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    GB T 17550.3-1998 识别卡 光记忆卡 线性记录方法 第3部分;光属性和特性.pdf

    • 资源ID:231701       资源大小:279.66KB        全文页数:7页
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    GB T 17550.3-1998 识别卡 光记忆卡 线性记录方法 第3部分;光属性和特性.pdf

    1、中华人民共和国国家标准识别卡光记忆卡线性记录方法第部分光属性和特性发布实施国家质量技术监督局发布前言本标准等同采用国际标准识别卡光记忆卡线性记录方法第部分光属性和特性在总标题识别卡光记忆卡线性记录方法下包括下述部分第部分物理特性第部分可访问光区域的尺寸和位置第部分光属性和特性第部分逻辑数据结构本标准由中华人民共和国电子工业部提出本标准由电子工业部标准化研究所归口本标准起草单位电子工业部标准化所本标准主要起草人冯敬冯惠李韵琴蔡怀忠陈云峰前言国际标准化组织和国际电工委员会建立了世界范围标准化的专门系统或的国家成员团体通过国际组织建立的各个技术委员会参与制定针对特定技术领域的国际标准和技术委员会在共

    2、同感兴趣的领域合作其他与和有联系的官方和非官方的各国际组织也参与此项工作在信息技术领域和建立了一个联合技术委员会即由联合技术委员会提出的国际标准草案需分发给各成员团体进行表决作为国际标准发布至少需要的成员团体投票赞成国际标准由联合技术委员会信息技术的分委员会识别卡及相关设备制定在总标题识别卡光记忆卡线性记录方法下包括下述部分第部分物理特性第部分可访问光区域的尺寸和位置第部分光属性和特性第部分逻辑数据结构引言本标准是描述光记忆卡的参数以及如何使用这种卡存储和数字数据交换的系列标准之一本标准认为记录和读光记忆卡信息存在着不同的方法其特性也随所使用的记录方法而确定通常这些不同的记录方法彼此是不兼容的

    3、因此本标准采用一种一致的方法来组织使之适应现存的以及将来的记录方法本标准专用于使用线性记录方法的光记忆卡适用于其他特定的记录方法的特性可以在独立的标准文件中找到本标准定义了光属性和特性以及符合加入和或不符合此相关的基本文件的范围中华人民共和国国家标准识别卡光记忆卡线性记录方法第部分光属性和特性国家质量技术监督局批准实施范围本标准定义了使用线性记录方法的光记忆卡的光属性和特性引用标准下列标准所包含的条文通过在本标准中引用而构成为本标准的条文本标准出版时所示版本均为有效所有标准都会被修订使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性识别卡光记忆卡一般特性识别卡光记忆卡线性记录方法第部分逻辑数据

    4、结构读写测试条件注除另有规定外这些测试条件适用于所有的测试光源光源应是波长为到之间的半导体激光二极管光束直径光层表面的聚焦光束应在的点上测得每次测试应定义特定的光束直径读功率光层表面的读功率应小于缺省测试环境和条件采用中定义的缺省测试环境和条件参数光特性在本标准中定义的测试条件下期望达到这些特性如果测试条件变化了则在这里定义的光特性也会改变最低性能特性本条内所包含的值均表示为了信息交换可接受的最低程度因此除卡的物理损坏之外在卡的使用寿命期间这些值表示了光卡应满足或超过的特性注使用寿命的定义因应用而异因此将其留给卡的制造者和发行者为他们特定的实现而做适当的定义背景反射率所测得的相邻轨迹间的区域的

    5、反射率应在之间或之间在一张卡内背景反射率不得超过平均值的注这就意味着卡驱动将接受两种媒体反射率范围光迹导轨对比度垂直于光迹导轨扫描时与被测的背景信号电平相比较所测得的预格式化光迹导轨的对比度的最小值应为注光迹导轨对比度是背景信号电平与光迹导轨信号电平之差除以背景信号电平写入数据对比度写入数据位的对比度与被测的背景信号电平相比较最小值应为注写入数据对比度是背景信号电平与写入数据信号电平之差除以背景信号电平卡表面反射率卡数据面的入射面上的反射率应小于或等于预格式化数据特性为了保证兼容性当扫描包含预格式化数据的可访问光区域的某部分时低频恢复幅度比较和信号重叠除以高频率振幅的值都应是可检验的为了达到预

    6、期的结果应使用规定的光束直径以一种设置的媒体线性速度来扫描包含特定预格式化数据模式的可访问光区域的一部分对于实际的测试条件和值见的附录或附录写数据特性为了保证兼容性当扫描包含写入数据的可访问光区域的一部分时低频恢复振幅比较和信号重迭除以高频率振幅的值都应是可检验的为了达到预期的结果应使用规定的光束直径以一种设置的媒体线性速度写功率和脉冲宽度来写入和扫描高频和低频数据模式对于实际的测试条件和值见附录或附录光路径长度光路径长度应在范围之内对任何单个卡或不同批次的卡其偏差应不超过光延迟通过卡的透明层到达卡内部的光延迟偏差不在本标准中规定读特性在可访问光区域内的相同区中卡应能经受次连续的读操作然后将卡的方向改变检查该区的反射率反射率相对变化不应超过缺陷除在本标准之外规定的其他特定缺陷准则这些缺陷准则均适用定义缺陷是一种在位于可访问光区域内截面上超过的异常区假定缺陷横截面是圆形的注凹陷和凸起均被认为是缺陷密度在整个可访问光区域内原始未校正的缺陷的比率应小于透明层透明层应没有横截面超过的缺陷注低频恢复低频数据模式的高反射率值除以背景反射率幅度比较高频幅度除以低频幅度高频幅度高频数据模式的高反射率值减去高频数据模式的低反射率值低频幅度低频数据模式的高反射率值减去低频数据模式的低反射率值信号重叠高频数据模式的高反射率值减去低频数据模式的低反射率值图对比度参数


    注意事项

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