1、, ICS 29.060.20 K 13 f是2一I-共五GB/T 11017.1 11017.3 2002 Power cables with cross-linked polyethylene insulation and their accessories for rated voltage of 110 kV 2002-10-08发布- 中华人民共和国国家质量监督检验检症总局2003-04-01实施发布GB/T 11017. 111017-3 2002 、目次前言. Ill !EC前言. v GB/T 11017. 1 2002 额定电压110kV交联聚乙烯绝缘电力电缆及其附件第1 部
2、分试验方法和要求1 范围,. 1 2 引用标准.,. 1 3 定义. 2 4 电压表示方法和材料. 2 5 电缆阻水措施. 3 6 电缆特性.,. 3 7 附件特性. 3 8 试验条件.,. 4 9 电缆的例行试验. 4 10 电缆的抽样试验. 4 11 电缆的型式试验6 12 附件的型式试验. 12 13 安装后的电气试验. 13 附录AC标准的附录）数值修约. 18 附录BC标准的附录）半导电屏蔽电阻率测量方法. 18 附录CC标准的附录）透水试验. 20 附录DC标准的附录）埋地接头的外保护层试验. 21 附录EC标准的附录）微孔、杂质与半导电屏蔽层界面突起试验. 23 GB/T 110
3、17. 2-2002 额定电压110 kV交联聚乙烯绝线电力电缆及其附件第2部分额定电压110 kV交联聚乙烯绝缘电力电缆1 范围.24 2 引用标准24 3 定义25 25 使用特性4 I 5 产品命名26 6 技术要求，27 7 成品电缆标志30 8 试验和要求30 9 验收规则.32 10 包装、运输和贮存32 - -二一二二土.-GB/T 11017. 111011. 3-2002 附录A（提示的附录）绝缘材料的性能. 33 附录B（提示的附录）半导电屏蔽料的性能. 33 附录C（提示的附录）电缆的使用环境. 34 附录D（提示的附录具有金属塑料复合护层的XI.PE绝缘高压电力电缆的试
4、验导则. 34 GB/T 11017. 3 2002 额定电压110 kV 交联聚乙烯绝缘电力屯缆及其附件第3部分：额定电压110 kV交联聚乙烯绝缘电力电缆附件1 范围41 2 引用标准. 41 3 定义.42 4 使用特性42 5 产品命名43 6 技术要求.45 7 附件标志. 46 8 试验和要求.46 9 验收规则49 10 包装、运输和贮仔49 附录A（提示的附录）橡胶料的性能. 50 附录BC捉示的附录）环氧树脂阳化体的性能. 51 附录C（提示的附录附件安装导则. 51 飞n 一)6 本标准GB/T110172002是对GB11017-1989额定电压110kV铜芯、铝芯交联聚
5、乙烯绝缘电力电缆的修订。修订后的GB/T11017-2002增加了额定电压110kV交联聚乙烯绝缘电力电缆附件，标准名称改为额定电压110kV交联聚乙烯绝缘电力电缆及其附件，由下列三个部分组成飞一第1部分z试验方法和要求一第2部分：锁定电压I10 kV交联聚乙烯绝缘电力电缆第3部分z额ii电llillOkV交联聚乙烯绝缘电力电缆附件GB/T 11017. 1-2002等效采用！EC60840, 1999锁定电压大于30kV 90 I tg3最大倪10 10 局部放电试验2 . 5趴下最大放电量CpC)5 表4电缆绝缘和护套混合料的非电气型式试验项目。2 3 4 J 产。绝缘非金属护套混合料代号
6、（见4.2如4.3) XI.PE ST, ST, ST, ST, 结构检查绝缘和护套材料均运用透水试验机械性能（抗张强度和断裂伸长率）al老化前x bl空气箱老化后 x x c）成品电缆段老化后（相容性试验） 高泪压力试验 低温性能a）低温拉仲试验 b) 11温冲击试验 空气箱中失重 热冲击试验 JO m kV kV kV kV 550 60 75 30 37. 5 1）见表2.第8栏。2）若电缆的金属套电压限制器装在靠近接头处，采用互联号l线不大于3m的试验电压。D5 试样装置的检查完成D4所述的试验后，应检查试样装置。对充满可移动（软质）混合物的接头保护盒，应无可见的内部孔隙或由于水侵入造
7、成的内部混合物迁移，或混合物经各种密封处或保护盒壁外漏的迹象。对采用其他设计和材料的接头外保护层应没有水侵入或内部腐蚀的迹象。22 L GB/T 11017. 1 2002 附录E（标准的附录）微孔、杂质与半导电屏蔽层界面突起试验E1 试验设备E1. 1 显微镜最小放大倍数为15倍的显微镜。最小放大倍数为40倍的测量显微镜。E1. 2切片机普通用切片机或具有类似功能的其他设备。E2 试样制备从约50mm长的电缆试样上沿径向切取80个含有导体屏蔽、绝缘和绝缘屏蔽的圆形或螺旋形薄试片，试片的厚度约（0.40.7) mm。切割用的刀片应锋利，以便获得的试片具有均匀的厚度和很光滑的表面。应非常小心地保
8、持试片表面清沽，并防止擦伤。E3 试验步骤E3. 1 应采用透射光普遍检查全部80个试片绝缘内的微孔、杂质和半透明棕色物质，以及绝缘与半导电屏蔽层界面处的微孔和突起。E3. 2应采用最小放大倍数为15倍的显微镜检测在上述普遍检查中可疑的20个连续试片（或相等阁数的螺旋形试片）的全部区域。记录并列表统计下列各项a）所有大于或等于O.025 mm的微孔；b）所有大于或等于O.05 mm的杂质。这个表应成为试验报告的组成部分。对最大的微孔、最大的杂质、最大的半透明棕色物质以及最大的绝缘与半导电层界面的突起应画圆圈做标记。E3. 3 应采用最小放大倍数为40倍的测量显微镜对最大的微孔、最大的杂质、最大的半透明棕色物质以及最大的绝缘与半导电层界面的突起在其最大尺寸方向上测量其尺寸。E4 试验结果及计算E4. 1 测量及计算20个试片绝缘的总体积，将统计表中的微孔和杂质数量换算成每16.4cm3体积中的数量，计算值应修约为整数E4. 2 应记录和报告最大的微孔、最大的杂质、最大的半透明棕色物质以及最大的绝缘与半导电层界面突起的尺寸。E4. 3如果20个试片的总体积小于16.4cm，且计算的16.4 cm体积中的微孔和杂质数量大于本标准规定，则应从同样品上再取足够的试片进行测量，以使被测试片的总体积达到不小于16.4cm。23
