1、Oktober 2008DEUTSCHE NORM DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDEPreisgruppe 15DIN Deutsches Institut fr Normung e.V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e.V., Berlin, gestattet.ICS 29
2、.100.10!$Qo“1467694www.din.deDDIN EN 62024-1Induktive Hochfrequenz-Bauelemente Elektrische Eigenschaften und Messmethoden Teil 1: Chipinduktivitten im Nanohenry-Bereich (IEC 62024-1:2008);Deutsche Fassung EN 62024-1:2008High frequency inductive components Electrical characteristics and measuring met
3、hods Part 1: Nanohenry range chip inductor (IEC 62024-1:2008);German version EN 62024-1:2008Composants inductif haute frquence Caractristiques lectriques et mthodes de mesure Partie 1: Inductance puce de lordre du nanohenry (CEI 62024-1:2008);Version allemande EN 62024-1:2008Alleinverkauf der Normen
4、 durch Beuth Verlag GmbH, 10772 BerlinErsatz frDIN EN 62024-1:2003-03Siehe jedoch Beginn derGltigkeitwww.beuth.deGesamtumfang 21 SeitenDIN EN 62024-1:2008-10 2 Beginn der Gltigkeit Die von CENELEC am 2008-03-01 angenommene EN 62024-1 gilt als DIN-Norm ab 2008-10-01. Daneben darf DIN EN 62024-1:2003-
5、03 noch bis 2011-03-01 angewendet werden. Nationales Vorwort Vorausgegangener Norm-Entwurf: E DIN IEC 62024-1:2007-05. Fr diese Norm ist das nationale Arbeitsgremium K 625 Magnetische Bauelemente und deren Komponenten“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN
6、und VDE (www.dke.de) zustndig. Die enthaltene IEC-Publikation wurde vom TC 51 Magnetic components and ferrite materials“ erarbeitet. Das IEC-Komitee hat entschieden, dass der Inhalt dieser Publikation bis zu dem Datum (maintenance result date) unverndert bleiben soll, das auf der IEC-Website unter h
7、ttp:/webstore.iec.ch“ zu dieser Publikation angegeben ist. Zu diesem Zeitpunkt wird entsprechend der Entscheidung des Komitees die Publikation besttigt, zurckgezogen, durch eine Folgeausgabe ersetzt oder gendert. Fr den Fall einer undatierten Verweisung im normativen Text (Verweisung auf eine Norm o
8、hne Angabe des Ausgabedatums und ohne Hinweis auf eine Abschnittsnummer, eine Tabelle, ein Bild usw.) bezieht sich die Verweisung auf die jeweils neueste gltige Ausgabe der in Bezug genommenen Norm. Fr den Fall einer datierten Verweisung im normativen Text bezieht sich die Verweisung immer auf die i
9、n Bezug genommene Ausgabe der Norm. Der Zusammenhang der zitierten Normen mit den entsprechenden Deutschen Normen ergibt sich, soweit ein Zusammenhang besteht, grundstzlich ber die Nummer der entsprechenden IEC-Publikation. Beispiel: IEC 60068 ist als EN 60068 als Europische Norm durch CENELEC berno
10、mmen und als DIN EN 60068 ins Deutsche Normenwerk aufgenommen. nderungen Gegenber DIN EN 62024-1:2003-03 wurden folgende nderungen vorgenommen: a) die Gre 0402 wurde in Tabelle 1 und Tabelle 2 hinzugefgt; b) Abschnitt 4.4. wurde zur besseren Verstndlichkeit inhaltlich berarbeitet; c) Festlegung zur
11、Offen-Kompensation in 3.1.4.2 wurde korrigiert. Frhere Ausgaben DIN EN 62024-1: 2003-03 EUROPISCHE NORM EUROPEAN STANDARD NORME EUROPENNE EN 62024-1 Mai 2008 ICS 29.100.10 Ersatz fr EN 62024-1:2002Deutsche Fassung Induktive Hochfrequenz-Bauelemente Elektrische Eigenschaften und Messmethoden Teil 1:
12、Chipinduktivitten im Nanohenry-Bereich (IEC 62024-1:2008) High frequency inductive components Electrical characteristics and measuring methods Part 1: Nanohenry range chip inductor (IEC 62024-1:2008) Composants inductif haute frquence Caractristiques lectriques et mthodes de mesure Partie 1: Inducta
13、nce puce de lordre du nanohenry (CEI 62024-1:2008) Diese Europische Norm wurde von CENELEC am 2008-03-01 angenommen. Die CENELEC-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschftsordnung zu erfllen, in der die Bedingungen festgelegt sind, unter denen dieser Europischen Norm ohne jede nderung der Sta
14、tus einer nationalen Norm zu geben ist. Auf dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren bibliographischen Angaben sind beim Zentralsekretariat oder bei jedem CENELEC-Mitglied auf Anfrage erhltlich. Diese Europische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen (Deutsch, Engl
15、isch, Franzsisch). Eine Fassung in einer anderen Sprache, die von einem CENELEC-Mitglied in eigener Verantwortung durch bersetzung in seine Landessprache gemacht und dem Zentralsekretariat mitgeteilt worden ist, hat den gleichen Status wie die offiziellen Fassungen. CENELEC-Mitglieder sind die natio
16、nalen elektrotechnischen Komitees von Belgien, Bulgarien, Dnemark, Deutschland, Estland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien, Lettland, Litauen, Luxemburg, Malta, den Niederlanden, Norwegen, sterreich, Polen, Portugal, Rumnien, Schweden, der Schweiz, der Slowakei, Slowenien,
17、Spanien, der Tschechischen Republik, Ungarn, dem Vereinigten Knigreich und Zypern. CENELEC Europisches Komitee fr Elektrotechnische Normung European Committee for Electrotechnical Standardization Comit Europen de Normalisation Electrotechnique Zentralsekretariat: rue de Stassart 35, B-1050 Brssel 20
18、08 CENELEC Alle Rechte der Verwertung, gleich in welcher Form und in welchem Verfahren, sind weltweit den Mitgliedern von CENELEC vorbehalten. Ref. Nr. EN 62024-1:2008 DDIN EN 62024-1:2008-10 EN 62024-1:2008 2 Vorwort Der Text des Schriftstcks 51/908/FDIS, zuknftige 2. Ausgabe von IEC 62024-1, ausge
19、arbeitet von dem IEC/TC 51 Magnetic components and ferrite materials“, wurde der IEC-CENELEC Prallelen Abstimmung unterworfen und von CENELEC am 2008-03-01 als EN 62024-1 angenommen. Diese Europische Norm ersetzt EN 62024-1:2002. EN 62024-1:2008 enthlt gegenber EN 62024-1:2002 folgende nderungen: Di
20、e Gre 0402 wurde in Tabelle 1 und Tabelle 2 hinzugefgt; Abschnitt 4.4 wurde zur besseren Verstndlichkeit inhaltlich berarbeitet; Fehler im Abschnitt 3.1.4.2 wurden korrigiert. Nachstehende Daten wurden festgelegt: sptestes Datum, zu dem die EN auf nationaler Ebene durch Verffentlichung einer identis
21、chen nationalen Norm oder durch Anerkennung bernommen werden muss (dop): 2008-12-01 sptestes Datum, zu dem nationale Normen, die der EN entgegenstehen, zurckgezogen werden mssen (dow): 2011-03-01 Der Anhang ZA wurde von CENELEC hinzugefgt. Anerkennungsnotiz Der Text der Internationalen Norm IEC 6202
22、4-1:2008 wurde von CENELEC ohne irgendeine Abnderung als Europische Norm angenommen. DIN EN 62024-1:2008-10 EN 62024-1:2008 3 Inhalt SeiteVorwort .2 1 Anwendungsbereich.4 2 Normative Verweisungen .4 3 Induktivitt, Gte und Impedanz 4 3.1 Induktivitt 4 3.2 Gte Q 9 3.3 Impedanz10 4 Resonanzfrequenz .10
23、 4.1 Eigenresonanzfrequenz .10 4.2 Minimum-Ausgangsmethode .10 4.3 Reflexionsmethode 13 4.4 Messung mit einem Analysator15 5 Gleichstromwiderstand.16 5.1 Messschaltkreis (Brckenmethode).16 5.2 Messmethode und Berechnungsgrundlagen .16 5.3 Vorkehrungen zur Messdurchfhrung16 5.4 Messtemperatur .17 Anh
24、ang A (normativ) Montage einer oberflchenmontierbaren Induktivitt18 Anhang ZA (normativ) Normative Verweisungen auf internationale Publikationen mit ihren entsprechenden europischen Publikationen19 Bilder Bild 1 Beispiel fr einen Schaltkreisaufbau fr Spannungs-/Strom-Methode .5 Bild 2 Prfvorrichtung
25、 A.6 Bild 3 Prfvorrichtung B.7 Bild 4 Mae der Kurzschlussprobe .8 Bild 5 Beispiel fr einen Messschaltkreis bei der Minimum-Ausgangsmethode.11 Bild 6 Prfplatine zur Eigenresonanzfrequenzmessung (Minimum-Ausgangsmethode)12 Bild 7 Beispiel fr einen Messschaltkreis bei der Reflexionsmethode 13 Bild 8 Pr
26、fplatine zur Messung der Eigenresonanzfrequenz (Reflexionsmethode)14 Bild 9 Geeignete Prfvorrichtung fr die Messung der Eigenresonanzfrequenz 15 Bild 10 Beispiel fr einen Messschaltkreis zur Gleichstromwiderstandsmessung16 Tabellen Tabelle 1 Mae l und d6 Tabelle 2 Mae und Induktivittswerte der Kurzs
27、chlussprobe9 DIN EN 62024-1:2008-10 EN 62024-1:2008 4 1 Anwendungsbereich Dieser Teil der IEC 62024 legt elektrische Eigenschaften und zugehrige Messmethoden fr Chipinduktivit-ten im Nanohenry-Bereich fest, die blicherweise im Hochfrequenzbereich ber 100 KHz eingesetzt werden. 2 Normative Verweisung
28、en Die nachfolgenden zitierten Dokumente sind fr die Anwendung dieses Dokuments erforderlich. Bei datierten Verweisungen gilt nur die in Bezug genommene Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte Ausgabe des in Bezug genommenen Dokuments (einschlielich aller nderungen). IEC 61249-2-7, Mat
29、erials for printed boards and other interconnecting structures Part 2-7: Reinforced base materials clad and unclad Epoxide woven E-glass laminated sheet of defined flammability (vertical burning test) copper clad ISO 6353-3, Reagents for chemical analysis Part 3: Specifications Second series ISO 945
30、3, Soft solder alloys Chemical compositions and forms 3 Induktivitt, Gte und Impedanz 3.1 Induktivitt Der Induktivittswert einer Induktivitt wird mit der Spannungs-/Strom-Methode gemessen. DIN EN 62024-1:2008-10 EN 62024-1:2008 5 3.1.1 Aufbau des Messschaltkreises Legende RgQuellenimpedanz (50 ) R W
31、iderstand Lxgeprfte Induktivitt Cdverteilte Kapazitt der geprften Induktivitt Lsserielle Induktivitt der geprften Induktivitt RsSerienwiderstand der geprften Induktivitt X Phasenreferenzsignal Ev1, Ev2Vektorvoltmeter G Signalgenerator Bild 1 Beispiel fr einen Schaltkreisaufbau fr Spannungs-/Strom-Me
32、thode 3.1.2 Montage der geprften Induktivitt auf die Prfvorrichtung Die Induktivitt muss in einer Prfvorrichtung, wie in der einschlgigen Norm festgelegt, gemessen werden. Wenn keine Prfvorrichtung festgelegt ist, muss eine der folgenden Montagevorrichtungen A oder B benutzt werden. Die benutzte Vor
33、richtung muss angegeben werden. DIN EN 62024-1:2008-10 EN 62024-1:2008 6 3.1.2.1 Prfvorrichtung A Form und Mae der Prfvorrichtung A mssen denen in Bild 2 entsprechen. Bild 2 Prfvorrichtung A Tabelle 1 Mae l und d Gre der geprften Induktivitt l mm d mm 1 608 1,6 0,95 1 005 1,0 0,60 0 603 0,6 0,36 0 4
34、02 0,4 0,26 Die Elektroden der Prfvorrichtung mssen die Elektroden der geprften Induktivitt mit mechanischer Kraft, die durch eine anerkannte Methode erzeugt wird, kontaktieren. Diese Kraft muss so gewhlt werden, dass eine zufriedenstellende Messwertstabilitt erreicht werden kann, ohne dass die Eige
35、nschaften der geprften Induktivitt beeinflusst werden. Die Kraft muss festgelegt werden. Die Verbindungsstruktur zwischen Messschaltkreis und Prfvorrichtung muss eine charakteristische Impedanz von mglichst nahe an 50 aufweisen. DIN EN 62024-1:2008-10 EN 62024-1:2008 7 3.1.2.2 Prfvorrichtung B Prfvo
36、rrichtung B, wie in Bild 3 gezeigt, muss verwendet werden. Bild 3 Prfvorrichtung B Die Elektroden der Prfvorrichtung mssen die Elektroden der geprften Induktivitt mit mechanischer Kraft, die durch eine anerkannte Methode erzeugt wird, kontaktieren. Diese Kraft muss so gewhlt werden, dass eine zufrie
37、denstellende Messwertstabilitt erreicht werden kann, ohne dass die Eigenschaften der geprften Induktivitt beeinflusst werden. Die Kraft muss festgelegt werden. Die Verbindungsstruktur zwischen Messschaltkreis und Prfvorrichtung muss eine charakteristische Impedanz von mglichst nahe an 50 aufweisen.
38、Ma d ist von den beteiligten Parteien festzulegen. 3.1.3 Messmethode und Berechnung Der Induktivittswert Lxder Induktivitt Lxist definiert durch die Vektorsumme von Ls und Cd( siehe Bild 1). Die Frequenz f des Ausgangssignals des Signalgenerators ist auf eine an anderer Stelle festgelegte Frequenz e
39、inzustellen. Die geprfte Induktivitt ist, wie oben beschrieben, mit Hilfe der Prfvorrichtung an den Messschaltkreis anzukoppeln. Die Vektorspannungen E1und E2mssen mit den Vektorvoltmetern Ev1und Ev2gemessen werden; der Induktivittswert Lxist nach der folgenden Gleichung zu berechnen als: 12xImEREL
40、= (1) Dabei ist Lxder Induktivittswert der geprften Induktivitt; Imder Imaginrteil des komplexen Wertes; R der Widerstandswert des Widerstandes; E1der Anzeigewert des Vektorvoltmeters Ev1; E2der Anzeigewert des Vektorvoltmeters Ev2; die Kreisfrequenz 2 f. DIN EN 62024-1:2008-10 EN 62024-1:2008 8 3.1
41、.4 Anmerkungen zur Messung Die elektrische Leitungslnge der Prfvorrichtung muss mit sicheren, bewhrten Methoden kompensiert werden, gefolgt von einer Offen-Kurzschluss-Kompensation (Kalibrierung). Falls eine nicht allgemein aner-kannte elektrische Leitungslnge benutzt wird, so ist dies anzugeben. Di
42、e Offen-Kurzschluss-Kompensation (Kalibrierung) ist nach folgenden Gleichungen durchzufhren: mcxcmc1Z BZAZ C=(2) c10A j=+ (3) ()sm om sm ss sm os sscom sm os ss11Z YZ Z ZYZBYZYZ =(4) ()om om sm os om os sscom sm os ss11YYZYYYZCYZYZ =(5) Dabei ist Zxder Messwert der Impedanz nach der Kompensation; Zm
43、der Messwert der Impedanz vor der Kompensation; Zsmder Messwert der Impedanz bei Kurzschluss der Messanordnung; Zssder Wert der Kurzschlussinduktivitt, wie in 3.1.4.1 festgelegt; Yomder Messwert des Scheinleitwerts der Prfvorrichtung ohne Prfobjekt; Yosder Messwert des Scheinleitwerts der Prfvorrich
44、tung, wie in 3.1.4.2 festgelegt. 3.1.4.1 Kurzschluss-Kompensation Fr die Prfvorrichtung A sind die zulssigen Mae und die Form der Kurzschlussprobe in Bild 4 und Tabelle 2 festgelegt. Die zulssige Induktivitt der Kurzschlussprobe ist in Abhngigkeit von den Maen der geprften Induktivitt aus Tabelle 2
45、zu entnehmen. Der Induktivittswert der gewhlten Kurzschlussprobe ist als Kompensationswert anzuwenden. Bild 4 Mae der Kurzschlussprobe DIN EN 62024-1:2008-10 EN 62024-1:2008 9 Tabelle 2 Mae und Induktivittswerte der Kurzschlussprobe Gre der geprften Induktivitt l mm d mm Induktivittswert nH 1 608 1,
46、6 0,95 0,43 1 005 1,0 0,60 0,27 0 603 0,6 0,36 0,16 0 402 0,4 0,26 0,11 Wenn ein anderer als der in Tabelle 2 angegebene Induktivittswert fr die Kurzschlussprobe in Prfvorrich-tung A benutzt wird, so ist dieser anzugeben. Fr die Prfvorrichtung B sind die Mae, die Form sowie der Induktivittswert anzu
47、geben. 3.1.4.2 Offen-Kompensation (Kalibrierung) Die Offen-Kompensation (Kalibrierung) fr Prfvorrichtung A muss so durchgefhrt werden, dass die Mess-kontaktelektroden den gleichen Abstand voneinander haben wie mit eingesetzter geprfter Induktivitt. Sofern nicht anders festgelegt, wird der Scheinleit
48、wert Y0Sals 0S (Null Siemens) festgelegt. Die Offen-Kompensation der Prfvorrichtung B muss ohne Montage der geprften Induktivitt durchgefhrt werden. Sofern nicht anders festgelegt, wird der Scheinleitwert Y0Sals 0S (Null Siemens) festgelegt. 3.2 Gte Q 3.2.1 Messmethode Die Gte Q der Induktivitt wird mit der Spannungs-/Strom-Methode gemessen. 3.2.2 Messschaltkreis Der Messschaltkreis ist in Bild 1 dargestellt. 3.2.3 Montage Die Montage der geprften Induktivitt ist in 3.1.2 beschrieben. 3.2.4 Messmethode und Berechnung Die Fr
