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    GB T 14849.4-2008 工业硅化学分析方法.第4部分 电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量.pdf

    • 资源ID:267083       资源大小:113.23KB        全文页数:6页
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    GB T 14849.4-2008 工业硅化学分析方法.第4部分 电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量.pdf

    1、ICS 7712010H 17 缮雪中华人民共和国国家标准GBT 1 484942008工业硅化学分析方法第4部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量Methods for chemical analysis of silicon metalPart 4:Determination of elements contentInductively coupled plasma atomic emission spectrometric method2008-0609发布 200812-01实施宰瞀徽鬻瓣警糌瞥星发布中国国家标准化管理委员会仅111刖 昂GBT 1484942008GBT 1

    2、4849o999 5时,即可进行分析溶液(64)的测定,根据光强度和浓度的关系计算机自动给出样品中各元素的质量浓度。7分析结果的计算按式(1)计算各待测元素的质量分数:w(x)一!二鱼!丕!丕墨圣!Q:!m0式中:w(x)待测元素的质量分数,();C自工作曲线上查得被测元素的质量浓度,单位为微克每毫升(tgmL);C。 自工作曲线上查得空白试验溶液中被测元素的质量浓度,单位为微克每毫升(pgmL)y测定试液体积,单位为毫升(mI。);m。试料的质量,单位为克(g);R稀释系数。8精密度GBIT 148494200881重复性在重复性条件下获得的两次独立测试结果的测定值,在以下给出的平均值范围内

    3、,这两个测试结果的绝对差值不超过重复性限(r),超过重复性限(r)的情况不超过5。重复性限(r)按表3数据采用线性内插法求得。表3l质量分数 O 005 0 0010 0 0050 0100 050 100l重复性限r 0000 5 0002 0 0 004 0 0011 0 03 00682允许差实验室之间分析结果的差值应不大于表4所列允许差。表4l质量分数 0005 0 0010 0 0050 0100 050 100I允许差R 0000 7 0002 0 0 005 0 0012 0030 0079质量保证与控制每月用自制的控制标样(如有国家级或行业级标样时,应首先使用)校核一次本标准分

    4、析方法的有效性。当过程失控时,应找出原因,纠正错误,重新进行校核。GBIT 1484942008附录A(资料性附录)标准贮存溶液的制备A1 铁标准贮存溶液(1o mgmL):准确称取1000 0 g金属铁(9999)于烧杯中,加入40 mL盐酸(34)加热溶解完全,取下冷却,移人l 000 mL容量瓶中,补加30 mL盐酸(34),用水稀释到刻度,摇匀。此溶液1 mL含10mg铁。A2 铝标准贮存溶液(10 mgmL):准确称取1ooo o g金属铝(9999)于聚四氟乙烯烧杯中,加入20mL水及3 g氢氧化钠(优级纯),使其完全溶解后,用盐酸(34)慢慢中和至出现沉淀,并过量20 mL,加热

    5、使其溶解,冷却,移入l 000 mL容量瓶中,用水稀释到刻度,摇匀。此溶液1 mI。含10 mg铝。A3钙标准贮存溶液(10 mglmL):准确称取2497 l g预先于105烘干的碳酸钙(基准试剂或优级纯),置于烧杯中,盖上表皿,加入10 mL水,逐滴加入盐酸(34)至完全溶解,再加入10 mL盐酸(34),煮沸除去二氧化碳,取下冷却,移人1 000 mL容量瓶中,用水稀释到刻度,摇匀。此溶液1 mL含1o mg钙。A4锰标准贮存溶液(10 mglmL):准确称取1000 o g锰(9999),置于400 mL烧杯中,盖上表皿,加入40 mL盐酸(34),缓慢加热至完全溶解,冷却,将溶液移人

    6、1 ooO mL容量瓶中,以水稀释至刻度,混匀。此溶液1 mL含I0mg锰。A5钛标准贮存溶液(10 mgmL):准确称取1ooo 0 g金属钛(9999)于铂坩埚中,加入少许水,慢慢滴加氢氟酸使样品溶解,滴加硝酸将低价钛完全氧化,加入10 mL硫酸(38),摇匀,加热蒸发至刚冒硫酸白烟,取下冷却后,将溶液移人1 000 mL容量瓶中,用硫酸(5)稀释至刻度,混匀。此溶液l mL含1O mg钛。A6镍标准贮存溶液(1o mglmL):准确称取1000 O g镍(9999)置于400m1烧杯中,盖上表皿,加入40mL盐酸(34),缓慢加热至完全溶解,冷却,将溶液移入1 ooo mL容量瓶中,以水稀释至刻度,混匀。此溶液l mL含1Omg镍。


    注意事项

    本文(GB T 14849.4-2008 工业硅化学分析方法.第4部分 电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量.pdf)为本站会员(testyield361)主动上传,麦多课文档分享仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对上载内容本身不做任何修改或编辑。 若此文所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知麦多课文档分享(点击联系客服),我们立即给予删除!




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