1、 7 6 dite et diffuse par lUnion Technique de lElectricit (UTE) Tour Chantecoq 5, rue Chantecoq 92808 Puteaux CedexTl. : + 33 (0) 1 49 07 62 00 Tlcopie : + 33 (0) 1 47 78 73 51 Courriel : uteute.asso.fr Internet : http:/www.ute- diffuse galement par lAssociation Franaise de Normalisation (AFNOR) 11,
2、rue Francis de Pressens 93571 La Plaine Saint-Denis Cedex Tl. : 01 41 62 80 00 Impr. UTE 20XX Reproduction interdite 7 Indice de classement : ICS : 25.1607 7 7 77 E : Resistance welding equipment - Part 2: Electromagnetic compatibility (EMC) requirements D : Widerstandsschweieinrichtungen - Teil 2:
3、Anforderungen an die elektromagnetische Vertrglichkeit (EMV) Norme franaise homologue par dcision du Directeur Gnral dAFNOR le 19 mars 2008 pour prendre effet compter du 19 avril 2008. Remplace la norme homologue NF EN 50240 (C 91-200) de janvier 2005 qui reste en vigueur jusquen fvrier 2011. Corres
4、pondance La norme europenne EN 62135-2:2008 a le statut dune norme franaise. EIle reproduit intgralement la publication CEI 62135-2:2007. Analyse Le prsent document est applicable aux quipements de soudage par rsistance et procds connexes qui sont connects aux rseaux dalimentation avec des tensions
5、assignes jusqu 1000 V c.a. r.m.s. Ce document ne dfinit pas dexigences de scurit. Le prsent document entre dans le champ dapplication de la Directive Basse Tension n2006/95/CE du 12/12/2006 et de la Directive Compatibilit Electromagntique n2004/108/CE du 15/12/04. Descripteurs Soudage, soudage lectr
6、ique, soudage par rsistance, matriel de soudage, exigence, compatibilit lectromagntique, mission, immunit lectromagntique, essai, limite, montage, information, utilisation. Modifications Par rapport au document remplac, adoption de la nouvelle norme europenne. Corrections NF EN 62135-2 - II - Ce doc
7、ument constitue la version franaise complte de la norme europenne EN 62135-2:2008 qui reproduit le texte de la publication CEI 62135-2:2007. Les modifications du CENELEC (dans le prsent document, les annexes ZA et ZZ uniquement) sont signales par un trait vertical dans la marge gauche du texte. Cett
8、e Norme Franaise fait rfrence des Normes internationales. Quand une Norme internationale cite en rfrence a t entrine comme Norme Europenne, ou bien quand une norme dorigine europenne existe, la Norme Franaise issue de cette Norme Europenne est applicable la place de la Norme internationale. LUnion T
9、echnique de llectricit a vot favorablement au CENELEC sur le projet de EN 62135-2, le 20 dcembre 2006. _ Un tableau de correspondance entre les documents internationaux cits en rfrence et les documents CENELEC et/ou franais appliquer est donn en page III de couverture. _ NORME EUROPENNE EUROPISCHE N
10、ORM EUROPEAN STANDARD Fvrier 2008 CENELEC Comit Europen de Normalisation Electrotechnique Europisches Komitee fr Elektrotechnische Normung European Committee for Electrotechnical Standardization 7 ICS 25.160 Remplace EN 50240:2004Version franaise 7 7 7 77 (CEI 62135-2:2007) Widerstandsschweieinricht
11、ungen - Teil 2: Anforderungen an die elektromagnetische Vertrglichkeit (EMV) (IEC 62135-2:2007) Resistance welding equipment - Part 2: Electromagnetic compatibility (EMC) requirements (IEC 62135-2:2007) La prsente Norme Europenne a t adopte par le CENELEC le 2008-02-01. Les membres du CENELEC sont t
12、enus de se soumettre au Rglement Intrieur du CEN/CENELEC qui dfinit les conditions dans lesquelles doit tre attribu, sans modification, le statut de norme nationale la Norme Europenne. Les listes mises jour et les rfrences bibliographiques relatives ces normes nationales peuvent tre obtenues auprs d
13、u Secrtariat Central ou auprs des membres du CENELEC. La prsente Norme Europenne existe en trois versions officielles (allemand, anglais, franais). Une version dans une autre langue faite par traduction sous la responsabilit dun membre du CENELEC dans sa langue nationale, et notifie au Secrtariat Ce
14、ntral, a le mme statut que les versions officielles. Les membres du CENELEC sont les comits lectrotechniques nationaux des pays suivants: Allemagne, Autriche, Belgique, Bulgarie, Chypre, Danemark, Espagne, Estonie, Finlande, France, Grce, Hongrie, Irlande, Islande, Italie, Lettonie, Lituanie, Luxemb
15、ourg, Malte, Norvge, Pays-Bas, Pologne, Portugal, Rpublique Tchque, Roumanie, Royaume-Uni, Slovaquie, Slovnie, Sude et Suisse. 2008 CENELEC - Tous droits dexploitation sous quelque forme et de quelque manire que ce soit rservs dans le monde entier aux membres du CENELEC. Ref. n EN 62135-2:2008 F EN
16、62135-2 2 Le texte du document 26/342/CDV, future dition 1 de la CEI 62135-2, prpar par le CE 26 de la CEI, Soudage lectrique, a t soumis la procdure dacceptation unique parallle CEI-CENELEC et a t approuv par le CENELEC comme EN 62135-2 le 2008-02-01. Cette Norme Europenne remplace la EN 50240:2004
17、 + corrigendum dcembre 2005. Les dates suivantes ont t fixes: date limite laquelle la EN doit tre mise en application au niveau national par publication dune norme nationale identique ou par entrinement (dop) 2008-11-01 date limite laquelle les normes nationales conflictuelles doivent tre annules (d
18、ow) 2011-02-01 Cette Norme Europenne a t prpare dans le cadre dun mandat confi au CENELEC par la Commission Europenne et lAssociation Europenne de Libre Echange et couvre les exigences essentielles de la Directive 2004/108/CE. Voir lAnnexe ZZ. Les Annexes ZA et ZZ ont t ajoutes par le CENELEC. _ 3 E
19、N 62135-2:2008 SOMMAIRE AVANT-PROPOS21 Domaine dapplication52 Rfrences normatives.53 Termes et dfinitions74 Exigences gnrales dessai.84.1 Conditions dessais84.2Instruments de mesure84.3 Rseau artificiel dalimentation84.4Sonde de tension.84.5Antennes.85 Montage pour essai dmission et dimmunit85.1 Gnr
20、alits85.2 Matriels auxiliaires.96 Essais dmission.96.1 Classification du matriel.96.1.1 Matriel de Classe A96.1.2 Matriel de Classe B96.2 Conditions dessai.96.2.1 Conditions dessais pour les essais dmission r.f.96.2.2 Conditions dessai pour les essais basse frquence106.3 Limites dmission.106.3.1Vale
21、urs limites de la tension perturbatrice aux bornes du rseau106.3.2 Rayonnement lectromagntique perturbateur116.3.3 Limites dmission en basse frquence.117 Essais dimmunit.127.1 Applicabilit des essais127.2 Conditions dessai.127.3 Critres de performance en immunit.127.3.1 Critres de performance A.127.
22、3.2 Critres de performance B.127.3.3 Critres de performance C.137.4 Niveaux dimmunit .138 Documentation pour lacheteur/utilisateur13Annexe A (informative) Limites.16 Annexe ZA (normative) Rfrences normatives dautres publications internationales avec les publications europennes correspondantes22 Anne
23、xe ZZ (informative) Couverture des Exigences Essentielles des Directives CE.25Bibliographie21Tableau 1 Niveaux dimmunit Enveloppe .14Tableau 2 Niveaux dimmunit Borne dalimentation en courant alternatif 14Tableau 3 Niveaux dimmunit Borne du processus de mesure et des lignes de commande.15 EN 62135-2
24、4 Tableau A.1 Limites des perturbations de tension dalimentation, tat de repos.16Tableau A.2 Limites des perturbations de tension dalimentation, en charge16Tableau A.3 Limites des perturbations lectromagntiques rayonnes, tat de repos17Tableau A.4 Limites des perturbations lectromagntiques rayonnes,
25、en charge.17Tableau A.5 Courants harmoniques maximum pour un matriel avec un courant dalimentation 1cc 16 A18Tableau A.6 Limites dmission de courant pour un matriel avec 16 A 16 A et 75 A par phase CEI 61000-4-2, Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-2: Techniques dessai et de mesure Essai dim
26、munit aux dcharges lectrostatiques CEI 61000-4-3, Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-3: Techniques dessai et de mesure Essai dimmunit aux champs lectromagntiques rayonns aux frquences radiolectriques CEI 61000-4-4, Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-4: Techniques dessai et de mesur
27、e Essais dimmunit aux transitoires lectriques rapides en salves CEI 61000-4-5, Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-5: Techniques dessai et de mesure Essai dimmunit aux ondes de choc CEI 61000-4-6, Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-6: Techniques dessai et de mesure Immunit aux pertu
28、rbations conduites, induites par les champs radiolectriques CEI 61000-4-7, Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-7: Techniques dessai et de mesure Guide gnral relatif aux mesures dharmoniques et dinterharmoniques, ainsi qu lappareillage de mesure, applicable aux rseaux dalimentation et aux app
29、areils qui y sont raccords CEI 61000-4-11, Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-11: Techniques dessai et de mesure Essais dimmunit aux creux de tension, coupures brves et variations de tension CEI 61000-4-15, Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4: Techniques dessai et de mesure Section
30、15: Flickermtre Spcifications fonctionnelles et de conception CEI 62135-1, Matriels de soudage par rsistance Partie 1: Exigences de scurit CISPR 11:2003, Appareils industriels, scientifiques et mdicaux (ISM) frquence radiolectrique Caractristiques de perturbations lectromagntiques Limites et mthodes
31、 de mesure 1 Il existe une dition consolide 1.2 (2005) comprenant ldition 1 et ses amendements 1 et 2. 7 EN 62135-2:2008 CISPR 14-1, Compatibilit lectromagntique Exigences pour les appareils lectrodomestiques, outillages lectriques et appareils analogues Partie 1: Emission CISPR 16-1-1, Spcification
32、s des mthodes et des appareils de mesure des perturbations radiolectriques et de limmunit aux perturbations radiolectriques Partie 1-1: Appareils de mesure des perturbations radiolectriques et de limmunit aux perturbations radiolectriques Appareils de mesure CISPR 16-1-2, Spcifications des mthodes e
33、t des appareils de mesure des perturbations radiolectriques et de limmunit aux perturbations radiolectriques Partie 1-2: Appareils de mesure des perturbations radiolectriques et de limmunit aux perturbations radiolectriques Matriels auxiliaires Perturbations conduites CISPR 16-1-4, Spcifications des
34、 mthodes et des appareils de mesure des perturbations radiolectriques et de limmunit aux perturbations radiolectriques Partie 1-4: Appareils de mesure des perturbations radiolectriques et de limmunit aux perturbations radiolectriques Matriels auxiliaires Perturbations rayonnes ISO 669, Soudage par r
35、sistance Matriel de soudage par rsistance Exigences mcaniques et lectriques 7 Pour les besoins de ce document, les termes et dfinitions suivants sappliquent. Les termes et dfinitions concernant la CEM se trouvent dans la CEI 60050-161 et dans les publications du CISPR. Les termes et dfinitions relat
36、ifs au matriel de soudage par rsistance se trouvent dans la CEI 60050-851, la CEI 62135-1 et lISO 669. borne dinterface auquel un conducteur ou un cble est connect lappareil NOTE 1 Les exemples sont les bornes pour cble de signal, de commande et de puissance. NOTE 2 Le circuit secondaire du matriel
37、de soudage par rsistance nest pas une borne pour cble mais est une borne incluse lenveloppe. condition de charge avec les lectrodes en court-circuit tel que dfini dans lISO 669: 2000 valeur normalise qui est utilise comme mesure dun paramtre fin de comparaison, talonnage, essai, etc. NOTE Les valeur
38、s conventionnelles ne sappliquent pas ncessairement au procd rel de soudage. frontire physique de lappareil travers laquelle les champs lectromagntiques peuvent rayonner ou pntrer 7 tat dopration dans lequel lalimentation est active, mais o le circuit de soudage nest pas sous tension interface parti
39、culire de lappareil spcifi avec lenvironnement lectromagntique externe EN 62135-2 8 77 Les essais doivent tre effectus dans les conditions opratoires spcifies pour lappareil, sa tension dalimentation et frquence assignes comme indiqu dans la CEI 62135-1. Les rsultats obtenus pour lmission r.f. et li
40、mmunit 50 Hz seront valables pour le mme appareil utilis 60 Hz et vice versa. Les instruments de mesure doivent satisfaire aux exigences de CISPR 16-1-1 et aux normes indiques dans les Tableaux 1, 2 et 3, le cas chant. Les instruments de mesure pour les essais dmission basse frquence doivent satisfa
41、ire aux exigences de la CEI 61000-4-7 pour les harmoniques et la CEI 61000-4-15 pour la fluctuation de tension. 7 La mesure des perturbations du rseau dalimentation doit tre ralis en utilisant un rseau dalimentation artificiel consistant en un rseau V de 50 / 50 H tel que spcifi dans la CISPR 16-1-2. Le rseau artificiel est requis pour fournir une impdance dalimentation principale dfinie la r.f. au point de mesure et aussi pour isoler le matriel lessai du bruit ambiant
