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    SJ 50601 1-1998 MF5602型、MF5604型低温热敏电阻器详细规范.pdf

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    SJ 50601 1-1998 MF5602型、MF5604型低温热敏电阻器详细规范.pdf

    1、S.J 中华人民共和国电子行业军用标准FL5911 SJ 50601/1-1998 MF5602型、MF5604型低温热敏电阻器详细规范Detai1 specification for low temperature thermistors for type MF5602 and MF5604 1998叩03-18发布1998响。01实施中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和困电子行业军用标准MF5602型、MF5604型低温热敏电阻器详细规范SJ 50601/1-1998 Detail specification for low temperature thermistors for ty

    2、pe MF5602 and MF5604 本规m规定的MF5602型,MF5604型低温热敏电阻器,其全部要求自本规范和GJB601A-98 热敏电阻器总规施作出规定。1 范囤1. 1 :t题内容本规?也规定了MF5602型,MF5604那低温热敏电阻器(以下简称产品)的结构、尺寸和要求以及对GJB601A的补充规定。1. 2 适用范罔本规范适用于MF5602型和MF5604别在低泪环境条件下进行精密温度测量与控制的低温热敏电阻器。2 引用文件GB 601A-98 热敏电阻器总规范GJB 360A-96 电子及电气元件试验方法3 要求3. 1 详细要求除非另有规定,MF5602 , MF560

    3、4型产品的全部要求应符合本规币的规定。3.2 结构及外形尺寸3.2.1 结构产品的电极引出钱采用杜荣丝,阻体采用玻璃绝缘密封。3.2.2 外形尺寸产品的外形图如因1所示,尺寸按表1的规定。中华人民共和国电子工业部1998蛐03-18发布施F实lnu vo nu hHM nuu hu SJ 50601/1一1998wmae白电L2mm k :J II晶咱aTE-t,agcmm 阁l表1mm 型号hmax bmax L1max L2min 中Dmaxdmax MF5602 3 2 10 35 0.30 1.5 叩MF56J咕3 2 8 35 0.35 1.5 3.3 工作温度范围3. 3. 1 M

    4、F5602型产品的五作温度范围为20K(TminY 707 K(Tmax)o 3. 3. 2 MF5604型产品的工作温度范围为77K(Tmin)-273 K(丁max)o3.4 最大额定功率(Pmax)MF5602型和MF5604型产品的最大额定功率及其降功率钱见回2。P/mW Pmax Tmn Tmax T/K 因2叫F嗣SJ 50601/1一19983.5 在低植液体介质中的零功事电阻值及允许偏差3. 5. 1 MFS602型产品在低翻液体介质中的零功感电阻值应在液氮(20.28K,由252.880C)中测量,零功率电阻值部留为10500kO,每个零功率电阻值的允许偏差为土50%。MFS

    5、604型产品在低温被体介质中的零功率电阻值应在液氧(90.188K,申182川20C)成液氮(77.36K, -195.8 OC)中测囊,零功率电阻值范围为10300kQ,每个零功卒电阻值的允许偏兼为土40%。3.5.2 低混液体介质测最时,热敏电阻器烧入低温液体介质中,距离低温液体液回应不小于200mmo 3.5.3 埠接钱与接触电阻采用直接电阻法测量电阻时,如果测量的电阻值比较小,则考虑连接线电阻和接触电阻引起的测最误盏,其脱不大于0.1%。3.6 液氮和被氧温度F的零功率电阻比3. 6. 1 MF5602型产品在准氮和破氧温度下的零功率电阻比为(1.5-2.5),对每个电阻比的允许偏接为

    6、士10%。3. 6. 2 MF5604型产品在液氮和液氧温度下的零功率电阻比为(2.5-5.0),对每个电阻比的允许偏麓为土10%。3. 7 可焊性试验后,产品电极引出钱距绝缘密封破璃根部允许应不大于5mm的无焊抖镀层,其余部分焊料镀层符合可焊性求。3.8 短期负荷试验后,产品在被戴中等功率电阻值的变化应不大于0.5%。最大额定功率及降功率要求应符合3.4条要求。3.9 纯缘电阻按照GJB360A方法302试验条件B和以下规定试验:用玻璃器皿艘载自来水成食盐水,水在器皿中的高度应不大于1mm,电lli输出的一端接到玻璃器血的水中,另一端接产品的阿根电极引出钱,试验时用产品纯缔密封破璃顶部设触玻

    7、璃器皿中的水面。低温热敏电阻器的绝缘电阻应不小于100MOo 3.10 低温贮存试验时,MF5602型产品在溅氧(20K)中贮存,MF5604型产品在液氮(77K) 成液氧(90K)中贮存,贮存不小于4h后按3.5条进行第一次零功率电阻值测盘,然后继续贮存3h,接着进行第二次零功率电阻值测簸。试验前启产品在低湖液体介质中的零功率也阻值变化,MF5602型产品应不太子1.5%,MF5604型产品应不大于0.5%。3. 11 高温贮存惜、JWSJ 50601月一1998贮存100h后产品在液氧(90K)戚榄氟(77K)中的零功率电阻值的变化应不大于0.5%。3.12 耗散常数按GJB601A98中

    8、4.6.10条和以下规定试验,耗散常数在液氮或被氧中测囊,由公式(1)计算出报度为T时的学功率电阻值Rr:斗机p(乒了)OII. . . . . . . . . ( 1 ) 式中:几液氮戚液氧温度,K; 俨一-78.36K或91.188K: T几Rr。一一To时的零功率电阻值,kn; B-B值。给产品加负荷使其电阻值等于RT此时所加的负荷功率即为液氮戚液氧温度下的耗散常数。在液氮温度下IMF5602型产品的耗散常数应不小子15mW瓜,MF5604型产品的耗散常数脱不小于10mWlK o 3. 13 热时间常数测量85.47K (币187.69OC)时产品的零功率电阻值。将产品置于液氮中,保持至

    9、少5min以上,然后迅速将产品取出浸入其距离不大于1m之内的液氧中,在产品从液氮中取出的同时开始计时,并监测其零功率电阻值。记录产品温度升到85.47K时的时间即为自液氮温度到液氧撒度的热时间常数。披以上方法试验时,低温热敏电阻器的热时间常数不大于5s。3.14 引出端强度在产品引线轴向上施加10N的拉力,持续时间5-10s,试验前后产品在液氮中的零功率电阻值变化应不大于0.5%。3. 15 零功率电阻值一监皮特性及允许偏差产品典型的零功率电阻僚温度特性及允许偏差见表20响4时nOM hMHW唰VE-唰吨,m一我nHVm rom ed川HKM阳Xt 20 28 38 48 58 68 77 M

    10、F5604 一一一一一一40000土40%MF5602 50000士50%50:1:37% 826土28%253士22%109士17%55土13%33土10%型号i,RETT偏am差98 123 148 173 198 223 273 MF5604 5880土32%1220土29%397士24%168土20%85土17%48士14%20土10%M盯602一一一一3. 16 温度冲击MF5604型产品的冲击温度为室温室液氮或峨氧温度,MF5602型产品的冲击泪度为室温液氮温度。低晦液体一室温一低据液体为冲击一次,共冲击10次。浸在低温攘体中的时间不小子10s,取出在室温下的恢复时间不小子10mi

    11、n,并使产品表面的水气充分干燥。试验前后产品在低温液体介质中的零功率电阻值的变化服不大于0.5%。3.17 耐焊接热试验脂,产品应无机械损伤,产品在破氮中苓功率电阻值的变化应不大于0.5%。3.18 耐温加负载时,产品的最大额定功事应符合3.4条要求。试验后产品应无机械损伤,绝缘电阻般不小于100MQ,产品在液氮中零功率电阻值的变化应不大于0.5%。3. 19 负荷寿命试验时所加的最大额定功事应符合3.4条要求,产品在液氯中的零功率电阻值的变化在250h, 500 h屈服不大于0.7%,750和1000h后脱不大于1.0%。3.20 高温暴露试验的最高温度为85心吧,产品在液氮中的零功率电阻值

    12、在100h启变化应不大于0.7%,1000 h后变化应不大于1.0%。3.21 高频振动试险后,产品应无机械损伤,产品在液氮中的零功率电阻值变化应不大于0.5%。3.22 冲击试验后,产品应无机械损伤,产品在液氮中的零功率Lg阻值变化应不大于0.5%。3.23 漫琐,、dSJ 50601/1一1998试验后,产品的绝缘电阻应不小子20Mn,产品在液氮中零功率电阻值变化应不太子0.5%。3.24 外观质量产品的电阻体应完好无裂损,包裹电阻体的绝缘密封玻璃应密封良好,无气泡,无裂纹。玻璃尾部杜英丝引线及其焊点处允许有少最气泡,气梅的最大直径脏不大于0.3 mmo 附加说明:本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由中国科学院新蹦物理所负责起草。本规范主要起草人:妥万棒、沈波。计划项目代号:B61019。叩6甲


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