1、GB!T 16747-1997 前圣I=t 本标准是根据国际标准化组织ISO!D1S10479(1993)制定的。本标准等效采用国际标准化组织ISO!DIS10479表团波纹度词汇)(1993年版)。在技术内容上与该国际标准等效，编写规则上与之等同。这样，通过使我国4表面波纹度词汇和定义尽可能与国际一致，以尽快适应国际贸易、技术和经济交往的发展和需要.本标准的附录A、附录B都是提示的附录。本标准由中华人民共和国机械工业部提出。本标准由机械工业部机械科学研究院标准化研究所归口。本标准起草单位z机械科学研究院标准化研究所、中国计量科学研究院。本标准主要起草人，王欣玲、毛起广。1 中华人民共和毒自标
2、准词汇GB/T 16747-1997 Surfac怠w8vtne甜terms1 范围本标准确定了表面波纹度有关表面及其参数的术语和定义。这些波纹度参数术语是与中线制相关。本标准适用于技术文件及科技出版物等。2 51用标准下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效囚所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB 3505-83表面粗糙度术语表面及其参数GB 7220-87表面粗糙度术语参数测量3表面、轮廓和基准术语3. 1 实际表面real surface 工件上实际存在的一个表面，它是按所定特征由加工形成的，实际表
3、面是由粗糙皮、波纹度和形状叠加而成的一个表面(见图。形状波纹度阁13.2 实际表面的轮廓(实际轮廓)profile of a real surface (real profi!e) 由一个平面与实际表面相交所得的轮廓。它由粗糙度轮廓、波纹度轮廓和形状轮廓构成见图2)。国家技术监督局1997-03-04批准1997-09-01实施I 1 -ELT丰、G/T 16747-1997 hCM 川、Jf飞、/ , 图23. 3 分离实际表面轮廓成分的求值系统(滤波器)op町ator(fiIter) for separatng the profile compo-nent of the real surf
4、ace 通过预定的信息转换，对实际表丽的轮廓的成分进行分离的一种处理过程见图3)圄实际上，该过程可用各种不同的方式实现。对各种不同方式分离出的轮廓成分，应说明其方法离差。倘若总体轮廓含有听认为的公称形状，就须用一个附加的预处理过程来消除该轮廓的形状部分。实际亵国轮癖分离轮廓成分的事值罩统滤注辖粗糙度PY(x) YX) Y.(x) 图33. 4 标准的波纹度求值系统standard waviness operator 具有符合标准规定特性的求值系统(滤波糯。该求值系统一般被认为是理想的。3. 5 波纹度截止波长waviness cut-offs 在高斯滤波器的传输系数为0.5条件下，短波区界的波
5、长.c和长波区界的波长心。3.6麦丽波纹度surface waviness 由间距比粗糙度大得多的、随机的或接近周期形式的成分构成的表面不平度(见图1)。通常包含当工件表面加工时由意外因素引起的那种不平度，例如，由一个工件或某一刀具的失控运动所引起的。波纹度通频带的极限由高斯滤波器的长波段截止波长和短波段截止波*之比.F .c为10, 1确定，除非另有规定。在用高斯滤波器分离波纹度以前，应从总体轮廓中消除图样上表明的那种用最小二乘拟合的公称形状。对圆周(轮廓来说).推荐将其半径也用最小二乘优化，而且公称值不保持固定。这种波纹度分离程序确定了理想的波纹度求值系统。注2这种理想的波纹度求值革统，只
6、能用在表面尺寸不小于截止波长c的20倍的场合。GB/T 16747-1997 3. 7 表面波纹度轮廓(波纹度轮廓)profile of surface waviness (waviness profile) 是一个实际表面的轮廓的组成部分，其不平度的问距比粗糙度的大得多的那部分。实际上，该轮廓部分是用波纹度求值系统(滤波器)从实际表面的轮廓中分离得出(见图4)。波纹度轮廓i皿W图43. 8 波纹度取样*度(lw)waviness sampling length (1.) 波纹度轮廓上的一段基准线长度，它等于长波区截止波民Fo在这段伏度上确定波纹度参数。3. 9 波纹度评定民度(lmw)wav
7、ness evaluation length (lmw) 用于评定波纹度参数值的一段长度，它可包含一个或几个取样快度。3.10 波纹度轮廓基准线waviness profile reference line 这条基准线对确定波纹度参数有关.在波纹度评定*度范围内划出的中线，被用作波纹度基准线，这是在使用波纹度理想操作器后获得的一条直线。3. 11 波纹度轮廓峰wavinessprofile peak 表面波纹度轮廓与波纹度中线相交，相邻两交点之间的向外(从工件材料到周围介质)的轮廓部分(见图5)。注2在波纹度取样t去度内，即使是始端或终端，倘有向外的轮廓部分，也应视作波纹度轮廓峰.当计算波纹度
8、的连续几个取样*度上的峰数时，对每个取样*度的始端或终端的波纹度轮廓峰，只应计入一次始端的。波纹度轮廓峰l町图53. 12 波纹度轮廓谷waviness profile valley 表面波纹度轮廓与波纹度中线相交，相邻两交点之间的向内(从周围介质到材料)的轮廓部分(见图l t 6)。GB/T 16747-1997 注g在披纹度取样*度的始端或终端.倘有向内的轮廓部分.也应视作轮廓谷。当计算波纹度的连续几个取样快度上的谷数时.对每个取样长度的始端或终端的波纹度轮廓谷，只计入一次始端的.1_ 披纹度轮廓谷图63.13 波纹度轮廓峰顶线lineof waviness profile peaks 在
9、波纹度取样长度内，与基准线等距并通过波纹度轮廓最高点的线见图7)。民纹度轮廓峰顶缉n、wt望回图73. 14 波纹度轮廓谷底线line01 waviness profile valleys 在波纹度取样长度内，与基准线等距并通过披纹度轮廓最低点的线见图的。mw I I 1.阳波纹度轮廓在底线图8，耐GB!T 16747-1997 3.15 波纹度轮廓偏距(hw(x)Jwaviness profile dep盯ture(h.(x) 波纹度轮廓上的点与波纹度中线之间的距离(见图别。nw(x) hw(Xt) 0 国94 表面波纹度参数术语4. 1 波纹度轮廓峰高(hw，)waviness profi
10、le peak height (hw,) 波纹度中线至波纹度轮廓最高点之间的距离(见图10)。-图104.2 波纹度轮廓谷深(h)waviness profile velley depth 啊)波纹度中线至波纹度轮廓谷最低点之间的距离(见图11)。i胃图11hw (.x,) x 崎GB/T 16747-1997 4.3 波纹度轮廓不平度高度waviness profile irregularity height 波纹度轮廓峰高和相邻波纹度轮廓谷深之和(见图12)。1 图124.4 波纹度轮廓不平度的平均高度(W，)mean height of waviness profile irregula
11、rities (W,) 在波纹度取样长度内，波纹度轮廓峰高和波纹度轮廓谷深的平均值绝对值之和。计算公式如下gWE=tz!M+士主Ihw.; I 4.5 波纹度轮廓的最大峰高(W，)maximum peak height of waviness profile (W,) 在波纹度取样长度内，波纹度轮廓最高点和波纹度中线之间的距离(见图13)，t酬图134.6 波纹度轮廓的最大谷深(W.)maximum valley depth of waviness profile (W.) 在谈纹度取样长度内，波纹度轮廓最低点和波纹度中线之间的距离(见图14)。mw k /-图144. 7 披纹度轮廊的最大高
12、度(W，)maximum height 01 waviness profile (W,) Il GB/T 16747-1997 在波纹度取样t是度内，波纹度轮廓峰顶线和波纹度轮廓谷底线之间的距离(见图15)。t霄因154.8 波纹度轮廓算术平均偏差(W.)arithmetical mean deviation of waviness profile (W.) 在波纹度取样长度内，波纹度轮廓偏距绝对值的算术平均值(兑图16)。Wa=汇Ih.(x)Idx 或近似为zWaz唁Ih.1式中n一一离散的波纹度轮廓偏距的个数.h嚼(x)t喃喃图164.9 波纹度轮廓均方根偏差(Wq)root-mean-s
13、quare deviation of waviness profile (Wq) 在波纹度取样长度内，波纹度轮廓偏距的均方根值.Wq=JtfhL叫z4.10 波纹度轮廓不平度的问距(S，)spacing of waviness profile irregularities (S.;) 含有一个波纹度轮廓峰和相邻波纹度轮廓谷的一段波纹度中线*度(见图17)。GB/T 16747 1997 S., S咂S mw Iw 图174. 11 波纹度轮廓的平均间距(S)mean spacing 01 waviness profile (S.,) 在波纹度取样长度内，波纹度轮廓不平度间距的平均值。S町=tz
14、sw，式中:S.,; 波纹度轮廓不平度问距s一一在波纹度取样快度内，波纹度轮廓间距的个数。1民F 剿-GB/T 16747-1997 附录A(提示的附录)汉语术语索引B 表商波纹度. . . . 3. 6 表面波纹度轮廓(披纹度轮廓). . 3.7 标准的波纹度求值系统. . 3. 4 波纹度截止波t主. . . 3.5 波纹度轮廊的平均间距(Swm). 4.11 波纹度轮廊的最大峰高(W，). . 4. 5 波纹度轮廓的最大高度(W，). 4. 7 波纹度轮廓的最大谷深(W.).4.6 波纹度轮廓不平度的间距(5. ;) .4.10 波纹度轮廓不平度的平均高度(W，). 4. 4 波纹度轮廓
15、峰. . 3. 11 波纹度轮廓峰顶线. . 3.13 波纹度轮廓峰高(hwp) . 4.1 波纹度轮廓谷. . . 3.12 波纹度轮廓谷底线. . . 3. 14 波纹度轮廓不平度高度 . . . . . 4. 3 波纹度轮廓谷深(h.，). .,. . . . 4. 2 波纹度轮廓基准线. . . . . . 3. 10 波纹度轮廓均方根偏差(W.). . 4. 9 波纹度轮廓偏距Ch.(x). 3. 15 波纹度轮廓算术平均偏差(W.)4.8波纹度评定妖度(/mw). . . . 3. 9 波纹度取样长度(lw).3. 8 F 分离实际表面轮廓成分的求值系统滤波器.3.3 s 实际表面
16、. . . . . . . 3. 1 实际表面的轮廓(实际轮廓. . . . . 3. 2 附录B提示的附录英文术语索引A arithmetical mean deviation 01 waviness prolile CW.) H . 4. 8 L line of waviness profile peaks 3.13 line of waviness profile valleys ., . H . 3. 14 M maximum height 01 waviness profile (W,) . . 4. 7 maximum peak height 01 waviness profile
17、 CW,) . . . . 4. 5 maximum valley depth 01 waviness prolile CW,) . . . 4. 6 mean height of waviness profile irregularities (阴气) 4.4 mean spacing of waviness profile (Sm.). . . . 4. 11 GB/T 16747-1997 。operator Cfilter) for separating the profile component of the real surface 3. 3 F profile of a real
18、 surface (real profile) 3.2 profile of surface waviness (waviness profile) . . 3. 7 R real surface 3. 1 root-mean-square deviation of waviness profile (Wl) 4.9 s spacing of waviness profile irregularities (Sw;) . . 4.10 standard waviness operator . . . . ., . ., surface wavines臼s. . . . . .h. . . .川
19、.川. . . .川. . . . . . . .川. .，.川. w waviness cut-offs 3.4 3.6 3. 5 waviness evaluation length (lmw) . . 3. 9 waviness profile deperture Chw(x)J . ,. 3.15 waviness profile irregularity height . . 4. 3 waviness profile peak . ., . . u . . . 3.11 waviness profile peak height (hw,) . . 4. 1 waviness profile reference line . . . waVlness profile valley . . . .60. . . 明ravmessprofile velley depth Ch.) . . . . . . . . waVlness sampling lengthClw) 。3.10 3. 12 4. 2 3. 8
