SJ T 10039-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CC4028型CMOS4线-10线译码器 .pdf

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1、SJ中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T 10039-91电子元器件详细规范半导体集成电路CC4028型CMOS4线一10线译码器(BCD输人)1991一04-08发布1991-07-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CC4028型CMOS4线一10线译码器(BCD输人)SJ/T 10039-91Detail specification for electronic componentSemiconductor Integrated circuit-CC4028CMOS 4-line to 10-line decoder (

2、with BCD-in)本规范规定了半导体集成电路CC4028型CMOS4线一10线译码器质盆评定的全部内容。本规范是参照GB 9424 (CMOS数字集成电路4000系列电路空白详细规范制订的，并符合GB 4589. 1半导体器件分立器件和集成电路总规范及GB 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求.中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准1991-07-01实施一1一SJ/T 10039-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质t的依据:GB 4589. 1(半导体器件分立器件和集成电路总规范GB 12750(半导体集成电路分规范(不包括混合电路)SJ/T 1

3、0039-91CC 4028型4线-10线译码器详细规范订货资料:见本规范第7章。1机械说明外形依据:GB 7092半导体集成电路外形尺寸.外形图:按GB 7092A$1 12P到引出端排列:_、少一、 .、匡一习00Y,匡习Y,Y,匡习Y,Y,区习A,+Y,匡习A,Y,匡习，Y,匡习.、区习、引出端符号名称见本规范第11.1条标志:按GB 4589. 1条第2.5条及本规范第6章。2简要说明CMOS型译码器半导体材料:硅封装:空封、非空封逻辑图、功能表见本规范第11章.品种:1 apt(E)Of lk ACC4028MDAlkla C04028MJ(P) CC4028EP0;RPVk.IjT

4、(E) CC4028EF CC4028MF注意:静电敏感器件D型5.3及5，3.1J型5. 4及5.4.1域-40-+SSC (E)-55+125 C (M)P型5.5及5.5.1F型5.1.1陶瓷直插(D)CC4028ED、训J怪U压W】J黑瓷直擂J)CC4028EJC04028MJl.J塑料直插(P)CC4028EP多层陶瓷扁平(E)CC4028FFCC4028MF3质t评定类别I，I A,皿S，万C一2一sJ/T 10039-914极限值(绝对.大颇定值)若无其他规定，适用于全工作温度范围.基准电压为V.条款号参数符号数值单位最小最大4.1电像电压V加一0.518v4.2输入电压V,-0

5、.5V-+O. 5v4.3物人电流IJ,I10.A4.4工作环境温度范围MT.mb一55125一4085E4.5贮存温度范围了目一651504.6每个封装的功耗”尸。500.W注,1) F型封装在60以上.D,J,F型封装在100以上时.PD按12mw/C线性降额.5推荐工作条件和电特性电特性的检验要求见本规范第8章。5.1推荐工作条件若无其他规定，适用于全工作温度范围。基准电压为V_ .条歌号参数符号数值单位最小最大5.1.1电流电压V-315v5.2电特性基准电压为V.。条款号特性和条件V-V;符号规范值.单位试脸-55-40C251C85C125V最小最大.小网最小网最小l最小闷5.2.

6、1电谭电流Vu.0Vac,V,x=Vno5Ioo555150150尸AA3.气3a.A3b10101030030010152020206006005.2.2输出低电平电压V=Vn.Va,=Voolio11泌5一Nor0.05一.0同0.050.05VA3，气3a.A3b100.05同几n亡0.05司0.05网同同祠15一3一sJ/T 10039-91一4一SJ/T10039一91条款号特性和条件挤份二V符号规范值单位试脸一55一一402585125最小最大最小网最小网最小网最小网互_，_19输出转换时间同5.2.UV:，二90%(VO。一VoL)v:二二1。%(v叫一v饥)5T卜L200】功A

7、410010l5806标志器件上的标志示例:型号引出端识别标志8824田质t评定类别制造单位商标检验批识别代码若受器件尺寸限制，允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。订货资料产品型号;详细规范的国家编号;质t评定类别;其他。a.阮d.试验条件和检验要求若无其他规定，本章引用条款均为GB4589.1的条款抽样要求:根据采用的质量评定类别，按GB12750第9章的有关规定。A组检验的抽样要求分组AQL，类l类ILAQL1LAQLA110.65皿0。65A210.1互0.1A3l0.15l0.15A加一一S41.0A3bS41。0S4l0A4S41.0S41。05s7/T 1003

8、9-91B组、C组和D组检验的抽样要求分组LTPDI类I类ABCB115151515C120202020C2b(1)C2b(2)15151515B315151515B4 C410101010B5 C510101010C620202020C715151515B8 C8105710C9155715C1120202020B2120101015C2320101520C2420101520D8105710A组逐批全部试验均为非破坏性的(3.6.6)检验或试验引用标准 条件若无其他规定,T.6二25C检验要求规范值AI分组外部目检4.2.1.14.2.1.1标志清晰，表面无损伤和气孔A2分组25下的功能验

9、证按本规范5.2.2,5.2.3和11.2按本规范5.2.2.5.2.3和11.2A3分组25下的静态特性GB 3834半导体集成电路CMOs电路测试方法的墓本原理按本规范5. 2.1至5.2.9和10.1按本规范5.2.1至5.2.9一6一Sl/T 10039-91续表检脸或试验引用标准 条件若无其他规定.T.mb=25C检验要求规范值A3 a分组v最高工作温度下的静态特性GB 3834T.mb按本规范4.4条件:同A3分组同A3分组A3 b分组v最低工作温度下的静态特性GB 3834T.按本规范4.4条件:同A3分组同A3分组A4分组25下的动态特性GB 3834按本规范5.2.11.5.

10、2.12和10.2按本规范5.2.11和5.2.12注:1)允许相关侧)t.B组逐批标有(D)的试验为破坏性的(3.6. 6)检验或试验引用标准 条件若无其他规定T.mb=25C检验要求规范值B1分组尺寸4.2.2及附录B按本规范第1章B3分组引线强度弯曲(D拉力(D)GB 4590半导体集成电路机械和气候试验方法2.2GB 4590,2. 1外加力的值按2.2表2外加力的值按2.1表1无损伤B4分组可焊性GB 4590,2.5按方法b(槽焊法)浸润良好B5分组温度快速变化a)空封器件温度快速交化随后进行:电侧t密封:细检漏粗检偏b)非空封及环氧GB 4590,3. 1GB 4590,3. 1

11、1或3.12GB 4590,3.13T二一65C,T,二150C循环次数:30同A2和A3分组按规定按规定同A2和A3分组一7一sJ/T 10039-91检验或试验引用标准 条件若无其他规定T.mb=25C检验要求规范值封空封器件温度快速变化随后进行外部目枪称态很热电侧t(同A2和A3分组)GB 4590,3.14.2.1.1GB 4590,3.7Te二一65C,T.二1500循环次数.10严格度A: (850,85% R. H)24h(同A2和A3分组)同AZ和人3分组B8分组电附久性(168h)最后侧t(同A2,A3和A4分组)GB 12750,12.3温度按本规范4.4最大值.其他按本规

12、范10.3同A2,A3和A4分组同A2,A3和A4分组B21分组高压燕汽(D)(非空封器件)最后测t(同A2和A3分组)GB 4590,4.5严格度C: 24h同A2和A3分组同A2和A3分组CRRL分组就B3,B4,B5,B8和B21提供计数检查结果C组周期标有(D)的试验为破坏性的(3.6.6)检验或试验引用标准 条件若无其他规定Temb=25检验要求规范值c1分组尺寸4.2.2及附录B按本规范第1章C26分组(1).高和最低工作温度下的功能验证GB 3834同A2分组同A2分组C2b分组(2)最高和最低工作温度下的动态特性GB 3834按本规范5.2.11.5.2.12和10.29于1.

13、 SUSL一8一S.1/T 10039-91检脸或试验引用标准 条件若无其他规定T.b=25C检毅要求规范值C4分组耐焊接热(D)最后侧t(同A2和A3分组)GB 4590.2.6按方法1同A2和A3分组同A2和A3分组C5分组.，沮度快速变化(D)(非空封及环暇封空封器件)随后进行:外部目检稼态湿热电侧t(同A2和A3分组)GB 4590,3. 14.2.1.1GB 4590.3.7T二一65C,T.=1501C循环次数,500严格度A (85C , 85 %R. H)24h同A2和A3分组同A2和A3分组C6分组，称态加速度(D)(空封器件)最后侧t(同A2和A3分组)GB 4590,2.

14、 10加速度:196000./s同A2和人3分组同A2和A3分组C7分组祖态湿热(D)a)空封器件”b)非空封及环氧封空封器件最后侧t:(同A2和A3分组)GB 4590,3.6GB4590,3.7严格度D: 56d严格度A(85C,85纬R. H)时间:1000h同A2和人3分组同A2和A3分组CB分组电耐久性(1000h)最后侧t(同A2, A3和A4分组)GB 12750,12.3同B8分组同A2,A3和A4分组同2, A3和A4分组C9分组商沮贮存(D)最后侧t同A2,A3和A4分组)GB 4590.3.31000h严格度C:150C同A2,A3和A4分组(同A2,A3和A4分组Cil

15、分组标志耐久性GB 4590,4.3按方法1:溶液A型按GB 4590.4. 3. 2一9一SJ/T 10039-91检脸或试验引用标准 条件翁无其他规定T.一25C检验要求规范值C23分组抗溶性(D)(非空封器件)GB 4590,4.4按GB 4590A. 4.2按GB 4590 ,4. 4. 2C24分组易姗性(D)(非空封器件)GB 4590,4. 1按GB 4590,4.1. 2按GB 4590,4.1.2CRRL分组就C4,C5,C6,C7,C8,C9,C11,C23和C24提供计数检查结果。注:1) USL表示A组规范值的最大值.2)连续三次通过后，周期可放宽为一年一次.9 D组D

16、组检验应在鉴定批准之后立即开始进行，其后每年进行一次.枪验或试脸引用标准条件检脸要求规范值D日分组电耐久性(D)最后侧t,(同A2,A3和A4分组)GB 12750,12.3.类e2000h，类,3000h其它同B8分组同人2,A3和A4分组同A2,A3和A4分组10附加资料10.1静态特性的测量符号侧试方法GB 3834I.2.15所有输入端分别同时接V二和VaV既2.8物入端按功能表接V二或v，V。“2.7输入端按功能表接Va或v，V几2.2非被甜输人端分别同时接V”或V，V川2.1非被侧输入端分别同时接v朋或V-IOL2.12物入端按功能表接V二或VwI-2.11翰入端按功能表接v二或v

17、a1u2.10I.2.910.2动态特性的测量一10一SJ/T 10039-91102.1基本测试线路符号测试方法GB 3834非被测墉入端按功能表接V.或V-10-2.2负载线路*A*一丁习凡“下C,“、一10.3电耐久性试验线路V,。一15VVzvppf-50kH气一ISV10.4特性曲线制造厂应提供各种特性曲线，如典型的输出电流，功耗曲线及典型的传输延迟时间随负载电容的变化曲线.11型号说明s)/T 10039-9111.1逻辑符号和逻辑图二逻辑符号引出端符号名称A,A,BCD翰入Y.-Y,十进制翰出式艺叽叽戈叽欣玄(3J(l4)(2)lt15)，(lr帅怜即b.逻辑图12SJ/T 10

18、039-9111.2功能表序号翰入输出A.A，A,AoY。Y,Y,Y,Y,Y,Y,Y7Y.Y，乃123456789LLLLLLLLHHLLLLHHHHLLLLHHiLHHLLLHLHLHLHLHHLLLLLLLLLLHLLLLLLLLLLHLLLLLLLLLLHLLLLLLLLLLHLLLLLLLLLLHLLLLLLLLLLHLLLLLLLLLLHLLLLLLLLLLHLLLLLLLLLLH无效HHHHHHLLHHHHHHLLHHLHLHLHLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLLL13SJ/T 10039-91附录

19、A偏选(补充件)I类器件:制造厂应规定必要的筛选项目和条件。i类器件:按下述筛选程序进行。IA.B，C内部目检GB 4590,4. 6稳态加速度1)GB 4590,2. 10密封1)GB 4590,3. 11或3.12及3.13电测量(老化后)2，同A3分组易4除不合格品温度快速变化GB 4590,3. 1一65- -F 150C ,10次稳态加速度1)GB 4590,2. 10密封1)GB 4590,3. 11或3.12及3.13电测量(老化后)。同A3分组剔除不合格品内部目检GB 4590,4.6电测量(老化后)的同A3分组易组除不合格品sJ/T 10039-91注:1)不适用子非空封器件，2)不合格矗翅过5%，则批拒收.附加说明:本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出.本标准由上海无线电十四厂负贵起草。本标准主要起草人:吴志龙、金宗仙。