=5V1“,H17nSA4l-,22注:1) V-为最小或最大，按本规范第S. 1.1条。标志一12

7、0SJ/T 10079-91器件上的标志示例:认证合格“适用时卜一t.一口厂p_。174182CP7fth端W别你志一r十-一口8916，一型号质必评定类别制造单位商际检验批识别代码若受器件尺寸限制时，允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。订货资料若无其他规定，订购器件至少需要下列资料a.产品型号;b.详细规范编号;c.质2评定类别;d其他。试验条件和检验要求抽样要求:根据采用的质A评定类别，参照GB/T 12750第9章的有关规定.A组检验的抽样要求分组AQI.I类.类IL人Ql.ILAQLA1!0.6510.65A210. 1I0.1A3I0.15l0. 15A3aS41

8、.0S41.0A3bS41.0S41.0人4S41.0S41.0121SJ/T 10079-91B组、C组和D组检骏的抽样要求分组LTYU.类，类ABCB1IS15IS生5Cl20202020C2b15151515C3ISISI515B4 C4IO10IO10B5 C510101010C620202020C715151815B8 C8105710C9155715Cll20202020B2120101015C2320101520C2420101520D8105710A组逐批全部试验均为非破坏性的(见GB 4589. 1第3,6. 6条)检脸或试验引用标准条件若无其他规定7b= 251C(见GB4

9、589.1第4. 1条)检脸要求规范值A1分组外部目检GB 4589. 14.2.1.1条标志清晰，表面无损伤和气孔A2分组25下的功能验证按本规范5. 2. 1条、5. 2. 2条和11. 3条按本规范5.2.1条、S.2.2条和1113条A3分组25下的静态特性GB 3439(半导体集成电路TTL电路侧试方法的基本原理按本规范5. 2. 1条至5. 2. 8条和10.1条按本规范5.2.1条至52.B条122SJ /T 10079-91A组逐批(续)检验或试验引用标准条件若无其他规定，T.mb-25C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值A3a分组.商工作盘度下的静态特性GB

10、3439Tb按本规范4.1条规定的最大值.条件:同A3分组同A3分组A36分组最低工作盆度下的静态特性GB 3439T.mb按本规范4.1条规定的最小值.条件:同A3分组同A3分组A4分组25下的动态特性GB 3439按本规范5. 2. 9条按本规范5.2.9条B组逐批标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589. 1第3.6. 6条)检脸或试脸引用标准条件若无其他规定，T.mb-25C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值BI分组尺寸GB 4589.1,4.2.2条及附录B按本规范第1章B4分组可焊性GB 4590半导休集成电路机械和气候试验方法)2.5条按方法b(/焊法)一一，

11、.,. 5.6条BS分组盆度快邃变化a.空封器件随后进行:电侧t密封:细检翻粗检汤b非空封和环氧封的空封器件随后进行:外部目枪称态湿热电侧tGB 4590.3.1条GB 4590,3. 11条或3.12条GB4590,3.13条GB 4590，3.1条GB 4589.1.4. 2. 1. 1条GB 4590.3. 7条温度按本规范第4. 2条规定循环次数:10次t, = 5min同A2,A3分组恢复21,按规定按规定沮度按本规范第4.2条规定循环次致10次t二5min按规定严格度人时间241,同A2,A3分组同A2,A3分组同A1分组同A2,A3分组123s,1/T 10079-91B组逐批(

12、续)检验或试验引用标准条件若无其他规定，T.mb=25C(见GB 4589.1第4.1条)检验要求规范值B8分组蒸一GB 4590.4.”同A2,A3和A4分一组)T.mb按本规范4.1条规定的最大值，其他按本规范10.3条同A2,A3和A4分组同A2,A3和A4分组B21分组高压蒸汽(D)(非空封器件)最后测t(同A2和A3分组)GB 4590,4. 5条严格度C时间24b同A2和A3分组同A2和A3分组CRRL分组就B4,BS,BB和B21分组提供计数检查结果C组一一周期标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589. 1第3.6.6条)检验或试验引用标准条件若无其他规定，Tb=25C(见G

13、B 4589. 1第4.1条)俭验要求规范值C1分组尺寸GB 4589. 1,4.2.2条及附录B按本规范第1章C2b分组最高和最低工作温度下的动态特性GB 3439温度按本规范第4.1条同A4分组规范值为A4分组最大值的1. 5倍，最小值的0.8倍C3分组引线强度拉力(D)弯曲(D)GB 4590半导体集成电路机械和气候试验方法2.1条22条外加力的值按2. 1条表1外加力的值按2.2条表2按2.1. 5条无损伤GB 4590第2. 6条按方法1( 260C槽焊)同A3分组同A3分组124SJ/T 10079-91C组周期(续)检验或试验引用标准条件若无其他规定.Tb=25C(见GB 458

14、9. 1第4.1条)检验要求规范值C5分组，温度快速变化(D)(非空封和环氧封的空封器件)随后进行:外部目检毯态湿热GB 4590,3.1条7.=一65C 7e=150C循环次教:500次t,=5minGB 4589.1,4.2. 1.AGB 4590,3.7条严格度Afill司:246同人1分组电测t(同A3分组)同A3分组同A3分组C6分组，0-态加速度(D )(空封器件)最后测t(同A3分组)GB 4590,2. 10条加速度按规定同A3分组同A3分组C7分组稼态湿热(D)a.空封器件b.非空封器件GB 4590,3.6条GB 4590,3.7条严格度D:56d严格度A，时间:10006

15、最后测t(同A2,A3分组)同A2,A3分组同A2,A3分组C8分组电耐久性(10006)最后测t(同B8分组)C9分组高温贮存最后侧t(同B8分组)GB 4590,4. 7条同B8分组同bB分组同BS分组GB 4590,3.3条温度按孔琳mnx)of l旬10006同B8分组同B8分组C11分组标志耐久性GB 4590,4. 3条按方法2.溶液A型按GB 4590.4. 3. 2条C23分组抗溶性(D)(非空封器件)GB 4590,4.4条按GB 4590.4.4.2条按GB 4590,4.4.2条125SJ/T 10079-91C组周期(续)检验或试验引用标准条件若无其他规定,T.b-25

16、C(见GB 4589. 1第4.1条)性脸要求规范值C24分组易姗性(D)(非空封器件)GB 4590,4.1条按GB 4590.4.1. 2条按GB 4590.4.1.2.条CRRL分组就C2b,C3,C4,C5,C6,C7,C8,C9,CI1,C23和C24分组提供计效检查结果.注1)连续三次通过后，周期可放宽为一年一次.9 D组D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行.其后每年进行一次。检脸或试脸引用标准条件若无其他规定，T.b-25C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值D8分组电耐久性(D)最后侧t(同B8分组)GE4590第4. 7条.类:2000b，类:3000h其他同B

17、8分组同I.1分组同B8分组10附加资料10.1静态特性的测2静态特性的测A按GB 3439(半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理。10.2动态特性的测量10.2.1动态特性的测里按GB 3439,126s,1 /T 10079-9110-2.2负载线路接被侧箱出端15DP10.3电耐久性试验线路Vm=3V f，二l00kHz f=50kHz V二二5V R二40011+v-奋F11型号说明127一SJ/T 10079-9111.1逻辑符号(pG曰.t_址21COcl.一氏一仇瓦“几、代;.;2;.;淤CO.-1tlU一卜-戈G.,个rCO:一妞69)或5)CO.毕1)COP一心尸一G一

18、6pG尸乙FFl一二V.t15)!1a )Gs/Zlo2iG4ZEG62了3GSZ9104IIr(7】P t 65减七0)11.2逻辑图妇O0128SJ/T 10079-9111.3功能表输入输出G3己:G,百。P3 P, P,P.L X X X X X XXLXXLXXXXLXL L XXXXL L L L所有其他组合LLLLH输入输出弓:己ICu Pz P, Po Cl.On+,LXX X X XXx L X L X X xX X L L L XXx X X L L L H所有其他组合HHHHL输入输出G,氏P, PO Cl.CO.-L XXX XXL L X XXXL 1, H所有其他组

19、合HHHL兰C:l输出CO.-HHl输入输出P3 P, P, POp，L L L L所有其他组合L曰XH氏一XL矶一Lx所有其他组合11.4引出端符号名称引出端符号名称Ch进位物入端CO.- ,CO,+r,CO,+z进位输出端pc进位产生输出端(低电平有效)Fr进位传输输出端(低电平有效)己0-己3进位产生输入端(低电平有效)go“ g3进位传愉输入端(低电平有效)129SJ/T 10079-91附录A筛选(补充件)I类器件:生产厂自行规定筛选条件。，类器件:筛选项目和条件如下:等级A等级B等级C内部目栓GB 4590 4.6条高沮祖定GB 4590 3.3条1501;,966租态加速度“GB

20、 4590 2. 10条老化前电侧t同A3分组剔除不合格品老化GB 4590 4. 7条T,mb最大2406老化后电测t同A3分组，副除不合格品。若不合格品率大于5%则该批拒收。内部目检GB 4590 4. 6条高沮租定GB 4590 3.3条150C,481,温度快速变化GB 4590 3. 1条一65-1501C. 10次租态加速度”GB 4590 2.10条密封，GB 45903.12条和3.13条老化前电测量同A3分组剔除不合格品老化GB 4590 4. 7条Tamb最大、1686老化后电测盘同A3分组.剔除不合格品若不合格品率大于5%.则该批拒收.老化后电测t同A3分组剔除不合格品。注1)不适用于非空封器件.130SJ/T 10079-91附加说明:本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。本标准由北京八七八厂负贵起草.本标准主要起草人:孙人杰。131