GB T 4098.8-1983 射频电缆低温试验方法.pdf
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GB T 4098.8-1983 射频电缆低温试验方法.pdf
1、中华人民共和国国家标准射频电缆低温试验方法Test method of low- temperature for radio- frequency cables 本标准适用于考查柔软和半柔软射频电缆在低温下的弯曲性能。1 试样UDC .62 1. 315.2:537 .5:621. 317.3 GB 4098.8 83 1. 1 实芯聚乙烯绝缘射频电缆的试样长度，除另有规定外按表l选取。其他刑式rt!_缆的J样长!主按有关标准的规定。表l电缆标称外径D., 12.7 12.7 mm 试样长度150Ds :_;, 1201 1. 2 试样应从庇且电缆k截取，电缆护套外面如有铠装，则试验前应将铠装
2、去押。2 试验设备2.1 低温试验箱(室):应符合GB2423.1-81 (电1:电f产rtltlJ;本环境试验规fl试验A:低温试验方法)l第4章的规屯。2.2 卷绕用芯轴z除另有规;屯外，莫直径为电缆和J;柏:外径的10r。S 试验步骤3.1 将试样干直地放人低温箱(室)内，如设备不允许、v自JiJ.贵时，也可把试样在成山伦不小l电缆标称外径30倍的圈束放置。试验弯曲用的芯轴，也应4起放人低温箱(室)内。3.2 .除另有规也外，按在2调节低温箱(室)的温度。在2电缆1, 柏:久:芯聚乙烯绝缘、聚氯乙烯护套射频电缆实芯聚问氟乙烯绝缘、饭16护套射频电缆实，巴;聚凹饭乙烯绝缘、聚I叫氟乙烯护套
3、射频电缆iltft -1O .:!:3C 55士3C 55土3( 1ft 3.3 试验时间从箱(室)温L主到规屯温皮时算起，试样在规也温度F保持20小时。3.4 试验时间终了时，在同温下将试样以大约每4秒1国的卷绕速度在芯轴f.南绕，在绕所HJ() Z;轴自径及卷绕圈数，对实芯绝缘射频电缆除另有规Jl:外按辰3确定。国家标准局1983-12-27发布1984-12-01实施GB 40 98 . 8 - 83 表3电缆标柏:外径D mm 卷绕的芯轴直径12.7 4 试验后要求从试验箱(室)中取出试样后，其绝缘和护套应无机械损伤。注:椭圆形电缆的卷绕!气径应是短轴的10倍，卷绕时短轴应与芯轴轴线垂直。附加说明:本标准由中华人民共和国电f工业部提出。本标准由电-r:业部六O九厂等负责起草。卷绕圈数3 2
