1、DEUTSCHE NORM Manuskript Juni 2002Ermittlung der Eigenfilterung von Rntgenstrahlern(IEC 60522:1999)Deutsche Fassung EN 60522:1999EN 60522ICS 11.040.50Determination of the permanent filtration of X-ray tube assemblies (IEC 60522:1999);German version EN 60522:1999Dtermination de la filtration permanen
2、te des gaines quipes (CEI 60522:1999);Version allemande EN 60522:1999Ersatz frDIN 6863-2:1981-08Die Europische Norm EN 60522:1999 hat den Status einer Deutschen Norm.Nationales VorwortDiese Europische Norm enthlt die deutsche bersetzung der Internationalen Norm IEC 60522:1999Determination of the per
3、manent filtration of X-ray tube assemblies. Die bersetzung der Norm wurde vomNormenausschuss Radiologie/Gemeinschaftsausschuss 4 Radiologische Diagnostik autorisiert.IN DIN 6814-2 wurde fr Strahlenqualitt der Begriff Strahlungsqualitt eingefhrt.nderungenGegenber DIN 6863-1:1981-08 wurden folgende nd
4、erungen vorgenommen:a) Anpassung an die internationalen Festlegungen;b) vollstndige berarbeitung des Inhalts.Frhere AusgabenDIN 6863-2:1981-08Nationaler Anhang NA(informativ)LiteraturhinweiseDIN 6814-2, Begriffe in der radiologischen Technik Teil 2: Strahlenphysik.Fortsetzung 9 Seiten ENNormenaussch
5、uss Radiologie (NAR) im DIN Deutsches Institut fr Normung e.V. DIN Deutsches Institut fr Normung e.V. .Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise, Ref. Nr. DIN EN 60522:2002-06nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e. V., Berlin, gestattet. Preisgr. 08 Vertr.-Nr. 2308Alleinve
6、rkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 Berlin Leerseite EUROPISCHE NORM EN 60522EUROPEAN STANDARDNORME EUROPENNE April 1999ICS 11.040.50Deutsche FassungErmittlung der Eigenfilterung von Rntgenstrahlern(IEC 60522:1999)Determination of the permanent filtration of X-raytube assemblies (IEC 605
7、22:1999)Dtermination de la filtration permanente desgaines quipes (CEI 60522:1999)Diese Europische Norm wurde von CENELEC am 01. April 1999 angenommen.Die CENELEC-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschftsordnung zu erfllen, in der dieBedingungen festgelegt sind, unter denen dieser Europisch
8、en Norm ohne jede nderung der Status einernationalen Norm zu geben ist.Auf dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren bibliographischen Angabensind beim Zentralsekretariat oder bei jedem CENELEC-Mitglied auf Anfrage erhltlich.Diese Europische Norm besteht in drei offizie
9、llen Fassungen (Deutsch, Englisch, Franzsisch). EineFassung in einer anderen Sprache, die von einem CENELEC-Mitglied in eigener Verantwortung durchbersetzung in seine Landessprache gemacht und dem Zentralsekretariat mitgeteilt worden ist, hat dengleichen Status wie die offiziellen Fassungen.CENELEC-
10、Mitglieder sind die nationalen elektrotechnischen Komitees von Belgien, Dnemark,Deutschland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien, Luxemburg, Niederlande,Norwegen, sterreich, Portugal, Schweden, Schweiz, Spanien, der Tschechischen Republik und demVereinigten Knigreich.EUROPISC
11、HES KOMITEE FR ELEKTROTECHNISCHE NORMUNGEUROPEAN COMMITTEE FOR ELECTROTECHNICAL STANDARDIZATIONCOMIT EUROPEN DE NORMALISATION ELECTROTECHNIQUEZentralsekretariat: rue de Stassart 35, B-1050 Brssel 1999 CENELEC Alle Rechte der Verwertung, gleich in welcher Form und in welchem Verfahren,sind weltweit d
12、en nationalen Mitgliedern von CENELEC vorbehalten. Ref. Nr. EN 60522:1999 DEN 60522:1999 (D)2VorwortDer Text des Schriftstcks 62B/359/FDIS, zuknftige 2. Ausgabe von IEC 60522, ausgearbeitet von dem SC 62BDiagnostic imaging equipment“ des IEC TC 62 Electrical equipment in medical practice“, wurde der
13、 IEC-CENELEC parallelen Abstimmung unterworfen und von CENELEC am 01. April 1999 als EN 60522 angenommen.Nachstehende Daten wurden festgelegt: sptestes Datum, zu dem die EN auf nationaler Ebenedurch Verffentlichung einer identischen nationalen Normoder durch Anerkennung bernommen werden muss (dop):
14、2000-01-01 sptestes Datum, zu dem nationale Normen, die der ENentgegenstehen, zurckgezogen werden mssen (dow): 2002-01-01Anhnge, die als normativ“ bezeichnet sind, gehren zum Norminhalt.In dieser Norm sind die Anhnge A und ZA normativ.Der Anhang ZA wurde von CENELEC hinzugefgt.AnerkennungsnotizDer T
15、ext der Internationalen Norm IEC 60522:1999 wurde von CENELEC ohne irgendeine Abnderung alsEuropische Norm angenommen.VorwortIn dieser Norm werden folgende Schriftarten verwendet: Anforderungen, deren Einhaltung berprft werden kann und Definitionen: Normalschrift, Anmerkungen, Erklrungen, Hinweise,
16、allgemeine Angaben und Ausnahmen: Kleinschrift, Beschreibungen zu Prfverfahren: Kursivschrift, IN DIESER NORM BENUTZTE BEGRIFFE, DIE IM ANHANG C AUFGELISTET UND IN ABSCHNITT 4 ODER IN IEC 60601-1 UNDIHREN ERGNZENDEN NORMEN BZW. IN IEC 60788 DEFINIERT SIND: KAPITLCHEN.ANMERKUNG Es wird auf die Existe
17、nz von Gesetzen bezglich des Strahlenschutzes in manchen Lndern aufmerksamgemacht, die nicht mit den Bestimmungen in dieser Norm bereinstimmen.EN 60522:1999 (D)3InhaltSeiteVorwort 21 Anwendungsbereich und Zweck41.1 Anwendungsbereich .41.2 Zweck42 Normative Verweisungen43 Begriffe .53.1 Anforderungsg
18、rad .53.2 Verwendung der Begriffe53.3 Definierte Begriffe54 Messung der EIGENFILTERUNG54.1 Allgemeines64.2 Prfmuster64.3 STRAHLENQUALITT fr Messungen64.4 STRAHLUNGSDETEKTOR 64.5 Referenzmaterialien.74.6 Messverfahren .75 Kennzeichnung und Angabe der EIGENFILTERUNG 7Anhang A (normativ) Verzeichnis de
19、r Begriffe.8Anhang ZA (normativ) Normative Verweisungen auf internationale Publikationen mit ihrenentsprechenden europischen Publikationen9EN 60522:1999 (D)41 Anwendungsbereich und Zweck1.1 AnwendungsbereichDiese Internationale Norm gilt fr RNTGENSTRAHLER, die in der medizinischen Diagnostik und in
20、der STRAH-LENTHERAPIE verwendet werden.1.2 ZweckDiese Internationale Norm definiert die EIGENFILTERUNG eines RNTGENSTRAHLERS, wie er fr die medizinischeDiagnose und STRAHLENTHERAPIE gebraucht wird und beschreibt ein Verfahren zu ihrer Bestimmung. Sie enthltAnforderungen, wie die Einhaltung dieser In
21、ternationalen Norm in den BEGLEITPAPIEREN und die Kennzeichnungauf dem RNTGENSTRAHLER erfolgt.Es werden Verfahren angegeben, um die EIGENFILTERUNG eines RNTGENSTRAHLERS mit gengender Genauigkeitzu bestimmen. Dadurch ist es mglich, geeignete ZUSATZFILTERUNG festzulegen, um eine geforderte GESAMT-FILT
22、ERUNG zu erreichen.ANMERKUNG 1 Diese Internationale Norm enthlt keine spezifischen Werte der EIGENFILTERUNG oder der GESAMTFILTERUNG,die einzuhalten wren. Fr RNTGENSTRAHLER und RNTGENEINRICHTUNGEN, welche in der Diagnostik verwendet werden, sinddiese Anforderungen in IEC 60601-1-3 beschrieben.ANMERK
23、UNG 2 Das Verfahren zur Bestimmung der EIGENFILTERUNG, das in dieser Norm beschrieben wird, ist lediglich alsTyptest geeignet. Die Anwendung des Verfahrens durch den BENUTZER ist nicht beabsichtigt.2 Normative VerweisungenDie folgenden normativen Dokumente enthalten Festlegungen, die durch Verweisun
24、g in diesem Text auch frdiese Internationale Norm gelten. Zum Zeitpunkt der Verffentlichung waren die angegebenen Ausgaben gltig.Alle normativen Dokumente unterliegen der berarbeitung. Vertragspartner, deren Vereinbarungen auf dieserInternationalen Norm basieren, sind gehalten, nach Mglichkeit die n
25、euesten Ausgaben der nachfolgendaufgefhrten Normen anzuwenden. Die Mitglieder von IEC und ISO fhren Verzeichnisse der gegenwrtig gltigenInternationalen Normen.IEC 60601-1:1988, Medical electrical equipment Part 1: General requirements for safetynderung Nr. 1 (1991)nderung Nr. 2 (1995).IEC 60601-1-3:
26、1994, Medical electrical equipment Part 1: General requirements for safety 3. CollateralStandard: General requirements for radiation protection in diagnostic X-ray equipment.IEC 60788:1984, Medical radiology Terminology.ISO 2092:1981, Light metals and their alloys Code of designation based on chemic
27、al symbols.EN 60522:1999 (D)53 Begriffe3.1 AnforderungsgradIn dieser Norm haben bestimmte Begriffe, die nicht in Kapitlchen gedruckt sind, eine besondere Bedeutung,nmlich wie folgt: muss“ kennzeichnet eine Anforderung, die fr die Einhaltung der Norm unabdingbar ist; sollte“ kennzeichnet eine dringen
28、de Empfehlung, die fr die Einhaltung der Norm jedoch nicht unabdingbarist; darf“ kennzeichnet eine erlaubte Weise, wie eine Anforderung eingehalten werden kann; spezifisch“ wird verwendet, um festgelegte Informationen zu bezeichnen, die in dieser Norm gegeben werdenoder die in anderen Normen zitiert
29、 werden; diese betreffen blicherweise bestimmte Betriebsbedingungen,Prfanordnungen oder Werte, welche mit der Einhaltung der Norm verknpft sind; spezifiziert“ wird verwendet, um festgelegte Informationen zu bezeichnen, welche vom HERSTELLER in denBEGLEITPAPIEREN oder in anderen Unterlagen gegeben we
30、rden, die sich auf die betrachtete Einrichtungbeziehen. Diese betreffen blicherweise den beabsichtigten Zweck oder die Parameter oder Bedingungen, diemit dem Gebrauch oder mit der Prfung auf Einhaltung verbunden sind.3.2 Verwendung der BegriffeIn der vorliegenden Internationalen Norm werden Begriffe
31、, die in Kapitlchen gedruckt sind, in bereinstimmungmit ihrer Definition in IEC 60601-1, IEC 60788 und in dieser Norm gebraucht.ANMERKUNG Falls ein Begriff, der in diesen Publikationen definiert ist, in der vorliegenden Norm nicht in Kapitlchengedruckt ist, dann ist der Begriff mit davon abweichende
32、r Definition verwendet worden. Die Bedeutung wird in diesen Fllendurch den Kontext bestimmt.Anhang A zeigt eine Zusammenstellung der in dieser Norm benutzten Begriffe.3.3 Definierte BegriffeFr die vorliegende Norm wird Begriff EIGENFILTERUNG wie folgt definiert:3.3.1EIGENFILTERUNGQUIVALENTE FILTERUN
33、G in einem RNTGENSTRAHLER, die durch Materialien, die von der RNTGENSTRAHLUNGdurchdrungen werden, bedingt ist. Es ist nicht vorgesehen, diese Materialien beim BESTIMMUNGSGEMSSENGEBRAUCH zu entfernen. Es sind beim BESTIMMUNGSGEMSSEM GEBRAUCH keine Hilfsmittel zu ihrer Entfernung vor-handen.4 Messung
34、der EIGENFILTERUNGWenn entsprechend den Anforderungen in Abschnitt 5 die EIGENFILTERUNG durch das tatschlich vorhandeneFiltermaterial (z. B. Beryllium) anzugeben ist, dann muss die Art und Dicke des vorliegenden Materials bestimmtoder aber durch Sichtprfung festgestellt werden. Andernfalls muss, wen
35、n die EIGENFILTERUNG eines RNT-GENSTRAHLERS entsprechend dieser Norm nachgewiesen wird, das nachfolgend beschriebene Verfahren ange-wandt werden:EN 60522:1999 (D)64.1 AllgemeinesDie EIGENFILTERUNG wird durch eine Messung der QUIVALENTEN FILTERUNG von Prfmustern derjenigen Materia-lien, die bei dem R
36、NTGENSTRAHLER verwendet und vom RNTGENSTRAHLENBNDEL durchdrungen werden, be-stimmt. Dazu kann ein zusammengesetztes Prfmuster, das die Kombination der verschiedenen Materialien undihrer Dicke entsprechend der vorliegenden Konstruktion nachbildet, verwendet werden.Alternativ kann die EIGENFILTERUNG a
37、us Messungen von Prfmustern der betreffenden Einzelmaterialien berechnetwerden. Voraussetzung ist, dass das Referenzmaterial fr jedes Prfmuster identisch ist und die STRAHLENQUALITT der verwendeten RNTGENSTRAHLUNG fr die Messung so angepasst ist, dass Mate-rialien, die zur EIGENFILTERUNG beitragen,
38、bei dem Prfmuster aber nicht vorhanden sind, obwohl sie sich imNormalfall zwischen dem Prfmuster und dem OPTISCHEN BRENNFLECK befinden, kompensiert werden.ANMERKUNG Das Ergebnis dieser Bestimmung ist nur gltig fr diese spezielle getestete Kombination von Materialien. Beider Herstellung mssen Zusamme
39、nsetzung und Dicke der verwendeten Materialien innerhalb angemessener Grenzen kontrol-liert werden, um die bereinstimmung mit dem angegebenem Wert der EIGENFILTERUNG zu gewhrleisten.4.2 PrfmusterEs sind Prfmuster zu verwenden, die in bereinstimmung mit 4.1 entweder die komplette Kombination derSchic
40、hten verschiedener Materialien oder ein einzelnes Material nachbilden, so wie dies in der Konstruktion desRNTGENSTRAHLERS vorliegt, um den Effekt der gesamten oder nur eines Teiles der EIGENFILTERUNG zu erreichen.4.3 STRAHLENQUALITT fr MessungenUm fr die Messung die geeignete STRAHLENQUALITT zu erha
41、lten, wird eine RNTGENRHRE mit dem gleichenAnodenmaterial wie der zu prfende RNTGENSTRAHLER verwendet sowie eine RNTGENRHRENSPANNUNG miteiner Welligkeit von kleiner als 10 %. Die RNTGENRHRENSPANNUNG ist wie folgt zu whlen:a) fr RNTGENSTRAHLER, bei denen zur EIGENFILTERUNG ein Material mit einer K-Ab
42、sorptionskantenenergie von19 keV oder grer beitrgt, wird eine RNTGENRHRENSPANNUNG entsprechend der K-Kantenenergie desMaterials benutzt, z. B. 20 kV fr Molybdn mit einer K-Kante bei 19,99 keV; oderb) fr RNTGENSTRAHLER, die fr einen sehr eingeschrnkten Spannungsbereich konzipiert sind (z. B. fr CT-An
43、-wendungen) die RNTGENRHREN-NENNSPANNUNG; oderc) fr RNTGENSTRAHLER, bei denen die RNTGENRHREN-NENNSPANNUNG nicht grer als 65 kV ist dieRNTGENRHREN-NENNSPANNUNG; oderd) fr RNTGENSTRAHLER mit einer RNTGENRHREN-NENNSPANNUNG ber 65 kV wird 75 kV oder die Hlfte derRNTGENRHREN-NENNSPANNUNG gewhlt, und zwa
44、r diejenige, die grer ist. Eine Messung zu nahe an derK-Kante von Wolfram sollte nicht erfolgen.Zur Prfung eines zusammengesetzten Prfmusters wird RNTGENSTRAHLUNG mit vernachlssigbarer GESAMT-FILTERUNG (z. B. Berylliumfenster) benutzt. Zur Prfung eines Prfmusters aus einem einzelnen Material wirdzwi
45、schen dem Prfling und dem OPTISCHEN BRENNFLECK eine geeignete Dicke des Referenzmaterials angeordnet,um den Einfluss auf die STRAHLENQUALITT an der EINTRITTSOBERFLCHE des Prfmusters zu kompensieren.4.4 STRAHLUNGSDETEKTOREs ist ein STRAHLUNGSDETEKTOR zu verwenden, dessen Empfindlichkeit im betrachtet
46、en Energiebereich nicht signi-fikant von der Energie abhngt.EN 60522:1999 (D)74.5 ReferenzmaterialienAngaben der HALBWERTSCHICHTDICKE und der Filterung, die in bereinstimmung mit dieser Norm gemacht werden,beziehen sich auf Referenzmaterialien nach folgender Zusammensetzung (Bezeichnung als Cu 99,9
47、entsprechendISO 2092): Aluminium mit einer Reinheit von 99,9 % oder grer und einer Dichte von 2,70 g cm-3; Kupfer mit einer Reinheit von 99,9 % oder grer und einer Dichte von 8,90 g cm-3.4.6 MessverfahrenZunchst wird die erste HALBWERTSCHICHTDICKE unter BEDINGUNGEN FR DIE MESSUNG IN EINEM SCHMALENST
48、RAHLENBNDEL bestimmt, wobei der Prfling nahe am OPTISCHEN BRENNFLECK platziert ist. Unter den gleichenBedingungen wird dann diejenige Dicke des Referenzmaterials bestimmt, die erforderlich ist, um die gleicheHALBWERTSCHICHTDICKE zu erreichen. Die gemessene Dicke des Referenzmaterials ist dann die QU
49、IVALENTEFILTERUNG des Prfmusters.Im Falle eines zusammengesetzten Prflings, der alle Materialien, die zur EIGENFILTERUNG beitragen, enthlt, istdas Ergebnis auch der Wert fr die EIGENFILTERUNG des betreffenden RNTGENSTRAHLERS.Alternativ knnen die erhaltenen Werte (mit dem gleichen Referenzmaterial und den gleichen primren Stra
