ISO TR 10929-2012 Nanotechnologies - Characterization of multiwall carbon nanotube (MWCNT) samples《纳米技术 多壁碳纳米管(MWCNT)试样的表征》.pdf
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1、 ISO 2012 Nanotechnologies Caractrisation des chantillons de nanotubes en carbone multifeuillets (MWCNTs) Nanotechnologies Characterization of multiwall carbon nanotube samples Numro de rfrence ISO/TS 10929:2012(F) SPCIFICATION TECHNIQUE ISO/TS 10929 Premire dition 2012-01-15 ISO/TS 10929:2012(F) ii
2、 ISO 2012 Tous droits rservs DOCUMENT PROTG PAR COPYRIGHT ISO 2012 Droits de reproduction rservs. Sauf prescription diffrente, aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et l
3、es microfilms, sans laccord crit de lISO ladresse ci-aprs ou du comit membre de lISO dans le pays du demandeur. ISO copyright office Case postale 56 CH-1211 Geneva 20 Tel. + 41 22 749 01 11 Fax + 41 22 749 09 47 E-mail copyrightiso.org Web www.iso.org Publi en Suisse ISO/TS 10929:2012(F) Avant-propo
4、s LISO (Organisation internationale de normalisation) est une fdration mondiale dorganismes nationaux de normalisation (comits membres de lISO). L laboration des Normes internationales est en gnral confie aux comits techniques de lISO. Chaque comit membre intress par une tude a le droit de faire par
5、tie du comit technique cr cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec lISO participent galement aux travaux. LISO collabore troitement avec la Commission lectrotechnique internationale (CEI) en ce qui concerne la normalisation lectrotechniq
6、ue. Les Normes internationales sont rdiges conformment aux rgles donnes dans les Directives ISO/CEI, Partie 2. La tche principale des comits techniques est dlaborer les Normes internationales. Les projets de Normes internationales adopts par les comits techniques sont soumis aux comits membres pour
7、vote. Leur publication comme Normes internationales requiert lapprobation de 75 % au moins des comits membres votants. Exceptionnellement, lorsquun comit technique a runi des donnes de nature diffrente de celles qui sont normalement publies comme Normes internationales (ceci pouvant comprendre des i
8、nformations sur ltat de la technique par exemple), il peut dcider, la majorit simple de ses membres, de publier un Rapport technique. Les Rapports techniques sont de nature purement informative et ne doivent pas ncessairement tre rviss avant que les donnes fournies ne soient plus juges valables ou u
9、tiles. Lattention est appele sur le fait que certains des lments du prsent document peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. LISO ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et averti de leur existence. LISO/TR 1092
10、9 a t labor par le comit technique ISO/TC 229, Nanotechnologies. ISO 2012 Tous droits rservs iii ISO/TS 10929:2012(F) Introduction Du fait de la spcificit de leurs proprits lectroniques, lectromagntiques, thermiques, optiques et mcaniques, les nanotubes de carbone multiparois (MWCNT) sont des nanoma
11、triaux prometteurs pour de nombreux domaines industriels. Leurs possibilits dutilisation ont t envisages dans diverses applications telles que les panneaux daffichage mission de champ, les matriaux composites renforcs, les capteurs multifonctionnels et les lments de nouveaux circuits logiques lchell
12、e nanomtrique. Dans tous les cas, il est ncessaire de caractriser correctement les chantillons de MWCNT pour pouvoir fabriquer les produits requis. iv ISO 2012 Tous droits rservs Nanotechnologies Caractrisation des chantillons de nanotubes en carbone multifeuillets (MWCNTs) 1 Domaine dapplication Le
13、 prsent Rapport technique identifie les proprits fondamentales des nanotubes en carbone multifeuillets (MWCNTs) et la teneur en impurets qui caractrise les chantillons en vrac de MWCNTs, et met notamment laccent sur les principales mthodes de mesure mises la disposition de lindustrie pour dterminer
14、ces paramtres. Le prsent Rapport technique constitue une base pour la recherche, le dveloppement et la commercialisation de ces matriaux. Le prsent Rapport technique ne couvre pas la prparation des chantillons et le protocole de mesure. 2 Rfrences normatives Les documents de rfrence suivants sont in
15、dispensables pour lapplication du prsent document. Pour les rfrences dates, seule ldition cite sapplique. Pour les rfrences non dates, la dernire dition du document de rfrence (y compris les ventuels amendements) sapplique. ISO/TS 27687, Nanotechnologies Terminologie et dfinitions relatives aux nano
16、-objets Nanoparticule, nanofibre et nanofeuillet ISO/TS 80004-1, Nanotechnologies Vocabulaire Partie 1: Termes cur ISO/TS 80004-3, Nanotechnologies Vocabulaire Partie 3: Nano-objets en carbone 3 T ermes e t dfinition s Pour les besoins du prsent document, les termes et dfinitions donns dans lISO/TS
17、27687, lISO/TS 80004- 1 et lISO/TS 80004-3 sappliquent. SPCIFICATION TECHNIQUE ISO/TS 10929:2012(F) ISO 2012 Tous droits rservs 1 ISO/TS 10929:2012(F) 4 Abrviations AAS Spectromtrie dabsorption atomique (Atomic absorption spectrometry) DTA Analyse thermique diffrentielle (Differential thermal analys
18、is) EDS Spectromtrie rayons X dispersion dnergie (Energy dispersive X-ray spectrometry) EGA-GCMS Analyse des gaz dgags par chromatographie en phase gazeuse couple la spectromtrie de masse (Evolved Gas Analysis-Gas Chromatograph Mass Spectrometry) GC-MS Chromatographie en phase gazeuse couple la spec
19、tromtrie de masse (Gas chromatographymass spectrometry) HPLC-MS Chromatographie liquide haute performance couple la spectromtrie de masse (High Performance Liquid Chromatography-Mass Spectrometry) ICP-AES/OES Spectroscopie dmission atomique/spectroscopie dmission optique plasma induit (Inductively C
20、oupled Plasma-Atomic Emission Spectroscopy/Optical Emission Spectroscopy) ICP-MS Spectromtrie de masse plasma induit (Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry) SEM Microscopie lectronique balayage (Scanning Electron Microscopy) TEM Microscopie lectronique en transmission (Transmission electron m
21、icroscopy) TGA Analyse thermogravimtrique (Thermogravimetric analysis) XRD Diffractomtrie des rayons X (X-Ray Diffractometry) XRF Analyse par fluorescence rayons X (X-Ray Fluorescence) 5 Proprits fondamentales et teneur en impurets des MWCNTs: mthodes de mesure Le Tableau 1 identifie les proprits fo
22、ndamentales et la teneur en impurets des MWCNT pour la caractrisation des chantillons en vrac. Les proprits et les teneurs sont associes une ou plusieurs mthodes de mesure disponibles dans lindustrie. Bien quils ne soient pas dcrits dans le prsent Rapport technique, il convient de tenir compte de lc
23、hantillonnage et de lhomognit des chantillons. Tableau 1 Proprits fondamentales, teneur en impurets des MWCNTs et mthodes de mesure correspondantes Catgorie Proprit/Teneur Mthode MWCNT Diamtre extrieur TEM, SEM Diamtre intrieur TEM Distance entre feuillets XRD, TEM Longueur SEM, TEM Dsordre de la st
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