1、September 2017 DIN-Normenausschuss Materialprfung (NMP)Preisgruppe 12DIN Deutsches Institut fr Normung e. V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e. V., Berlin, gestattet.ICS 01.040.07; 07.120Zur Erstellung einer DIN SPEC knnen ve
2、rschiedene Verfahrensweisen herangezogen werden: Das vorliegende Dokument wurde nach den Verfahrensregeln einer Vornorm erstellt.!%_“2609058www.din.deDIN CEN ISO/TS 80004-2Nanotechnologien Fachwrterverzeichnis Teil 2: Nanoobjekte (ISO/TS 80004-2:2015);Deutsche Fassung CEN ISO/TS 80004-2:2017Nanotech
3、nologies Vocabulary Part 2: Nano-objects (ISO/TS 80004-2:2015);German version CEN ISO/TS 80004-2:2017Nanotechnologies Vocabulaire Partie 2: Nano-objets (ISO/TS 80004-2:2015);Version allemande CEN ISO/TS 80004-2:2017Alleinverkauf der Spezifikationen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 BerlinErsatz frDIN S
4、PEC 1121(DIN ISO/TS 27687):2010-02www.beuth.deGesamtumfang 21 SeitenDIN SPEC 52400-2 DDIN CEN ISO/TS 80004-2 (DIN SPEC 52400-2):2017-09 2 Nationales Vorwort Eine DIN SPEC nach dem Vornorm-Verfahren ist das Ergebnis einer Normungsarbeit, das wegen bestimmter Vorbehalte zum Inhalt oder wegen des gegen
5、ber einer Norm abweichenden Aufstellungsverfahrens von DIN noch nicht als Norm herausgegeben wird. Zur vorliegenden DIN SPEC wurde kein Entwurf verffentlicht. Dieses Dokument (CEN ISO/TS 80004-2:2017) wurde vom Technischen Komitee ISO/TC 229 Nanotechnologies“ in Zusammenarbeit mit dem Technischen Ko
6、mitee CEN/TC 352 Nanotechnologien“ erarbeitet, dessen Sekretariat von AFNOR (Frankreich) gehalten wird. Das zustndige nationale Normungsgremium ist der Unterausschuss NA 062-08-17-01 UA Terminologie“ des Arbeitsausschusses NA 062-08-17 AA Nanotechnologien“ im DIN-Normenausschuss Materialprfung (NMP)
7、. Fr die in diesem Dokument zitierten internationalen Dokumente wird im Folgenden auf die entsprechenden deutschen Dokumente hingewiesen: ISO 9276-1/Cor 1:2004 siehe DIN ISO 9276-1:2004-09 ISO 9276-6:2008 siehe DIN ISO 9276-6:2012-01 ISO 9277:2010 siehe DIN ISO 9277:2014-01 ISO 14644-3:2005 siehe DI
8、N EN ISO 14644-3:2006-03 ISO 14644-6:2007*)siehe DIN EN ISO 14644-6:2007-10*)ISO/TS 80004-1:2010*)siehe DIN CEN ISO/TS 80004-1:2015-03 (DIN SPEC 52400-1)*)ISO/TS 80004-3:2010*)siehe DIN ISO/TS 80004-3:2011-02 (DIN SPEC 52400-3)*)ISO/TS 80004-4:2011*)siehe DIN ISO/TS 80004-4:2012-07 (DIN SPEC 52400-4
9、)*)nderungen Gegenber DIN SPEC 1121:2010-02 wurden folgende nderungen vorgenommen: a) Nummer und Titel abgendert; b) Begriffe Bestandteil-Partikel“, technisches Nanoobjekt“, industriell hergestelltes Nanoobjekt“, unbeabsichtigtes Nanoobjekt“, Nanoband“, Nanokugel“, Nanozwiebel“, Kern-Schale-Nanopart
10、ikel“, Nanokegel“ und Nanokristall“ aufgenommen; c) Begriff Quantenpunkt“ entfernt; d) Anhang B zur Erluterung der Abgrenzung von Agglomerat, Aggregat und Bestandteil-Partikel aufgenommen. Frhere Ausgaben DIN CEN ISO/TS 27687: 2008-11 DIN SPEC 1121: 2010-02 *) ohne Ersatz zurckgezogen *) mit Ersatz
11、zurckgezogen DIN CEN ISO/TS 80004-2 (DIN SPEC 52400-2):2017-09 3 Nationaler Anhang NA (informativ) Literaturhinweise DIN EN ISO 14644-3:2006-03, Reinrume und zugehrige Reinraumbereiche Teil 3: Prfverfahren (ISO 14644-3:2005); Deutsche Fassung EN ISO 14644-3:2005 DIN EN ISO 14644-6:2007-10*), Reinrum
12、e und zugehrige Reinraumbereiche Teil 6: Terminologie (ISO 14644-6:2007); Dreisprachige Fassung EN ISO 14644-6:2007 DIN ISO 9276-1:2004-09, Darstellung der Ergebnisse von Partikelgrenanalysen Teil 1: Grafische Darstellung (ISO 9276-1:1998) DIN ISO 9276-6:2012-01, Darstellung der Ergebnisse von Parti
13、kelgrenanalysen Teil 6: Deskriptive und quantitative Darstellung der Form und Morphologie von Partikeln (ISO 9276-6:2008) DIN ISO 9277:2014-01, Bestimmung der spezifischen Oberflche von Festkrpern mittels Gasadsorption BET-Verfahren (ISO 9277:2010) DIN CEN ISO/TS 80004-1:2015-03 (DIN SPEC 52400-1)*)
14、, Nanotechnologien Fachwrterverzeichnis Teil 1: Kernbegriffe (ISO/TS 80004-1:2010); Deutsche Fassung CEN ISO/TS 80004-1:2014 DIN ISO/TS 80004-3:2011-02 (DIN SPEC 52400-3)*), Nanotechnologien Fachwrterverzeichnis Teil 3: Kohlenstoff-Nanoobjekte (ISO/TS 80004-3:2010) DIN ISO/TS 80004-4:2012-07 (DIN SP
15、EC 52400-4)*), Nanotechnologien Fachwrterverzeichnis Teil 4: Nanostrukturierte Materialien (ISO/TS 80004-4:2011) DIN CEN ISO/TS 80004-2 (DIN SPEC 52400-2):2017-09 4 Leerseite TECHNISCHE SPEZIFIKATION TECHNICAL SPECIFICATION SPCIFICATION TECHNIQUE CEN ISO/TS 80004-2 Juli 2017 ICS 07.120; 01.040.07 De
16、utsche Fassung Nanotechnologien Fachwrterverzeichnis Teil 2: Nanoobjekte (ISO/TS 80004-2:2015) Nanotechnologies Vocabulary Part 2: Nano-objects (ISO/TS 80004-2:2015) Nanotechnologies Vocabulaire Partie 2: Nano-objets (ISO/TS 80004-2:2015) Diese Technische Spezifikation (CEN/TS) wurde vom CEN am 19.
17、Juni 2017 als eine knftige Norm zur vorlufigen Anwendung angenommen. Die Gltigkeitsdauer dieser CEN/TS ist zunchst auf drei Jahre begrenzt. Nach zwei Jahren werden die Mitglieder des CEN gebeten, ihre Stellungnahmen abzugeben, insbesondere ber die Frage, ob die CEN/TS in eine Europische Norm umgewan
18、delt werden kann. Die CEN Mitglieder sind verpflichtet, das Vorhandensein dieser CEN/TS in der gleichen Weise wie bei einer EN anzukndigen und die CEN/TS verfgbar zu machen. Es ist zulssig, entgegenstehende nationale Normen bis zur Entscheidung ber eine mgliche Umwandlung der CEN/TS in eine EN (para
19、llel zur CEN/TS) beizubehalten. CEN-Mitglieder sind die nationalen Normungsinstitute von Belgien, Bulgarien, Dnemark, Deutschland, der ehemaligen jugoslawischen Republik Mazedonien, Estland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien, Kroatien, Lettland, Litauen, Luxemburg, Malta, d
20、en Niederlanden, Norwegen, sterreich, Polen, Portugal, Rumnien, Schweden, der Schweiz, Serbien, der Slowakei, Slowenien, Spanien, der Tschechischen Republik, der Trkei, Ungarn, dem Vereinigten Knigreich und Zypern. EUROPISCHES KOMITEE FR NORMUNG EUROPEAN COMMITTEE FOR STANDARDIZATION COMIT EUROPEN D
21、E NORMALISATION CEN-CENELEC Management-Zentrum: Avenue Marnix 17, B-1000 Brssel 2017 CEN Alle Rechte der Verwertung, gleich in welcher Form und in welchem Verfahren, sind weltweit den nationalen Mitgliedern von CEN vorbehalten. Ref. Nr. CEN ISO/TS 80004-2:2017 D CEN ISO/TS 80004-2:2017 (D) 2 Inhalt
22、Seite Europisches Vorwort 3 Vorwort 4 Einleitung 6 1 Anwendungsbereich . 8 2 Kernbegriffe bezglich Partikel . 8 3 Begriffe bezglich Partikeln und Partikelansammlungen . 8 4 Begriffe bezglich Nanoobjekten . 9 (informativ) Messung der Partikelgre . 12 Anhang A(informativ) Agglomerate, Aggregate und Be
23、standteil-Partikel 15 Anhang B(informativ) Stichwortverzeichnis 16 Anhang CLiteraturhinweise . 17 DIN CEN ISO/TS 80004-2 (DIN SPEC 52400-2):2017-09 CEN ISO/TS 80004-2:2017 (D) 3 Europisches Vorwort Der Text von ISO/TS 80004-2:2015 wurde vom Technischen Komitee ISO/TC 229 Nanotechnologies“ der Intern
24、ationalen Organisation fr Normung (ISO) erarbeitet und als CEN ISO/TS 80004-2:2017 durch das Technische Komitee CEN/TC 352 Nanotechnologien“ bernommen, dessen Sekretariat von AFNOR gehalten wird. Es wird auf die Mglichkeit hingewiesen, dass einige Elemente dieses Dokuments Patentrechte berhren knnen
25、. CEN ist nicht dafr verantwortlich, einige oder alle diesbezglichen Patentrechte zu identifizieren. Dieses Dokument ersetzt CEN ISO/TS 27687:2009. Entsprechend der CEN-CENELEC-Geschftsordnung sind die nationalen Normungsinstitute der folgenden Lnder gehalten, diese Technische Spezifikation anzukndi
26、gen: Belgien, Bulgarien, Dnemark, Deutschland, die ehemalige jugoslawische Republik Mazedonien, Estland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien, Kroatien, Lettland, Litauen, Luxemburg, Malta, Niederlande, Norwegen, sterreich, Polen, Portugal, Rumnien, Schweden, Schweiz, Serbien,
27、 Slowakei, Slowenien, Spanien, Tschechische Republik, Trkei, Ungarn, Vereinigtes Knigreich und Zypern. Anerkennungsnotiz Der Text von ISO/TS 80004-2:2015 wurde von CEN als CEN ISO/TS 80004-2:2017 ohne irgendeine Abnderung genehmigt. DIN CEN ISO/TS 80004-2 (DIN SPEC 52400-2):2017-09 CEN ISO/TS 80004-
28、2:2017 (D) 4 Vorwort ISO (die Internationale Organisation fr Normung) ist eine weltweite Vereinigung von Nationalen Normungsorganisationen (ISO-Mitgliedsorganisationen). Die Erstellung von Internationalen Normen wird normalerweise von ISO Technischen Komitees durchgefhrt. Jede Mitgliedsorganisation,
29、 die Interesse an einem Thema hat, fr welches ein Technisches Komitee gegrndet wurde, hat das Recht, in diesem Komitee vertreten zu sein. Internationale Organisationen, staatlich und nicht-staatlich, in Liaison mit ISO, nehmen ebenfalls an der Arbeit teil. ISO arbeitet eng mit der Internationalen El
30、ektrotechnischen Kommission (IEC) bei allen elektrotechnischen Themen zusammen. Die Verfahren, die bei der Entwicklung dieses Dokuments angewendet wurden und die fr die weitere Pflege vorgesehen sind, werden in den ISO/IEC-Direktiven, Teil 1 beschrieben. Im Besonderen sollten die fr die verschiedene
31、n ISO-Dokumentenarten notwendigen Annahmekriterien beachtet werden. Dieses Dokument wurde in bereinstimmung mit den Gestaltungsregeln der ISO/IEC-Direktiven, Teil 2 erarbeitet (siehe www.iso.org/directives). Es wird auf die Mglichkeit hingewiesen, dass einige Elemente dieses Dokuments Patentrechte b
32、erhren knnen. ISO ist nicht dafr verantwortlich, einige oder alle diesbezglichen Patentrechte zu identifizieren. Details zu allen whrend der Entwicklung des Dokuments identifizierten Patentrechten finden sich in der Einleitung und/oder in der ISO-Liste der empfangenen Patenterklrungen (siehe www.iso
33、.org/patents). Jeder in diesem Dokument verwendete Handelsname wird als Information zum Nutzen der Anwender angegeben und stellt keine Anerkennung dar. Eine Erluterung der Bedeutung ISO-spezifischer Benennungen und Ausdrcke, die sich auf Konformittsbewertung beziehen, sowie Informationen ber die Bea
34、chtung der WTO-Grundstze zu technischen Handelshemmnissen (TBT, en: Technical Barriers to Trade) durch ISO enthlt der folgende Link: www.iso.org/iso/foreword.html. Die fr dieses Dokument verantwortlichen Komitees sind ISO/TC 229, Nanotechnologies, und das Technische Komitee IEC/TC 113, Nanotechnolog
35、y standardization for electrical and electronic products and systems. Der Entwurf wurde den nationalen Mitgliedern der ISO und der IEC jeweils zur Abstimmung vorgelegt. Die erste Ausgabe von ISO/TS 80004-2 ersetzt ISO/TS 27687:2008, die technisch berarbeitet wurde. Dokumente im Referenznummernbereic
36、h 80000 bis 89999 werden in Zusammenarbeit von ISO und IEC erarbeitet. ISO/TS 80004 mit dem Haupttitel Nanotechnologies Vocabulary besteht aus folgenden Teilen: Part 1: Core terms Part 2: Nano-objects Part 3: Carbon nano-objects Part 4: Nanostructured materials Part 5: Nano/bio interface Part 6: Nan
37、o-object characterization Part 7: Diagnostics and therapeutics for healthcare Part 8: Nanomanufacturing processes DIN CEN ISO/TS 80004-2 (DIN SPEC 52400-2):2017-09 CEN ISO/TS 80004-2:2017 (D) 5 Die folgenden Teile werden derzeit erarbeitet: Part 9: Nano-enabled electrotechnical products and systems
38、Part 10: Nano-enabled photonic components and systems Part 11: Nanolayer, nanocoating, nanofilm, and related terms Part 12: Quantum phenomena in nanotechnology Part 13: Graphene and other two-dimensional materials DIN CEN ISO/TS 80004-2 (DIN SPEC 52400-2):2017-09 CEN ISO/TS 80004-2:2017 (D) 6 Einlei
39、tung Es ist anzunehmen, dass die Anwendung von Nanotechnologien mglicherweise in alle Lebensbereiche vordringen wird. In den Bereichen der Kommunikation, Gesundheit, Produktion, Materialwissenschaft und wissensbasierten Technologien besteht ein Bedarf, der Industrie und Forschung ein(e) genormte(s)
40、Vokabular und Nomenklatur bereitzustellen, um die verantwortungsbewusste Weiterentwicklung und Anwendung der Technologien zu untersttzen. Ebenfalls ist es wichtig, dass Regulierungsbehrden, wie Gesundheits- und Umweltschutzeinrichtungen, ber zuverlssige Messmethoden verfgen, die sich auf gesicherte
41、und belastbare Normen sttzen. Auf dem Gebiet der Nanotechnologie werden Materialien, die auf Mikroskopieabbildungen zu sehen sind, oft nach der Form der Objekte bezeichnet, die im tglichen Leben anzutreffen sind, obwohl ihre physikalische Gre viel kleiner ist. Zur Kennzeichnung der kleinen Gre des O
42、bjekts wird oft die Vorsilbe Nano- bzw. nano-“ vorangestellt. (Die Vorsilbe Nano“ wird auch in SI-Einheiten zur Angabe von 109verwendet, z. B. 1 Nanometer = 109Meter.) Somit wurde der Begriff Nanomastab“ (2.1) definiert, um das Lngenintervall von ungefhr 1 nm bis 100 nm zu bezeichnen. Um ein einheit
43、liches Vokabular zu schaffen, umfasst dieser Teil von ISO 80004 Begriffe fr Partikel mit nanoskaligen Abmaen. Die Begriffe in diesem Teil von ISO 80004 sind Teil einer im Aufbau befindlichen greren Begriffshierarchie fr Nanotechnologien. Diese Begriffe sollen die Kommunikation zwischen Organisatione
44、n und Personen aus der Industrie und denjenigen, die mit ihnen zusammenarbeiten erleichtern. Objekte mit einem Auenma oder mehreren Auenmaen im Nanomastab knnen Eigenschaften aufweisen, die sie zu wesentlichen Bestandteilen von Materialien und Systemen machen, woraus bessere Eigenschaften gegenber d
45、eren konventionelle Pendants resultieren. Diese Nanoobjekte (2.2) weisen oft Eigenschaften auf, die nicht bloe Extrapolationen der Eigenschaften ihrer greren Form darstellen, wobei diese neuen Eigenschaften als neu entstandene, diskontinuierliche oder transformative Eigenschaften bezeichnet werden.
46、Die Gre und Form von Nanoobjekten sind oft wesentlich fr ihre Funktion, daher sind die Beschreibung und Messung ihrer Gre und Form wichtig und mssen sorgfltig bercksichtigt werden. Die drei grundlegendsten Formen, auf die in diesem Teil von ISO 80004 verwiesen wird, sind in Bild 1 dargestellt. Diese
47、 drei einfachen Formen reprsentieren die Hauptklassen der strukturellen Grenordnungen, um die Kategorisierung von Nanoobjekten zu untersttzen. Weitere bliche Formen sind in diesem Teil von ISO 80004 definiert, aber es ist eine groe Anzahl unterschiedlicher Formen mglich. Zustzlich zur Gre und Form g
48、ibt es eine Reihe weiterer Parameter, die fr die durch die Nanoobjekte erzeugten Funktionen und Phnomene wesentlich sind. Diese Parameter umfassen Zusammensetzung, Morphologie, kristalline Struktur und Oberflchenmerkmale, die alle einen wesentlichen Einfluss auf die wichtigsten nanoskaligen Phnomene
49、 von Nanoobjekten haben knnen. Solche Phnomene schlieen magnetische, optische, katalytische, elektronische und andere Eigenschaften ein. Ein besonderes Problem betrifft Nanoobjekte, bei denen eine oder mehrere Auenmae grer als der Nanomastab sind. Ein Missverstndnis kann auftreten, wenn eines dieser Mae den Nanomastab
