SJ T 10810-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1004型TTL六反相器（可供认证用）.pdf
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SJ T 10810-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1004型TTL六反相器（可供认证用）.pdf
GB 7007 86 10.2 符号测试方法几HGB 3439 82 2条入端接V1LVOL GB 3439 82第2.5条入端接V1HV1K GB 3439 82第2.1条A GB 3439 82 .11条11H GB 3439 82第2.12条1IL GB 3439 82第2.13条105 GB 3439 82 21条人端接地一一1CCH GB 3439 82第2.26条lccL GB 3439 82第2.27条人端接4.5V一-一一一一10.3 动态10.3.1 基本测试线路按GB3439 82图35、36。10.3.2 负载线路测试点V R , 被测输出端CL 图3注zCL包括探头及夹具的电容。二极管为3DK3B(bc短接)。10.4 电耐久电耐久性试验线路4如图4所示。13
