NF X43-296-1995 Workplace air X-ray determination of the conventional alveolate fraction of crystalline silica Sampling by membrane filter 《工作场所空气 X射线测定结晶二氧化硅的常规蜂窝状部分 用薄膜过滤器取样》.pdf
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1、AFNL NF X Y3-296 95 = LOL2372 0573Lb5 152 = ISSN 0335-3931 NF X 43-296 Juin 1995 Indice de classement : X 43-296 ICs : 13.040.30 Air des lieux de travail Dtermination par rayons X de la fraction conventionnelle alvolaire de la silice cristalline chantillonnage sur membrane filtrante E : Workplace ai
2、r - X-ray determination of the conventional alveolate fraction D : Luftbeschaffenheit am Arbeitsplatz - Rntgenstrahlen-Bestimmung des of crystalline silica - Sampling by membrane filter ko n ve nt i o n e I I a Ive o I eng n g i gen Qu a rzst a u bs - Me m bran f i I te r- Pro bena h me Norme franai
3、se homologue par dcision du Directeur Gnral de lAFNOR le 5 mai 1995 pour prendre effet le 5 juin 1995. COeSpOndanCe la date de publication du prsent document, il nexiste pas de travaux europens ou internationaux traitant du mme sujet. Analyse Le prsent document dfinit une mthode dchantillonnage sur
4、membrane filtrante pour la dtermination par rayons X de la concentration de la fraction conventionnelle alvolaire de silice cristalline. La mthode fournit la concentration moyenne de la fraction conventionnelle alvolaire pendant la dure dchantillonnage. Descripteurs Thsaurus International Technique
5、: air, qualit, pollution atmosphrique, local de travail, dtermination, concentration, silice, chantillonnage, dosage, rayon X, filtre. Modifications Corrections dite et diffuse par lAssociation Franaise de Normalisation (AFNOR), Tour Europe 92049 Paris La Dfense Cedex - Tl. : (1) 42 91 55 55 O AFNOR
6、 1995 AFNOR 1995 lertirage 95-06 AFNL NF X 43-296 95 LO12372 0573366 O99 M Air des lieux de travail AFNOR X43C Membres de la commission de normalisation Prsident : M HERVE-BAZIN Secrtariat : MME GUILLAUME -AFNOR M M M M M M MME M M M M M M M M M MME M MLLE MME M M M M M BAUJON BLONDEL BOINAY BOURALY
7、 CHAMPION CHERUBIN DEJEAN DE LA BATIE FOLE M PI N GUICHARD HERVE-BAZI N IDIER LAURENT LE LENDU MARTINON MONTMOREAU MOULE NE NIORT PAOLI PAUL PIVOTEAU PUJADE-RENAUD SLOIM STEFANN VICARD VU DUC LHCF ESSO SAF RHONE POULENC INDUSTRIALISATION ELF ATOCHEM CAL ARELCO ARC UNM UIC UN ICLI MA INERIS INRS PSA
8、LABO DHYGIENE DE LA VILLE DE PARIS ELF ATOCHEM CAL LEP1 AFF SA ENVIRONNEMENT SA INCHCAPE TESTING SERVICE ICs LCPP MINISTERE DU TRAVAIL- DRT RNUR METALEUROP SA LCPP MICHELIN ET CIE LAB SA IUMT AFNL NF X 43-276 95 W LOL2372 0573367 T25 W -3- NF X 43-296 Sommaire Page Avant-propos 4 1 Domaine dapplicat
9、ion . 5 2 Rfrences normatives . 5 3 Dfinitions . 5 4 Principe de la mthode 6 5 Matriel 7 6 Ractifs 7 7 Prparation des chantillons pour analyse 7 8 Analyse de lchantillon . 9 9 Calculs et expression des rsultats . 13 10 Rapport dessai . 13 11 Bibliographie . 14 Annexe A (normative) talonnage et rglag
10、e des dbits des pompes de prlvement 15 Annexe B (normative) Mthode de correction des effets de la matrice 17 Annexe C (informative) Procdure de traitement dun chantillon massif . 19 AFNL NF X 43-296 95 LOL2372 0573168 961 NF X 43-296 -4- Avant-propos La silicose est une des maladies professionnelles
11、 dont la prvalence reste leve, en France comme en de nombreux pays, depuis des dcennies. Elle est provoque par linhalation darosols contenant de la silice cristalline dont les particules sont susceptibles de se dposer dans les rgions profondes (zones non cilies et sacs alvolaires) de lappareil respi
12、ratoire. Bien quil soit suspect que la silice amorphe soit capable de provoquer des pneumoconioses, sa toxicit de ce point de vue parait nettement plus faible. Par ailleurs, le dosage spcifique de la silice amorphe (sans inclure les silicates, par exemple) ne peut tre effectu par diffraction de rayo
13、ns X. Aussi le prsent docu- ment dcrit-il une mthode qui nest applicable qu la silice cristalline. Un autre document, complmentaire, utilisant la technique dabsorption infrarouge avec transforme de Fourier, est en cours dlaboration. La mthode dcrite dans le prsent document comprend un ensemble de pa
14、rticularits qui rendent neces- saires le traitement dun nombre minimal dchantillons annuels et lacquisition dune certaine exprience pour la pratiquer avec discernement. En ce qui concerne lchantillonnage, il est ncessaire de connatre : - les dfinitions des diffrentes fractions conventionnelles et, e
15、n particulier, de la fraction alvolaire (voir NF X 43-259) ; - les appareillages utilisables pour les collecter et leurs caractristiques ; - les modalits dinterprtation des diverses donnes obtenues partir des chantillons. Ltude de la composition dun chantillon massif ou de poussire dpose ne permet p
16、as de dduire le pourcentage de silice cristalline de la fraction alvolaire. On constate en ralit que ce pourcentage est par- fois plus lev dans cette dernire. De mme, la connaissance de la pollution particulaire de granulomtrie alvolaire point fixe ne permet pas de prjuger de la pollution relle laqu
17、elle est expos un ouvrier donn, mme proche gographique- ment. La courbe dtalonnage donnant la quantit de silice cristalline en fonction de la masse de poussire d- pose sur le filtre utilis nest pas linaire, mme aux faibles chargements. Ce phnomne, dautant plus marqu que la surface de la membrane fil
18、trante est lisse, est d une orientation prfrentielle des parti- cules de silice cristalline par rapport au filtre. faible chargement, les surfaces les plus larges ont tendance se placer contre la surface du filtre. Quand une certaine quantit de particules de larosol a t collecte, ces phnomnes sattnu
19、ent progressivement. Cependant, lorsque la masse collecte continue daugmenter, labsorption des rayons X par la matrice ces- se de devenir ngligeable et il est ncessaire dintroduire des facteurs correctifs. Lappareillage de rayons X est coteux et son fonctionnement est, de prfrence, confi des technic
20、iens spcialiss (rglage de paramtres, contrles de drive, talonnage, paramtrage et suivi des program- mes informatiques, interprtation des diagrammes, etc.). Avertissement et prcautions de scurit - Diffraction de rayons X Le matriel, le procd et lorganisation du travail doivent tre conus de telle sort
21、e que les expositions professionnelles individuelles et collectives soient maintenues aussi bas quil est raisonnablement pos- sible, en dessous des limites prescrites par la rglementation en vigueur. - Manipulation de substances chimiques Manipuler tout produit chimique avec les prcautions exiges pa
22、r ses proprits physico-chimiques. En particulier, si des oprations de broyage dchantillons doivent tre effectues, viter toute exposition aux poussires. AFNL NF X 43-29b 95 LO32372 0.573369 BTB W -5- NF X 43-296 1 Domaine dapplication Le prsent document dcrit une mthode dchantillonnage sur les lieux
23、de travail de la fraction conven- tionnelle alvolaire darosols et le dosage, dans les particules collectes, de la silice cristalline. La mthode de dosage propose repose sur la diffractomtrie de rayons X et est applique la fraction col- lecte par un filtre situ dans un systme porte-filtre faisant sui
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