欢迎来到麦多课文档分享! | 帮助中心 海量文档,免费浏览,给你所需,享你所想!
麦多课文档分享
全部分类
  • 标准规范>
  • 教学课件>
  • 考试资料>
  • 办公文档>
  • 学术论文>
  • 行业资料>
  • 易语言源码>
  • ImageVerifierCode 换一换
    首页 麦多课文档分享 > 资源分类 > PDF文档下载
    分享到微信 分享到微博 分享到QQ空间

    KS X ISO IEC 10373-3-2007 Identification cards-Test methods-Part 3:Integrated circuit(s) cards with contacts and related interface device《识别卡 试验方法 第3部分 带触点的集成电路卡和有关接口装置》.pdf

    • 资源ID:821834       资源大小:772.47KB        全文页数:72页
    • 资源格式: PDF        下载积分:10000积分
    快捷下载 游客一键下载
    账号登录下载
    微信登录下载
    二维码
    微信扫一扫登录
    下载资源需要10000积分(如需开发票,请勿充值!)
    邮箱/手机:
    温馨提示:
    如需开发票,请勿充值!快捷下载时,用户名和密码都是您填写的邮箱或者手机号,方便查询和重复下载(系统自动生成)。
    如需开发票,请勿充值!如填写123,账号就是123,密码也是123。
    支付方式: 支付宝扫码支付    微信扫码支付   
    验证码:   换一换

    加入VIP,交流精品资源
     
    账号:
    密码:
    验证码:   换一换
      忘记密码?
        
    友情提示
    2、PDF文件下载后,可能会被浏览器默认打开,此种情况可以点击浏览器菜单,保存网页到桌面,就可以正常下载了。
    3、本站不支持迅雷下载,请使用电脑自带的IE浏览器,或者360浏览器、谷歌浏览器下载即可。
    4、本站资源下载后的文档和图纸-无水印,预览文档经过压缩,下载后原文更清晰。
    5、试题试卷类文档,如果标题没有明确说明有答案则都视为没有答案,请知晓。

    KS X ISO IEC 10373-3-2007 Identification cards-Test methods-Part 3:Integrated circuit(s) cards with contacts and related interface device《识别卡 试验方法 第3部分 带触点的集成电路卡和有关接口装置》.pdf

    1、 KS X ISO/IEC 103733 KSKSKSKS SKSKSKS KSKSKS SKSKS KSKS SKS KS ID 3: IC KS X ISO/IEC 103733 :2007 (2012 ) 2007 7 9 http:/www.kats.go.krKS X ISO/IEC 103733:2007 : e- ( ) ( ) () () ( ) : ID () SHIT ( ) AMS IC Motorola E T R I ( ) KS X ISO/IEC 103733:2007 : (http:/www.standard.go.kr) : :2002 12 23 :200

    2、7 7 9 :2012 12 28 : e- 2012-0833 : e- ID ( 02-509-7262) (http:/www.kats.go.kr). 10 5 , . KS X ISO/IEC 103733:2007 i . iii 1 1 2 1 3 .2 4 .3 4.1 3 4.2 3 4.3 .3 4.4 3 4.5 .3 4.6 .3 4.7 13 5 IC .15 5.1 15 5.2 .16 5.3 16 5.4 .17 6 IC 19 6.1 VCC 19 6.2 I/O .20 6.3 CLK .22 6.4 RST .23 6.5 VPP .24 7 IC .25

    3、 7.1 ATR25 7.2 T=0 27 7.3 T=1 29 8 , 39 8.1 .39 8.2 VCC 39 8.3 I/O .41 8.4 CLK .42 8.5 RST .44 8.6 VPP .45 8.7 .45 9 46 KS X ISO/IEC 103733:2007 ii 9.1 ATR46 9.2 T=0 47 9.3 T=1 50 A() .58 A.1 IC :3 (wheel) 58 A.2 61 .62 KS X ISO/IEC 103733:2007 iii e . KS X ISO/IEC 103733:2007 . A() KS X ISO/IEC 103

    4、73 “ID ” . 1: (KS X ISO/IEC 103731) 2: (KS X ISO/IEC 103732) 3: IC (KS X ISO/IEC 103733) 4: IC 5: (KS X ISO/IEC 103735) 6: (proximity card)(KS X ISO/IEC 103736) 7: (vicinity card)(KS X ISO/IEC 103737) KS X ISO/IEC 103733:2007 (2012 ) ID 3: IC Identification cards Test methods Part 3 :Integrated circ

    5、uit(s) cards with contacts and related interface device 2001 1 ISO/IEC 103733:2001, Identification cardsTest methods Part 3:Integrated circuit(s) cards with contacts and related interface device , . 1 KS X 6507(ISO/IEC 7816) IC . . KS X 6503(ISO/IEC 7810) ID . . IC . KS X 65161(ISO/IEC 103731) . . .

    6、 KS X 6507(ISO/ IEC 7816) . IC . . 2 . ( ) . KS X 6503, ID (ISO/IEC 7810:1995, Identification cardsPhysical characteristics, IDT) KS X 65071, ID IC 1: KS X ISO/IEC 103733:2007 2 (ISO/IEC 78161:1998, Identification cardsIntegrated circuit(s) cards with contactsPart 1 : Physical characteristics, IDT)

    7、KS X 65072, ID IC 2: (ISO/IEC 78162:1999, Information technologyIdentification cardsIntegrates circuit(s) cards with contactsPart 2:Dimensions and location of the contacts, IDT) KS X 65073, ID IC 3: (ISO/IEC 78163:1997, Information technologyIdentification cardsIntegrated circuit(s) cards with conta

    8、ctsPart 3:Electronic signals and transmission protocols, IDT) KS X ISO/IEC 103731, ID 1: (ISO/IEC 103731:1998, Identification cardsTest methodsPart 1:General characteristic tests, IDT) ISO/IEC 78164:1995, Information technologyIdentification cardsIntegrated circuit(s) cards with contactsPart 4:Inter

    9、industry commands for interchange United States of America, Department of Defense, Test Method Standards, Microcircuits, MILSTD 883, Version E, 31 December 1996, Method 3015.7 “Electrostatic discharge sensitivity classification” 3 . 3.1 (test method) ID 3.2 (testably functional) . a) . b) ATR 1) . c

    10、) . d) . 3.3 (normal use) ID KS X 6503(ISO/IEC 7810:1995) 4. 3.4 IC (ICC) KS X 6507 KS X ISO/IEC 7816(ISO/IEC 7816) IC 1) IC . ( ) . . KS X ISO/IEC 103733:2007 3 3.5 (IFD) KS X 6507 KS X ISO/IEC 7816(ISO/IEC 7816) IC 3.6 (DUT) IC . 3.7 (typical protocol and application specific communication) , . 3.

    11、8 (test scenario) 4 4.1 , , , (233) 4060 % . 4.2 , ID 24 . 4.3 , 5 % ( ) ( ) . 4.4 . 4.5 IC GND IC () . 4.6 4.6.1 IC , , IC . KS X ISO/IEC 103733:2007 4 IC IC . 1 . :mm :0.1 mm L, T1 T2 (50.1) mm , R a 5 m R a 5 m . 1 IC 4.6.1.1 IC IC 1 . 4.6.1.2 2 . :mm :0.1 mm R a 5 m . 2 4.6.1.3 IC 3 IC . Y 71.25

    12、 11.25 X KS X ISO/IEC 103733:2007 5 F 1 F 2 . (2.20.2) N . 3 IC IC 4.6.2 IC 4.6.2.1 ( 0.7V CC , 0.15V CC Vcc0.3 V) GND V CC . 4.6.2.2 Vcc IC A 16 V 50 mV V CC B 14 V 30 mV t R , t F A, B 500 s 100 s 4.6.2.3 Vcc (Icc) (spike) 0 200 mA 2 mA 20 ns 0 100 mA 1 mA 1 ms I CC 0 1 mA 10 A 1 ms 4.6.2.4 Vpp Y

    13、X KS X ISO/IEC 103733:2007 6 IC V PP A 126 V 50 mV 20 ns t R , t F A 1220 s 1 s 1 t R t F V H V L 10 % 90 % . 2 IC . IC ( V pp ). 4.6.2.5 V PP (I PP ) ( ) 0100 mA 1 mA 100 ns I PP( ) 0100 mA 1 mA 100 ns IC . IC ( I pp ). 4.6.2.6 RST IC A 26 V 50 mV V IH B 24 V 30 mV A 12 V 50 mV V IL B 12 V 30 mV t

    14、R , t F 0 2 s 20 ns t R t F V H V L 10 % 90 % . 4.6.2.7 RST I IH 30200 A 10 A 100 ns I IL 25030 A 10 A 100 ns 4.6.2.8 I/O IC A 26 V 50 mV V IHIC : : B 24 V 30 mV A 12 V 50 mV V ILIC : : B 12 V 30 mV t R ,t FIC : : 0 2 s 100 ns t R t F V H V L 10 % 90 % . KS X ISO/IEC 103733:2007 7 4.6.2.9 I/O I IHIC

    15、 : : 35030 A 1 A 100 ns I ILIC : : 1.5 mA30 A 10 A 100 ns 4.6.2.10 I/O I OHIC : : 20 k (pull-up)Vcc 200 I OLIC : : 0 mA1.5 mA 10 A 100 ns 4.6.2.11 I/O IC V IH , V IL A 16V 50 mV 20 ns V IH , V IL B 14V 30 mV 20 ns t R , t F0 2 s 20 ns t R t F V H V L 10 % 90 % . 4.6.2.12 CLK IC A 26 V 50 mV 20 ns V

    16、IH B 24 V 30 mV 20 ns A 12 V 50 mV 20 ns V IL B 12 V 30 mV 20 ns 4.6.2.13 CLK ( ) (duty cycle) 3565 % 5 ns 0.55.5 MHz 5 kHz 5 20.5 MHz 50 kHz t R , t F 1 10 % 5 ns t R t F V H (100 %) V L (0 %) 10 % 90 % . 4.6.2.14 CLK KS X ISO/IEC 103733:2007 8 I IH 30150 A 10 A 20 ns I IL 15030 A 10 A 20 ns 4.6.2.

    17、15 RST, CLK, I/O C 050 pF 5 pF GND . 4.6.2.16 01 s 200 ns( 1 , .)4.6.2.17 I/O (emulating) IC T=0 T=1 , IC . IC . IC ( T=1 IC ). 4.6.2.18 I/O IC KS X 65073:1997 I/O . , , . 4CLK 4.6.2.19 I/O IC CLK I/O , . 2 CLK 4.6.2.20 IC KS X 65073:1997 T=0 T=1 I/O , . KS X ISO/IEC 103733:2007 9 IC . IC ( T=1 IC )

    18、. , . IC READ BINARY 2 (KS X ISO/IEC 78164:1995 ) . 4.6.3 4.6.3.1 ( 0.7V CC , 0.15V CC V CC 0.3V) GND V CC 4.6.3.2 V CC (I CC ) 0 mA120 mA 2 mA b 100 ns 0 mA70 mA 1 mA 100 ns 0 mA1.2 mA 10 A 100 ns I CC a1.2mA0 mA 10 A 100 ns t R , t F100 ns 50 ns 100 ns500 ns 50 ns 100 ns1 000 ns 50 ns 10 s2 000 s

    19、1 s a 5 V . b 4.6.3.3 V CC IC A 1 V6 V 50 mV 20 ns V CC B 1 V4 V 30 mV 20 ns 4.6.3.4 Vpp (Ipp) 0 mA100 mA 1 mA 100 ns I PP a1.2 mA0 mA 10 A 100 ns a 0.5 VV PP . 4.6.3.5 V PP KS X ISO/IEC 103733:2007 10 IC V PP A 1 V25 V 50 mV 20 ns t R , t F A 1 s220 s 1 s t R t F V H V L 10 % 90 % . 4.6.3.6 RST I I

    20、H 30 A200 A 10 A 100 ns I IL 250 A30 A 10 A 100 ns I a 1.2 mA0 mA 10 A 100 ns a 0.5 V5.5 V . 4.6.3.7 RST IC A 2 V6 V 50 mV 20 ns V IH B 2 V4 V 30 mV 20 ns A 1 V2 V 50 mV 20 ns V IL B 1 V2 V 30 mV 20 ns t R , t F0 s2 s 20 ns t R t F V H V L 10 % 90 % . 4.6.3.8 I/O I IH , I OH: : 400 A50 A 5 A 100 ns

    21、I IL: : 0 mA1.5 mA 10 A 100 ns I OL: 0 A1 200 A 10 A 100 ns I a 1.2 mA0 mA 10 A 100 ns a 0.5 V5.5 V . 4.6.3.9 I/O IC A 2 V6 V 50 mV 20 ns V IH B 2 V4 V 30 mV 20 ns A 1 V2 V 50 mV 20 ns V IL B 1 V2 V 30 mV 20 ns t R , t F0 s2 s 20 ns t R t F V H V L 10 % 90 % . KS X ISO/IEC 103733:2007 11 4.6.3.10 I/

    22、O IC A 2 V6 V 50 mV V OH B 2 V4 V 30 mV A 1 V2 V 50 mV V OL B 1 V2 V 30 mV t R , t F0 s2 s 20 ns 1 V OH 10 s . 2 t R t F V H V L 10 % 90 % . 4.6.3.11 I/O I OL 0 A1 200 A 10 A 20 ns I a 0 mA1.2 mA 10 A 20 ns a 0.5 V5.5 V . 4.6.3.12 CLK I IH 30 A150 A 10 A 20 ns I IL 150 A30 A 10 A 20 ns I a 1.2 mA0 m

    23、A 10 A 100 ns a 0.5 V5.5 V . 4.6.3.13 CLK IC A 2 V6 V 50 mV 20 ns V IH B 2 V4 V 30 mV 20 ns A 1 V2 V 50 mV 20 ns V IL B 1 V2 V 30 mV 20 ns 4.6.3.14 CLK ( ) a (duty cycle) 3565 % 2.5 % b0.5 MHz20.5 MHz 2.5 % t R , t F c 1 10 % 2.5 % . a V H(100 %) 50 % 50 % V L (0 %) . b V H(100 %) 50 % 50 % V L (0 %

    24、) . c t R t F V H (100 %) V L (0 %) 10 % 90 % . KS X ISO/IEC 103733:2007 12 4.6.3.15 GND I/O 0 pF50 pF 5 pF 4.6.3.16 I/O T=0 T=1 IC . IC . IC ( T=1 IC ). 4.6.3.17 I/O CLK KS X 65073(ISO/IEC 78163:1997) I/O . , , . 4 CLK 4.6.3.18 I/O CLK I/O , . 2 CLK 4.6.3.19 KS X 65073(ISO/IEC 78163:1997) T=0 T=1 I/O ,


    注意事项

    本文(KS X ISO IEC 10373-3-2007 Identification cards-Test methods-Part 3:Integrated circuit(s) cards with contacts and related interface device《识别卡 试验方法 第3部分 带触点的集成电路卡和有关接口装置》.pdf)为本站会员(roleaisle130)主动上传,麦多课文档分享仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对上载内容本身不做任何修改或编辑。 若此文所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知麦多课文档分享(点击联系客服),我们立即给予删除!




    关于我们 - 网站声明 - 网站地图 - 资源地图 - 友情链接 - 网站客服 - 联系我们

    copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
    备案/许可证编号:苏ICP备17064731号-1 

    收起
    展开