SJ T 10077-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CJ75491型MOS-LED显示驱动器.pdf

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1、Si中华人民共和国电子工业行业标准s.J/T 10074一10077-91电子元器件详细规范半导体集成电路接口电路(一)1991一04-08发布1991-07-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路Q 75491型MOs-LED显示驱动器Detail specification for electronic componentsSemiconductor integrated circuitMOS-LED displaydriver type CJ 75491SJ/T 10077-91本规范规定了半导体集成电路CJ 75491型M

2、OS-LED显示驱动器质是评定的全部内容。本标准符合GB 4589. It半导体器件分立器件和集成电路总规范和GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求。中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准1991-07-01实施一41一SJ/T 10077-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质量的依据:GB 4589. 1(半导体器件分立器件和集成电路总规范GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)SJ/T 10077-91CJ 75491型MOS-LED显示驱动器详细规范订货资料:见本规范第7章1机械说明外形依据:GB 7092半导体集成电路外形

3、尺寸外形图:GB 7092J $1 5. 4 5. 4. 1 s,P 5. 5 rbt 5. 5. 1F 5.1 t&5.1.1 引出端排列:，*汀下，几I I4AIC I 1只12 1-14CGND 1 14ll 1 1 V.2C r 1斤10 1 13C2At匕一止尸3A引出端符号的名称见本规范第11章标志:按GB 4589. 1第2. 5条及本规范第6章2简要说明双极型显示驱动器电路半导体材料:硅封装:空封、非空封逻辑符号、逻辑图和功能表:见本规范第11章品种:M-R 5RA0-70CJ (C) (J) CJ 75491CJ IP) CJ 75491CPR 4md (F) CJ 7549

4、1CF 1 141: 2 13 3 12. 4 II:5 10:.6 9783质f评定类别1，A，B,，CSJ/T 10077-914极限值(绝对最大额定值)若无其它规定，适用于全工作温度范围。条款号参数符号数值单位最小最大4.1工作环境温度T.b0704.2贮存温度T一651504.3电饵电压(T.mb=25C )V10v4.4输入电压v,1Ov4.5输入电流1,3.3v4,6输出电流lo50mA5电工作亲件和电特性电特性的检验要求见本规范第8章。5.1电工作条件若无其它规定，适用于全工作温度范围。条款号参数符号数值单位最小最大5.1.1电源电压V.s10v5.1.2输入高电平电压V,xV+

5、2v5.1.3输入低电平电压Va0.8v5.2电特性若无其它规定，适用于全工作温度范围，V. =1ov.条欲号特性和条件符号规范值单位试脸网最大5.2.1导通态C-E间电压v，二s. 5v(接An电阻)V，二5V I。二50mAVce,ON,1.21)VA3/A3a/A3b1.55.2.2截止态集电极电流I，=4如AVe =0人=V V,二0. 7VIcm,100mAA3/A3a/A3b5.2.3输入电流V, = V. VE =0V Ic =20mAI,3.3mAA3/A3a/A北5.2.4发射极反向电流V, =0V V二5V Ic =0Imee,100pAA3/A3a/A3b5.2.5流入V

6、.端电流1.1mAA3/A3a/A3b注:1) T“二2VC ,一43一S3/T 10077-916标志器件上的标志示例:口口认证合格标志(适用时)一引出端识别标志G 7549十一型号制造单位商标口刁-质量评定类别栓晚批识别代码若受器件尺寸限制时，允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面.订货资料若无其它规定，订购器件至少需要下列资料:a.产品型号;b详细规范编号;c.质量评定类别;d.其它。8试验条件和检验要求抽样要求:根据采用的质量评定类别，参照GB/T 12750第9章的有关规定。A组检验的抽样要求分组AQL，类，类ILAQLILAQLA1互0.65I0.65A2l0.1I

7、0.1A3I0.1510.15A3aS41.0S41.0A3bS41.0S41.0SJ/TID077一91B组、C组和D组检验的抽样要求分组L月rPOI类l类ABCB115151515cl2。一2020B3C3l5151515B4C410101010BSCS 一1。一10C62020202OC715151515BSCS 51null一710C9155715Cll202020205211101015C2320101520C24201O1520Dsl105710A组逐批全部试验均为非破坏性的(见GB4589.1第3.6.6条)检验或试验引用标准若无其矗定.磊一25(见CB4589.1第魂.1条)检

8、脸要求规范值A飞分组外部目检GB4589。1第4.21.1条标志清晰，表面无损伤和气孔AZ分组功能脸证按本规范5.2.1条和11.3条篇整忿条人3分组25下的静态特性GB6799半导体集成电路接口电路器器耀犷按本规范5.2.1条至5.25条和10.1条数黔宾2条A3a分组盖篡吞霍温度下的G习67，9T.袖按本规范4.1条规定的最大值.条件:同A3分组同人3分组A3b分组普馨看霍温度下的GB6799搬.气键蔷九愁摺见定的最同A3分组一45一SJ/T 10077-91B组逐批标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589. 1第3.6.6条)检验或试验引用标准条件若无其它规定，T,mb=25C(见G

9、B 4589.1第4.1条)检验要求规范值Bl分组尺寸GB 4589. 1第4.2.2条及附录B按本规范第1章B3分组引线强度弯曲(D)GB 4590(半导体集成电路机械和气候试验方法第22条外加力的值按第2.2条表2乓损伤B4分组可挥性GB 4590第2.5条按方法b(槽焊法)按2.5卜6条B5分组温度快速变化a.空封器件随后进行:电测琶密封:细检漏粗检漏b。非空封和环氧封的空封器件随后进行:外部目检稳态湿热电测磨GB 4590第3. l条GB 4590第3. 12条GB 4590第.s. i 3条GB 4590第3.11条GB 4589.1第4.2，1.1条GB 4590第3.7条温度:按

10、本规范第4.1条规定循环次数:10次t, =5min同A2,A3分组恢复21,按规定按规定温度，按本规范第4.1条规定循环次数10次F, -5min按规定严格度A时间2,11,同人2、人3分组同A1分组同A2,A3分组B8分组电耐久性(16811)最后测谙(同A2,A3和A4分组)GB 4590第4.7条 nnib按本规范4.1条规定的最大值，其它按本规范10.3条同A2,A3和A4分组同A2, A3和A4分组一46一SJ/T 10077-91B组逐批(续)检验或试验引用标准条件若无其它规定,T.6=250(见GB 4589. 1第4.1条)检脸要求规范值B21分组高压燕汽(D)(非空封器件)

11、最后测t(同A2和A3分组)GB 4590第4.5条严格度C时间:24U同人2和A3分组同A2和A3分组CRRL分组就B3,B4,B5,B8和B21分组提供计数检查结果.C组周期标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589. 1第3. 6.6条)检验或试验引用标准条件若无其它规定，T. m二25C(见GB 4589.1第4.1条)检脸要求规范值C1分组尺寸GB 4589.1第4.2.2条及附录B按本规范第1章C3分组引线强度拉力(D)GB 4590第2.1条外加力的值按2.1条表I按2.1.5条C4分组耐焊接热(D)最后测盆(同A3分组)GB 4590第2. 6条按方法1(2600槽焊)同A3

12、分组同A3分组C5分组，温度快速变化(D)(非空封和环氧封的空封器件)随后进行外部目检祖态湿热电测t(同A3分组)GB 4590第3.1条GB 4589.1第4.2.1.1条GB 4590第3.7条T=一55C Tx =150C循环次数:500 t, =5 nun严格度A时间:24h同A3分组同A1分组同A3分组SJ/T 10077-91C组周期(续)检验或试验弓I用标准条件若无其它规定，T.mb=25C(见GB 4589.1第4.1条)检验要求规范值C6分组，毯态加速度(D)(空封器件)最后测童(同A3分组)GB 4590第2.10条加速度按规定同A3分组同A3分组C7分组祖态湿热(D)a.

13、空封器件b非空封器件最后测t(同A3分组)GB 4590第3. 6条GB 4590第3.7条严格度D严格度人时间1000h同A3分组同A3分组C8分组电耐久性(10006)最后测t(同B8分组)GB 4590第4.?条同B8分组同B8分组同B8分组C9分组高温贮存(D)最后测盆(同B8分组)GB 4590第3.3条温度按T。衫max)时间1000h同B8分组同B8分组C 11分组标志耐久性GB 4590第4.3条按方法2,溶掖:A型按4.3.2条C 23分组抗溶性(D)(非空封器件)GB 4590第4.4条按4.4.2条按4.4.2条C 24分组易嫩性(D)(非空封器件)GB 4590第4.1

14、条按4.1.2条按4.1.2条CRRL分组就C3,C4,C5,C6,C7,C8,C9,C11,C23和.1024分组提供计数检查结果。注1)连续三次通过后，周期可延长为一年一次.9 D组一48一Sd/T 10077-91D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行，其后每年进行一次。检验或试验引用标准条件若无其它规定.T.mb=25(见GB 4589. 1第4.1条)枪验要求规范值D8分组电耐久性(D)最后侧t(同B8分组)GB 4590第4.7条，类i2000h，类,3000h其它同B8分组同B8分组同B8分组10附加资料10.1静态特性的测量静态特性的测童按GB 6799的规定。10.2动态特性的

15、测量10.2.1基本测试线路按GB 6799的规定。10-2.2负载线路侧试点v.C月下|土C一包括探头及夹具的电容10.3电耐久性试验线路50tH.42004 15pP2004“13找”102009200015Dp15叨15D10SJ/T 10077-9110.4特性曲线制造厂应提供各种特性曲线。11型号说明11.1逻辑符号(2)1EJA(1)(3) lc2A(7)(6)2C(6)2E3A(盆)(9)3E(10)3C引出端符号名称A物入E输出C输出4A(14):;11.2们.3逻辑图(1J 4功能表AEcLHL HH L一50一SJ/T 10077-91附录A筛选(补充件)I类器件:生产厂自行规定筛选条件.，类器件:筛选项目和条件如下:等级A等级B等级C内部目检GB4590第4. 6条怒努煞.，条，一55C-1251C,10次租态加速度nGB 4590第2.10条密封，GB 4590第3.12条和3. 13条老化后电测t同A3分组.剧除不合格品.若不合格品率大于5%,则该批拒收。注:”不适用于非空封器件。一51一SJ/T 10077-91附加说明:本标准由全国集成电路标准化技术委员会提出。本标准主要起草人:胡思蔚、胡燕。