1、NF EN 60384-18-1mai 2008Ce document est usage exclusif et non collectif des clients Saga Web.Toute mise en rseau, reproduction et rediffusion, sous quelque forme que ce soit,mme partielle, sont strictement interdites.This document is intended for the exclusive and non collective use of Saga Web cust
2、omers.All network exploitation, reproduction and re-dissemination,even partial, whatever the form (hardcopy or other media), is strictly prohibited.Saga Web Pour SHANGHAI INTERNAT SCIENCE b) tolrance sur la capacit nominale ; c) tension continue nominale ; d) numro et rfrence de ldition de la spcifi
3、cation particulire et rfrence du modle ; e) instructions demballage. 1.7 Enregistrements certifis de lots livrs Exig/non exig. 1.8 Informations supplmentaires (non destines linspection) 1.9 Svrits ou exigences supplmentaires ou plus leves que celles spcifies dans la spcification gnrique et/ou interm
4、diaire NOTE : Il convient de spcifier les nouvelles exigences ou les exigences plus leves uniquement lorsquelles sont essentielles. Tableau 4 Autres caractristiques Ce tableau doit tre utilis pour dfinir des caractristiques supplmentaires ou plus svres que celles donnes dans la spcification intermdi
5、aire. 7 EN 60384-18-1:2007 2 Exigences dinspection 2.1 Procdures 2.1.1 Dans le cadre de lhomologation, les procdures doivent tre conformes au paragraphe 3.4 de la spcification intermdiaire IEC 60384-18. 2.1.2 Pour le contrle de conformit de la qualit, le programme dessai (Tableau 5) inclut lchantill
6、onnage, la priodicit, la svrit et les exigences. La formation des lots dinspection est dcrite au paragraphe 3.5.1 de la spcification intermdiaire. EN 60384-18-1:2007 8 Tableau 5 Plan dessai pour le contrle de conformit de la qualification Numro de paragraphe et essai aD douNDConditions dessai a IL d
7、 ndc d Exigences de performances aInspection du groupe A (lot par lot) Sous-groupe A0 ND 100%e4.22 Surintensit leve (si la spcification particulire lexige) Sous-groupe A1 ND S-3 f f 04.4 Examen visuel Comme en 4.4.2 Marquage lisible et comme spcifi en 1.5 de la prsente spcification 4.4 Dimensions (d
8、tail) b Comme spcifi dans le Tableau 1 de la prsente spcification Sous-groupe A2 ND S-3 f f 04.5.1 Courant de fuite Rsistance de protection : 10000,15 CU A4.5.2 Capacit Frquence : Hz Selon les tolrances spcifies 4.5.3 Tangente de langle de perte (tan )Frquence : Hz Comme en 4.5.3 Inspection du group
9、e B (lot par lot) Sous-groupe B1 D S-3 f f 04.5.4 Impdance (le cas chant) Frquence : Hz Comme spcifi dans le Tableau 3 de la prsente spcification 4.7 Brasabilit Mthode dessai : bain de brasure ou refusionComposition de la brasure : Type de flux pour le bain de brasure : non activ ou activ Temprature
10、 du bain de brasure ou profil de temprature de la refusion 4.7.2 Mesures finales Examen visuel Comme en 4.7.2 4.21 Rsistance au solvant du marquage c(le cas chant) Solvant : Temprature du solvant : Mthode 1 Matriau de polissage : ouate Temps de rtablissement : Marquage lisible a Les numros des parag
11、raphes des essais et des exigences de performances font rfrence la spcification intermdiaire, norme IEC 60384-18 et larticle 1 de la prsente spcification. b Cet essai peut tre remplac par un essai en production si le fabricant installe un contrle du processus statistique (SPC) surles mesures des dim
12、ensions ou un autre mcanisme permettant dviter que les pices dpassent les limites. c Cet essai peut tre effectu sur les condensateurs monts sur un substrat. d Dans ce tableau : IL est le niveau dinspection (Inspection Level) (CEI 60410) n est leffectif de lchantillon c est le nombre admissible dlmen
13、ts non conformes p est la priodicit en mois D signifie destructif ND signifie non destructif e Un essai de 100% doit tre suivi dune autre inspection par chantillonnage afin de contrler le niveau de qualit aprs inspection par lments non conformes par million (ppm). Le niveau dchantillonnage doit tre
14、tabli par le fabricant. Pour lecalcul des valeurs ppm, tout dfaut paramtrique doit tre compt comme un lment non conforme. f Nombre soumettre un essai : leffectif de lchantillon auquel la lettre didentification a t attribue directement pour le niveau dinspection dans le Tableau 2A de la norme CEI 604
15、10 9 EN 60384-18-1:2007 Tableau 5 (suite)Conditions dessai a Effectif de lchantillon et critre dacceptabilit dExigences de performances adNumro de paragraphe et essaiDouNDap n cInspection du groupe C (priodique) Sous-groupe C1 D 3 12 04.6 Rsistance la chaleur du brasage Profil de temprature : . Rtab
16、lissement : 24 h 2 h 4.6.3 Mesures finales Examen visuel Comme en 4.6.3 CapacitTangente de langle de perte Se reporter la spcification particulire 4.20 Rsistance au solvant des composants (le cas chant) Solvant : Temprature du solvant : Mthode 2 Se reporter la spcification particulire Rtablissement
17、: Sous-groupe C2 D 3 12 04.9 Essai de courbure du substrat (prcdemment, force dadhrence du revtement de surface)* Capacit et impdance (avec carte en position courbe) Se reporter la spcification particulire Mesure finale Examen visuel Aucun dgt visible Sous-groupe C3 D4.3 Montage Matriau du substrat
18、: * Examen visuel Aucun dgt visible Courant de fuite 0,15 CU A / F VCapacit C/C 5 % de la valeur mesure initialement Tangente de langle de perte Comme en 4.5.3 Impdance (le cas chant) Comme dans le Tableau 3 Sous-groupe C3.1 D 6 18 04.8 Essai de cisaillement (prcdemment adhrence) Examen visuel Aucun
19、 dgt visible 4.10.1 Mesure initiale Capacit (la valeur obtenue dans le sous-groupe C3 peut tre utilise) T4.10 Variation rapide de temprature A= Temprature de la catgorie infrieure TB = Temprature de la catgorie suprieure Cinq cycles Dure t = 30 min 1Rtablissement : 1 h 2 h Courant de fuite limite in
20、itiale 4.10.3 Mesures finales Capacit C/C 5 % de la valeur mesure en 4.10.1 Tangente de langle de perte limite initiale Impdance (le cas chant) Comme dans le Tableau 3 * Lorsque diffrents matriaux de substrat sont utiliss dans les sous-groupes, la spcification particulire doit indiquer le matriau de
21、 substrat utilis dans chaque sous-groupe. * Ne sapplique par aux condensateurs chipses, qui, conformment leur spcification particulire, doivent seulement tre monts sur des substrats en alumine. EN 60384-18-1:2007 10 Tableau 5 (suite)Numro de paragraphe et essai aD douNDConditions dessai a Effectif d
22、e lchantillon et critre dacceptabilit dExigences de performances ap n c4.11 Squence climatique 4.11.1 Mesure initiale Capacit4.11.2 Chaleur sche Temprature : temprature de la catgorie suprieure Dure : 16 h 4.11.3 Chaleur humide, cyclique, essai Db, premier cycle 4.11.4 Froid Temprature : temprature
23、de la catgorie infrieure Dure : 2 h 4.11.5 Chaleur humide, cyclique, essai Db, cycles restants Rtablissement : 1 h 2 h 4.11.6 Mesures finales Examen visuel Aucun dgt visibleMarquage lisible Courant de fuite limite initiale Capacit C/C 10 % de la valeur mesure en 4.11.1 Tangente de langle de perte 1,
24、2 fois la limite initiale Sous-groupe C3.2 D 6 9 04.12 Chaleur humide, essai continu Rtablissement : 1 h 2 h 4.12.1 Mesure initiale Capacit (la valeur obtenue dans le sous-groupe C3 peut tre utilise) 4.12.2 Mesures finales Examen visuel Aucun dgt visible Marquage lisible Courant de fuite limite init
25、iale Capacit C/C 10 % de la valeur mesure en 4.12.1 Tangente de langle de perte 1,2 fois la limite initiale Impdance 1,2 Fois la limite du Tableau 3 Sous-groupe C3.3 D 3 24 04.15 Endurance Dure : 1 000 h Temprature dessai : Temprature de la catgorie suprieure Tension applique : V Rtablissement : 1 h
26、 2 h 4.15.1 Mesure initiale Capacit (la valeur obtenue dans le sous-groupe 3 peut tre utilise) C/C 10 % de la valeur mesure en 4.15.1 4.15.3 Mesures finales Examen visuel Aucun dgt visible Marquage lisible Courant de fuite limite initiale Capacit C/C 10 % de la valeur mesure en 4.15.1 Tangente de la
27、ngle de perte 1,2 fois la limite initiale Impdance 1,2 Fois la limite du Tableau 3 11 EN 60384-18-1:2007 Tableau 5 (suite)Numro de paragraphe et essai aD douNDConditions dessai a Effectif de lchantillon et critre dacceptabilit dExigences de performances ap n cSous-groupe C3.44.13 Caractristiques hau
28、te et basse temprature Les condensateurs doivent tre mesurs chaque chelon de temprature tape 1 : 20CCapacit* A utiliser comme valeur de rfrence Impdance ( la mme frquence que celle de ltape 2) Tangente de langle de perte*A utiliser comme valeur de rfrence tape 2 : Temprature de la catgorie infrieure
29、 Capacit* C/C 20 % de la valeur mesure ltape 1 Impdance Rapport fonction de la valeur de ltape 1 : 2 fois Tangente de langle de perte*2 fois la limite initiale tape 3 : Temprature de la catgorie suprieure Courant de fuite A 125C (avec UR) :15 fois la limite dfinie en 4.5.1A 125C (avec UC) :8 fois la
30、 limite dfinie en 4.5.1A 105C (avec UR) :12,5 fois la limite dfinie en 4.5.1A 100C (avec UR) :12,5 fois la limite dfinie en 4.5.1A 85C (avec UR) :10 fois la limite dfinie en 4.5.1Capacit* C/C 20 % de la valeur mesure ltape 1 Tangente de langle de perte*limite initiale 4.19 Charge et dcharge (si nces
31、saire) Temprature : 20C Nombre de cycles : 106 Dure de charge : 0,5 s Dure de dcharge : 0,5 s 4.19.3 Mesures finales Courant de fuite limite initiale Capacit C/C 5 % de la valeur mesure ltape 3 de 4.13 * Le cas chant EN 60384-18-1:2007 12 Tableau 5 (suite)Numro de paragraphe et essai aD douNDConditi
32、ons dessai a Effectif de lchantillon et critre dacceptabilit dExigences de performances ap n cSous-groupe C3.5A D 12 6 04.17 Stockage haute temprature Temprature : temprature de la catgorie suprieure Dure : 96 h 4 h Rtablissement : 16 h min 4.17.1 Mesure initiale Capacit (la valeur obtenue dans le s
33、ous-groupe C3 peut tre utilise) 4.17.3 Mesure finale Examen visuel Aucun dgt visible Courant de fuite limite initiale Capacit C/C 5 % de la valeur mesure en 4.17.1 Tangente de langle de perte limite initiale 4.14 Surtension Nombre de cycles : 1 000 Temprature : C Tension : 1,15 UR ou 1,15 UCRsistanc
34、e de protection : RC = 0,1 s 0,05 s Dure de charge : 30 s Dure de dcharge : 5 min 30 s 4.14.3 Mesures finales Examen visuel Aucun dgt visibleCourant de fuite limite initiale Capacit C/C 10 % de la valeur mesure en 4.17.3 Tangente de langle de perte limite initiale Sous-groupe C30.5B D 12 6 004.16 Te
35、nsion inverse (si ncessaire) Dure : 125 h la temprature de la catgorie suprieure avec une tension continue de 0,15 UC en polarit inverse, suivi de 125 h la temprature de la catgorie suprieure avec une tension de catgorie en polarit directe 4.16.1 Mesure initiale Capacit (la valeur obtenue dans le so
36、us-groupe C3 peut tre utilise) 4.16.3 Mesures finales Courant de fuite limite initiale Capacit C/C 10 % de la valeur mesure en 4.16.1 Tangente de langle de perte limite initiale a Les numros des paragraphes des essais et des exigences de performances font rfrence la spcification intermdiaire, norme
37、IEC 60384-18 et larticle 1 de la prsente spcification. d Dans ce tableau : IL est le niveau dinspection (Inspection Level) (CEI 60410) n est leffectif de lchantillon c est le nombre admissible dlments non conformes p est la priodicit en mois D signifie destructif ND signifie non destructif _ 13 EN 6
38、0384-18-1:2007 Annexe ZA (normative) Rfrences normatives dautres publications internationales avec les publications europennes correspondantes Les documents de rfrence suivants sont indispensables pour lapplication du prsent document. Pour les rfrences dates, seule ldition cite sapplique. Pour les r
39、frences non dates, la dernire dition du document de rfrence sapplique (y compris les ventuels amendements). NOTE Dans le cas o une publication internationale est modifie par des modifications communes, indiqu par (mod), il faut tenir compte de la EN / du HD appropri(e). Publication AnneTitre EN/HD A
40、nne) )CEI 60384-1 (mod)- Condensateurs fixes utiliss dans les quipements lectroniques - Partie 1 : Spcification gnrique EN 60384-1 + corr. Octobre 20011 220011)CEI 60384-18 - Condensateurs fixes utiliss dans les quipements lectroniques - Partie 18 : Spcification intermdiaire - Condensateurs fixes le
41、ctrolytiques en aluminium pour montage en surface lectrolyte solide (MnO2) et non solide EN 60384-18 2007 2)1)CEI 60410 - Plans et rgles dchantillonnage pour les contrles par attributs - -1) Rfrence non date. 2) Edition valable la date de publication. III NF EN 60384-18-1 Condensateurs et rsistances pour quipements lectroniques UTE/UF 40 Liste des organismes reprsents dans la commission de normalisation Secrtariat : UTE BATSCAP GIXEL (GROUPEMENT DES INDUSTRIES DE LINTERCONNEXION, DES COMPOSANTS ET DES SOUS-ENSEMBLES ELECTRONIQUES)
