SJ T 10833-1996 电子元器件详细规范 3DG80型高低频放大环境额定双极型晶体管（可供认证用）.pdf
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SJ T 10833-1996 电子元器件详细规范 3DG80型高低频放大环境额定双极型晶体管（可供认证用）.pdf
1、GB 7147 87 6 标志6.1 器件上的标志a. 产品型号3 DG80, b. 在管壳顶部点上色标FC. 类别标志应放在型号后面，d. 常11浩厂商标，e. 检验批的识别代码每周作为一个检验批。6.2包装盒上的标志a. 亩直言器件上的标志Fb. 标上防温等字样，C. 标k技术协议标志等(特殊供货时)。7 定货定货单上应有下列资料za. 准确的型号Eb. h21 E( I )色标，C. 本规范编号。8试验条件和检验要求A组-一逐批A组全是非破坏性的。条件GB 4936.1 检验或试验试方法T.mb = 25C 见总规范的第4章Al分组GB 4936.1的5.1.1外观检查A2a分组不工作器
2、件h21E (1) T -006 VCE = lO V Ic = 5 rnA IcB 0 (1) T- 001 VCB = 25V IEBo T- 002 VEB = 4 V A2b Ic BO(l) T- 001 VCB = 25V IcEo T-009 VCE = 20V h21E (1) T-006 VCE = 10V fc = 5 rnA 检查要求数值II 类单位小值大自IL AQL J (1) 0.65 5 Gp GB 4587 Vcc=.10V IE= 5mA 15 dB f=200MHz 一一一一一B组一逐批标注(D)的试验是破坏性试验(见GB4936.1的3.6.6条)。验要求条件检验或试方法Tamb = 25 C 数E类见总规范的4章单位LTPD 最4最, B1分组GB 4936.1 尺寸5.2 15 附录CB分GB 4937* 本采用方法1按GB4937 引线弯曲的2.1.2条受试引出端数:4 的2.1.1.115 (D) 外加力:2.5N 的检验* GB 4937 85 (半导体分立器件机械和气候试验方法) 6
