SJ T 10808-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1000型TTL四2输入与非门（可供认证用）.pdf
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SJ T 10808-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1000型TTL四2输入与非门（可供认证用）.pdf
GB 7001一18A组所有试验均为非破坏性的见GB4589 84第3.6.6款。检验或试A1分组外部目梭AZ 功能验证A3 静态特性引用文件GB 4589 84 .1. 1款条件若无其他规定，TA=25C(见GB4589 84第4章按本规范第5.2.1款和5.2.2款，11.2条GB 3439 82叫按本规范第5.2.1款至5.2.9款，本规范第10.2条。4.。向目。aaa a RU G 态静如嘀分-ea 度A温同作工性4高性特A最特A4 最低工特性特性g同A3分组度下的静态IGB 3439 82 A5分组动态特性GB 3439 82 * GB 3439 82 (半导体TTL TA按本规范第4.1款最条件s同A3分组, TA按本规班第4.1款最条件g同A3分组, 按第5.2.10款，本规范第10.3条测试方法的基本原理。检验要求规范同本规范第5.2.1款和5.2.2款同本规范第5.2.1款至5.2.9款同A3分组同A3分组罔本2.10款7
