SJ T 10040-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CC4019型 CMOS 四2选1数据选择器.pdf

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1、rIL .J中华人民共和国电子工业行业标准s.i/T 10040-91电子元器件详细规范半导体集成电路CC4019型CMOs四2选1数据选择器1991一04-08发布1991一07-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CC4019型CMOs四2选1数据选择器Detail specification for electronic componentSemiconductor integrated circuit-CC4019CMOS Quad 2-line to 1-line data selectorSJ/T 10040-91本

2、规范规定了半导体集成电路CC4019型CMOS四2选1数据选择器质量评定的全部内容。本规范是参照GB 9424CCMOS数字集成电路4000系列电路空白详细规范制订的，并符合GB 4589. 1半导体器件分立器件和集成电路总规范及GB 12750+半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求.中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准1991-07-01实施一1一SJ/T 10040-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质童的依据:GB 4589. 1半导体器件分立器件和集成电路总规范GB 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)SJ/T 10040-91CC 4019型

3、四2选1数据选择器详细规范订货资料见本规范第?章。1机械说明外形依据:GB 7092半导体集成电路外形尺寸.外形图按GB 7092DP圈引出端排列:一又夕一 _15匡一习、3D,匡习二3D,匡习A,2D,匡习4Y2D,区习3YID,区习2Y旧.匡IY、匡习.引出端符号名称见本规范第11.1条标志:按GB 4589. 1条第2. 5条及本规范第6章。2简共说明CMOS型数据选择器半导体材料:硅封装:空封、非空封逻辑图、功能表见本规范第11章.品种:理注意:静电徽感器件O型5.3及5.3.1J型5.4及5.4.1P型55及5.5.1从-40十85(E)一55ro十1251r(M)F型5.1.1肉瓷

4、直抽(D)CC4019EDCC4019MD黑瓷直抽(J)CC4019EJCC4019MJ D塑料直擂(P)CC4019EP多层陶瓷扁平(F)CC4019EFCC4019MF3质t评定类别1，A.11B.11C一2一SI/e 10040-914极限值(绝对.大额定值)若无其他规定，适用于全工作温度范围。基准电压为V.。条款号参数符号数值单位最小最大4.1电源电压V-0.518V4.2输入电压Vl-05Vm+O. 5V43输入电流(id10.A4.4工作环境温度范围MT-一55125-4085E4.5贮存温度范围Tstg一651504.6每个封装的功耗曰Pn500mW注:”P型封装在60以上，D,

5、J,F型封装在100以上时，PD按12.W/C线性降翻.5推荐工作条件和电特性电特性的检验要求见本规范第8章。51推荐工作条件若无其他规定，适用于全工作温度范围.基准电压为V-。条款号参数符号数值单位最小最大5.几1电浑电压V加315V5.2电特性基准电压为V。一3一SJ/T 10040-91续表as7/T 10040-91续表6标志器件上的标志示例:CC4019 MD斗一一型号引出端识别标志自目2月口制造单位商标质t评定类别检脸批识别代码若受器件尺寸限制，允许将“检验批识别代码”、“质t评定类别”标在器件背面。了订货资料8.产品型号，b.详细规范的国家编号;c质量评定类别;d.其他。8试验条

6、件和检验要求若无其他规定，本章引用条款均为GB 4589. 1的条款。抽样要求:根据采用的质量评定类别，按GB 1275。第9章的有关规定。一5一SJ/T 10040-91A组检验的抽样要求分组AQL，类，类ILAQL几AQLA1I0.65l0.65人2I0.1I0.1A3I0.15I0.15MaS41.0S41.0A3bS41.0S41.0A4S41.0S41.0B组、C组和D组检验的抽样耍求分组LTPDx类.类ABCB115151515C120202020C2b(1) C2b(2)15、151515B315151515B4 C410101010B5 C510101010C620202020

7、C715151515B8 C8105710C9155715Cll20202020B2120101015C2320101520C2420101520D8105710一6一sJ/T 10040-91A组逐批全部试验均为非破坏性的(3.6.6)检验或试验引用标准 条件若无其他规定,Tb=25C检验要求规范值Al分组外部目检4.2.1.14.2.1.1厂标志清晰，表面无扭伤和气孔A2分组25下的功能验证按本规范5.22.5_2.3和11.2按本规范5.2.2.5.2.3和11.2A3分组25下的静态特性GB 3834半导体集成电路CMOs电路测试方法的荃本原理按本规范5.2.1至5.2.9和10.1按

8、本规范5.2.1至5. 2. 9A3 a分组，最高工作盆度下的静态特性CB3834T.mb按本规范4.4条件:同A3分组同A3分组A3 b分组，最低工作谧度下的静态特性GB 3834Tb按本规范4.4条件:同A3分组同A3分组A4分组25下的动态特性GB3834按本规范52.n，5.2.12和10.2按本规范5.Zn和5.2.12注:1)允许相关mf.B组逐批标有(D)的试验为破坏性的(3.6.6)检脸或试验引用标准 条件若无其他规定T.o.b=25*C检验要求规范值B7分组尺寸42.2及附录B按本规范第1章B3分组引线强度弯曲(D)拉力(D)GB 4590半导体集成电路机械和气候试脸方法D:

9、2条GB 4590.2. 1外加力的值按2. 2表2外加力的值按2.1表1无损伤B4分组可焊性GB 4590.2. 5按方法b(柑焊法)怪润良好7一SJ/T 10040-91续表检脸或试验引用标准 条件若无其他规定T,mb=25检验要求规范值B5分组温度快速交化:a)空封器件沮度快速变化随后进行:电侧t密封:细位漏粗检偏b)非空封及环权封空封器件沮度快速变化随后进行外部目检称态湿热电侧t(同A2和A3分组)GB 4590,3.1CB 4590,3.11或3.12GB 4590,3.13GB 4590,3.14.2.1.1GB 4590,3.7T,=-65C ,Te=150r循环次数:10同A2

10、和A3分组按规定按规定T二一65C ,T.二1500循环次数:10严格度A : (85C , 85肠R. H)24h同A2和A3分组同A2和A3分组同A2和A3分组B8分组电耐久性(168h)最后侧f(同A2,A3和A4分组)GB 1275,12.3退度按本规范4.4最大值，其他按本规范10.3同A2,A3和A4分组同A2,A3和A4分组B21分组高压燕汽(D)(非空封器件)最后侧t(同A2和A3分组)GB 4590,4.5严格度C. 24h同A2和A3分组同A2和A3分组CRRL分组就B3,B4,BS,B8和B21提供计数检查结果C组周期标有(D)的试验为破坏性的(3.6.6)检验或试脸引用

11、标准 条件若无其他规定T.mb=25C检验要求规范值c1分组尺寸C2 b分组(1)最高和最低工作很度下的功能验证4.2.2及附录BGB 3834同A2分组按本规范第1章同A2分组一8一SJ/T 10040-91续表检验或试验引用标准 条件若无其他规定T,mb= 25C检验要求规范值C2 b分组(2)最高和最低工作温度下的动态特性GB 3834按本规范5.2.11,5.2.12和10.2小于1. 5USL“C4分组耐焊接热(D)最后侧t(同A2和A3分组)GB 4590,2.6按方法1同A2和人3分组同A2和A3分组C5分组.，温度快速变化(D)(非空封及环氧封空封器件)随后进行:外部目检稳态湿

12、热电测t(同A2和A3分组)(;B4590,3.14.2.1.1GB 4590,3.7TA二一“C ,T.=1500循环次数;500严格度A(85C,85纬R. H)24h同A2和A3分组同A2和A3分组C6分组11稳态加速度(D)(空封器件)最后测t(同A2和A3分组)GB 4590,2. 10加速度，196000m/s同A2和A3分组同A2和A3分组C7分组稳态湿热(D)a)空封器件幻b)非空封及环氧封空封器件最后测t:(同A2和A3分组)GB 4590,3.6GB 4590,3.7严格度D: 56d严格度A: (85,0,85%R. H)时间:30006同A2和A3分组同A2和A3分组C

13、8分组电耐久性(10006)最后测t(同A2,A3和A4分组)CB12750.12.3同B8分组同A2,A3和A4分组同A2,A3和A4分组C9分组商温贮存(D)最后侧盆(同A2,A3和A4分组)GB4590.3. 3loooh严格度C, 150C同A2,A3和A4分组同A2,A3和A4分组一9一SJ/T 10040-91续表检验或试验引用标准条件若无其他规定Tt= 25 C检验要求规范值C11分组标志耐久性(;B4590,4.3按方法1:溶液A型按GB 4590,4.3.2C23分组抗溶性(D)非空封器件)GB 4590,4.4按GB 4590,4.4.2按GB 4590,4.4.2C24分

14、组易燃性(D(非空封器件)GB 4590,4. 1按GB 4590,4.1.2按GB 4590.4.1. 2CRRL分组就C4,C5,C6,C7,C8,C9,C11,C23和C24提供计数检查结果.注:1) USL表示A组规范值的最大值.2)连续三次通过后.周期可放宽为一年一次.gD组D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行，其后每年进行一次。检验或试验引用标准条件检脸要求规范值D8分组电耐久性(D)最后测量:(同A2,A3和A4分组)GB 12750,12.3e类:20001,.类30001其它同B8分组同A2,A3和A4分组同A2,A3和A4分组附加资料静态特性的测量n曰nU月月JI符号侧试方

15、法GB 38341。 一所有输入端分别同时接v二和VaVo1 一输人端按功能表接Vn或v，Vo”一2.7一输入端按功能表接V2或VwV1l2.:一非被测输入端分别同时接Vu或VxxVIIt2.1非被测翰入端分别同时接Vss或V xxlo,.2.12输入端按功能表接Va或v，I-2.11输入端按功能表接v二或VwI2.10I,x 一10.2动态特性的测量一10一SJ/T 10040-9110.2.基本测试线路C, 侧试方法GB 3834非被测输入端按功能表接V Ss或V-负载线路输人端R, n C,Vn10.3电耐久性试验线路C,包括探头及夹具的电容凡。一IN112叽。f- 50七日Vr-13V

16、10.4特性曲线制造厂应提供各种电特性曲线，如典型的输出电流，功耗曲线及典型的传输延迟时间随负载电容的变化曲线。11型号说明11.1逻辑符号和逻辑图s,J/T 10040-91a.逻辑符号Ao(9)AI(14)引出端符号名称Ao-A,选择输入D D,教据输入Y数据翰出b.逻辑图A,.1氏1D2D,2D,犯。3D,4D.4D,决.盘l加加alSJ/T 10040-9111.2功能表输入翰出A.A1DoD皿YHXHXHHXLXLXHXHHXHXLLLLXXLHHLLLHHLHHHHHLHHHHHH一13一s/r 10040-91附录A筛选(补充件).类器件:制造厂应规定必要的筛选项目和条件。，类器

17、件:按下述筛选程序进行。，A，B，c内部目枪GB 4590,4. 6稳态加速度1)GB 4590,2. 10电测量(老化前)同A3分组易组除不合格品老化GB 4590,4. 7T max,240h内部目检GB 4590,4. 6温度快速变化GB 4590,3. 1一65-+150C .10次密封UGB 4590,3. 11或3.12及3.13电测量(老化后)幻同A3分组。剔除不合格品丙部目检GB 4590,4.6电测盈(老化前)同A3分组易口除不合格品老化GB 4590,4. 7T.me max,168h电测t(老化后)同A3分组。易口除不合格品一14一SJ/T 10040-91注11)不适用于非空封器件。z)不合格品超过5%，则批拒收。附加说明:本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。本标准由上海无线电十四厂负责起草.本标准主要起草人:吴志龙、金宗仙。