SJ T 10884-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10131型ECL双主从D触发器（可供认证用）.pdf
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SJ T 10884-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CE10131型ECL双主从D触发器（可供认证用）.pdf
检验或试验Ca分组电耐久柯:(lOOOh ) 最后测量g(同A2和A3分组)C9分组114温贮存(D)最后测量z(同A2和A3分组)Cll分组标志耐久性C 23分组(非空封器件抗溶性(D)C 24分组( Ft封器件易燃性(D)CRRL分组9 D组定批准1巳GR7611-87 /用文件GB 4590 84 第4.7条GB 4590 84 第3.跺GB 4590 84 第4.3条GB 4590 84 第4.4条GB 4590一一84第4.1条续表条件名尤其它规定，Tamb=25C(见GB4589.1 84第4r;,) 同B8 5Hfi 同A2平nA3分组1000h , 温度按严格度C同A2丰L1A3分组按方法2按4.4.2款按4.1.2拭中:在驰安:求规范1ft同A2和A3分组/riJ A 2和A35组按4.3. 2款按4.4.2款按4.1. 2款就C3、C4、CI1、C7, C 8、C9、Cll、C23和C24提供计数价h占果D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行，其后每4.进行一次。中(注验戎试验5/ 用又4牛条件中;在验要求规范值D8分组电而J久生(D)GB 4590 84 E类:2000h 第4.7条皿类:3000h 最后测敏:其它同88分织(同A2和A3分组)问A2和A3分组同A2平nA3分组12
